CN205264668U - 样品平台 - Google Patents

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保罗·L·St·西尔
迈克尔·L·德尔韦基奥
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Abstract

本文所描述的某些实施例针对样品平台,所述样品平台配置成允许样品支撑件与电接地之间的电耦合。在一些实施例中,描述了一种样品平台,所述样品平台配置成容纳有效地固定样品以供直接样品分析的样品支撑件,并且所述样品平台包括用于容纳至少一个电耦合器的孔口,所述至少一个电耦合器配置成与样品支撑件接合并且在所述样品支撑件与地面之间提供电耦合。

Description

样品平台
在先专利申请
本申请案请求下列美国申请案中每一个的优先权:提交于2012年10月28日的美国申请案第13/662,500号,提交于2012年10月29日的美国申请案第13/662,745号,以及提交于2012年10月29日的美国申请案第13/662,801号。美国申请案第13/662,801号在此出于所有目的以全文引用方式并入本文中。
技术领域
某些特征、方面和实施例针对样品平台和其使用方法。在某些实施例中,样品平台可以配置成允许所述样品平台上的样品支撑件与电接地的电耦合。
背景技术
直接样品分析通过直接将样品引入到仪器中来允许对样品的分析。如果需要,在分析样品之前可以省去前端色谱分离。
发明内容
本文中所描述的某些特征、方面和的实施例针对样品平台和样品保持器组件,其可以用来将样品支撑件固定在样品平台上以允许直接样品分析。样品平台和样品保持器组件的确切配置可以改变,下面详细描述不同类型的样品保持器的图解。
在一个方面,提供了一种用于直接样品分析的样品保持器组件。在某些实施例中,样品保持器组件包括样品平台,样品平台配置成固定样品支撑件,样品支撑件有效地固定样品以供直接样品分析,样品平台包括至少一个孔口。在一些实施例中,样品保持器组件还包括电耦合器,其配置成通过样品平台的至少一个孔口将样品支撑件与样品平台耦合,以将样品支撑件固定在样品平台上,并且提供样品支撑件至地的电耦合。
在某些实施例中,电耦合器配置为接合对齐耦合器,所述对齐耦合器配置为将样品支撑件电耦合到地面,并对齐样品平台上的样品支撑件以用于分析。在其它实施例中,电耦合器通过摩擦配合以接合对齐耦合器。在其它实施例中,对齐耦合器包括螺纹,所述螺纹配置为与至少一个孔口的螺纹耦合。在另一些实施例中,组件可以包括在样品平台上的第二孔口,其中,第二孔口配置为通过附加的电耦合器将样品支撑件电耦合至地面。在一些实施例中,样品保持器组件进一步包括第一对齐耦合器和第二对齐耦合器,其中第一对齐耦合器配置为接合电耦合器,而第二对齐耦合器配置为接合附加的电耦合器,以提供样品支撑件与地面的电耦合。在附加实施例中,样品保持器组件包括样品平台上的定向触头,所述定向触头配置为允许样品支撑件在单个方向上耦合到样品平台。在一些实施例中,样品保持器组件包括在样品平台上的致动触头,所述致动触头配置为接合密封装置。在其它实施例中,样品平台上的致动触头配置为允许使密封装置旋转至多约180度。在某些实施例中,电耦合器配置成在不使用任何螺纹紧固件的情况下在样品支撑件与地面之间提供电耦合。
在另一个方面中,描述一种样品保持器组件,其包括样品平台,所述样品平台包括:电耦合器,其配置成通过样品支撑件上的导电定位销将样品支撑件电耦合到地面;以及附加的电耦合器,其配置成与样品平台的电耦合器和样品支撑件的电耦合器耦合,以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。
在某些实施例中,样品保持器组件包括样品平台上的第二电耦合器,所述第二电耦合器配置成耦合到样品支撑件上的第二导电定位销,以将样品支撑件电耦合到地面。在其它实施例中,样品保持器组件包括第一适配器和第二适配器,第一适配器配置成耦合到电耦合器和第一定位销,并且第二适配器配置成耦合到第二电耦合器和第二定位销,以允许样品支撑件耦合到样品平台,并在样品平台与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,将电耦合器和第二电耦合器极化以允许样品支撑件在单个方向上耦合至样品平台。在其它实施例中,样品保持器组件包括样品平台上的定向触头,以允许样品支撑件在单个方向上耦合到样品平台。在另一些实施例中,样品保持器组件包括样品平台上的致动触头,所述致动触头配置成接合密封装置。在一些实施例中,样品平台上的致动触头配置成允许密封装置旋转至多约180度。在一些实施例中,样品支撑件配置成容纳用于直接样品分析的样品。在其它实施例中,样品平台的电耦合器配置成通过摩擦配合与样品支撑件的定位销接合。在一些实施例中,样品平台的电耦合器配置成在不使用任何螺纹紧固件的情况下在样品支撑件与地面之间提供电耦合。
在另一方面中,样品保持器组件包括样品平台,所述样品平台配置成固定样品支撑件,所述样品支撑件有效地固定用于直接样品分析的样品,所述样品平台包括:至少一个整体耦合器,其配置成将样品平台耦合到样品支撑件;电耦合器,其配置成耦合到样品平台的至少一个整体耦合器并且提供样品支撑件到地面的电耦合;以及对齐耦合器,其配置成接合至电耦合器以允许样品支撑件电耦合到地面并对齐样品平台上的样品支撑件。在一些实施例中,整体电耦合器包括不锈钢。在其它实施例中,样品平台进一步包括第二整体耦合器,所述第二整体耦合器配置成将样品支撑件耦合到样品平台。在一些实施例中,整体耦合器和第二整体耦合器具有不同的尺寸。在其它实施例中,整体耦合器和第二整体耦合器实质上彼此平行。在某些实施例中,样品保持器组件包括第二电耦合器,所述第二电耦合器配置成耦合到第二整体耦合器以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在另外的实施例中,整体耦合器和第二整体耦合器具有实质上相同的尺寸,并且电耦合器和第二电耦合器具有不同的尺寸。在一些实施例中,样品保持器组件包括第二对齐耦合器,所述第二对齐耦合器配置为耦合到第二电耦合器以在第二电耦合器与地面之间提供电耦合。在某些实施例中,电耦合器和第二电耦合器具有实质上相同的尺寸,并且对齐耦合器和第二对齐耦合器具有不同的尺寸。在其它实施例中,整体耦合器和第二整体耦合器具有实质上相同的尺寸,电耦合器和第二电耦合器具有不同的尺寸,其中对齐耦合器的尺寸适于接合到电耦合器,并且第二对齐耦合器的尺寸适于接合到第二电耦合器以允许样品保持器在一个方向上插入样品支撑件。
在另一方面中,公开了一种样品保持器组件,所述样品保持器组件包括:样品支撑件,所述样品支撑件包括第一耦合器;以及样品平台,所述样品平台包括第一孔口,所述第一孔口配置成可逆地耦合到样品支撑件的第一耦合器,样品平台的孔口配置成对齐样品平台上的样品支撑件并提供样品支撑件与地面的电耦合。
在某些实施例中,样品支撑件进一步包括第二耦合器,其配置成将样品支撑件与地面电耦合,其中样品平台包括第二孔口,所述第二孔口配置成可逆地耦合到第二耦合器以提供样品支撑件与地面的电耦合。在其它实施例中,第一孔口和第二孔口的尺寸和布置适于允许样品支撑件在单个方向上插入到样品平台中。在一些实施例中,样品平台包括可拆除的对齐耦合器,其配置成允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在某些实施例中,样品保持器组件进一步包括电耦合器,其配置成将第一耦合器与第一孔口电耦合以允许样品支撑件与地面的电耦合。在其它实施例中,样品支撑件进一步包括第二耦合器,所述第二耦合器配置成将样品支撑件与地面电耦合,其中样品平台包括第二孔口,所述第二孔口配置成可逆地耦合到样品支撑件的第二耦合器以允许样品支撑件与地面的电耦合,样品保持器组件进一步包括第一电耦合器和第二电耦合器,所述第一电耦合器配置成将样品支撑件的第一耦合器与样品平台的第一孔口电耦合以允许样品支撑件与地面的电耦合,所述第二电耦合器配置成将样品支撑件的第二耦合器与样品平台的第二孔口电耦合以允许样品支撑件与地面的电耦合。在另一些实施例中,第一电耦合器和第二电耦合器的尺寸和布置适于允许样品支撑件在单个方向上分别与样品平台的第一孔口和第二孔口耦合。在一些实施例中,样品平台包括对齐耦合器,其配置成允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在其它实施例中,样品保持器组件包括第一对齐耦合器,其配置成将样品平台的第一孔口与第一电耦合器耦合以允许样品支撑件与地面电耦合。在一些实施例中,样品保持器组件包括第二对齐耦合器,其配置成将样品平台的第二孔口与第二电耦合器耦合,以允许样品支撑件与地面电耦合。
在另一个方面,提供了一种样品保持器组件,其包括样品支撑件、第一电耦合器和第一对齐耦合器,所述样品支撑件包括第一耦合器,所述第一耦合器配置成将样品支撑件与样品平台耦合,所述第一电耦合器配置成耦合到样品支撑件的第一耦合器,所述第一对齐耦合器配置成与第一电耦合器和样品支撑件耦合以提供样品支撑件与地面之间的电耦合。
在某些实施例中,将样品支撑件配置为固定样品支撑件,所述样品支撑件配置为用于直接样品分析。在其它实施例中,样品支撑件进一步包括配置为与样品平台耦合的第二耦合器,并且样品保持器组件包括配置为与样品支撑件的第二耦合器耦合的第二电耦合器。在一些实施例中,样品保持器组件进一步包括第二对齐耦合器,其配置为与第二电耦合器耦合,以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在其它实施例中,样品保持器组件进一步包括样品平台,其包括配置为与样品支撑件的第一耦合器耦合的第一孔口。在另一些实施例中,样品保持器支撑件包括配置为允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合的定向触头。在一些实施例中,样品保持器组件进一步包括在样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。在某些实施例中,将样品平台上的致动触头配置为允许密封装置旋转至多约180度。在其它实施例中,将密封装置配置为盖。在一些实施例中,盖包括凸轮,其配置为与样品平台支撑件的致动触头滑动接合,以使门旋转并允许将样品装入样品支撑件。
在另一方面中,描述了一种配置为容纳样品保持器以进行直接样品分析的样品保持器组件,样品保持器组件包括有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件以及包括第一孔口和第二孔口的样品平台,样品支撑件包括均配置为使样品支撑件与地面电耦合的第一耦合器和第二耦合器,第一孔口配置为与样品支撑件的第一耦合器耦合,第二孔口配置为与样品支撑件的第二耦合器耦合,样品平台包括配置为与密封装置接合的致动触头。
在某些实施例中,组件进一步包括配置为与第一耦合器耦合的第一电耦合器,以及配置为与第二耦合器耦合的第二电耦合器,第一和第二电耦合器配置为在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些情况下,样品平台的第一和第二孔口具有不同的尺寸,以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在其它配置中,组件包括配置为与第一孔口和第一电耦合器耦合的第一插入件,以及配置为与第二孔口和第二电耦合器耦合的第二插入件。在另一些实施例中,第一和第二电耦合器具有不同的尺寸,并且第一和第二插入件具有不同的尺寸,以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在一些实施例中,致动触头配置为与密封装置的凸轮接合,以允许密封装置旋转至多约180度。在其它实施例中,密封装置包括盖。在一些实施例中,组件进一步包括在样品平台上的定向触头,定向触头配置为允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在某些实施例中,第一耦合器和第一孔口具有相似的尺寸,并且第二耦合器和第二孔口具有相似的尺寸但与第一耦合器和第一孔口的尺寸不同,以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在其它实施例中,第一耦合器和第二耦合器通过摩擦配合分别与第一孔口和第二孔口耦合。
在另一方面中,描述了一种样品平台,其配置为容纳有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件,样品平台包括至少一个电耦合器,其配置为与样品支撑件接合并在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在某些实施例中,将样品平台的电耦合器配置为与样品支撑件上的电耦合器接合,以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在其它实施例中,样品平台包括附加的电耦合器,其中,样品平台的电耦合器配置为与样品支撑件上的第一电耦合器接合,并且样品平台的附加的电耦合器配置为与样品支撑件上的第二电耦合器接合,以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,平台包括定向触头,其配置为允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在某些实施例中,平台包括在样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。在一些实施例中,致动触头配置为允许密封装置旋转至多约180度。在其它实施例中,电耦合器配置为通过摩擦配合与样品支撑件可释放地接合。在其它实施中,电耦合器配置为通过样品支撑件的电耦合器与样品支撑件可释放地接合。在某些实施例中,电耦合器包括与样品平台接合的螺纹,并且样品支撑件包括配置为通过摩擦配合与样品平台的电耦合器接合的电耦合器。在一些实施例中,电耦合器的尺寸和布置适于容纳样品支撑件的至少一个定位销,以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。
在另一方面中,公开了一种样品平台,其配置为容纳有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件,样品平台包括至少一个孔口,所述至少一个孔口配置为容纳样品支撑件的电耦合器以允许在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在某些实施例中,将样品支撑件的电耦合器配置为与样品平台的所述至少一个孔口耦合的销。在其它实施例中,样品平台的所述至少一个孔口是导电的。在一些实施例中,所述至少一个孔口的尺寸和布置适于容纳电耦合器,所述电耦合器配置为与样品支撑件的电耦合器耦合以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在某些实施例中,平台包括附加的孔口,其配置为容纳样品支撑件的附加的电耦合器,以允许样品支撑件与地面之间的电耦合。在其它实施例中,样品支撑件的电耦合器和样品支撑件的附加的电耦合器均配置为销,其分别与样品支撑件的所述至少一个孔口和附加的孔口耦合。在一些实施例中,所述至少一个孔口的尺寸和布置适于容纳样品支撑件的电耦合器,以使样品支撑件的电耦合器与地面电耦合,其中,所述附加的孔口的尺寸和布置适于容纳样品支撑件的附加的电耦合器,以使样品支撑件的附加的电耦合器与地面电耦合。在一些实施例中,平台包括配置为允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合的定向触头。在一些实施例中,平台包括在样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。在一些实施例中,致动触头配置为允许密封装置旋转至多约180度。
在另一方面中,提供了一种套件,其包括配置为固定有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件的样品平台,样品平台包括第一整体耦合器,所述第一整体耦合器配置为使样品平台与样品支撑件耦合,以在样品保持器与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,套件包括第一电耦合器,其配置为与样品平台的第一耦合器耦合,以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在其它实施例中,套件的样品平台包括第二耦合器,其配置为在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,套件包括配置为与样品平台的第一耦合器耦合的第一电耦合器,以及配置为与样品平台的第二耦合器耦合的第二电耦合器,第一和第二电耦合器均配置为允许样品支撑件与地面之间的电耦合。在另一些实施例中,套件包括配置为与第一电耦合器和第二电耦合器中的至少一个耦合的插入件。在一些实施例中,套件的样品平台包括配置为与第一电耦合器耦合的第一孔口和配置为与第二电耦合器耦合的第二孔口。在其它实施例中,套件包括配置为与第一孔口和第一电耦合器耦合的第一插入件。在其它实施例中,套件包括配置为与第二孔口和第二电耦合器耦合的第二插入件。在一些实施例中,第一插入件和第二插入件具有不同的尺寸,以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在另一些实施例中,样品平台进一步包括配置为与密封装置接合的致动触头。
在另一个方面,提供了一种使用直接样品分析来分析样品的方法。在某些实施例中,所述方法包括提供样品平台,所述样品平台包括配置成在耦合到样品平台的样品支撑件与地面之间提供电耦合的第一整体耦合器。在某些实施例中,所述方法包括提供第一电耦合器,所述第一电耦合器配置成耦合到第一整体耦合器并允许样品支撑件与地面之间的电耦合。在某些实施例中,所述方法包括为样品平台提供第二整体耦合器,所述第二整体耦合器配置为在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,所述方法包括提供第一电耦合器以及第二电耦合器,第一电耦合器配置成耦合至第一整体耦合器,第二电耦合器配置成耦合至第二整体耦合器,第一电耦合器和第二电耦合器均配置为允许样品支撑件与地面之间的电耦合。在其它实施例中,所述方法包括提供插入件,所述插入件配置为耦合至第一电耦合器和第二电耦合器中的至少一个。在一些实施例中,所述方法包括提供样品平台,所述样品平台包括配置为与第一电耦合器耦合的第一孔口以及配置为与第二电耦合器耦合的第二孔口。在其它实施例中,所述方法包括提供第一插入件,所述第一插入件配置成耦合到第一孔口以及第一电耦合器。在某些实施例中,所述方法包括提供第二插入件,所述第二插入件配置成耦合到第二孔口以及第二电耦合器。在其它实施例中,所述方法包括提供第一插入件以及尺寸不同于第一插入件的第二插入件以允许样品支撑件在单个方向上耦合到样品平台。在另一些实施例中,所提供的样品平台进一步包括配置成接合密封装置的致动触头。
在另一方面中,公开了一种用于对样品支撑件进行电接地的方法,所述样品支撑件配置成固定用于直接样品分析的样品。在某些实施例中,所述方法包括为样品支撑件提供至少一个耦合器,所述至少一个耦合器配置成可逆地将样品支撑件耦合到样品平台以提供样品支撑件与地面的电耦合。
在一些实施例中,所述方法包括在不使用任何螺纹紧固件将样品支撑件耦合到样品平台的情况下向样品支撑件提供接地。在某些实施例中,所述方法包括提供样品平台,所述样品平台包括配置成耦合到样品支撑件的至少一个耦合器的孔口。在另一些实施例中,所述方法包括提供至少一个电插入件,所述电插入件配置成耦合到至少一个耦合器和样品平台的孔口以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在某些实施例中,所述方法包括为样品支撑件配置至少一个附加的耦合器,所述至少一个附加的耦合器配置成将样品支撑件可逆地耦合到样品平台并在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,所述方法包括提供第一电插入件和第二电插入件,其均配置成耦合到至少一个耦合器和附加的耦合器中的一个。在某些实施例中,所述方法包括提供样品平台,所述样品平台包括配置成耦合到样品支撑件的至少一个耦合器的第一孔口以及配置成耦合到样品支撑件的附加的耦合器的第二孔口。在其它实施例中,所述方法包括为样品平台配置定向触头以允许样品支撑件在单个方向上耦合到样品平台。在某些实施例中,所述方法包括为样品平台配置致动触头,所述致动触头配置成接合密封装置。在其它实施例中,致动触头配置成允许密封装置旋转至多约180度。
在阅读了详细说明和附图之后,其它方面和属性对本领域技术人员来说将是显而易见的。
附图说明
下面参考附图仅为了说明目的给出一些配置,其中:
图1是根据某些实施例的包括单个孔口的样品平台的图解;
图2是根据某些实施例的包括耦合器的样品支撑件的图解,所述耦合器配置成耦合到图1的样品平台;
图3是根据某些实施例的包括定向触头的样品平台的图解;
图4是根据某些实施例的包括两个孔口的样品平台的图解,所述两个孔口配置成耦合到样品支撑件上的两个耦合器;
图5是根据某些实施例的包括致动触头的样品平台的图解;
图6是根据某些实施例的样品平台的图解,所述样品平台包括致动触头和定向触头;
图7是根据某些实施例的包括孔口的样品平台的图解,所述孔口配置成耦合到电耦合器;
图8是根据某些实施例的图7所示的样品平台和电耦合器的侧视图;
图9是示出根据某些实施例的具有耦合器的样品支撑件的图解,所述耦合器配置成通过电耦合器耦合到样品平台;
图10是示出根据某些实施例的具有耦合器的样品支撑件的图解,所述耦合器配置成通过电耦合器和插入件耦合到样品平台;
图11是根据某些实施例的图10中所示的部件的侧视图;
图12是示出根据某些实施例的样品平台的图解,所述样品平台包括两个孔口和配置成通过两个电耦合器耦合到所述样品平台的样品支撑件;
图13是示出根据某些实施例的样品平台的图解,所述样品平台包括两个孔口和配置成通过两个电耦合器和两个插入件耦合到样品平台的样品支撑件;
图14是示出根据某些实施例的密封装置的图解;
图15是根据某些实施例的图14的图解的侧视图;
图16是根据某些实施例的示出耦合到分析装置的直接样品分析装置的系统的框图;
图17是示出根据某些实施例的具有处于打开位置的密封装置的直接样品分析装置的一些部件的图解;以及
图18是示出根据某些实施例的具有处于封闭位置的密封装置的直接样品分析装置的一些部件的图解;
下面更详细地描述另一些特征、方面和实施例。本领域的普通技术人员将会认识到,考虑到此公开案的权益,附图中所示出的长度和尺寸是非限制性的,并且根据样品支撑件的尺寸、将使用样品平台的系统以及其它因素可以使用许多不同的长度和尺寸。
具体实施方式
下面详细描述了样品平台和包括其的样品保持器组件的某些实施例。样品平台的确切配置(包括,例如平台的长度和宽度、可容纳电耦合器的孔口的尺寸和配置、平台中所用的材料,等等)可根据将使用样品平台的特定仪器和/或根据待分析样品的性质而变化。在下面提到直接样品分析的时候,没有任何的直接样品分析装置或系统的特定配置对于正确使用样品平台来说是必须的。出于说明的目的,本文描述了一种直接样品分析装置或系统的一些配置。为方便起见,术语″平台″用来指代大体上平面结构,其可包含合适的特征或部件以允许样品支撑件的耦合。术语样品支撑件指代保持器、装置或将样品有效地固定至少一段时间以允许分析样品的其它结构。在一些情况下,可将样品支撑件配置为容纳网、筛子或有效地容纳并固定样品以进行分析的其它材料。本文描述的样品平台的某些实施例指代孔口或开口。虽然一些图解示出了存在一个或两个孔口,但是如果需要,也可以存在两个以上孔口。另外,在存在一个以上孔口的情况下,所述孔口的尺寸和/或配置可以不同,或者实质上相同。
在某些实施例中,在图1中示出了一种样品平台,其配置成容纳有效地固定样品以供直接样品分析的样品支撑件。平台100包括具有至少一个孔口110的大体上平面的表面105。孔口110可以采用许多不同的形式和形状,包括圆形、方形、矩形或其它几何形状。表面105可以使用本文所描述的任何说明性材料来生产。在一些实施例中,孔口可以配置成容纳样品支撑件的耦合器,例如电耦合器,以允许样品支撑件与地面之间的电耦合。参考图2,将样品支撑件200示出为包含耦合器205,例如,电耦合器,所述耦合器可以接合、插入或以其它方式耦合到孔口110以提供样品支撑件200与电接地之间的电耦合。在不希望受限于任何特定科学理论的情况下,样品支撑件200可经受充电颗粒束或流体以使样品支撑件200所固定的样品电离。电荷可以累积在样品支撑件200的表面上并且可能影响样品的电离或者以其它方式干扰分析。通过使样品支撑件200与地面电耦合,可以减少或避免任何不想要的电荷累积。如果需要,整个平台100也可以电耦合到地面,并且支撑件200与平台100的耦合起到使样品支撑件200接地的作用。
在一些实施例中,样品支撑件200的耦合器205可以配置为销,所述销耦合到样品平台100的孔口110。销的尺寸和布置可适于提供与孔口110的摩擦配合,使得销与孔口110的耦合起到把样品支撑件200固定在适当位置以供样品分析的作用。如果需要,孔口110可以是导电的和/或电耦合到地面以允许样品支撑件200的接地。虽然将耦合器205示出为在医学上定位在样品支撑件200上,但是如果需要,可替代地将其定位在一端或放置在除了居中之外的位置。
在某些实施例中,样品平台100可以包括定向触头或销以防止样品支撑件200在不正确的方向上插入到孔口110中。例如且参考图3,示出为销305的定向触头可以允许支撑件200在支撑件200的一个方向上与平台100耦合,并且大体上阻止了支撑件200在其它方向上与平台100耦合。销305可以有效地击中或撞击支撑件200的后表面以将支撑件200放置在适当的方向和/或角度以供采样。
在某些实施例中,平台可包含一个以上的孔口,用于容纳样品支撑件的耦合器。参考图4,示出包括孔口405和孔口410的平台400。孔口405的尺寸和布置适于容纳在样品支撑件450上的耦合器455,并且孔口410的尺寸和布置适于容纳在样品支撑件450上的耦合器460。在一些实施例中,耦合器455和耦合器460可以是导电的以允许样品支撑件450和电接地的电耦合。在其它实施例中,耦合器455和耦合器460可以采取销的形式,所述销可通过摩擦配合分别接合孔口405、410以便在样品支撑件450与地面之间提供电耦合。
在一些实施例中,平台可包含接合密封装置的致动触头,所述密封装置通常有效密封或防止不需要的灰尘或气流进入系统。在一些实施例中,密封装置可提供大体流体紧密密封,然而在其它实施例中,不存在大体流体紧密密封。参考图5,将平台500示出为包括孔口505和在平台500的一端处的致动触头510。虽然通常将致动触头510示出为配置成销,但其它形状和配置也是可能的。另外,致动触头可以存在于平台500上的其它位置。如在下面更加详细地描述,致动触头510可以允许密封装置旋转至多约180度。例如,当平台500和样品支撑件(未示出)升至装置或系统外以允许将样品装载在样品支撑件上或样品支撑件中时,致动触头510可接合密封装置的表面或凸轮。在样品装载之后,平台500可降低,使得致动触头510与密封装置松脱以及密封装置旋转进入封闭位置,从而大体上封闭或覆盖装载样品的仪器或装置的开口。如果需要,如图6中的平台600所示,平台也可包括定向触头605,定向触头605的功能类似于参考图3描述的定向触头。
在某些实施例中,样品平台可包含,或可配置成容纳如图7所示的电耦合器。样品平台700包括大体上平面的表面705,以及孔口710,孔口可以容纳电耦合器715。如果需要,电耦合器715可以与平台700是一体的,使得它通常不可从平台700拆除或者分离。在一些情况下,可能期望的是使用可拆除的电耦合器以允许耦合器的拆除和清洁,从而避免任何样品的污染。例如,在电耦合器715通过摩擦配合与孔口710接合的情况下,其可被向上提起并且拆除,然后使用溶剂、超声处理或其它合适的物理或化学手段来清洁。在电耦合器715通过孔口710和耦合器715中的每一个上的螺纹与孔口710接合的情况下,耦合器715可以旋开或以其它方式与孔口710松脱,并且拆除以便清洁。
在某些实施例中,图8中示出图7中所示的配置的侧视。孔口710可以包括具有变化直径的通道以允许耦合器715以所需深度插入到样品平台中。如图8所示,孔口710的直径朝向表面705通常更大,而朝向样品平台的相对的底表面减小。耦合器715也可以包含内部通道717,其可以容纳插入件、另一电耦合器、样品支撑件的定位销或如本文所述的其它特征件。在使用耦合器715时,可将其插入到孔口710中直到遇到阻力。在一些实施例中,耦合器715可以配置成使得当完全插入时,其与表面705齐平,而在其它实施例中,耦合器715可以包含邻近于样品平台的表面705且位于样品平台的表面705之上的唇或环。
在某些实施例中,与样品支撑件的孔口接合的耦合器可以配置成耦合到样品支撑件上的电耦合器。参考图9,将样品平台900示出为包括孔口905。电耦合器910配置为与孔口915接合。样品支撑件920可以包含电耦合器925,其可以配置为定位销,用以通过电耦合器910将样品支撑件耦合到平台900。在使用中,耦合器910可以耦合到孔口905。样品支撑件920的耦合器925然后通过将销925滑动到耦合器910的开口中而耦合到耦合器910。耦合可以以适当角度使样品支持件920对齐以便采样,并且还允许样品支撑件920与地面的电耦合。在一些实施例中,耦合器925通过摩擦配合耦合到耦合器910。耦合器910可以通过摩擦配合或者通过螺纹或其它合适的手段耦合到孔口905。
在一些实施例中,耦合器925的外直径可以小于耦合器910的内直径。在所述情况下,可能期望的是使用插入件或适配器来在耦合器910与耦合器925之间提供更紧密配合以允许部件的物理接触,并且在所述部件与地面之间提供电耦合。参考图10,将插入件1010示出为存在于耦合器910与耦合器925之间。在使用中,插入件1010可耦合到耦合器910或耦合器925。在一些实施例中,插入件1010的尺寸和布置适于在部件910、925和1010之间提供紧密配合,但是并非紧密得使得样品支撑件920从样品平台900的卸除困难或者需要如扳手、钳或拔具之类的外部工具。插入件1010可以由与下列各者相似的材料生产或者可以包括与下列各者相似的材料:样品支撑件、样品平台、电耦合器或本文所描述的样品保持器组件的其它部件。在一些实施例中,插入件使用例如不锈钢的导电、实质上惰性的材料来生产。参考图11,示出了插入件1010的侧视图。插入件1010的尺寸和布置适于耦合到电耦合器910的上部1112。电耦合器910还包括下部1114,其具有比部分1112的内直径小的内直径,并且其可以通过插入件1010耦合到耦合器925。在某些实施例中,耦合器925通过插入件1010电耦合到耦合器910的上部1112,并且通过与下部1114的物理接触电耦合到耦合器910的下部1114。
在某些实施例中,对于本文所描述的样品平台而言可以使用一个以上的电耦合器。例如,在样品平台包含两个孔口的情况下,可以使用一个或两个电耦合器。在一些实施例中,可能期望的是孔口的尺寸不同,使得存在极化孔口,并且样品支撑件可以只在单个方向上耦合到样品平台。参考图12,示出了包括两个孔口1205和1210的样品平台1200。孔口1205的尺寸和布置适于耦合到电耦合器1220,并且孔口1210的尺寸和布置适于耦合到电耦合器1225。样品支撑件1250包括第一耦合器1255和第二耦合器1260。第一耦合器1255配置成耦合到耦合器1220以在样品支撑件1250与电接地之间提供电耦合。第二耦合器1260配置成耦合到耦合器1255以在样品支撑件1250与电接地之间提供电耦合。耦合器1255和1260可以分别与耦合器1220、1225接合,类似于参考图8和9中所描述的配置。
在一些实施例中,在存在多个电耦合器的情况下,可能还期望的是使用多个插入件或适配器。参考图13,示出了样品保持器组件,其包括样品平台1300,所述样品平台1300包括两个孔口1305和1310。孔口1305的尺寸和布置适于耦合到电耦合器1320,并且孔口1310的尺寸和布置适于耦合到电耦合器1325。样品支撑件1350包括第一耦合器1355和第二耦合器1360。第一耦合器1355配置成耦合到耦合器1320以在样品支撑件1350与电接地之间提供电耦合。第二耦合器1360配置成耦合到耦合器1325以在样品支撑件1320与电接地之间提供电耦合。耦合器1355通过插入件1370耦合到耦合器1350,而耦合器1360通过插入件1375耦合到耦合器1325。插入件1370、1375中的每一个的尺寸可适于与图11中所示的其它耦合器接合,或者可以具有可以提供样品支撑件1350与电接地的电耦合的其它配置。
在某些实施例中,在图12和13中所示的样品平台还可以包含定向触头、致动触头和其它特征件。例如,样品平台1200和1300可以各包含一个定向触头,所述定向触头配置成允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在一些实施例中,样品平台1200和1300可以包含样品平台上的致动触头,所述致动触头配置成接合密封装置。在一些实施例中,致动触头可以配置成允许密封装置旋转至多约180度。
在某些实施例中,可以使用参考图1至13所描述的特征件的各种组合来提供以供用在直接样品分析中的样品保持器组件。在一些实施例中,样品保持器组件可以包含样品平台和电耦合器,样品平台配置成固定有效地固定样品以供直接样品分析的样品支撑件,样品平台包括至少一个孔口,所述电耦合器配置成通过样品平台的至少一个孔口将样品支撑件与样品平台耦合以将样品支撑件固定在样品平台上,并且提供样品支撑件与地面的电耦合。在一些情况下,样品支撑件可以包含如图12和13中所示的多个孔口并且可以包含置于通过样品支撑件的孔口暴露的材料上的样品。在一些实施例中,网或筛子可以存在于孔口处,并且可能受到冲击或者容纳例如离子流的流体以使网或筛子上的样品电离。
在某些实施例中,样品组件的电耦合器可配置为接合对齐耦合器,以使样品支撑件电耦合到地面,并对齐样品平台上的样品支撑件,从而用于分析。在其它情况下,电耦合器通过摩擦配合视情况使用如本文所述的插入件或适配器与对齐耦合器接合。在其它情况下,对齐耦合器包括螺纹,所述螺纹配置为耦合至少一个孔口的螺纹。如果需要,所述样品平台可以包含两个或两个以上孔口,例如,第二孔口,其配置为通过附加的电耦合器使样品支撑件电耦合到地面。在存在一个以上的孔口的情况下,样品保持器组件可包含第一对齐耦合器和第二对齐耦合器,其中第一对齐耦合器配置为接合电耦合器,并且第二对齐耦合器配置为接合附加的电耦合器,以提供样品支撑件与地面的电耦合。如本文所述,样品保持器组件也可包含定向触头、致动触头或其它特征件以促进样品保持器组件的预期功能。在一些实施例中,本文所述的各种耦合器可配置成在不使用任何螺纹紧固件的情况下在样品支撑件与地面之间提供电耦合。通过使用非螺纹紧固件,样品支撑件可以快速地耦合到样品平台以用于在样品支撑件上的样品的分析,并且随后容易地拆除或使用包括其它样品的不同样品支撑件来更换。
在某些实施例中,可以使用样品保持器组件,其包括样品平台和附加电耦合器,所述样品平台包括配置成通过样品支撑件上的导电定位销将样品支撑件与地面电耦合的电耦合器,所述附加电耦合器配置成耦合到样品平台的电耦合器和样品支撑件的电耦合器以便在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在某些实施例中,平台可以包含第二电耦合器,其配置成耦合到样品支撑件上的第二导电定位销,以将样品支撑件与地面电耦合。在一些实施例中,可以使用一个或多个插入件或适配器。例如,在样品保持器组件中可以存在第一适配器和第二适配器,所述第一适配器配置成耦合到电耦合器和第一定位销,所述第二适配器配置成耦合到第二电耦合器和第二定位销,以允许样品支撑件和样品平台耦合,并且在样品平台与地面之间提供电耦合。在一些情况下,将电耦合器和第二电耦合器极化以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在其他实施例中,样品平台可以包含在样品平台上的定向触头,以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台接合。如果需要,致动触头可以独自存在或者与定向触头结合地存在。在一些情况下,样品平台上的致动触头配置成允许密封装置旋转至多约180度。如果需要,样品支撑件保持器可以配置成容纳样品以供直接样品分析,例如,可以包括两个或两个以上的板,所述板在其间可以夹设网材料,其中网材料可以将液体样品或粉末样品保至少一段时间,以允许使用直接样品分析对样品进行分析。如本文所述的,样品保持器组件的各个部件可以配置成通过摩擦配合或者不使用任何螺纹紧固件或部件上的螺纹的情况下彼此耦合。
在某些实施例中,样品保持器组件可以包含:样品平台,其配置成固定有效地固定样品以供直接样品分析的样品支撑件,所述样品平台包括至少一个整体耦合器,所述至少一个整体耦合器配置成将样品平台耦合到样品支撑件;电耦合器,其配置成耦合到样品平台的至少一个整体耦合器并且提供样品支撑件与地面的电耦合;以及对齐耦合器,其配置成接合到电耦合器以允许样品支撑件与地面的电耦合并且使样品支撑件在样品平台上对齐。在一些情况下,整体电耦合器包括不锈钢或其它合适的实质上惰性的导电材料。在一些实施例中,样品平台进一步包括配置成使样品支撑件与样品平台耦合的第二整体耦合器。在某些实施例中,整体耦合器和第二整体耦合器可具有不同的尺寸以协助样品支撑件与样品平台的恰当耦合。在其它配置中,整体耦合器和第二整体耦合器实质上彼此平行,例如,可以位于相同平面上或沿着相同轴,使得样品支撑件的孔口可以定位在大致相同的平面上。在一些情况下,样品保持器组件可以包含第二电耦合器,其配置成耦合到第二整体耦合器以提供样品支撑件与地面的电耦合。在其它实施例中,整体耦合器和第二整体耦合器具有实质上相同的尺寸,而电耦合器和第二电耦合器具有不同的尺寸,例如,以便便于样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在某些实施例中,样品保持器组件可以包括第二对齐耦合器,其配置成耦合到第二电耦合器以提供第二电耦合器与地面的电耦合。如果需要,电耦合器和第二电耦合器具有实质上相同的尺寸,而对齐耦合器和第二对齐耦合器具有不同的尺寸。在其它实施例中,整体耦合器和第二整体耦合器具有实质上相同的尺寸,电耦合器和第二电耦合器具有不同的尺寸,并且其中,对齐耦合器的尺寸适于与电耦合器接合,而第二对齐耦合器的尺寸适于接合到第二电耦合器以允许样品保持器在单个方向上插入到样品支撑件中。
在其它实施例中,样品保持器可以包括样品支撑件和样品平台,样品支撑件包括第一耦合器,样品平台包括配置成可逆地耦合到样品支撑件的第一耦合器的第一孔口,样品平台的孔口配置成使样品支撑件在样品平台上对齐并且提供样品支撑件与地面的电耦合。如果需要,样品支撑件可以进一步包括配置成使样品支撑件与地面电耦合的第二耦合器,其中,样品平台包括第二孔口,所述第二孔口配置成可逆地耦合到第二耦合器以提供样品平台与地面的电耦合。如果需要,孔口的尺寸和布置适于允许样品支撑件在单个方向上插入到样品平台中。在一些情况下,样品平台包括可拆除的对齐耦合器,其配置成允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在某些实施例中,所述组件可以包括电耦合器,其配置成电耦合到第一耦合器和第一孔口以允许样品支撑件与地面的电耦合。在其它实施例中,样品支撑件还可以包括配置成使所述样品支撑件与地面电耦合的第二耦合器,其中,样品平台包括配置成可逆地耦合到样品支撑件的第二耦合器以允许样品支撑件与地面的电耦合的第二孔口,所述样品保持器组件进一步包括第一电耦合器和第二电耦合器,所述第一电耦合器配置成电耦合到样品支撑件的第一耦合器和样品平台的第一孔口以允许样品支撑件与地面的电耦合,所述第二电耦合器配置成电耦合到样品支撑件的第二耦合器和样品平台的第二孔口以允许样品支撑件与地面的电耦合。在一些配置中,各种部件的尺寸和布置可不同以便于样品支撑件在单个方向上与平台耦合。
在一些实施例中,本文所描述的样品保持器组件可以包含:样品支撑件,其包括配置成将样品支撑件与样品平台耦合的第一耦合器;第一电耦合器,其配置成耦合到样品支撑件的第一耦合器;以及第一对齐耦合器,其配置成耦合到第一电耦合器和样品支撑件以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,样品支撑件配置成固定配置成用于直接样品分析的样品支撑件,例如,包括两个或两个以上板,如本文所述。在其它实施例中,样品支撑件或样品保持器组件可以包含一个或多个附加的耦合器,每个附加的耦合器有效地使样品支撑件与样品平台耦合。
在某些实施例中,本文所描述的样品支撑件可以采取许多不同的配置,其包括包含两个或两个以上板的配置,所述板可以使用紧固件彼此耦合,所述紧固件例如螺钉或弹簧,或者通过一个或多个铰链和/或固定装置彼此耦合,所述固定装置如在标题为″SampleHoldersandMethodsofUsingThem(样品保持器和其使用方法)″且于2012年10月28日提交的共同受让美国专利申请案第13/662,500号中所描述,所述申请案的全部公开内容在此出于所有目的以引用方式并入本文中。简短地,样品支撑件可以配置为样品保持器,其可以容纳具有用来固定住样品的有效孔径的网。孔径和配置可以根据要装载的样品的形态(例如,液体、固体、气体、超临界流体等等)来选择。虽然样品支撑件的确切材料可以变化,但是样品支撑件通常包含实质上惰性材料,或由实质上惰性材料制成,因此从样品支撑件浸出或者以其它方式解除吸附的样品支撑件材料不会产生干扰。在一些实施例中,样品支撑件可以包含实质上惰性的网,例如不锈钢网、惰性聚合材料网、实质上惰性的膜或膜材料、或者其中任何的组合。
在典型抽样操作中,样品可以添加到样品支撑件,例如,直接地添加或通过将样品悬浮在液体中或者将样品溶解在溶剂中添加,其中使样品固定至少足够的时间段以允许对样品进行分析。在样品是固体的情况下,可以压碎、粉碎、均化或以其它方式制成粉末或晶形以装载到样品支撑件上。可以向粉末添加稀释剂或载体以使粉末成块或聚结,从而便于装载到样品支撑件上。在使用稀释剂或载体的情况下,选择合适材料,使得其不产生可能干扰对样品的任何分析的物质。在样品是液体的情况下,可以喷在、滴落在、吸移在或以其它方式引入到样品支撑件上。在一些实施例中,样品支撑件可以浸入到一种液体或多种液体中以把样品装载到样品支撑件上。例如,样品支撑件可以配置成具有单独的部分,这些部分由开口分隔开并且配置成浸入或安置到单独容器中,例如,单独的微孔,以允许样品支撑件浸入到微孔板中的多个孔中。这样的样品支撑件将允许自动样品装载并且减少将样品装载到样品支撑件上所需的总时间。
在某些实施例中,然后可以将样品支撑件耦合到如本文所述的样品平台。耦合到平台的样品支撑件的图解示出于图14中。样品支撑件1410示出为通过两个孔口和一对耦合器耦合到样品平台1400。在平台1400的上表面上具有可选的定向触头1415和致动触头1420,其配置为接合密封装置1425的凸轮1430。在使用样品保持器组件时,使用发动机或其它致动装置升高平台1400,以允许将样品支撑件1410装载到平台1400上。当平台升高时,致动触头1420接合密封装置1425上的凸轮1430,凸轮1430用于旋转密封装置1425,例如旋转大约180度,允许接近平台1400。图14的侧视图示出于图15中。可以配置成门或盖的密封装置1425示出为处于打开位置,停靠于止动件1505。可以提供弹簧机构来将密封装置1425保持在封闭位置直至凸轮1430接合样品平台1400上的致动触头1420为止。然后,通过降低样品平台并将耦合有样品支撑件的样品平台转移到仪器内的期望位置来将装载有样品的样品保持器放置到仪器中,以便进行分析。当平台1400降低用于分析时,致动触头1420脱离凸轮1430,这允许密封装置1425如图14中所示逆时针旋转以便封闭并大体覆盖开口。
在某些实施例中,为了实质上不干扰或污染任何样品分析,将一种或多种合适的材料(通常是惰性的)用于生产样品平台、样品支撑件、耦合器、插入件和本文所描述的样品平台与样品保持器组件的其它部件。在一些实施例中,材料可以是一种或多种塑料材料,包含热塑性塑料和热固性塑料。在一些实施例中,塑料材料理想地具有大于250摄氏度、更具体地说大于300摄氏度的熔融温度。在某些实施例中,本文所描述的样品保持架的任何一个或多个板、固定装置和接头等可包含热塑性塑料,所述热塑性塑料包括丙烯酸聚合物、氟塑料聚合物、聚甲醛聚合物、聚丙烯酸酯聚合物、聚碳酸酯聚合物、聚对苯二甲酸聚合物、聚酯聚合物、聚醚醚酮聚合物、聚酰胺聚合物、聚酰亚胺聚合物、聚酰胺酰亚胺聚合物、聚芳醚酮聚合物或其组合物和共聚物。如果需要,所述热塑性塑料可包含金属颗粒或导电颗粒,以便于样品支撑件电耦合到电接地。在一些实施例中,使用的热塑性塑料是实质上透明的,以便当用人眼查看时促进例如样品保持器内的样品支撑件的定位。在某些实施例中,将一种或多种实质上惰性的金属材料用于生产样品保持器组件的部件,所述材料包含例如铬镍铁合金、钛和钛合金、铝和铝合金、不锈钢、耐火材料或其它包含金属并且在样品保持器组件和样品平台的使用环境中实质上惰性的合适材料。
在某些实施例中,如果需要,使用除惰性材料外的材料来生产样品保持器组件的一些部件。例如,耦合到孔口及在孔口内的电耦合器的部分可大体上位于与样品接触的流体流的外部,并且可使用除非惰性材料外的材料生产。如果需要,可使用不同的材料生产组件的不同部件。
在一些实施例中,本文所描述的样品保持器组件的部件可以包含一种可以耐受清洁操作的材料,所述清洁操作例如超声处理、溶剂洗涤或能用于在再次使用前从样品保持器清洁和/或去除任何残余物的其它清洁剂。在一些配置中,样品保持器组件的材料可以耐受所述洗涤步骤,并且在洗涤之后实质上不发生退化。
在一些实施例中,本文所描述的样品保持器组件可以用于允许对装入样品保持器的样品支撑件上的样品进行直接样品分析。图16中示出包含直接样品分析装置的系统的图解。系统1600通常包括流体地耦合到分析装置1620的直接样品分析(DSA)装置1610。在某些实施例中,分析装置1620可采用多种形式,包含质谱仪、光学吸收或发射检测器、基于等离子的分析系统或其它系统。在直接样品分析中,可以直接分析样品而不必经受预制样品制备或净化,例如,不必经受一个或多个净化步骤、层析分离步骤等。在典型操作中,在与通电离子或原子(例如,电激发的离子或原子)相撞后,样品被电离。碰撞原子的提供通常通过离子源,例如电子电离源、化学电离源、电喷雾电离源、大气压化学电离源、等离子体(例如,感应耦合的等离子体)、辉光放电源、场解除吸附源、快原子轰击源、热喷源、硅除吸附/电离源、次级离子质谱分析源、火花电离源、热电离源、离子附着电离源、光电离或其它合适离子源。能量转移可以在来自离子源和样品的受激分子之间发生,这可引起带电样品物质从样品支撑件中喷出。喷出的物质可以提供给分析装置1620或系统(例如,质量分析仪)用于检测。在典型设置中,提供给分析装置1620的离子通过接口(未示出),所述接口可包含一个或多个离子导引装置或透镜以选择具有预期质荷比的分析物和/或去除任何干涉的或不需要的物质。
在某些实施例中,在图17和18中示出了DSA装置的图解。参考图17,DSA装置1700包含样品保持器组件1710,其包含耦合到样品平台的样品支撑件1715。密封装置1720示出为处于打开位置以允许将样品支撑件1715装载到样品平台上。DSA装置1700还包括透镜组件1725和离子源或枪1730。还参考图18,一旦装载了样品支撑件1715,就将样品平台降低到DSA装置1700中并且朝着图右侧移动以将样品支撑件1715的孔口之一与离子枪1730和透镜组件1725对齐。来自离子枪1730的离子冲击样品支撑件1715上的样品,以及电离的样品在样品支撑件1715的相对侧上退出样品支撑件并且进入透镜组件1725。如图18中所示,密封装置1720(例如盖)在样品的分析期间处于封闭位置。密封装置从图17中的其打开位置到图18中的封闭位置旋转大约150度至180度,以便大体上覆盖DSA装置1700的开口。透镜组件1725可以流体地耦合到分析装置1620以将电离样品从DSA装置提供到分析装置1620。
在某些实施例中,其中分析装置1620采取质谱仪的形式,可以与本文所描述的样品支撑件保持器一起使用许多不同类型的质量分析仪。例如,可以使用扇形场质量分析仪、飞行时间质量分析仪、四极滤质器、离子阱、线性四极离子阱、轨道阱或回旋加速器,例如,傅里叶变换离子回旋共振或其它合适的质量分析仪。随着所选离子退出质量分析仪,可将其提供到检测器以检测例如离子冲击或行进过表面产生的电流或电荷的变化。说明性的检测器包含但不限于电子倍增器、法拉第杯、离子到光子检测器、微通道板检测器、电感式检测器或可使用其它合适的检测器。质谱仪通常将包含显示器,其可以提供供用户查看的质谱。虽然未描述,但是质谱仪通常将包含众多的其它部件,包含真空系统、一个或多个接口以及通常在使用的质谱仪中发现的许多其它部件。
在某些实施例中,本文所述部件可以封装或分组成套件。在一些实施例中,可提供套件,其包括样品平台,所述样品平台配置成固定有效固定用于直接进样分析的样品的样品支撑件,所述样品平台包括第一整体耦合器,所述第一整体耦合器配置成将样品支撑件与样品平台耦合以提供样品保持器与地面之间的电耦合。在一些情况下,所述套件可包含第一电耦合器,所述第一电耦合器配置为耦合至样品平台的第一耦合器,以提供样品支撑件与地面之间的电耦合。在其它实施例中,所述套件的样品平台进一步包括第二耦合器,所述第二耦合器配置成提供样品支撑件与地面之间的电耦合。在一些实施例中,所述套件可进一步包含:第一电耦合器,其配置成耦合到样品平台的第一耦合器;以及第二电耦合器,其配置成耦合到样品平台的第二耦合器,所述第一电耦合器和第二电耦合器中的每个耦合器均配置成允许样品支撑件与地面之间的电耦合。在其它实施例中,所述套件可包含插入件,所述插入件配置成耦合到第一电耦合器和第二电耦合器中的至少一个。在某些实施例中,所述套件的样品平台包括配置为耦合到第一电耦合器的第一孔口以及配置为耦合到第二电耦合器的第二孔口。在其它实施例中,所述套件可包含第一插入件,所述第一插入件配置为耦合到第一孔口和第一电耦合器。在一些实施例中,所述套件可包含第二插入件,所述第二插入件配置为耦合到第二孔口和第二电耦合器。在某些实施例中,第一插入件和第二插入件的尺寸不同以允许样品支撑件在单个方向上耦合到样品平台。在其它实施例中,所述套件的样品平台进一步包括配置成接合密封装置的致动触头。
在某些实施例中,本文所描述的样品保持器组件可用于直接样品分析,以分析样品。在某些实施例中,所述方法可包含提供包括第一整体耦合器的样品平台,将第一整体耦合器配置为在与样品平台耦合的样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,所述方法可包含提供第一电耦合器,其配置为与第一整体耦合器耦合并允许样品支撑件与地面之间的电耦合。在其它实施例中,所述方法可包含为样品平台提供第二整体耦合器,将第二整体耦合器配置为在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,所述方法可包含提供配置为与第一整体耦合器耦合的第一电耦合器和配置为与第二整体耦合器耦合的第二电耦合器,第一和第二电耦合器均配置为允许样品支撑件与地面之间的电耦合。在其它实施例中,所述方法可包含提供配置为与第一电耦合器和第二电耦合器中的至少一个耦合的插入件。在一些实施例中,所述方法可包含提供样品平台,其包括配置为与第一电耦合器耦合的第一孔口和配置为与第二电耦合器耦合的第二孔口。在某些实施例中,所述方法可包含提供配置为与第一孔口和第一电耦合器耦合的第一插入件。在一些实施例中,所述方法可包含提供配置为与第二孔口和第二电耦合器耦合的第二插入件。在其它实施例中,所述方法可包含提供第一插入件和尺寸与第一插入件不同的第二插入件,以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在某些实施例中,所提供的样品平台进一步包括配置为与密封装置接合的致动触头。
在一些情况下,可执行一种方法,其包括为样品支撑件提供至少一个耦合器,所述耦合器配置为使样品支撑件与样品平台可逆地耦合,以提供样品支撑件与地面的电耦合。在某些实施例中,所述方法可包含在不使用任何螺纹紧固件来使样品支撑件与样品平台耦合的情况下使样品支撑件接地。在其它实施例中,所述方法可包含提供包括孔口的样品平台,所述孔口配置为与样品支撑件的至少一个耦合器耦合。在某些实施例中,所述方法可包含提供至少一个电插入件,其配置为与至少一个耦合器和样品平台的孔口耦合,以在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在一些实施例中,所述方法可包含将样品支撑件配置为具有至少一个附加的耦合器,将所述附件的耦合器配置为使样品支撑件与样品平台可逆地耦合并在样品支撑件与地面之间提供电耦合。在另一些实施例中,所述方法可包含提供均配置为与所述至少一个耦合器和附加的耦合器中的一个耦合的第一电插入件和第二电插入件。在其它实施例中,所述方法可包含提供包括第一孔口和第二孔口的样品平台,所述第一孔口配置为与样品支撑件的至少一个耦合器耦合,所述第二孔口配置为与样品支撑件的附加的耦合器耦合。在一些情况下,所述方法可包含将样品平台配置为具有定向触头,以允许样品支撑件在单个方向上与样品平台耦合。在其它实施例中,所述方法可包含将样品平台配置为具有致动触头,其配置为与密封装置接合。在一些实施例中,将致动触头配置为允许使密封装置旋转至多约180度。
当引入本文公开的方面、实施例和各实施例的元件时,冠词“一”、和“所述”旨在意味具有一个或多个元件。术语″包括″、″包含″和″具有″旨在为开放的,且意味着可以有除了所列举元件之外的其它附加元件。本领域的普通技术人员将会认识到,受本公开案的启示,所述实施例的各种部件可以互换或用其它实施例中的各种部件代替。
虽然在上文中已经描述了某些方面、实施例和实施例,但是本领域的普通技术人员将会认识到,受本公开案的启示,所公开的说明性方面、实施例和实施例的增加、替代、修改和变更是可能的。

Claims (90)

1.一种用于直接样品分析的样品保持器组件,所述样品保持器组件包括:
样品平台,配置为固定有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件,所述样品平台包括至少一个孔口;以及
电耦合器,配置为通过所述样品平台的所述至少一个孔口与所述样品支撑件和所述样品平台耦合,以将所述样品支撑件固定在所述样品平台上并提供所述样品支撑件与地面的电耦合。
2.如权利要求1所述的样品保持器组件,其中,将所述电耦合器配置为与对齐耦合器接合,所述对齐耦合器配置为使所述样品支撑件与所述地面电耦合并与所述样品平台上的所述样品支撑件对齐以进行分析。
3.如权利要求2所述的样品保持器组件,其中,所述电耦合器通过摩擦配合与所述对齐耦合器接合。
4.如权利要求2所述的样品保持器组件,其中,所述对齐耦合器包括配置为与所述至少一个孔口的螺纹耦合的螺纹。
5.如权利要求1所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的第二孔口,其中,将所述第二孔口配置为通过附加的电耦合器使所述样品支撑件与所述地面电耦合。
6.如权利要求5所述的样品保持器组件,其中,所述样品保持器组件进一步包括第一对齐耦合器和第二对齐耦合器,其中,将所述第一对齐耦合器配置为与所述电耦合器接合,并将所述第二对齐耦合器配置为与所述附加的电耦合器接合,以提供所述样品支撑件与地面的电耦合。
7.如权利要求1所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的定向触头,将所述定向触头配置为允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
8.如权利要求7所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。
9.如权利要求8所述的样品保持器组件,其中,将所述样品平台上的所述致动触头配置为允许使所述密封装置旋转至多约180度。
10.如权利要求1所述的样品保持器组件,其中,将所述电耦合器配置为在不使用任何螺纹紧固件的情况下在所述样品支撑件与所述地面之间提供所述电耦合。
11.一种样品保持器组件,其包括:
样品平台,其包括配置为通过样品支撑件上的导电定位销使所述样品支撑件与地面电耦合的电耦合器;以及
附加的电耦合器,其配置为与所述样品平台的所述电耦合器和所述样品支撑件的所述电耦合器耦合,以提供所述样品支撑件与所述地面之间的电耦合。
12.如权利要求11所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的第二电耦合器,所述第二电耦合器配置为与所述样品支撑件上的第二导电定位销耦合,以使所述样品支撑件与所述地面电耦合。
13.如权利要求12所述的样品保持器组件,其进一步包括第一适配器和第二适配器,将所述第一适配器配置为与所述电耦合器和第一定位销耦合,将所述第二适配器配置为与所述第二电耦合器和第二定位销耦合,以允许所述样品支撑件与所述样品平台耦合并在所述样品平台与所述地面之间提供电耦合。
14.如权利要求12所述的样品保持器组件,其中,使所述电耦合器和所述第二电耦合器极化,以允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
15.如权利要求12所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的定向触头,以允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台接合。
16.如权利要求15所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。
17.如权利要求16所述的样品保持器组件,其中,将所述样品平台上的所述致动触头配置为允许使所述密封装置旋转至多约180度。
18.如权利要求11所述的样品保持器组件,其中,将所述样品支撑件配置为容纳样品以进行直接样品分析。
19.如权利要求11所述的样品保持器组件,其中,将所述样品平台的所述电耦合器配置为通过摩擦配合与所述样品支撑件的所述定位销接合。
20.如权利要求11所述的样品保持器组件,其中,将所述样品平台的所述电耦合器配置为在不使用任何螺纹紧固件的情况下在所述样品支撑件与所述地面之间提供所述电耦合。
21.一种样品保持器组件,其包括:
样品平台,其配置为固定有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件,所述样品平台包括配置为使所述样品平台与样品支撑件耦合的至少一个整体耦合器;
电耦合器,其配置为与所述样品平台的所述至少一个整体耦合器耦合并提供所述样品支撑件与地面的所述电耦合;以及
对齐耦合器,其配置为与所述电耦合器接合,以允许所述样品支撑件与所述地面的所述电耦合并与所述样品平台上的所述样品支撑件对齐。
22.如权利要求21所述的样品保持器组件,其中,所述整体电耦合器包含不锈钢。
23.如权利要求21所述的样品保持器组件,其中,所述样品平台进一步包括配置为使所述样品支撑件与所述样品平台耦合的第二整体耦合器。
24.如权利要求23所述的样品保持器组件,其中,所述整体耦合器和所述第二整体耦合器具有不同的尺寸。
25.如权利要求23所述的样品保持器组件,其中,所述整体耦合器和所述第二整体耦合器实质上彼此平行。
26.如权利要求23所述的样品保持器组件,其进一步包括配置为与所述第二整体耦合器耦合以提供所述样品支撑件与所述地面的电耦合的第二电耦合器。
27.如权利要求26所述的样品保持器组件,其中,所述整体耦合器和所述第二整体耦合器具有实质上相同的尺寸,并且所述电耦合器和所述第二电耦合器具有不同的尺寸。
28.如权利要求26所述的样品保持器组件,其进一步包括配置为与所述第二电耦合器耦合以提供所述第二电耦合器与所述地面的所述电耦合的第二对齐耦合器。
29.如权利要求28所述的样品保持器组件,其中,所述电耦合器和所述第二电耦合器具有实质上相同的尺寸,并且所述对齐耦合器和所述第二对齐耦合器具有不同的尺寸。
30.如权利要求28所述的样品保持器组件,其中,所述整体耦合器和所述第二整体耦合器具有实质上相同的尺寸,所述电耦合器和所述第二电耦合器具有不同的尺寸,并且其中,所述对齐耦合器的尺寸适于接合所述电耦合器,而所述第二对齐耦合器的尺寸适于接合所述第二电耦合器,以允许将所述样品保持器在单个方向上插入所述样品支撑件。
31.一种样品保持器组件,其包括
样品支撑件,其包括第一耦合器;以及
样品平台,其包括配置为与所述样品支撑件的所述第一耦合器可逆地耦合的第一孔口,将所述样品平台的所述孔口配置为与所述样品平台上的所述样品支撑件对齐并提供所述样品支撑件与地面的电耦合。
32.如权利要求31所述的样品保持器组件,其中,所述样品支撑件进一步包括配置为使所述样品支撑件与地面电耦合的第二耦合器,并且其中,所述样品平台包括配置为与所述第二耦合器可逆地耦合以提供所述样品支撑件与所述地面的电耦合的第二孔口。
33.如权利要求32所述的样品保持器组件,其中,所述第一孔口和所述第二孔口的尺寸和布置适于允许将所述样品支撑件在单个方向上插入所述样品平台。
34.如权利要求32所述的样品保持器组件,其中,所述样品平台包括可拆除的对齐耦合器,将其配置为允许使所述样品支撑件在单个方向上耦合到所述样品平台中。
35.如权利要求31所述的样品保持器组件,其进一步包括配置为与所述第一耦合器和所述第一孔口电耦合以允许所述样品支撑件与所述地面电耦合的电耦合器。
36.如权利要求31所述的样品保持器组件,其中,所述样品支撑件进一步包括配置为使所述样品支撑件与地面电耦合的第二耦合器,并且其中,所述样品平台包括配置为与所述样品支撑件的所述第二耦合器可逆地耦合的第二孔口,以允许所述样品支撑件与所述地面电耦合,所述样品保持器组件进一步包括第一电耦合器和第二电耦合器,将所述第一电耦合器配置为与所述样品支撑件的所述第一耦合器和所述样品平台的所述第一孔口电耦合,以允许所述样品支撑件与所述地面的电耦合,将所述第二电耦合器配置为与所述样品支撑件的所述第二耦合器和所述样品平台的所述第二孔口电耦合,以允许所述样品支撑件与所述地面的电耦合。
37.如权利要求36所述的样品保持器组件,其中,所述第一电耦合器和所述第二电耦合器的尺寸和布置适于允许所述样品支撑件在单个方向上分别与所述样品平台的所述第一孔口和所述第二孔口耦合。
38.如权利要求36所述的样品保持器组件,其中,所述样品平台包括配置为允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合的对齐耦合器。
39.如权利要求36所述的样品保持器组件,其进一步包括第一对齐耦合器,其配置为与所述样品平台的所述第一孔口和所述第一电耦合器耦合,以允许所述样品支撑件与所述地面的电耦合。
40.如权利要求36所述的样品保持器组件,其进一步包括第二对齐耦合器,其配置为与所述样品平台的所述第二孔口和所述第二电耦合器耦合,以允许所述样品支撑件与所述地面的电耦合。
41.一种样品保持器组件,其包括:
样品支撑件,其包括配置为使所述样品支撑件与样品平台耦合的第一耦合器;
第一电耦合器,其配置为与所述样品支撑件的所述第一耦合器耦合;以及
第一对齐耦合器,其配置为与所述第一电耦合器和与所述样品支撑件耦合,以在所述样品支撑件与地面之间提供电耦合。
42.如权利要求41所述的样品保持器组件,其中,将所述样品支撑件配置为固定配置为用于直接样品分析的样品支撑件。
43.如权利要求41所述的样品保持器组件,其中,所述样品支撑件进一步包括配置为与所述样品平台耦合的第二耦合器,并且所述样品保持器组件包括配置为与所述样品支撑件的所述第二耦合器耦合的第二电耦合器。
44.如权利要求43所述的样品保持器组件,其中,所述样品保持器组件进一步包括第二对齐耦合器,所述第二对齐耦合器配置为与所述第二电耦合器耦合以在所述样品支撑件与所述地面之间提供电耦合。
45.如权利要求41所述的样品保持器组件,其进一步包括样品平台,所述样品平台包括配置为与所述样品支撑件的所述第一耦合器耦合的第一孔口。
46.如权利要求45所述的样品保持器组件,其中,所述样品保持器支撑件包括定向触头,所述定向触头配置为允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
47.如权利要求45所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。
48.如权利要求47所述的样品保持器组件,其中,将所述样品平台上的所述致动触头配置为允许使所述密封装置旋转至多约180度。
49.如权利要求48所述的样品保持器组件,其中,将所述密封装置配置为盖。
50.如权利要求49所述的样品保持器组件,其中,所述盖包括凸轮,所述凸轮配置为与所述样品平台支撑件的所述致动触头滑动接合,以使门旋转并允许将样品装入所述样品支撑件。
51.一种样品保持器组件,其配置为容纳样品保持器以进行直接样品分析,所述样品保持器组件包括:
样品支撑件,其有效地固定样品以进行直接样品分析,所述样品支撑件包括第一耦合器和第二耦合器,其均配置为使所述样品支撑件与地面电耦合;以及
样品平台,其包括配置为与所述样品支撑件的所述第一耦合器耦合的第一孔口和配置为与所述样品支撑件的所述第二耦合器耦合的第二孔口,所述样品平台包括配置为与密封装置接合的致动触头。
52.如权利要求51所述的样品保持器组件,其进一步包括配置为与所述第一耦合器耦合的第一电耦合器,以及配置为与所述第二耦合器耦合的第二电耦合器,将所述第一和第二电耦合器配置为在所述样品支撑件与所述地面之间提供电耦合。
53.如权利要求52所述的样品保持器组件,其中,所述样品平台的第一和第二孔口具有不同的尺寸,以允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
54.如权利要求52所述的样品保持器组件,其进一步包括配置为与所述第一孔口和所述第一电耦合器耦合的第一插入件,以及配置为与所述第二孔口和所述第二电耦合器耦合的第二插入件。
55.如权利要求54所述的样品保持器组件,其中,所述第一和第二电耦合器具有不同的尺寸,并且所述第一和第二插入件具有不同的尺寸,以允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
56.如权利要求51所述的样品保持器组件,其中,将所述致动触头配置为与所述密封装置的凸轮接合,以允许使所述密封装置旋转至多约180度。
57.如权利要求56所述的样品保持器组件,其中,所述密封装置包括盖。
58.如权利要求51所述的样品保持器组件,其进一步包括在所述样品平台上的定向触头,所述定向触头配置为允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
59.如权利要求51所述的样品保持器组件,其中,所述第一耦合器和所述第一孔口具有相似的尺寸,并且所述第二耦合器和所述第二孔口具有相似的尺寸且与所述第一耦合器和所述第一孔口的尺寸不同,以允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
60.如权利要求51所述的样品保持器组件,其中,所述第一耦合器和所述第二耦合器通过摩擦配合分别与所述第一孔口和所述第二孔口耦合。
61.一种样品平台,其配置为容纳有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件,所述样品平台包括至少一个电耦合器,所述至少一个电耦合器配置为与所述样品支撑件接合并在所述样品支撑件与地面之间提供电耦合。
62.如权利要求61所述的样品平台,其中,将所述样品平台的所述电耦合器配置为,与所述样品支撑件上的电耦合器接合以在所述样品支撑件与所述地面之间提供所述电耦合。
63.如权利要求61所述的样品平台,其中,所述样品平台包括附加的电耦合器,且其中,将所述样品平台的所述电耦合器配置为与所述样品支撑件上的第一电耦合器接合,并将所述样品平台的所述附加的电耦合器配置为与所述样品支撑件上的第二电耦合器接合,以在所述样品支撑件与所述地面之间提供所述电耦合。
64.如权利要求61所述的样品平台,其进一步包括定向触头,所述定向触头配置为允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
65.如权利要求61所述的样品平台,其进一步包括在所述样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。
66.如权利要求65所述的样品平台,其中,将所述致动触头配置为允许使所述密封装置旋转至多约180度。
67.如权利要求61所述的样品平台,其中,将所述电耦合器配置为通过摩擦配合可释放地接合所述样品支撑件。
68.如权利要求61所述的样品平台,其中,将所述电耦合器配置为通过所述样品支撑件的电耦合器可释放地接合所述样品支撑件。
69.如权利要求61所述的样品平台,其中,所述电耦合器包括与所述样品平台接合的螺纹,并且所述样品支撑件包括配置为通过摩擦配合与所述样品平台的所述电耦合器接合的电耦合器。
70.如权利要求61所述的样品平台,其中,所述电耦合器的尺寸和布置适于容纳所述样品支撑件的至少一个定位销以在所述样品支撑件与地面之间提供电耦合。
71.一种样品平台,其配置为容纳有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件,所述样品平台包括至少一个孔口,所述至少一个孔口配置为容纳样品支撑件的电耦合器,以允许所述样品支撑件与地面之间的电耦合。
72.如权利要求71所述的样品平台,其中,将所述样品支撑件的所述电耦合器配置为与所述样品平台的所述至少一个孔口耦合的销。
73.如权利要求71所述的样品平台,其中,所述样品平台的所述至少一个孔口是导电的。
74.如权利要求71所述的样品平台,其中,所述至少一个孔口的尺寸和布置适于容纳配置为与所述样品支撑件的所述电耦合器耦合以在所述样品支撑件与所述地面之间提供电耦合的电耦合器。
75.如权利要求71所述的样品平台,其进一步包括附加的孔口,所述孔口配置为容纳样品支撑件的附加的电耦合器,以允许所述样品支撑件与所述地面之间的电耦合。
76.如权利要求75所述的样品平台,其中,将所述样品支撑件的所述电耦合器和所述样品支撑件的所述附加的电耦合器均配置为销,其分别与所述样品支撑件的所述至少一个孔口和所述附加的孔口耦合。
77.如权利要求75所述的样品平台,其中,所述至少一个孔口的尺寸和布置适于容纳所述样品支撑件的所述电耦合器,以使所述样品支撑件的所述电耦合器与地面电耦合,并且其中,所述附加的孔口的尺寸和布置适于容纳所述样品支撑件的所述附加的电耦合器,以使所述样品支撑件的所述附加的电耦合器与地面电耦合。
78.如权利要求71所述的样品平台,其进一步包括定向触头,所述定向触头配置为允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
79.如权利要求71所述的样品平台,其进一步包括在所述样品平台上的配置为与密封装置接合的致动触头。
80.如权利要求79所述的样品平台,其中,将所述致动触头配置为允许使所述密封装置旋转至多约180度。
81.一种套件,其包括样品平台,所述样品平台配置为固定有效地固定样品以进行直接样品分析的样品支撑件,所述样品平台包括第一整体耦合器,所述第一整体耦合器配置为使所述样品平台与所述样品支撑件耦合以在所述样品保持器与地面之间提供电耦合。
82.如权利要求81所述的套件,其进一步包括第一电耦合器,所述第一电耦合器配置为与所述样品平台的所述第一整体耦合器耦合,以在所述样品支撑件与所述地面之间提供所述电耦合。
83.如权利要求81所述的套件,其中,所述样品平台进一步包括第二耦合器,所述第二耦合器配置为在所述样品支撑件与所述地面之间提供电耦合。
84.如权利要求83所述的套件,其进一步包括配置为与所述样品平台的所述第一整体耦合器耦合的第一电耦合器,以及配置为与所述样品平台的所述第二耦合器耦合的第二电耦合器,将所述第一电耦合器和所述第二电耦合器中每一个均配置为允许所述样品支撑件与所述地面之间的电耦合。
85.如权利要求84所述的套件,其进一步包括插入件,所述插入件配置为与所述第一电耦合器和所述第二电耦合器中的至少一个耦合。
86.如权利要求84所述的套件,其中,所述样品平台包括配置为与所述第一电耦合器耦合的第一孔口和配置为与所述第二电耦合器耦合的第二孔口。
87.如权利要求86所述的套件,其进一步包括配置为与所述第一孔口和所述第一电耦合器耦合的第一插入件。
88.如权利要求87所述的套件,其进一步包括配置为与所述第二孔口和所述第二电耦合器耦合的第二插入件。
89.如权利要求88所述的套件,其中,所述第一插入件和所述第二插入件具有不同的尺寸,以允许所述样品支撑件在单个方向上与所述样品平台耦合。
90.如权利要求86所述的套件,其中,所述样品平台进一步包括配置为与密封装置接合的致动触头。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6825478B1 (en) * 2003-10-10 2004-11-30 Perseptive Biosystems, Inc. MALDI plate with removable magnetic insert
US7030373B2 (en) * 2003-12-19 2006-04-18 Applera Corporation MALDI plate construction with grid
CA2493691A1 (en) * 2004-01-22 2005-07-22 Ionalytics Corporation Method and apparatus for faims with a laser-based ionization source
US7262841B2 (en) * 2005-03-17 2007-08-28 Agilent Technologies, Inc. Laser alignment for ion source
US7723678B2 (en) * 2006-04-04 2010-05-25 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for surface desorption ionization by charged particles
US7564028B2 (en) * 2007-05-01 2009-07-21 Virgin Instruments Corporation Vacuum housing system for MALDI-TOF mass spectrometry
EP2240811A4 (en) * 2007-12-21 2012-09-05 Protochips Inc SPECIMEN SUPPORT FOR MICROSCOPY
US8143593B2 (en) * 2008-10-20 2012-03-27 Brookhaven Science Associates, Llc Transmission electron microscope sample holder with optical features

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111261479A (zh) * 2018-11-30 2020-06-09 浙江大学 具有静电导出作用的多自由度样品杆
CN111261479B (zh) * 2018-11-30 2021-10-26 浙江大学 具有静电导出作用的多自由度样品杆

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