CN205210256U - 一种用于扩展chroma 3380p测试平台的功能的装置 - Google Patents
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Abstract
一种用于扩展chroma？3380p测试平台的功能的装置，涉及芯片测试技术领域，其结构包括上位机、控制器和用于将chroma？3380p测试平台的一个电源输出端转换为至少两个电源输出端的被测芯片通道选择器，控制器与被测芯片通道选择器的受控端电连接，每两个被测芯片通道选择器的输入端与chroma？3380p测试平台的一个电源输出端电连接，被测芯片通道选择器的每个输出端与被测芯片的电源端电连接，被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为chroma？3380p测试平台的电源输出端的数量的整数倍，本实用新型通过继电器的切换，可使chroma？3380p测试平台的一个电源输出端对至少两颗被测芯片进行测试，可提高被测芯片测试平台的测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置。
背景技术
chroma3380p测试平台在对被测芯片进行测试时，设置了位于奇数列的被测芯片是并联的（比如被测芯片DUT1和DUT3是并联的），位于偶数列的被测芯片也是并联的（比如被测芯片DUT0和DUT2是并联的），1个位于奇数位的被测芯片和1个位于偶数位的被测芯片是串联的（比如被测芯片DUT0和DUT1是串联的）。
当利用chroma3380p测试平台的电源通道为被测被测芯片供电时，可同时为所有芯供电，但是当测试被测芯片的I/0引脚的性能时，就需要将位于奇数列的被测芯片和位于偶数列的被测芯片分开测试。
目前chroma3380p测试平台的电源通道为64个，数字通道为512个，由于某些被测芯片的I/0引脚较多，比如1个被测芯片有4个I/O引脚，那么512个数字通道就可用于同时测试128个被测芯片，但是电源通道只有64个，无法满足128个被测芯片同测的要求，因此，只能对64个具有4个I/O引脚的被测芯片进行测试，也就是要浪费部分数字通道的资源。
测试64个被测芯片的测试效率也只有128个被测芯片同测的效率的60%左右，这样无法满足产能的需求。
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，该用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置供软件工程师编写软件后，可提高被测芯片测试平台的测试效率。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现：
提供一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，包括上位机、控制器和用于将chroma3380p测试平台的一个电源输出端转换为至少两个电源输出端的被测芯片通道选择器，所述上位机与控制器通讯，所述控制器与所述被测芯片通道选择器的受控端电连接，每两个所述被测芯片通道选择器的输入端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述被测芯片通道选择器的输出端与被测被测芯片的电源端电连接，所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的整数倍。
所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的两倍。
所述被测芯片通道选择器设为继电器组，所述控制器与继电器组的每个继电器的线圈电连接，每两个所述继电器的开关的一端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述继电器的开关的另一端用于与被测被测芯片的电源端电连接。
所述继电器组的继电器数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的两倍。
所述被测芯片通道选择器设为单片机，所述单片机的输入端与chroma3380p测试平台的电源输出端一一对应电连接，所述单片机的每个输出端对应与一个被测被测芯片的电源端电连接。
本实用新型的有益效果：本实用新型包括上位机、控制器和用于将chroma3380p测试平台的一个电源输出端转换为至少两个电源输出端的被测芯片通道选择器，所述上位机与控制器通讯，所述控制器与所述被测芯片通道选择器的受控端电连接，每两个所述被测芯片通道选择器的输入端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述被测芯片通道选择器的输出端与被测被测芯片的电源端电连接，所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的整数倍。本实用新型的控制器可供软件工程师编写软件，再通过被测芯片通道选择器切换来控制chroma3380p测试平台的电源的使用，可以有效的解决测试平台资源受限的难题，通过被测芯片通道选择器的切换，可以使chroma3380p测试平台的一个电源输出端对至少两颗被测芯片进行测试，64个电源通道可至少对128颗被测芯片同时进行供电，可提高被测芯片测试平台的测试效率。
附图说明
利用附图对实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本实用新型的一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置的局部结构示意图。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。
本实施例的一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，用于测试具有4个I/O引脚的被测芯片，包括上位机、控制器和继电器组，所述上位机与控制器通讯，所述控制器与继电器组的每个继电器的线圈电连接，每两个所述继电器的开关的一端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述继电器的开关的另一端用于与被测被测芯片的电源端电连接。
所述继电器组的继电器数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的两倍，即128个继电器，图1仅画出了四个继电器Relay-SPST0、Relay-SPST2、Relay-SPST125和Relay-SPST127进行原理解释。
一个位于奇数列的被测芯片和一个偶数列的被测芯片通过继电器共用chroma3380p测试平台的一个电源输出端，如图1所示，被测芯片DUT0和DUT1共用chroma3380p测试平台的电源输出端DSP0，被测芯片DUT125和DUT127共用chroma3380p测试平台的电源输出端DSP63。
本实施例通过继电器切换来控制chroma3380p测试平台的电源的使用，可以有效的解决测试平台资源受限的难题，通过继电器的切换，可以使chroma3380p测试平台的一个电源输出端对两颗被测芯片进行测试，64个电源通道可对128颗被测芯片同时进行供电，可提高被测芯片测试平台的测试效率。
工作原理如下：
上位机用于输入测试命令，控制器根据该测试命令控制全部继电器或者部分继电器闭合。情况一：在chroma3380p测试平台的电源输出端只为被测被测芯片供电使用时，可以将
128个继电器全部闭合，利用chroma3380p测试平台的64个电源输出端为128颗被测芯片供电。这是因为chroma3380p测试平台的每个电源输出端最大可以供1A电流，单颗被测芯片的电流在100mA以内，所以chroma3380p测试平台的电源的电流完全足够提供两颗被测芯片所需求的电流。
情况二：在测试被测芯片的工作电流和静态电流时，需先将与位于奇数列的被测芯片电连接的64个继电器闭合，只测试位于奇数列的被测芯片的电流。
接着断开与位于奇数列的被测芯片电连接的64个继电器，闭合与位于偶数列的被测芯片电连接的64个继电器，对位于偶数列的被测芯片的电流进行测试。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
Claims (5)
1.一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，其特征在于：包括上位机、控制器和用于将chroma3380p测试平台的一个电源输出端转换为至少两个电源输出端的被测芯片通道选择器，所述上位机与控制器通讯，所述控制器与所述被测芯片通道选择器的受控端电连接，每两个所述被测芯片通道选择器的输入端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述被测芯片通道选择器的输出端与被测被测芯片的电源端电连接，所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的整数倍。
2.如权利要求1所述的一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，其特征在于：所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的两倍。
3.如权利要求1所述的一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，其特征在于：所述被测芯片通道选择器设为继电器组，所述控制器与继电器组的每个继电器的线圈电连接，每两个所述继电器的开关的一端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述继电器的开关的另一端用于与被测被测芯片的电源端电连接。
4.如权利要求3所述的一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，其特征在于：所述继电器组的继电器数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的两倍。
5.如权利要求1所述的一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，其特征在于：所述被测芯片通道选择器设为单片机，所述单片机的输入端与chroma3380p测试平台的电源输出端一一对应电连接，所述单片机的每个输出端对应与一个被测被测芯片的电源端电连接。
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|---|---|---|---|---|
| CN111722080A (zh) * | 2020-05-26 | 2020-09-29 | 苏试宜特(上海)检测技术有限公司 | 闩锁测试机台外部扩展电源装置及方法 |
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2015
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| CN111722080A (zh) * | 2020-05-26 | 2020-09-29 | 苏试宜特(上海)检测技术有限公司 | 闩锁测试机台外部扩展电源装置及方法 |
| CN111722080B (zh) * | 2020-05-26 | 2023-09-22 | 苏试宜特(上海)检测技术股份有限公司 | 闩锁测试机台外部扩展电源装置及方法 |
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