CN205120036U - 多阶块规 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多阶块规，包括：一多阶量测体及一检测装置。该多阶量测体包含：一上导电壳体、一个或一个以上绝缘单元、多个导电开关、一连接器及一下壳体。该上导电壳体具有多个容置空间及穿孔。所述绝缘单元及导电开关配置在所述容置空间，该导电开关的第一导电体及第二导电体与该第一连接器及上导电壳体电性连结。该检测装置包含有一与第一连接器电性连结的第二连接器。该多阶量测体放置两对象间，以其一对象压掣或未压掣于所述导电开关与该上导电壳体形成不导通或导通，以检测装置检测每一阶的不导通或导通来判断两对象之间的间距的面与面的平行度范围。

Description

多阶块规

技术领域

本实用新型涉及一种量测工具，尤其涉及一种可对两对象之间的面与面间距量测的多阶块规。

背景技术

以往在设备机台架设时，为了让所架设机台时需要其中两相关对象高度保持在一预定高度时，因此两两相关对象之间的间距的平行度都会要求在一定的范围内(如±10um)，以确保机台能够稳定精确运作。

目前在两机台架设完成后，量测两两相关对象之间的间距的面与面的平行高度是否在预定范围内，目前的所以用的量测工具很多，例如以激光量测仪器进行量测时，如果对象距离太小时，因此造成以激光量测仪器不易量测。若改以光标卡尺，在量测时以移动附在主尺上滑动的光标尺来对准两机台之间的间距，由于光标卡尺在量测时，是由架设人员以手握持，如果在一边量测又要一边调整两两相关对象之间的间距时，易造成握持游边卡尺的手在晃动，而影响到测量的精度。若是以块规进行量测时，由于块规本身具有一特定的尺寸(厚度)，因此在架设人员在量测两两相关对象之间的间距时，以选择不同厚薄尺寸的块规塞入于两两相关对象之间的间距间，即可得知两两相关对象之间的间距多少，但是以块规进行量测及一边调整的工时及工序较多，因此有造成调整上的麻烦。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的主要目的在于解决传统缺失，提供一种多阶块规的量测工具，直接将该多阶块规塞入于两对象(机台)之间，藉由每一阶的开闭状况来判断两对象之间的间距的面与面的平行度是否符合规定，以达到省时、省工序的快速量测。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种多阶块规，以量测两对象之间的间距的面与面的平行度，包括：一多阶量测体及一与该多阶量测体电性连结的检测装置。该多阶量测体至少包含有：一上导电壳体、一个或一个以上绝缘单元、多个导电开关、一第一连接器及一下壳体。该上导电壳体内部具有多个容置空间及具有一顶部，该顶部上具有多个对应所述容置空间的穿孔。所述绝缘单元配置于所述容置空间中。所述导电开关配置于所述绝缘单元内部，所述导电开关各具一第一导电体及一第二导电体组成。该第一连接器与该上导电壳体及该第一导电体电性连结。该检测装置至少包含有一第二连接器、一与该第二连接器电性连结的微处理单元，一与该微处理单元电性连结的显示单元，以及一与该微处理单元、该显示单元及该第二连接器电性连结的电源供应单元。以该第二连接器与该第一连接器电性连结。在量测时，以该多阶量测体放置于两对象之间，以其一对象压掣或未压掣到所述第二导电体，使每一阶形成不导通或导通状态，以该检测装置检测每一阶的导通或不导通的方式来判断两对象之间的间距的面与面的平行度范围。

本实用新型的一实施例中，该下壳体为磁性材料、导电材料或非导电材料。

本实用新型的一实施例中，该第一导电体及该第二导电体以配置于所述绝缘单元内部，该第二导电体与该第一导电体接触的位于该第一导体的上方，该第一导电体以本身的弹力将该第二导电体向上顶，使该第二导电体部份外露于该导电壳体的所述穿孔外部。

本实用新型的一实施例中，该第一导电体为弹性组件，如弹簧、弹片或导电橡胶。

本实用新型的一实施例中，该第二导电体为圆形体、半圆形体或凸字型。

本实用新型的一实施例中，该第一连接器具有一连接头，该连接头一端电性连结有多条与所述第一导电体及该上壳体电性连结的导线。

本实用新型的一实施例中，该第二连接器具有一连接头，该连接头的一端具有与该微处理单元电性连结或透过多条导线电性连结。

附图说明

图1为本实用新型之第一实施例的多阶块规的多阶量测体与检测装置外观立体示意图。

图2a为图1的多阶块规的多阶量测体的侧剖视示意图。

图2b为本实用新型之电路方块示意图。

图3为本实用新型之第一实施例的多阶块规的多阶量测体放置于两对象间与检测装置连结示意图。

图4为本实用新型之第一实施例的多阶量测体的局部示意图。

图5为本实用新型之第一实施例的多阶块规的另一种量测方式示意图。

图6为本实用新型之第二实施例的多阶块规示意图。

【主要组件符号说明】

多阶量测体10

上导电壳体1

容置空间11

顶部12

穿孔13

绝缘单元2

导电开关3

第一导电体31

第二导电体32

第一连接器4

连接头41

导线42

下壳体5

检测装置20

微处理单元6

显示单元7

第二连接器8

连接头81

导线82

电源供应单元9

物件30、40

块规50。

具体实施方式

下面结合附图及本实用新型的实施例对本新型多阶块规作进一步详细的说明。

请参阅图1、图2a~图2b为本实用新型的第一实施例的多阶块规的多阶量测体与检测装置外观立体、图1的多阶块规的多阶量测体的侧剖视及电路方块示意图。如图所示：本实用新型之多阶块规，包括：一多阶量测体10及一检测装置20。

该多阶量测体10至少包含有：一上导电壳体1、一个(含)以上绝缘单元2、多个开关3、一第一连接器4及一下壳体5。该上导电壳体1其内部具有多个容置空间11，该上导电壳体1上具有一顶部12，该顶部12上各设有对应所述容置空间11的穿孔13，所述穿孔13以供该导电开关3的部份组件外露。

所述绝缘单元2，以配置于所述容置空间11中，所述绝缘单元2以容置所述导电开关3。

所述导电开关3，以配置于所述绝缘单元2内部，所述导电开关3各具一第一导电体31及一第二导电体32组成，该第一导电体31为弹性组件如弹簧、弹片、导电橡胶，以配置于所述绝缘单元2内部。该第二导电体32系以配置于所述绝缘单元2内部，且与第一导电体31接触的位于该第一导体31的上方，该第一导电体31以本身的弹力将该第二导电体32向上顶，使该第二导电体32部份外露于该上导电壳体1的所述穿孔13外部。在本图中，该第二导电体32为圆形体、半圆形体或凸字型。

该第一连接器4，其上具有一连接头41，该连接头41具有多条的导线42(或扁平电缆)，所述导线42以电性连结于该壳体1的上导电壳体1及所述第一导电体31上。

该下壳体5，以配置于该上导电壳体1底部。在本图中，该下壳体5为磁性材料、导电材料或非导电材料。

该检测装置20，至少包含有一微处理单元6，一该微处理单元6电性连结的显示单元7，一与该微处理单元6电性连结的第二连接器8及一与该微处理单元6电性连结的电源供应单元9，以该电源供应单元提供该件测装置20及该多阶量测体10所需的电力。每一阶量测的数据，如0um、+2um、+4um、+6um、+8um、-2um、-4um、-6um及-8um(为了方便说明及了解，本实用新型将每一阶所量测的数据0um、+2um、+4um、+6um、+8um、-2um、-4um、-6um及-8um绘制在图1的上导电壳体1的穿孔13边)。该第二连接器8上具有连接头81，该连接头81具有多条的导线82(或扁平电缆)，以该第二连接器8与该第一连接器4电性连结时，以接收该多阶量测体10的信号后，经过该微处理单元6处理，即可显示于该显示单元7上。在本图中，该显示单元7为液晶显示屏。

请参阅图3~图4，本实用新型之第一实施例的多阶块规的多阶量测体放置于两对象间量测侧视及第一实施例的多阶量测体的局部示意图，且一并参阅图1。如图所示：本实用新型的多阶块规10以9阶为举例说明(但不限于本实用新型的保护范围)。在量测时将该多阶量测体10的第一连接器4与该检测装置20的第二连接器8电性连结。

在量测两对象(机台)30、40之间的间距平行度时，若被量测的两对象30、40之间的间距的平行度误差范围精度需要在±10um之间时，当多阶量测体10放置于两对象30、40之间后，在图1中的多阶量测体10的-8um~+8um之间的所述第二导电体32被对象30压掣后均未与该上导电壳体1接触时，在检测装置20的微处理单元5判断多阶量测体10的每一阶都不导通时，表示小于-8um。若是前述的多阶量测体10上的每一阶的第二导电体32皆不被物件30压掣，在检测装置20的微处理单元6判断多阶量测体10的每一阶都被压掣导通时，该微处理单元6驱动显示单元7显示量测范围大于+8um，即表示两对象30、40之间的间距平行度误差范围超过±10um即不符合规定的。也就是说，至少有一阶被压掣或不被压掣才表示保证在-8um~+8um范围内，如全被压掣或全未被压掣则表示超过-8um~+8um无法保证在±10um之间，因此，藉由此多阶量测体10及检测装置20的设计可以快速量测两对象30、40之间距。

请参阅图5，本实用新型之第一实施例的多阶块规的另一种量测方式示意图。如图所示：当两对象30、40之间的间距平行度过大时，可以在两对象30、40之间先放入一块规50，在将本实用新型的多阶量测体10放置于该对象30与该块规50之间。量测方式与上面说明相同。

请参阅图6，本实用新型之第二实施例的多阶块规示意图。如图所示：本实施例的多阶量测体10与上述图1~图6大致相同，所不同处再于该第二导电体32为凸字型，该凸字形的头部321延伸于该上导电壳体1的穿孔13外部，同时在检测装置20与该多阶量测体10电性连结后，在量测时，在多阶量测体10放置于两对象间时，该检测装置20即开始判断及计算两对象之间的面与面的平行度。

以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用以限定本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.一种多阶块规，以量测两对象之间的间距的面与面的平行度，其特征在于，包括：

一多阶量测体，至包含：

一上导电壳体，其上内部具有多个容置空间，该上导电壳体具有一顶部，该顶部上具有多个对应所述容置空间穿孔；

一个或一个以上的绝缘单元，以配置于所述容置空间中；

多个导电开关，以配置于所述绝缘单元内部，所述导电开关各具一第一导电体及一第二导电体组成；

一第一连接器，与该上导电壳体及该第一导电体电性连结；

一下壳体，配置于该上导电壳体的底部；及

一检测装置，至少包含：

一第二连接器，该第二连接器与该第一连接器电性连结；

一微处理单元，与第二连接器电性连结；

一显示单元，与该微处理单元电性连结；

一电源供应单元，系与该微处理单元电性连结；

其中，以该多阶量测体放置于两对象之间，以其一对象压掣或未压掣到所述第二导电体，使每一阶形成不导通或导通状态，以该检测装置检测每一阶的导通或不导通方式来判断两对象之间的间距的面与面的平行度范围。

2.如权利要求1所述的多阶块规，其特征在于，其中，该下壳体为磁性材料。

3.如权利要求1所述的多阶块规，其特征在于，其中，该第一导电体及该第二导电体以配置于所述绝缘单元内部，该第二导电体与该第一导电体接触的位于该第一导体的上方，该第一导电体以本身的弹力将该第二导电体向上顶，使该第二导电体部份外露于该上导电壳体的所述穿孔外部。

4.如权利要求3所述的多阶块规，其特征在于，其中，该第一导电体为弹性组件。

5.如权利要求3所述的多阶块规，其特征在于，其中，该第二导电体为圆形体、半圆形体或凸字型。

6.如权利要求1所述的多阶块规，其特征在于，其中，该第一连接器具有一连接头，该连接头一端电性连结有多条与所述第一导电体及该上导电壳体电性连结的导线。

7.如权利要求1所述的多阶块规，其特征在于，其中，该第二连接器具有一连接头，该连接头的一端具有与该微处理单元电性连结的多条的导线。