CN205103418U - 基于弱电结构的金属检测仪器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种基于弱电结构的金属检测仪器，包括金属检测仪器本体，所述金属检测仪器本体设置有检测支架和检测线圈，所述检测线圈与检测支架采用焊接的方式连接，所述检测线圈呈圆环形，所述金属检测仪器本体设置有自动剔除装置，所述自动剔除装置安装在检测线圈的上方，所述金属检测仪器本体设置有传感器，所述传感器安装在自动剔除装置的后端，所述金属检测仪器本体设置有放大电路，所述放大电路安装在中央处理部的右侧，所述金属检测仪器本体设置有深度检测装置，所述深度检测装置安装在检测支架的中央，所述深度检测装置安装有升降调节装置，所述检测支架的上方安装有显示装置；其操作简单，制作简单，可排除干扰，可检测显示深度。

Description

基于弱电结构的金属检测仪器

技术领域

本实用新型涉及电子检测仪器技术领域，特别涉及一种基于弱电结构的金属检测仪器。

背景技术

在军事上，金属探测器可用于探测金属地雷；在安全领域，可以探测随身携带或隐藏的武器与作案工具；在考古方面，可以探测埋藏金属物品的古墓，找到古墓中的金银财宝与首饰或其他金属制品；在工程中，可用于探测地下金属埋设物，例如管道、管线等；在矿产勘探中，可用来检测和发现自然金颗粒；工业上，可用于在线监测，如去掉棉花，煤炭，食品中的金属杂物等。金属探测器还可作为开展青少年国防教育与科普活动的用具，也不失为有趣的娱乐玩具，特别是最近几年，欧美国家已将个人兴趣类金属探测器大范围普及，将金属探测活动演变成为户外运动的一部分，但是现在的金属检测仪器仍需要较大的改进，才能增加它的实用性。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单，使用、安装方便，操作简单，制作简单，可排除干扰，可检测显示深度的基于弱电结构的金属检测仪器。

为解决上述问题，本实用新型采用如下技术方案：一种基于弱电结构的金属检测仪器，包括金属检测仪器本体，所述金属检测仪器本体设置有检测支架，和检测线圈，所述检测线圈与检测支架采用焊接的方式连接，所述检测线圈呈圆环形，所述金属检测仪器本体设置有自动剔除装置，所述自动剔除装置安装在检测线圈的上方，所述金属检测仪器本体设置有传感器，所述传感器安装在自动剔除装置的后端，所述金属检测仪器本体设置有放大电路，所述放大电路安装在中央处理部的右侧，所述金属检测仪器本体设置有深度检测装置，所述深度检测装置安装在检测支架的中央，所述深度检测装置安装有升降调节装置，所述检测支架的上方安装有显示装置。

进一步地，所述金属检测仪器本体设置有单片机，安装在显示装置和深度检测装置之间。

进一步地，所述金属检测仪器本体设置有电源设备，安装在检测支架的上方。

进一步地，所述金属检测仪器本体设置有报警装置，安装在电源设备的左侧。

进一步地，所述金属检测仪器本体设置有驱动装置，安装在深度检测装置的中部。

进一步地，所述深度检测装置与单片机，单片机与显示装置之间均采用数据线相接的方式进行信号传输。

进一步地，所述传感器与放大电路之间采用导线连接，放大电路的一端连接到中央处理部的输入口。

本实用新型一种基于弱电结构的金属检测仪器的效果是：在考古现场、废墟场、垃圾场等场所，为了搜寻有用的线索或是查找可以回收的金属物质时，可以使用该金属检测仪器，将弱电进行适当放大，最终精确金属的深度，以便进行后续的操作。电源设备将为整个装置通入电能，同时产生磁场，检测支架上的检测线圈呈圆环形可以增加探测的面积，在检测当中的自动剔除装置可以排除水、木块等其他物质对检测结果产生的干扰，因为水、木块等介质的电阻较大，所以自动剔除装置可以将小于某一阈值的电流消除，防止电流放大，产生误操作，当检测到金属时，因为金属物质会干扰到磁场，从而会有弱电流过，放大电路将微量电流信号放大送入到中央处理部，报警装置开始工作，深度检测装置在驱动装置的工作下开始工作，通过升降调节装置将深度检测装置深入到金属处，检测到金属的深度，将深度信号接入到单片机中，经过单片机的处理，可以在显示装置中显示深度数据，以便操作人员进行相应的后续工作，其结构简单，使用、安装方便，操作简单，制作简单，可排除干扰，可检测显示深度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种基于弱电结构的金属检测仪器的结构示意图；

图2为本实用新型单片机的结构示意图。

具体实施方式

参阅图1所示的一种基于弱电结构的金属检测仪器，包括金属检测仪器本体1，所述金属检测仪器本体1设置有检测支架9和检测线圈14，所述检测线圈14与检测支架9采用焊接的方式连接，所述检测线圈14呈圆环形，所述金属检测仪器本体1设置有自动剔除装置13，所述自动剔除装置13安装在检测线圈14的上方，所述金属检测仪器本体1设置有传感器2，所述传感器2安装在自动剔除装置13的后端，所述金属检测仪器本体1设置有放大电路10，所述放大电路10安装在中央处理部4的右侧，所述金属检测仪器本体1设置有深度检测装置3，所述深度检测装置3安装在检测支架9的中央，所述深度检测装置3安装有升降调节装置12，所述检测支架9的上方安装有显示装置7。

所述金属检测仪器本体1设置有单片机6，安装在显示装置7和深度检测装置3之间。

所述金属检测仪器本体1设置有电源设备8，安装在检测支架9的上方。

所述金属检测仪器本体1设置有报警装置5，安装在电源设备8的左侧。

所述金属检测仪器本体1设置有驱动装置11，安装在深度检测装置3的中部。

所述深度检测装置3与单片机6，单片机6与显示装置7之间均采用数据线相接的方式进行信号传输。

所述传感器2与放大电路10之间采用导线连接，放大电路10的一端连接到中央处理部4的输入口。

图2为单片机的示意图，将深度检测装置3检测到的深度信号传送到单片机6的P2.0口上，在通过程序处理，从P0.1口送出到显示装置7上。

本实用新型基于弱电结构的金属检测仪器的效果是：在考古现场、废墟场、垃圾场等场所，为了搜寻有用的线索或是查找可以回收的金属物质时，可以使用该金属检测仪器，将弱电进行适当放大，最终精确金属的深度，以便进行后续的操作。电源设备将为整个装置通入电能，同时产生磁场，检测支架上的检测线圈呈圆环形可以增加探测的面积，在检测当中的自动剔除装置可以排除水、木块等其他物质对检测结果产生的干扰，因为水、木块等介质的电阻较大，所以自动剔除装置可以将小于某一阈值的电流消除，防止电流放大，产生误操作，当检测到金属时，因为金属物质会干扰到磁场，从而会有弱电流过，放大电路将微量电流信号放大送入到中央处理部，报警装置开始工作，深度检测装置在驱动装置的工作下开始工作，通过升降调节装置将深度检测装置深入到金属处，检测到金属的深度，将深度信号接入到单片机中，经过单片机的处理，可以在显示装置中显示深度数据，以便操作人员进行相应的后续工作，其结构简单，使用、安装方便，操作简单，制作简单，可排除干扰，可检测显示深度。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种基于弱电结构的金属检测仪器，其特征在于：包括金属检测仪器本体，所述金属检测仪器本体设置有检测支架和检测线圈，所述检测线圈与检测支架采用焊接的方式连接，所述检测线圈呈圆环形，所述金属检测仪器本体设置有自动剔除装置，所述自动剔除装置安装在检测线圈的上方，所述金属检测仪器本体设置有传感器，所述传感器安装在自动剔除装置的后端，所述金属检测仪器本体设置有放大电路，所述放大电路安装在中央处理部的右侧，所述金属检测仪器本体设置有深度检测装置，所述深度检测装置安装在检测支架的中央，所述深度检测装置安装有升降调节装置，所述检测支架的上方安装有显示装置。

2.根据权利要求1所述的基于弱电结构的金属检测仪器，其特征在于：所述金属检测仪器本体设置有单片机，安装在显示装置和深度检测装置之间。

3.根据权利要求1所述的基于弱电结构的金属检测仪器，其特征在于：所述金属检测仪器本体设置有电源设备，安装在检测支架的上方。

4.根据权利要求1或3所述的基于弱电结构的金属检测仪器，其特征在于：所述金属检测仪器本体设置有报警装置，安装在电源设备的一侧。

5.根据权利要求1所述的金属检测仪器，其特征在于：所述金属检测仪器本体设置有驱动装置，安装在深度检测装置的中部。

6.据权利要求1所述的基于弱电结构的金属检测仪器，其特征在于：所述深度检测装置与单片机，单片机与显示装置之间均采用数据线相接的方式进行信号传输。

7.根据权利要求1所述的基于弱电结构的金属检测仪器，其特征在于：所述传感器与放大电路之间采用导线连接，放大电路的一端连接到中央处理部的输入口。