CN205099750U - 一种化学气相沉积工艺设备 - Google Patents

一种化学气相沉积工艺设备 Download PDF

Info

Publication number
CN205099750U
CN205099750U CN201520861935.9U CN201520861935U CN205099750U CN 205099750 U CN205099750 U CN 205099750U CN 201520861935 U CN201520861935 U CN 201520861935U CN 205099750 U CN205099750 U CN 205099750U
Authority
CN
China
Prior art keywords
tracheae
vapor deposition
chemical vapor
pneumavalve
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201520861935.9U
Other languages
English (en)
Inventor
沈剑平
张欣
钟飞
徐伯山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Huali Microelectronics Corp
Original Assignee
Shanghai Huali Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Huali Microelectronics Corp filed Critical Shanghai Huali Microelectronics Corp
Priority to CN201520861935.9U priority Critical patent/CN205099750U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN205099750U publication Critical patent/CN205099750U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

本实用新型提供了一种化学气相沉积工艺设备,主要包括依次连接的反应源、总管路、设置有气动阀的传输管路、喷嘴、气体混合槽、气体喷头、工艺腔体和真空及废气处理系统,其中,传输管路还与设置有控制阀的吹扫气体管路连接;驱动气管、引出气管和气动阀通过三通管连接;驱动气管和引出气管设置有开关。本实用新型通过与驱动气管、引出气管和气动阀连接的三通管以及设置于驱动气管和引出气管上的开关控制气动阀,使吹扫气体管路提供正压的吹扫气体吹扫喷嘴、气体混合槽,然后通过气体喷头吹出,避免空气进入管路及设备,从而防止管路及设备污染,避免由于内部污染引起的缺陷颗粒问题,降低生产产品缺陷数量,减少设备恢复时间,延长备件使用时间。

Description

一种化学气相沉积工艺设备
技术领域
本实用新型涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种化学气相沉积工艺设备。
背景技术
目前,在半导体制造工艺中已广泛实施以薄膜沉积为目的的等离子体处理,例如LAMResearch(泛林半导体)公司的Vector设备主要进行等离子体增强方式化学气相沉积工艺(PECVD,PlasmaEnhanceChemicalVaporDeposition),Vector设备是目前主流的半导体生产设备之一。PECVD工艺中有一种反应源包括正硅酸乙酯(TEOS),以TEOS作为反应源通过等离子体增强方法反应沉积二氧化硅薄膜(一般称为PETEOS)。PETEOS工艺使用的TEOS在常温常压下是液态,工艺设备将液态的TEOS气化后与反应气体在真空和加热条件下,通过等离子体增强方式在工艺腔体内产生反应,反应完成后会在硅片(Wafer)表面和工艺腔体内沉积一层二氧化硅薄膜。但是,如果TEOS暴露在平常环境中,TEOS就会与空气中的氧气缓慢反应生成二氧化硅,然而此时生成的二氧化硅一般为白色的粉末或者细小的颗粒。
化学气相沉积工艺设备将液态的TEOS气化的方法是,通过加热TEOS的传输管路将TEOS温度升高并稳定在设定温度,被加热后的TEOS在经过一段喷嘴(Injector)后会气化,并且气化后TEOS温度稳定在设定温度。然后,气化的TEOS通过喷嘴进入气体混合槽,在气体混合槽内气化的TEOS和反应气体充分混合。通常与喷嘴对应的有一路直流管路(divert),化学气相沉积工艺设备通过控制驱动气管内的驱动气体从而控制气动阀的开启和关闭,如果TEOS经过直流管路,TEOS就会直接进入真空和废气处理系统。
如图1所示,化学气相沉积工艺设备使用的反应源TEOS平时以液体状态存在管路或者钢瓶内,通过设置的控制器阻断流出。当工艺反应需要时,TEOS通过传输管路从喷嘴进入气体混合槽,在气体混合槽内与反应气体充分混合,然后通过气体喷头(showerhead)进入工艺腔体,在工艺腔体内通过等离子增强方式反应成膜并沉积在硅片表面。最后,当化学气相沉积工艺完成后,真空及废气处理系统将反应副产物抽走,此时,喷嘴、气体混合槽、气体喷头以及工艺腔体为真空状态。
如图2所示,当工艺腔体在日常维护或者进行其它需要打开工艺腔体操作时,工艺腔体就会暴露在大气环境下,其中喷嘴、气体混合槽、气体喷头和工艺腔体之间没有任何隔断,空气会从工艺腔体通过气体喷头进入气体混合槽,并进入到喷嘴中。于是空气中的氧气会与喷嘴、直流管路内可能残留的微量TEOS产生缓慢化学反应,生成微量的二氧化硅。当完成打开工艺腔体的操作后,会将喷嘴、气体混合槽、气体喷头和工艺腔体抽至真空,但是喷嘴有很细且比较长的管路,所以空气内的杂质很容易污染喷嘴。并且,喷嘴、气体混合槽和气体喷头的一些死角内会有部分空气残留,然后当TEOS再次通过喷嘴和气体混合槽时,TEOS会和残留空气进行反应,产生微量二氧化硅颗粒,生成的二氧化硅颗粒会在工艺过程中一起到达wafer表面,造成硅片颗粒缺陷(Particledefect),降低硅片的良率影响生产,而且喷嘴在被污染后也更容易损坏。目前每次设备维护后都需要使用吹扫气体对喷嘴、气体混合槽和气体喷头吹扫(Purge)很长时间,测试设备内的颗粒(Particle)项目才能符合要求。
实用新型内容
本实用新型的目的的在于,以正压的吹扫气体吹扫管路及设备防止污染。
本实用新型提供了一种化学气相沉积工艺设备,包括:
与一反应源连接的总管路;
与所述总管路并行连接的第一传输管路和第二传输管路;
与所述第一传输管路和第二传输管路连接的吹扫气体管路;
设置于所述第一传输管路上的第一气动阀、设置于所述第二传输管路上的第二气动阀以及设置于所述吹扫气体管路的控制阀;
与所述第一气动阀连接并能驱动所述第一气动阀的第一驱动气管,与所述第二气动阀连接并能驱动所述第二气动阀的第二驱动气管;
依次与所述第一传输管路连接的喷嘴、气体混合槽、气体喷头、工艺腔体和真空及废气处理系统,所述真空及废气处理系统与所述第二传输管路连接;
然而,所述化学气相沉积工艺设备还包括:
设置于所述第一驱动气管上第一驱动开关;
第一引出气管以及设置于所述第一引出气管上第一引出开关;
与所述第一驱动气管、第一引出气管和第一气动阀连接的第一三通管。
其中,所述第一驱动开关和第一引出开关均为手动开关。
其中,所述第一三通管与所述第一气动阀的距离小于等于10cm;所述第一三通管与所述第一驱动开关和第一引出开关的距离均小于等于20cm;所述第一三通管为一即插式的三通管。
优选的,所述化学气相沉积工艺设备还包括:
设置于所述第二驱动气管上第二驱动开关;
第二引出气管以及设置于所述第二引出气管上第二引出开关;
与所述第二驱动气管、第二引出气管和第二气动阀连接的第二三通管。
其中,所述第二驱动开关以及第二引出开关均为手动开关。
其中,所述第二三通管与所述第二气动阀的距离小于等于10cm;所述第二三通管与所第二驱动开关以及第二引出开关的距离均小于等于20cm;所述第二三通管为一即插式的三通管。
如上所述,优选的,所述吹扫气体管路为氦气管路。
优选的,所述化学气相沉积工艺设备还包括设置于所述总管路上的液体流量控制器。
本实用新型通过与驱动气管、引出气管和气动阀连接的三通管以及设置于驱动气管和引出气管上的开关控制气动阀,使吹扫气体管路提供正压的吹扫气体吹扫喷嘴、气体混合槽,然后通过气体喷头吹出,避免空气进入管路及设备,从而防止管路及设备污染,避免由于内部污染引起的缺陷颗粒问题,降低生产产品缺陷数量,减少设备恢复时间,延长备件使用时间。
附图说明
图1为现有化学气相沉积工艺的流程图;
图2为现有化学气相沉积工艺在反应腔体打开时的气体流向示意图;
图3为本实用新型的实施例在反应腔体打开时的气体流向示图;
图4为本实用新型的实施例的第一三通管的连接关系示意图;
图5为本实用新型的实施例的第二三通管的连接关系示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、特征和优点能够更加明显易懂,请参阅附图。须知,本说明书所附图仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉本领域的技术人员了解与阅读,并非用以限定本实用新型可实施的限定条件。
如图3所示,本实用新型提供一种化学气相沉积工艺设备,包括:
与一反应源11连接的总管路1;
与所述总管路1并行连接的第一传输管路10和第二传输管路20;
与所述第一传输管路10和第二传输管路20连接的吹扫气体管路2;
设置于所述第一传输管路10上的第一气动阀100、设置于所述第二传输管路20上的第二气动阀200以及设置于所述吹扫气体管路2的控制阀13;
与所述第一气动阀100连接并能驱动所述第一气动阀100的第一驱动气管111,与所述第二气动阀200连接并能驱动所述第二气动阀200的第二驱动气管211;
依次与所述第一传输管路10连接的喷嘴14、气体混合槽15、气体喷头16、工艺腔体17和真空及废气处理系统18,所述真空及废气处理系统18与所述第二传输管路20连接;
并且,所述化学气相沉积工艺设备还包括:
设置于所述第一驱动气管111上第一驱动开关121,第一驱动气管111提供驱动气体驱动气动阀;
第一引出气管112以及设置于所述第一引出气管112上第一引出开关122,第一引出气管112为总是有驱动气体的气管;
与所述第一驱动气管111、第一引出气管112和第一气动阀100连接的第一三通管120。
其中,所述第一驱动开关121和第一引出开关122均为手动开关,通过手动开关控制所处管路内气体的进出。
如图4所示,本实施例中,所述第一三通管110与所述第一气动阀100的距离小于等于10cm;所述第一三通管110与所述第一驱动开关121和第一引出开关122的距离均小于等于20cm。距离越小则气动阀反应的时间就越快,使气动阀响应时间越短。
其中,所述第一三通管110为一即插式的三通管,即插式的三通管拆装方便快捷。
优选的,本实施例还包括:
设置于所述第二驱动气管211上第二驱动开关221,第二驱动气管211提供驱动气体驱动气动阀;
第二引出气管212以及设置于所述第二引出气管212上第二引出开关222,第二引出气管212内总是有能够驱动气动阀的引出气体;
与所述第二驱动气管211、第二引出气管212和第二气动阀200连接的第二三通管210。
其中,所述第二驱动开关221和第二引出开关222均为手动开关,通过手动开关控制所处管路内气体的进出。
如图5所示,在本实施例中,所述第二三通管210与所述第二气动阀200的距离小于等于10cm;所述第二三通管210与所第二驱动开关221以及第二引出开关222的距离小于等于20cm;所第二驱动开关221以及第二引出开关222均为手动开关;所述第二三通管210为一即插式的三通管。距离越小则气动阀反应的时间就越快,使气动阀响应时间越短。即插式的三通管拆装方便快捷。
在本实施例中,所述吹扫气体管路2为氦气管路,氦气化学性质不活泼,通常状态下不与其它元素或化合物结合,具有较好的工业特性。但是,本实用新型并不限定吹扫气体管路,实施例中最佳为氦气管路。
优选的,本实施例还包括设置于所述总管路1上的液体流量控制器12,通过液体流量控制器12控制反应源11的流量。
继续参考图3,当工艺腔体17维护或进行其它操作需要开启时,关闭设置于第一驱动气管111上的第一驱动开关121,打开设置于第一引出气管112上的第一引出开关122,从而第一引出气管112内的引出气体打开第一气动阀100,然后吹扫气体管路2提供正压的氦气经第一传输管路10过喷嘴1进入气体混合槽2然后从气体喷头3吹出;同时,关闭设置于第二驱动气管211上的第二驱动开关221,打开设置于第二引出气管212上的第二引出开关222,从而第二引出气管212内的引出气体打开第二气动阀200,然后吹扫气体管路2提供正压的氦气经第二传输管路20进入真空及废气处理系统18。因此,即使工艺腔体17在大气环境下,空气也不会进入气体喷头16、气体混合槽15以及喷嘴14中,同时空气也从第二传输管路20排出。
当完成相关操作关闭工艺腔体17之后,通过真空及废气处理系统18抽真空时,打开第一驱动开关121和第二驱动开关221,关闭第一引出开关122和第二引出开关222,然后建立真空环境。
本实用新型通过与驱动气管、引出气管和气动阀连接的三通管以及设置于驱动气管和引出气管上的开关控制气动阀,使吹扫气体管路提供正压的吹扫气体吹扫喷嘴、气体混合槽,然后通过气体喷头吹出,避免空气进入管路及设备,从而防止管路及设备污染,避免由于内部污染引起的缺陷颗粒问题,降低生产产品缺陷数量,减少设备恢复时间,延长备件使用时间。

Claims (12)

1.一种化学气相沉积工艺设备,包括:
与一反应源连接的总管路;
与所述总管路并行连接的第一传输管路和第二传输管路;
与所述第一传输管路和第二传输管路连接的吹扫气体管路;
设置于所述第一传输管路上的第一气动阀、设置于所述第二传输管路上的第二气动阀以及设置于所述吹扫气体管路的控制阀;
与所述第一气动阀连接并能驱动所述第一气动阀的第一驱动气管,与所述第二气动阀连接并能驱动所述第二气动阀的第二驱动气管;
依次与所述第一传输管路连接的喷嘴、气体混合槽、气体喷头、工艺腔体和真空及废气处理系统,所述真空及废气处理系统与所述第二传输管路连接;
其特征在于,所述化学气相沉积工艺设备还包括:
设置于所述第一驱动气管上第一驱动开关;
第一引出气管以及设置于所述第一引出气管上第一引出开关;
与所述第一驱动气管、第一引出气管和第一气动阀连接的第一三通管。
2.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第一驱动开关和第一引出开关均为手动开关。
3.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第一三通管与所述第一气动阀的距离小于等于10cm。
4.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第一三通管与所述第一驱动开关和第一引出开关的距离均小于等于20cm。
5.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第一三通管为一即插式的三通管。
6.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于,还包括:
设置于所述第二驱动气管上第二驱动开关;
第二引出气管以及设置于所述第二引出气管上第二引出开关;
与所述第二驱动气管、第二引出气管和第二气动阀连接的第二三通管。
7.如权利要求6所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第二驱动开关以及第二引出开关均为手动开关。
8.如权利要求6所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第二三通管与所述第二气动阀的距离小于等于10cm。
9.如权利要求6所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第二三通管与所述第二驱动开关以及第二引出开关的距离均小于等于20cm。
10.如权利要求6所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述第二三通管为一即插式的三通管。
11.如权利要求1至10中任意一项所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:所述吹扫气体管路为氦气管路。
12.如权利要求1至10中任意一项所述的化学气相沉积工艺设备,其特征在于:还包括设置于所述总管路上的液体流量控制器。
CN201520861935.9U 2015-10-30 2015-10-30 一种化学气相沉积工艺设备 Active CN205099750U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520861935.9U CN205099750U (zh) 2015-10-30 2015-10-30 一种化学气相沉积工艺设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520861935.9U CN205099750U (zh) 2015-10-30 2015-10-30 一种化学气相沉积工艺设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN205099750U true CN205099750U (zh) 2016-03-23

Family

ID=55515540

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201520861935.9U Active CN205099750U (zh) 2015-10-30 2015-10-30 一种化学气相沉积工艺设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN205099750U (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109423623A (zh) * 2017-08-31 2019-03-05 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 气相沉积炉的均匀供气装置及气相沉积炉
CN110512190A (zh) * 2019-09-25 2019-11-29 上海华力微电子有限公司 集成气动阀组的改装机构、气动阀组装置、气相沉积设备
CN112062461A (zh) * 2019-06-11 2020-12-11 信越化学工业株式会社 光纤用多孔玻璃基材的制造设备和制造方法
CN114481091A (zh) * 2021-12-29 2022-05-13 天津环鑫科技发展有限公司 一种减少SiO2表面颗粒的通气管路及方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109423623A (zh) * 2017-08-31 2019-03-05 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 气相沉积炉的均匀供气装置及气相沉积炉
CN109423623B (zh) * 2017-08-31 2020-12-22 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 气相沉积炉的均匀供气装置及气相沉积炉
CN112062461A (zh) * 2019-06-11 2020-12-11 信越化学工业株式会社 光纤用多孔玻璃基材的制造设备和制造方法
CN110512190A (zh) * 2019-09-25 2019-11-29 上海华力微电子有限公司 集成气动阀组的改装机构、气动阀组装置、气相沉积设备
CN110512190B (zh) * 2019-09-25 2022-02-15 上海华力微电子有限公司 集成气动阀组的改装机构、气动阀组装置、气相沉积设备
CN114481091A (zh) * 2021-12-29 2022-05-13 天津环鑫科技发展有限公司 一种减少SiO2表面颗粒的通气管路及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN205099750U (zh) 一种化学气相沉积工艺设备
CN101317247B (zh) 复合氮化物半导体结构的外延成长
US11049735B2 (en) Methods and apparatus for conserving electronic device manufacturing resources
CN103443903A (zh) 多级喷淋头设计
CN101933131A (zh) 用以制造复合氮化物半导体元件的处理系统
CN100385623C (zh) Cvd设备以及使用cvd设备清洗cvd设备的方法
CN109402608A (zh) 一种原子层沉积设备的气路系统及其控制方法
CN102270566A (zh) 反应腔室的密封装置及方法
CN104561928A (zh) 一种在玻璃基底上沉积二氧化硅薄膜的方法
CN1681088A (zh) 一种获取均匀宽带隙半导体薄膜的同轴进气方法
CN102194651B (zh) 一种半导体成膜装置装载腔
TWI421369B (zh) 氣體供應設備
CN104962880B (zh) 一种气相沉积设备
CN1618682A (zh) 用于低蒸汽压的化学制品的可清洗容器
CN102534558B (zh) 一种能实现上、下进气切换的化学气相沉积炉及其应用
CN102747338A (zh) 一种气体传输管路和二氧化硅沉积装置
CN203794981U (zh) 远程等离子体系统与化学气相沉积设备之间的连接装置
CN201804848U (zh) 一种用于制造半导体器件的氧化装置
CN102094186A (zh) 气体供应设备
CN201947524U (zh) 大面积高功率微波等离子体环形微波腔及其构成的装置
CN110527980A (zh) 一种原子层沉积设备及方法
CN101457350A (zh) 进气装置、低压化学气相沉积设备及化学气相沉积方法
CN208032282U (zh) 一种cvd/cvi炉尾气预处理装置
CN110512190B (zh) 集成气动阀组的改装机构、气动阀组装置、气相沉积设备
CN110055515A (zh) 一种原子层沉积设备的气路系统及其控制方法

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant