CN205003076U - 一种钻石批量检测的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种钻石批量检测的装置，所述工作台上放置有待检钻石，所述Y型光纤包括进光口、出光口和采光口，所述Y型光纤的进光口与光源连接，所述Y型光纤的出光口与光谱仪连接，所述Y型光纤的采光口与正在检测的待检钻石位置对应，所述采光口和工作台之间设置有驱动装置，所述驱动装置可以驱动采光口和工作台进行二维相对移动。本实用新型通过驱动装置驱动采光口与工作台进行相对位移，无需人工进行位移，提高检测速度和稳定性；采用消光层作为工作台表层，能降低检测过程中分背景反射，提高检测精度；采用全光谱分析，能够提高甄别的精度，有效区分人造钻石和天然钻石。
Description
技术领域
本实用新型涉及钻石检测领域，具体涉及一种钻石批量检测的装置。
背景技术
现有的人造钻石通常是是一种由直径10到30纳米的钻石结晶聚合而成的多结晶钻石。人造钻石的的分子结构并不是天然钻石的完全八面体结构而是一种复杂结构。
早期的人造钻石由于空气中的氮原子进入钻石晶体而呈淡淡的糖稀颜色，经过科学家的改良制作方法，现在生产的人造钻石在外观上和天然钻石没有任何差异，由于生成环境的不同，人造钻石的的分子结构并不是天然钻石的完全八面体结构而是一种复杂结构，从而会产生磷光现象。
而现在因为公平交易的法则要求，人造钻石商在销售时如实说明其质量实况，并用一般接受的词汇来描述，如“人工合成”、“人造”或“实验室制造”。几乎所有的人造钻石都属于Ib型，而此类型在天然钻石中只占不足百分之二。
现有的检测手段可以通过吸收谱线检测合成钻石，合成钻石缺失天然钻石中无色－浅黄色系列具有415nm最为特征谱线。另外绝大部分天然钻石为Ⅰa型，而合成钻石主要为Ⅰb型，少数情况下有双原子集合体氮存在。
现有的检测通常针对大颗粒的宝石级的钻石在加工镶嵌前进行逐一检测出具证书，而对微小的碎钻通常是加工镶嵌后才进行检测；而且目前厘石大小的碎钻加工镶嵌后，由于体积非常小、背景干扰大，一般的检测设备无法进行准确检测。于是就有不法商贩将人造钻石或者假钻石掺杂在初加工的碎钻中谋取暴利，等到加工镶嵌完成后才发现被掺杂人造钻石或者假钻石，使得批发商和加工商都蒙受金钱和信誉上的巨大损失。
实用新型内容
针对上述问题，本实用新型旨在提供一种针对碎钻和小颗粒钻石进行快速检测甄别的钻石批量检测的装置。
为实现该技术目的，本实用新型的方案是：一种钻石批量检测的装置，包括光源、光谱仪、Y型光纤、工作台，所述工作台上放置有待检钻石，所述Y型光纤包括进光口、出光口和采光口，所述Y型光纤的进光口与光源连接，所述Y型光纤的出光口与光谱仪连接，所述Y型光纤的采光口与正在检测的待检钻石位置对应，所述采光口和工作台之间设置有驱动装置，所述驱动装置驱动采光口和工作台进行二维相对移动。
作为优选，所述工作台上设置有低反射的消光层。
作为优选，所述光源为UV-VIS-NIR的复合光源。
作为优选，所述工作台上设置有用于分隔细微的待检钻石凸起的格栅。
作为优选，所述工作台上方还设置有摄像头模块。
本实用新型的有益效果，通过驱动装置驱动采光口与工作台进行相对位移，无需人工进行位移，适合碎钻的批量检测，大幅提高检测速度和稳定性；采用消光层作为工作台表层，能降低检测过程中分背景反射，提高检测精度；采用全光谱分析，能够提高甄别的精度，有效区分人造钻石和天然钻石；通过照片显示假钻石或人造钻石的分布情况，方便使用者将其逐一剔除。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步详细说明。
如图1所示，本实用新型所述的具体实施例为一种钻石批量检测装置，包括光源1、光谱仪2、Y型光纤3、工作台4，所述工作台4上放置有待检钻石6，所述Y型光纤3包括进光口31、出光口32和采光口33，所述Y型光纤3的进光口31与光源1连接，所述Y型光纤3的出光口32与光谱仪2连接，所述Y型光纤3的采光口33与正在检测的待检钻石6位置对应，所述采光口33和工作台4之间设置有驱动装置8，所述驱动装置8可以驱动采光口33和工作台4进行相对移动，通过相对移动采光口33对工作台4上的待检钻石6进行逐一扫描检测。所述驱动模块可以驱动采光口二维移动，也可以选驱动模块驱动工作台做二维移动。
为了降低背景影响提高测定精度，所述工作台4上设置有低反射的消光层5。由于是测定钻石的反射光谱，消光层能有效降低背景反射，提高测定精度。
为了获取全光谱反射图谱，所述光源1为UV-VIS-NIR的复合光源。通过复合光谱获取的全光谱能够更好的进行真假钻石的甄别，能够同时通过多个波峰进行分析，提高整体的识别率。
为了方便将碎钻逐一分开，方便测定，所述工作台4上设置有用于分隔细微的待检钻石微微凸起的格栅9。由于碎钻颗粒较小，相邻的的碎钻若紧贴在一起，虽然通过逐行扫描可以分辨，但是会影响检测的精度，也不利于后期的剔除操作。通过格栅分隔开来后，每颗碎钻都在一个格栅内，方便检测，也方便剔除。
本申请的设备适合快速检测0.001-0.2Ct的钻石，能够准确甄别区分人造钻石和其他宝石。通过230nm的吸收峰可以判定是IIa型钻石；通过270nm的吸收峰可以判定是经过HPHP处理的(CVD钻石后期加工也需要进行HPHT处理)；通过300nm附近和415nm、478nm的吸收峰可以判定是否天然Ia型钻石。本申请的设备测量和判定时间单点小于500ms，整体时间根据扫描面积和扫描间隔来决定,识别率可以达到98％以上。全部扫描识别完成后能够立即出检测结果，能够大幅工作效率。
为了进行拍照，方便后期进行人工钻石或者假钻石的剔除，所述工作台4上方还设置有摄像头模块7。通过摄像头进行拍照，可以获取待测钻石的分布图，通过检测结果对分布图进行标注，方便使用者快速剔除人造钻石和假钻石。
以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同替换和改进，均应包含在本实用新型技术方案的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种钻石批量检测的装置，其特征在于：包括光源、光谱仪、Y型光纤、工作台，所述工作台上放置有待检钻石，所述Y型光纤包括进光口、出光口和采光口，所述Y型光纤的进光口与光源连接，所述Y型光纤的出光口与光谱仪连接，所述Y型光纤的采光口与正在检测的待检钻石位置对应，所述采光口和工作台之间设置有驱动装置，所述驱动装置驱动采光口和工作台进行二维相对移动。
2.根据权利要求1所述的钻石批量检测的装置，其特征在于：所述工作台上设置有低反射的消光层。
3.根据权利要求1所述的钻石批量检测的装置，其特征在于：所述光源为UV-VIS-NIR的复合光源。
4.根据权利要求1所述的钻石批量检测的装置，其特征在于：所述工作台上设置有用于分隔细微的待检钻石凸起的格栅。
5.根据权利要求1所述的钻石批量检测的装置，其特征在于：所述工作台上方还设置有摄像头模块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520776387.XU CN205003076U (zh) | 2015-09-30 | 2015-09-30 | 一种钻石批量检测的装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520776387.XU CN205003076U (zh) | 2015-09-30 | 2015-09-30 | 一种钻石批量检测的装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN205003076U true CN205003076U (zh) | 2016-01-27 |
Family
ID=55159959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201520776387.XU Active CN205003076U (zh) | 2015-09-30 | 2015-09-30 | 一种钻石批量检测的装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN205003076U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105136705A (zh) * | 2015-09-30 | 2015-12-09 | 广州标旗电子科技有限公司 | 一种钻石批量检测的方法及装置 |
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2015
- 2015-09-30 CN CN201520776387.XU patent/CN205003076U/zh active Active
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