CN204989343U - 一种微波器件动态老化试验系统 - Google Patents

一种微波器件动态老化试验系统 Download PDF

Info

Publication number
CN204989343U
CN204989343U CN201520643710.6U CN201520643710U CN204989343U CN 204989343 U CN204989343 U CN 204989343U CN 201520643710 U CN201520643710 U CN 201520643710U CN 204989343 U CN204989343 U CN 204989343U
Authority
CN
China
Prior art keywords
microwave
microwave signal
back panel
ageing
panel connector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201520643710.6U
Other languages
English (en)
Inventor
邱云峰
袁帅
袁文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Original Assignee
Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology filed Critical Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Priority to CN201520643710.6U priority Critical patent/CN204989343U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN204989343U publication Critical patent/CN204989343U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种微波器件动态老化试验系统,它包括老化试验板(6),微波信号源(2)与程控电源(4)通过背板连接器(7)与老化试验板(6)输入端连接,老化试验板(6)输出端通过背板连接器(7)与微波信号分析仪(3)连接;解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行,由于这是一种静态老化方式,存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件等技术问题。

Description

一种微波器件动态老化试验系统
技术领域
本实用新型属于电子元器件可靠性试验设备领域,尤其涉及一种微波器件动态老化试验系统。
背景技术
微波器件设计和生产过程中都需要对其质量与可靠性进行检验,而老化试验是国内外公认最有效的可靠性检测方法。目前微波器件老化设备普遍采用的都是直流偏置的方式,这是一种静态老化方式,与器件实际工作状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件的效果。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题:提供一种微波器件动态老化试验系统,以解决现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行,由于这是一种静态老化方式,存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件等技术问题。
本实用新型技术方案:
一种微波器件动态老化试验系统,它包括老化试验板,微波信号源与程控电源通过背板连接器与老化试验板输入端连接,老化试验板输出端通过背板连接器与微波信号分析仪连接。
所述微波信号源和微波信号分析仪均为八通道。
工控计算机通过背板连接器上的数据总线分别与连接。
微波信号源、微波信号分析仪和程控电源安装在控制箱的常温区,老化试验板和背板连接器安装在控制箱的高温区,高温区和常温区均分为二个以上独立的工区。
老化试验板包括铝合金腔体支架,微波电路板安装在铝合金腔体支架上,铝合金夹具安装在微波电路板上,各个铝合金夹具之间由吸波材料屏蔽隔离,微波电路板与射频连接器连接。
本实用新型的有益效果:
本实用新型采用多工区设计,各个工区相互独立,这样可在同一套试验系统上老化多个型号规格的器件,试验系统的多通道微波信号源能够为被试器件提供激励信号,模拟器件实际工作状态,从而提高老化试验效果;试验系统的多通道微波信号分析仪能够检测被试器件的输出信号,通过分析可以实时监测被试器件老化状态;试验系统的工控计算机能够记录整个老化试验过程信息,便于试验效果的分析,因此相比现有技术,本实用新型提高了微波器件老化试验效果;解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行,由于这是一种静态老化方式,存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件等技术问题。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型老化试验板结构示意图。
具体实施方式
一种微波器件动态老化试验系统,它包括老化试验板6,微波信号源2与程控电源4通过背板连接器7与老化试验板6输入端连接,老化试验板6输出端通过背板连接器7与微波信号分析仪3连接。
所述微波信号源2和微波信号分析仪3均为八通道。
工控计算机5与背板连接器7连接,背板连接器7采用高温背板连接器,需要承受80℃以上温度。
微波信号源2、微波信号分析仪3和程控电源4安装在控制箱1的常温区9,老化试验板6和背板连接器7安装在控制箱1的高温区8,高温区8和常温区9均分为二个以上独立的工区。所述高温区指温度在80℃以上,常温区温度为室温。
老化试验板6包括铝合金腔体支架42,微波电路板44安装在铝合金腔体支架42上,铝合金夹具45安装在微波电路板44上,各个铝合金夹具45之间由吸波材料43屏蔽隔离,微波电路板44与射频连接器41连接,射频连接器41为高温射频连接器。

Claims (5)

1.一种微波器件动态老化试验系统,它包括老化试验板(6),其特征在于:微波信号源(2)与程控电源(4)通过背板连接器(7)与老化试验板(6)输入端连接,老化试验板(6)输出端通过背板连接器(7)与微波信号分析仪(3)连接。
2.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统,其特征在于:所述微波信号源(2)和微波信号分析仪(3)均为多通道。
3.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统,其特征在于:工控计算机(5)通过背板连接器(7)上的数据总线分别与微波信号源(2)和微波信号分析仪(3)连接。
4.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统,其特征在于:微波信号源(2)、微波信号分析仪(3)和程控电源(4)安装在控制箱(1)的常温区(9),老化试验板(6)和背板连接器(7)安装在控制箱(1)的高温区(8),高温区(8)和常温区(9)均分为二个以上独立的工区。
5.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统,其特征在于:老化试验板(6)包括铝合金腔体支架(42),微波电路板(44)安装在铝合金腔体支架(42)上,铝合金夹具(45)安装在微波电路板(44)上,各个铝合金夹具(45)之间由吸波材料(43)屏蔽隔离,微波电路板(44)与射频连接器(41)连接。
CN201520643710.6U 2015-08-25 2015-08-25 一种微波器件动态老化试验系统 Active CN204989343U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520643710.6U CN204989343U (zh) 2015-08-25 2015-08-25 一种微波器件动态老化试验系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520643710.6U CN204989343U (zh) 2015-08-25 2015-08-25 一种微波器件动态老化试验系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN204989343U true CN204989343U (zh) 2016-01-20

Family

ID=55123698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201520643710.6U Active CN204989343U (zh) 2015-08-25 2015-08-25 一种微波器件动态老化试验系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN204989343U (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107525988A (zh) * 2017-08-18 2017-12-29 成都雷电微力科技有限公司 一种通用微波组件老炼试验设备
CN109490181A (zh) * 2018-11-12 2019-03-19 中国工程物理研究院化工材料研究所 一种多通道材料化学结构监测的加速贮存老化试验装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107525988A (zh) * 2017-08-18 2017-12-29 成都雷电微力科技有限公司 一种通用微波组件老炼试验设备
CN109490181A (zh) * 2018-11-12 2019-03-19 中国工程物理研究院化工材料研究所 一种多通道材料化学结构监测的加速贮存老化试验装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105242218A (zh) 一种直流电源全覆盖自动化测试系统
CN204989343U (zh) 一种微波器件动态老化试验系统
CN104931830A (zh) 一种电子烟主机测试治具
CN204903710U (zh) 一种微波器件老化试验装置
CN103618897A (zh) 一种电视一体机机芯主板测试设备
CN104569848A (zh) 一种led灯驱动电源测试系统
CN104467668A (zh) 多通道光伏组件发电量测试数据采集系统
CN105629072A (zh) 一种多路电阻测量系统
CN204439803U (zh) 一种用于电源半成品测试的多连板测试设备
CN204228199U (zh) 一种远程监控微波功率器件长期可靠性测试系统
CN202974086U (zh) 一种无线电引信测试仪自动校准系统
CN217213029U (zh) 射频芯片老化测试讯号源系统
CN203658515U (zh) 一种led系统控制板测试装置
CN204287861U (zh) 一种音频信号切换装置
CN203241520U (zh) 一种激光器射频电源老化装置
CN203629536U (zh) 一种变压器绕组分析仪
CN203982183U (zh) 风扇控制器测试装置
CN203132823U (zh) 一种液压阀门测试机
CN205103339U (zh) 一种带自动多工位功能的电学参数测试仪
CN104459513A (zh) 自动测试装置及其测试方法
CN205120846U (zh) 双台面多功能测试系统
CN103149525A (zh) 一种水表电路板老化架
CN205581202U (zh) 一种电气元件高低电流快速检测仪
CN203643511U (zh) 端口无源参数通用自动测试设备
CN209198563U (zh) 一种多端口微波器件测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant