CN204989067U - 一种像质计 - Google Patents

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路浩
陶传琦
迟建波
王新
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CRRC Qingdao Sifang Co Ltd
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CSR Qingdao Sifang Locomotive and Rolling Stock Co Ltd
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Abstract

本实用新型涉及一种像质计,包括底板和设置在所述底板上的空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区;所述空间分辨率检测区由并排的多条不同宽度的规则长条体材质块组成;所述板厚分辨率检测区为具有不同高度阶梯的长条阶梯形材质块。本实用新型摒弃了人工观察像质计底片的方式,改为基于图像处理方式进行自动判定,使判定更具客观性。像质计采用规则图形,简化了图像处理难度,提高了可靠性。像质计具有空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区,可同时测定射线检测的空间分辨率和板厚响应度。

Description

一种像质计
技术领域
[0001] 本实用新型涉及一种检测装置,特别涉及一种像质计。
背景技术
[0002] X射线探伤技术是无损检测的主要方法之一,是检测高安全等级焊缝的必要手段。X射线探伤是指利用X射线穿透金属的能力,使X射线穿透被检物体,缺陷的部位与基本金属对射线的吸收能力不同,缺陷部位所含的空气或非金属夹杂对射线吸收能力较低,在结合相应的暗室处理,从而获得相应的缺陷影响。
[0003] 随着高速动车等产品保有数量日益庞大,生产、制造和服役过程中的质量检测需求极为迫切,目前射线检测精度的判定一般以人工观察为主,客观性差,并且像质计一般为金属丝类型,排布不规则,不适用于图像处理识别。
实用新型内容
[0004] 本实用新型主要目的在于解决上述问题和不足,提供一种适用于图像处理的像质
i+o
[0005] 为实现上述目的,本实用新型的技术方案是:
[0006] —种像质计,包括底板和设置在所述底板上的空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区;
[0007] 所述空间分辨率检测区由并排的多条不同宽度的规则长条体材质块组成;
[0008] 所述板厚分辨率检测区为具有不同高度阶梯的长条阶梯形材质块。
[0009] 进一步,所述空间分辨率检测区的并排的多条长条体材质块一端排列稀疏,另一端排列紧密。
[0010] 进一步,还包括设置在底板上的像质计搜索区,所述像质计搜索区为设置在底板上的二维码识别块。
[0011] 进一步,所述底板为长方形,在长方形底板四角各设置三个正方块形成二维码识别块。
[0012] 进一步,还包括设置在底板上的精准定位区,所述精准定位区包括多根设置在底板上的凸起块。
[0013] 综上内容,本实用新型所述的一种像质计,具有如下优点:
[0014] 1、摒弃了人工观察像质计底片的方式,改为基于计算机程序和图像处理算法的方式进行自动判定,使判定更具客观性。
[0015] 2、像质计采用规则图形,简化了图像处理难度,提高了可靠性。
[0016] 3、像质计具有空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区,可同时测定射线检测的空间分辨率和板厚响应度。
附图说明
[0017] 图1是本实用新型像质计的结构示意图。
[0018] 如图1所示,底板1,长条体材质块2,长条阶梯形材质块3,正方块4,凸起块5。
具体实施方式
[0019] 下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述:
[0020] 如图1所示,本实用新型的像质计,适用于判定X射线检测精度的数字图像处理,包括底板1、设置在底板1上的空间分辨率检测区、板厚分辨率检测区、像质计搜索区和精准定位区。
[0021] 像质计采用射线检测中被测工件的材料制成,如钢或铝。
[0022] 像质计的底板1为长方形,用于承载其上的空间分辨率检测区、板厚分辨率检测区、像质计搜索区和精准定位区。
[0023] 空间分辨率检测区,用于判定射线检测系统的空间分辨率。包括多条长条体材质块2组成,长条体材质块2为规则图形,在本实施例中,长条体材质块2为长方体形状。
[0024] 长条体材质块2长度相同,但具有不同宽度,所有长条体材质块2并排设置,并且并排的多条长条体材质块2 —端排列稀疏,另一端排列紧密。多条长条体材质块2均采用规则形状的图形,并且排列整齐,利于数字图像的处理。
[0025] 板厚分辨率检测区,用于判定射线检测底片光学密度对板厚变化率的响应度。包括一长条阶梯形材质块3,长条阶梯形材质块3上具有不同高度的阶梯,并且从长条阶梯形材质块3的一端至另一端阶梯高度逐渐变低,相邻阶梯的高度差按等差数列设置。长条阶梯形材质块3以及其多个不同高度阶梯均采用规则图形,并且阶梯的高度差按等差数列设置,同样利于数字图像的处理,简化了处理难度。
[0026] 像质计搜索区,用于识别像质计区域。像质计搜索区为设置在底板1上的二维码识别块,二维码识别块为12块正方块4,在底板1长方形的四个角的位置各设置3块正方块4。3块正方块3中一块紧贴长方形底板1顶角设置,另外两块紧贴长方形底板1边沿设置,正方块4在扫描时代表“1”,两块正方块4之间的间隙代表“0”。
[0027] 精准定位区,用于识别空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区。在本实施例中,多条长条体材质块2与长条阶梯形材质块3并列设置,在多条长条体材质块2与长条阶梯形材质块3之间为精准定位区,精准定位区包括多根设置在底板1上的凸起块5,凸起块5按一定间隔分别紧贴几条长条体材质块2和长条阶梯形材质块3,用于图像处理时识别空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区。
[0028] 一种应用上述像质计的射线检测质量判定方法,主要通过图像处理算法对射线检测质量进行判定,包括如下步骤:
[0029] 步骤一、将像质计附在胶片上,进行射线检测生成底片。
[0030] 步骤二、生成的底片为灰阶片,将底片扫描形成数字图像。
[0031] 步骤三、通过对所述数字图像进行数字图像处理算法,得到射线检测空间分辨率的判定和/或底片光学密度范围的判定和/或射线检测板厚分辨率的判定。
[0032] 计算机通过扫描二维码识别块来识别像质计区域,再通过精准定位区识别空间分辨率检测区和/或板厚分辨率检测区。
[0033] 计算机检测数字图像中空间分辨率检测区的长条体材质块2的可识别程度,判定在当前检测条件下空间分辨率是多少,可识别的长条体材质块2越细,代表空间分辨率越尚ο
[0034] 在底片上选取若干点进行光学密度的测量,并在数字图像上相同的位置进行灰度值的测量,从而建立光学密度和灰度值的关系曲线,完成对数字图像的灰度值和底片的光学密度所进行的标定。
[0035] 计算机检测数字图像中各区域的灰度值,通过关系曲线计算底片对应区域的光学密度,当底片的光学密度不在规定的光学密度范围内时,判定底片不能作为工件缺陷评定的依据。
[0036] 射线检测板厚分辨率由光学密度差与工件厚度差相除得到,即单位工件厚度差所对应的光学密度差越大,板厚分辨率越高。
[0037] 计算机检测数字图像中板厚分辨率检测区长条阶梯形材质块3的灰度值,通过关系曲线计算长条阶梯形材质块3各阶梯的光学密度,将各阶梯的光学密度相减得到各阶梯之间的光学密度差,像质计中各阶梯的高度差是确定的,故将底片中各阶梯之间的光学密度差与对应的阶梯高度差相除即可得到射线检测板厚分辨率,从而实现对射线检测板厚分辨率的判定。
[0038] 本实用新型所述的一种像质计及应用该像质计的射线检测质量判定方法,摒弃了人工观察像质计底片的方式,改为基于计算机程序和图像处理算法的方式进行自动判定,使判定更具客观性。像质计采用规则图形,简化了图像处理难度,提高了可靠性。像质计具有空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区,可同时测定射线检测的空间分辨率和板厚响应度。
[0039] 如上所述,结合附图所给出的方案内容,可以衍生出类似的技术方案。但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (5)

1.一种像质计,其特征在于:包括底板和设置在所述底板上的空间分辨率检测区和板厚分辨率检测区; 所述空间分辨率检测区由并排的多条不同宽度的规则长条体材质块组成; 所述板厚分辨率检测区为具有不同高度阶梯的长条阶梯形材质块。
2.根据权利要求1所述的一种像质计,其特征在于:所述空间分辨率检测区的并排的多条长条体材质块一端排列稀疏,另一端排列紧密。
3.根据权利要求1所述的一种像质计,其特征在于:还包括设置在底板上的像质计搜索区,所述像质计搜索区为设置在底板上的二维码识别块。
4.根据权利要求3所述的一种像质计,其特征在于:所述底板为长方形,在长方形底板四角各设置三个正方块形成二维码识别块。
5.根据权利要求1所述的一种像质计,其特征在于:还包括设置在底板上的精准定位区,所述精准定位区包括多根设置在底板上的凸起块。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN109632843A (zh) * 2018-12-06 2019-04-16 航天特种材料及工艺技术研究所 一种复合材料像质计及工业ct检测质量判定方法

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