CN204903780U - 一种抗电磁干扰的金属探测器 - Google Patents

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许建峰
汪晓东
蔡荣辉
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Abstract

本实用新型涉及一种金属探测器,具体涉及一种抗电磁干扰的金属探测器,包括主体支架;主体支架左右两端端角设有第一左支撑体、第二左支撑体、第一右支撑体和第二右支撑体;第一左支撑体和第一右支撑体上方设有第一隔离板,第二左支撑体和第二右支撑体上方设有第二隔离板;主体支架顶端中部设有“门”字结构横跨传送带的支撑机构,支撑机构包括第一支撑架、第二支撑架和第三支撑架;第三支撑架内部设有金属探测装置,第一支撑架外侧设有对金属探测装置进行设置控制的控制装置;第三支撑架左右两侧面竖直方向向下设有复数条电磁屏蔽条,本实用新型提供一种具有抗电磁干扰能力的金属探测器。

Description

一种抗电磁干扰的金属探测器
技术领域
本实用新型涉及一种金属探测器,具体涉及一种抗电磁干扰的金属探测器。
背景技术
金属探测器在食品生产领域中,应用广泛,在食品进入市场销售前,其需要经过金属探测器进行检测,以避免在生产的过程中混入金属物质的产品进入市场。
习用金属探测器原理为通过金属探测装置产生磁场,当有金属物质进入检测范围时,金属物质引起磁场的变化,由此判定产品含有金属物质。
由于通过磁场的变化来判定产品是否含有金属物质,在实际生产过程中,由于工厂的生产环境复杂多变,在生产现场常有其他大型用电生产设备的磁场或身上有金属物质如钥匙、皮带扣等的生产人员在金属探测器周边活动干扰了金属探测器的正常运行,使之发生误报,因此,目前急需一种具有一定抗电磁干扰的金属探测器,使金属探测器在检测的过程中减少误报情况的发生。
实用新型内容
本实用新型提供抗电磁干扰的金属探测器,其提供一种具有抗电磁干扰能力的金属探测器。
本实用新型采用如下技术方案:
一种抗电磁干扰的金属探测器,包括主体支架,主体支架为长方体框架结构;主体支架左右两端端角设有第一左支撑体、第二左支撑体、第一右支撑体和第二右支撑体;第一左支撑体与第二左支撑体间设有第一滚轴和第二滚轴,第一右支撑体和第二右支撑体间设有第三滚轴和第四滚轴;第一滚轴、第二滚轴、第三滚轴和第四滚轴外套设有一传送带;第一左支撑体内侧设有用于驱动第二滚轴的动力装置;第一左支撑体和第一右支撑体上方设有第一隔离板,第二左支撑体和第二右支撑体上方设有第二隔离板;主体支架顶端中部设有“门”字结构横跨传送带的支撑机构,支撑机构包括竖直方向与主体支架连接同时与第一左支撑体和第一右支撑体在同一侧的第一支撑架、竖直方向与主体支架连接同时与第二左支撑体和第二右支撑体在同一侧的第二支撑架、连接第一支撑架顶端和第二支撑架顶端的第三支撑架;第三支撑架内部设有金属探测装置,第一支撑架外侧设有对金属探测装置进行设置控制的控制装置;第三支撑架左右两侧面竖直方向向下设有复数条电磁屏蔽条。
进一步,第一隔离板和第二隔离板的外表面为导电材质,第一支撑架、第二支撑架和第三支撑架的侧面和外表面为导电材质。
进一步,第一滚轴、第二滚轴、第三滚轴和第四滚轴套设的传送带截面为上宽下窄的梯形。
进一步,电磁屏蔽条由外层的导电层和内层的支撑层组成。
进一步,导电层为铝层或锡层。
更进一步,支撑层为防水透气薄膜层。
更进一步,传送带包括橡胶层和设于橡胶层表面的金属层。
由上述对本实用新型结构的描述可知,和现有技术相比,本实用新型具有如下优点:1、本实用新型通过设置电磁屏蔽条、第一支撑架、第二支撑架、第三支撑架及传送带,减少金属探测装置电磁的泄露,同时也避免外界环境变化影响到金属探测装置磁场的变化;2、本实用新型电磁屏蔽条包括导电层和支撑层,该支撑层为防水透气薄膜层,增强了电磁屏蔽条抗电磁干扰的能力,减轻了电磁屏蔽条的重量。
附图说明
图1为本实用新型立体图;
图2为本实用新型剖面图
图3为本实用新型电磁屏蔽条立体图。
具体实施方式
下面参照附图说明本实用新型的具体实施方式。
参见图1至图3,一种抗电磁干扰的金属探测器,包括主体支架1,主体支架1为长方体框架结构;主体支架1左右两端端角设有第一左支撑体21、第二左支撑体22、第一右支撑体31和第二右支撑体32;第一左支撑体21与第二左支撑体22间设有第一滚轴41和第二滚轴42,第一右支撑体31和第二右支撑体32间设有第三滚轴43和第四滚轴44;第一滚轴41、第二滚轴42、第三滚轴43和第四滚轴44外套设有一传送带5;第一左支撑体21内侧设有用于驱动第二滚轴42的动力装置6;第一左支撑体21和第一右支撑体31上方设有第一隔离板71,第二左支撑体22和第二右支撑体32上方设有第二隔离板72,第一隔离板71和第二隔离板72的外表面为导电材质;主体支架1顶端中部设有“门”字结构横跨传送带5的支撑机构8,支撑机构8包括竖直方向与主体支架1连接同时与第一左支撑体21和第一右支撑体31在同一侧的第一支撑架81、竖直方向与主体支架1连接同时与第二左支撑体22和第二右支撑体32在同一侧的第二支撑架82、连接第一支撑架81顶端和第二支撑架82顶端的第三支撑架83;第三支撑架83内部设有金属探测装置9,第一支撑架81外侧设有对金属探测装置9进行设置控制的控制装置10;第三支撑架83左右两侧面竖直方向向下设有复数条电磁屏蔽条11,同时,第一支撑架81、第二支撑架82和第三支撑架83的侧面和外表面为导电材质。
同时,第一滚轴41、第二滚轴42、第三滚轴43和第四滚轴套44设的传送带5截面为上宽下窄的梯形;电磁屏蔽条11由外层的导电层111和内层的支撑层112组成,该导电层111为铝层或锡层,支撑层112为防水透气薄膜层;同时,传送带5包括橡胶层和设于橡胶层表面的金属层。
上述仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的设计构思并不局限于此,凡利用此构思对本实用新型进行非实质性的改动,均应属于侵犯本实用新型保护范围的行为。

Claims (7)

1.一种抗电磁干扰的金属探测器,包括主体支架,其特征是:所述主体支架为长方体框架结构;所述主体支架左右两端端角设有第一左支撑体、第二左支撑体、第一右支撑体和第二右支撑体;所述第一左支撑体与所述第二左支撑体间设有第一滚轴和第二滚轴,所述第一右支撑体和所述第二右支撑体间设有第三滚轴和第四滚轴;所述第一滚轴、所述第二滚轴、所述第三滚轴和所述第四滚轴外套设有一传送带;所述第一左支撑体内侧设有用于驱动所述第二滚轴的动力装置;所述第一左支撑体和所述第一右支撑体上方设有第一隔离板,所述第二左支撑体和所述第二右支撑体上方设有第二隔离板;所述主体支架顶端中部设有“门”字结构横跨所述传送带的支撑机构,所述支撑机构包括竖直方向与所述主体支架连接同时与所述第一左支撑体和第一右支撑体在同一侧的第一支撑架、竖直方向与所述主体支架连接同时与所述第二左支撑体和第二右支撑体在同一侧的第二支撑架、连接所述第一支撑架顶端和所述第二支撑架顶端的第三支撑架;所述第三支撑架内部设有金属探测装置,所述第一支撑架外侧设有对所述金属探测装置进行设置控制的控制装置;所述第三支撑架左右两侧面竖直方向向下设有复数条电磁屏蔽条。
2.根据权利要求1所述的一种抗电磁干扰的金属探测器,其特征是:所述第一隔离板和所述第二隔离板的外表面为导电材质,所述第一支撑架、所述第二支撑架和所述第三支撑架的侧面和外表面为导电材质。
3.根据权利要求1所述的一种抗电磁干扰的金属探测器,其特征是:所述第一滚轴、所述第二滚轴、所述第三滚轴和所述第四滚轴套设的所述传送带截面为上宽下窄的梯形。
4.根据权利要求1所述的一种抗电磁干扰的金属探测器,其特征是:所述电磁屏蔽条由外层的导电层和内层的支撑层组成。
5.根据权利要求4所述的一种抗电磁干扰的金属探测器,其特征是:所述导电层为铝层或锡层。
6.根据权利要求4所述的一种抗电磁干扰的金属探测器,其特征是:所述支撑层为防水透气薄膜层。
7.根据权利要求1所述的一种抗电磁干扰的金属探测器,其特征是:所述传送带包括橡胶层和设于所述橡胶层表面的金属层。
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CN105890505A (zh) * 2016-03-30 2016-08-24 上海云统信息科技有限公司 金属尺寸形状检测装置和方法
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