CN204887614U - 一种sld光源恒流驱动电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种SLD光源恒流驱动电路,以恒流源芯片为核心元器件,通过外围电路参数设计达到驱动SLD光源的目的。该SLD光源恒流驱动电路包括恒流源芯片、输出电阻、调试电阻、采样电阻。本实用新型提供的SLD光源恒流驱动电路具有电路集成度高、原理简单、调试方便、全温性能优等优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域,尤其涉及一种SLD光源恒流驱动电路。
背景技术
SLD(SuperLuminescentDiode,超辐射发光二极管)光源因其高光功率、宽光谱和较好的波长稳定性已被广泛应用于光电检测领域。SLD光源由恒流源驱动,驱动电流一般要求满足在60mA~120mA范围内可调,且在温度变化的情况下保持稳定。
现有的SLD光源恒流驱动电路主要有晶体管、场效应管以及由单片机控制的数控恒流源等几种恒流源电路方案。
但是,现有的几种恒流电路方案,外围器件较多,一定程度上制约了产品的小型化发展。
实用新型内容
本实用新型提供了一种SLD光源恒流驱动电路,具有低成本、小型化、原理简单的优点,能够满足小型产品的使用要求。
本实用新型提供了一种SLD光源恒流驱动电路,包括:
恒流源芯片,用于输出恒定电流;
输出电阻和调试电阻,所述输出电阻和所述调试电阻并联,并分别与所述恒流源芯片连接,所述输出电阻和所述调试电阻用于配合调试所述恒定电流并向所述SLD光源输出驱动电流;
采样电阻,与所述输出电阻和所述调试电阻连接,用于对所述驱动电流进行采样,获得采样电流;
其中,所述调试电阻的阻值可调,可以根据所述采样电流调节所述调试电阻的阻值,以将所述输出电阻和所述调试电阻输出的所述驱动电流调整为所述SLD光源所需的驱动电流。
优选地,所述的SLD光源恒流驱动电路,还包括:
两个测试口,设置在所述采样电阻两端,用于连接电压表。
优选地,所述恒流源芯片可以提供的电流大小为:0.5mA~200mA。
优选地,所述输出电阻的阻值为:0.3欧。
优选地,所述调试电阻的可调阻值范围为:1.6千欧~3.8千欧。
优选地,所述的SLD光源恒流驱动电路,还包括:
短接线,用于在将所述输出电阻和所述调试电阻输出的所述驱动电流调整为所述SLD光源所需的驱动电流之后,将所述短接线并联在采样电阻两端,以使所述采样电阻短路。
优选地,所述采样电阻可拆离。
本实用新型具有如下技术效果或优点:
本实用新型提供的SLD光源恒流驱动电路,以恒流源芯片为核心器件,外围电路简单,布板尺寸小,可直接贴在光源外表面,具有电路小型化、调试方便、全温性能优等优点。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例中一种SLD光源恒流驱动电路的原理框图;
图2为本申请实施例中一种SLD光源恒流驱动电路的电路图;
图3是本申请实施例中一种SLD光源恒流驱动电路的印制板图;
图4为本申请实施例中恒流源芯片SET引脚输出电流随温度的变化曲线。
具体实施方式
本申请实施例提供了一种SLD光源恒流驱动电路,具有低成本、小型化、原理简单的优点,能够满足小型产品的使用要求。
本申请实施例的技术方案为解决上述技术问题,总体思路如下:
一种SLD光源恒流驱动电路,包括:恒流源芯片,用于输出恒定电流;输出电阻和调试电阻,输出电阻和调试电阻并联,并分别与恒流源芯片连接,输出电阻和调试电阻用于配合调试所述恒定电流并向SLD光源输出驱动电流;采样电阻,与输出电阻和调试电阻连接,用于对驱动电流进行采样,获得采样电流;其中,调试电阻的阻值可调,可以根据采样电流调节调试电阻的阻值,以将输出电阻和调试电阻输出的驱动电流调整为SLD光源所需的驱动电流。
为了更好的理解上述技术方案,下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
实施例一
图1为本申请实施例中一种SLD光源恒流驱动电路的原理框图。如图1所示,本实施例提供了一种SLD光源恒流驱动电路20,用于向SLD光源10输出驱动电流,本SLD光源恒流驱动电路20包括:
恒流源芯片21,用于输出恒定电流;
输出电阻22和调试电阻23,输出电阻22和调试电阻23并联,并分别与恒流源芯片21的输出端连接,输出电阻22和调试电阻23用于配合调试恒定电流并向SLD光源10输出驱动电流;
采样电阻24,同时与输出电阻22和调试电阻23连接,用于对驱动电流进行采样,获得采样电流。
在具体实施过程中,调试电阻23的阻值可调,调试人员可以根据采样电流的大小调节调试电阻的阻值,以将输出电阻22和调试电阻23输出的驱动电流调整为SLD光源10所需的驱动电流,从而完成对驱动电流的调试。
进一步,本SLD光源恒流驱动电路20,还包括:
两个测试口,设置在采样电阻24两端,用于连接电压表。
在具体实施过程中,调试人员可以通过电压表读取采样电阻24两端的电压,再除以采样电阻24的阻值,从而确定流经采样电阻24的采样电流的大小,该采样电流的大小即为输出电阻22和调试电阻23输出的驱动电流的大小。
进一步,恒流源芯片21可以提供的电流大小为0.5mA~200mA,电流大小稳定、可调、全温性能优。
进一步,输出电阻22的阻值为0.3欧,调试电阻23的可调阻值范围为1.8千欧~3.6千欧,可输出范围为60mA~120mA的恒定的驱动电流。
进一步,本SLD光源恒流驱动电路20,还包括:
短接线(例如:导线),用于在将输出电阻22和调试电阻23输出的驱动电流调整为SLD光源10所需的驱动电流之后,将短接线并联在采样电阻24两端(例如:可以拆除电压表,再将短接线的两端分别与上述的两个测试口连接),以使采样电阻24短路。
进一步,采样电阻24可拆离。
在具体实施过程中,在将短接线并联在采样电阻24两端,以使采样电阻24短路之后,可以将采样电阻24拆下,以降低电路功耗。
本申请实施例提供的SLD恒流驱动电路20,采用恒流源芯片21作为核心元器件,通过采样电阻24监测流经SLD光源的电流值,并调整外围输出电阻22与调试电阻23的阻值比例关系,实时调整SLD光源驱动电流的大小。
图2为本申请实施例中一种SLD光源恒流驱动电路的电路图。如图2所示,恒流源芯片V21(即:恒流源芯片21)的SET引脚输出10μA的恒定电流,该电流精度为1%,电流温度系数低,如图4示出了恒流源芯片V21的SET引脚输出电流的随温度的变化曲线,在(-50℃~+150℃)范围内变化量小于0.06μA。流经R24(即:采样电阻24)的驱动电流大小与R22(即:输出电阻22)和R23(即:调试电阻23)的阻值比例有关:驱动电流驱动电流调试完成后,可将R24拆除并用导线短接,以降低电路功耗。
图3是本申请实施例中一种SLD光源恒流驱动电路的印制板图。如图3所示,布成单层印制板其外形尺寸小于通用蝶形封装SLD光源上表面积,可以直接贴在光源上表面,为系统设计节省空间。
上述本申请实施例中的技术方案,至少具有如下的技术效果或优点:
本申请实施例提供的SLD光源恒流驱动电路,以恒流源芯片为核心器件,外围电路简单,布板尺寸小,可直接贴在光源外表面,具有电路小型化、调试方便、全温性能优等优点。
尽管已描述了本实用新型的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (7)
1.一种SLD光源恒流驱动电路,其特征在于,包括:
恒流源芯片,用于输出恒定电流;
输出电阻和调试电阻,所述输出电阻和所述调试电阻并联,并分别与所述恒流源芯片连接,所述输出电阻和所述调试电阻用于配合调试所述恒定电流并向所述SLD光源输出驱动电流;
采样电阻,与所述输出电阻和所述调试电阻连接,用于对所述驱动电流进行采样,获得采样电流;
其中,所述调试电阻的阻值可调,可以根据所述采样电流调节所述调试电阻的阻值,以将所述输出电阻和所述调试电阻输出的所述驱动电流调整为所述SLD光源所需的驱动电流。
2.如权利要求1所述的SLD光源恒流驱动电路,其特征在于,还包括:
两个测试口,设置在所述采样电阻两端,用于连接电压表。
3.如权利要求1所述的SLD光源恒流驱动电路,其特征在于,所述恒流源芯片可以提供的电流大小为:0.5mA~200mA。
4.如权利要求1所述的SLD光源恒流驱动电路,其特征在于,所述输出电阻的阻值为:0.3欧。
5.如权利要求1所述的SLD光源恒流驱动电路,其特征在于,所述调试电阻的可调阻值范围为:1.8千欧~3.6千欧。
6.如权利要求1~5任一所述的SLD光源恒流驱动电路,其特征在于,还包括:
短接线,用于在将所述输出电阻和所述调试电阻输出的所述驱动电流调整为所述SLD光源所需的驱动电流之后,将所述短接线并联在采样电阻两端,以使所述采样电阻短路。
7.如权利要求6所述的SLD光源恒流驱动电路,其特征在于,所述采样电阻可拆离。
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CN201520642208.3U CN204887614U (zh) | 2015-08-24 | 2015-08-24 | 一种sld光源恒流驱动电路 |
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CN113340566A (zh) * | 2021-04-22 | 2021-09-03 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) | 频闪光源的光强校准装置、方法及电子设备 |
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