CN204831212U - 自动检测光学薄膜翘曲的检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种自动检测光学薄膜翘曲的检测系统，其包含传输带，以及光源薄膜翘曲检测装置；其中光源薄膜翘曲检测装置包含检测光束发光元件、检测光束接收元件以及信号处理器。利用本实用新型的检测系统，可缩短检测光学薄膜翘曲的时间，提高检测精准度，并减少所需设备空间。

Description

自动检测光学薄膜翘曲的检测系统

技术领域

本实用新型是有关于一种光学薄膜翘曲的检测系统，尤其有关于一种能够自动检测光学薄膜翘曲的检测系统。

背景技术

液晶平面显示器的面板制程中，包含偏光板对液晶盒对位的贴合过程，然因为偏光板为多层光学薄膜经层叠贴合所制得，各层光学薄膜的刚性并不完全相同，因此偏光板易产生翘曲问题。

再者，因液晶平面显示器已逐渐进入自动化量产制程，若偏光板的翘曲程度过于严重，于偏光板与液晶盒的贴合过程中，吸附偏光板的机台容易产生掉片，或是无法与液晶盒进行精准对位贴合，因而影响液晶平面显示器的光学表现，如对比不足或视角过小等问题。此外，严重翘曲的偏光板与液晶盒贴合时，因无法平整贴合，故易造成的气泡等外观不良。因此，翘曲程度对于偏光板为一重要评价指标。

习知的光学薄膜翘曲检测方法之一，是采用人工目视检测法，其将待检测的光学薄膜放置于一平台上，该平台上具有特定翘曲规格的治具，人员以目视法确认光学薄膜的翘曲状况是否位于该治具的翘曲规格内，若位于该规格内，即判定该光学薄膜为良品，反之，则判定为不良品。然而，以此人工目视检测的方法会耗费太多时间，且因各人员判定标准的差异导致检测结果有所误差。再者，前述治具进行检测，只能将光学薄膜分为良品和不良品，并无法获得各光学薄膜的实际翘曲数值。

而另一习知的光学薄膜翘曲检测方法，请配合参考图1所示，图1为习知偏光板翘曲检测方法的示意图，其将待检测偏光板2静置于一平台1的表面11，待偏光板2呈稳定状态后，人员将利用刻度尺3依序量测偏光板2的角一21、角二22、角三23及角四24相对于平台1表面11的翘曲高度H，以获得该待检测偏光板2的实际翘曲数值，进而判断该光学薄膜的翘曲是否符合翘曲规格。虽然，此方法可获得光学薄膜的实际翘曲数值，但缺点同于前述人工目视检测法，亦会耗费太多时间，且因各人员判定标准的差异导致检测结果有所误差。

实用新型内容

有鉴于上述习知技术的问题，本实用新型的目的在于提供一种自动检测光学薄膜翘曲的检测系统，以期克服现有光学薄膜翘曲检测方法耗时多及不易获得实际翘曲数值的技术问题。

为克服前述人工检测法的缺点，本实用新型提供一种自动检测光学薄膜翘曲的检测系统，其包含传输带，用以传输待检测光学薄膜；以及光源薄膜翘曲检测装置。此光学薄膜翘曲检测装置包含:检测光束发光元件，其设置于该传输带的一侧，其包含复数个检测光束发光光源，复数个检测光束发光光源皆位于该传输带的上方，且各依不同垂直高度排列，用以发射复数个检测光束；检测光束接收元件，其设置于该传输带的相对于该检测光束发光元件的另一侧，其包含复数个对应各该检测光束发光光源的检测光束接收器，用以接收复数个检测光束；以及信号处理器，其耦接于该检测光束发光元件与该检测光束接收元件，该信号处理器用以分析该检测光束发光元件发出的该复数个检测光束的强度与该检测光束接收元件所接收的复数个检测光束的强度的差异，并将该复数个检测光束的强度差异转换为以电子信号呈现的翘曲资讯；其中，该复数个检测光束发光元件发射出的这些检测光束形成与传输带垂直的垂直平面，当该待检测光学薄膜通过该垂直平面时，藉由检测光束发光元件与检测光束接收元件之间的检测光束的强度差异，以取得该待检测光学薄膜的翘曲资讯。

在本实用新型的一实施例的检测系统中，检测光束发光光源分别为激光光源或普通光源。

在本实用新型的又一实施例的检测系统中，检测光束接收器为光电倍增管、光二极体或电荷耦合元件。

在本实用新型的另一实施例的检测系统中，该复数个检测光束与传输带之间的垂直高度不相同。

在本实用新型的另一实施例的检测系统中，检测系统还包括显示装置，其耦接于该信号处理器，用以显示信号处理器所呈现的翘曲资讯。

在本实用新型的另一实施例的检测系统中，检测系统还包括警示装置，其耦接于该显示装置，当该翘曲资讯不符合翘曲规格时，该警示装置用以发出警示。

在本实用新型的另一实施例的检测系统中，检测系统还包含分类装置，其设置复数个检测光束之后，并耦接于该信号处理器，根据该信号处理器所提供的翘曲资讯用以将待检测光学薄膜进行不同翘曲等级的分类。

藉由本实用新型所提出的检测系统，待检测光学薄膜仅需通过由复数检测光束所形成的垂直平面后，即可完成翘曲检测。故本实用新型所提出的检测系统不仅可以缩短线上检测光学薄膜翘曲所耗费的时间，提高翘曲检测的精准度，且因所需传输带的长度减少，故可减少检测系统所需占据的设备空间，有效进行空间利用。

以上所述仅用以阐述本实用新型所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本实用新型的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。

附图说明

图1为习知偏光板翘曲检测方法的示意图；

图2为本实用新型的一较佳实施例的检测系统的示意图；

图3为本实用新型的另一较佳实施例的检测系统示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的新型特征、内容与优点及其所能达成的功效更易了解，兹将本实用新型配合附图，并以实施例的表达形式详细说明如下，而其中所使用的图式，其主旨仅为示意及辅助说明书之用，未必为本实用新型实施后的真实比例与精准配置，故不应就附图的比例与配置关系解读、局限本实用新型于实际实施上的权利范围，合先叙明。

以下将参照相关图式，说明依本实用新型的自动检测光学薄膜翘曲的检测系统的实施例，为使便于理解，下述实施例中的相同元件以相同的符号标示来说明。

图2为本实用新型所提供的自动检测光学薄膜翘曲的检测系统的一较佳实施态样。此自动检测光学薄膜翘曲的检测系统，其包含传输带4，传输带4用以传输待检测光学薄膜5；以及光源薄膜翘曲检测装置。此光学薄膜翘曲检测装置包括检测光束发光元件6，其设置于传输带4的一侧，检测光束发光元件6包含复数个检测光束发光光源61，复数个检测光束发光光源61皆位于传输带4的上方，且依不同垂直高度排列，用以发射复数个检测光束7；检测光束接收元件8，其设置于传输带4的相对于检测光束发光元件6的另一侧，其包含复数个对应各检测光束发光光源61的检测光束接收器81，用以接收复数个检测光束7；以及信号处理器9，其耦接于检测光束发光元件6与检测光束接收元件8，用以分析检测光束发光元件6发出的复数个检测光束的强度与检测光束接收元件8所接收的复数个检测光束的强度的差异，并将复数个检测光束强度差异转换为以电子信号呈现的翘曲资讯；其中，复数个检测光束发光元件6发射出的检测光束7形成与传输带4垂直的垂直平面10，当待检测光学薄膜5通过垂直平面10时，藉由检测光束发光元件6与检测光束接收元件8之间的检测光束的强度差异，以取得待检测光学薄膜5的翘曲资讯。

当待检测光学薄膜尚未通过光学薄膜翘曲装置时，检测光束发光元件6与检测光束接收元件8之间的检测光束强度并无差异，意即检测光束发光元件6所发射出的检测光束7，完全被检测光束接收元件8接收。

但当具有翘曲的待检测光学薄膜通过光学薄膜翘曲装置时，检测光束的强度会因穿透具部分翘曲的光学薄膜而减弱，因此检测光源发光元件6与检测光束接收元件8间的检测光束强度即产生差异。

且根据产生检测光束强度差异的垂直高度位置，信号处理器可将此转换为以电子信号呈现的翘曲资讯。

于本实用新型的一实施例中，复数个检测光束发光光源61为激光光源或普通光源。

于本实用新型的一实施例中，前述检测光束接收器81可为光电倍增管、光二极体或电荷耦合元件。

于本实用新型的一实施例中，前述信号处理器9可为电脑。

于本实用新型的一实施例中，前述检测光束7与传输带4之间的垂直高度并不相同。

请配合参看图3所示，图3为本实用新型所提供的自动检测光学薄膜翘曲的检测系统的另一较佳实施态样。此实施态样的检测系统与图2所示的检测系统的差异在于，图3的实施态样还包括显示装置11、警示装置12以及分类装置13。

前述显示装置11，其耦接于信号处理器9，用以显示信号处理器9所呈现的翘曲资讯，此翘曲资讯包含待检测光学薄膜5的实际翘曲数值，当翘曲数值符合所制定的翘曲规格，则显示装置11即显示OK(表示为良品)，反之，则显示NG(表示为不良品)。

前述警示装置12，其耦接于显示装置11，用以警示特定的翘曲资讯。当显示装置11显示NG时，此警示装置12可以声音或灯光来提出警示。

前述分类装置13，其设置于复数检测光束7之后，并耦接于信号处理器9，根据信号处理器9所提供的翘曲资讯以将待检测光学薄膜5进行不同翘曲等级的分类。

以上所述的实施例仅为说明本实用新型的技术思想及特点，其目的在使本领域技术人员能够了解本实用新型的内容并据以实施，当不能以之限定本实用新型的专利范围，即大凡依本实用新型所揭示的精神所作的均等变化或修饰，仍应涵盖在本实用新型的专利范围内。

Claims (7)

1.一种自动检测光学薄膜翘曲的检测系统，其特征在于该检测系统包括：

传输带，用以传输待检测光学薄膜；以及

光源薄膜翘曲检测装置，其包含:

检测光束发光元件，其设置于该传输带的一侧，该检测光束发光元件包含复数个检测光束发光光源，该复数个检测光束发光光源皆位于该传输带的上方，且依不同垂直高度排列，用以发射复数个检测光束；

检测光束接收元件，其设置于该传输带的相对于该检测光束发光元件的另一侧，该检测光束接收元件包含对应该复数个检测光束发光光源的复数个检测光束接收器，该复数个检测光束接收器用以接收复数个检测光束；以及

信号处理器，其耦接于该检测光束发光元件与该检测光束接收元件，该信号处理器用以分析该检测光束发光元件发出的该复数个检测光束的强度与该检测光束接收元件所接收的复数个检测光束的强度的差异，并将该复数个检测光束的强度差异转换为以电子信号呈现的翘曲资讯；

其中，该复数个检测光束发光光源发射出的复数个检测光束形成与该传输带垂直的垂直平面，当该待检测光学薄膜通过该垂直平面时，藉由该检测光束发光元件与该检测光束接收元件之间的该复数个检测光束的强度差异，以取得该待检测光学薄膜的翘曲资讯。

2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于该复数个检测光束发光光源为激光光源或普通光源。

3.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于该复数个检测光束接收器为光电倍增管、光二极体或电荷耦合元件。

4.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于该复数个检测光束与该传输带之间的垂直高度不相同。

5.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于该检测系统还包括：

显示装置，其耦接于该信号处理器，该显示装置用以显示该信号处理器所呈现的翘曲资讯。

6.如权利要求5所述的检测系统，其特征在于该检测系统还包括：

警示装置，其耦接于该显示装置，当该翘曲资讯不符合翘曲规格时，该警示装置用以发出警示。

7.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于该检测系统还包括：

分类装置，其设置复数个检测光束之后，该分类装置耦接于该信号处理器，并根据该信号处理器所提供的该翘曲资讯，将该待检测光学薄膜进行不同翘曲等级的分类。