CN204761448U - 兼容式手机射频测试系统 - Google Patents

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周陈力
黄斌伟
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Abstract

本实用新型公开了一种兼容式手机射频测试系统,包括放置在主板正面上的射频功率放大器和天线,在主板上设有一通孔,所述通孔的两端分别连接有同心圆焊盘和开关单元,上述射频功率放大器的射频信号依次通过同心圆焊盘、开关单元后与天线连接,所述同心圆焊盘由同轴的测试焊盘和接地焊盘组成,所述开关单元包括两条支路,其中第一支路上设有射频测试座,该射频测试座上设有顶针,第二支路上设有天线开关。通过将手机射频测试座和同心圆式手机射频系统兼容起来,在前期测试时使用射频测试座,可以非常方便测试主板性能,极大提高项目开发进度;在量产时,使用同心圆焊盘测试,可一定程度上降低主板的成本,并且能方便高效地进行大批量生产。

Description

兼容式手机射频测试系统
技术领域
本实用新型涉及一种手机检测系统,特别是兼容式手机射频测试系统。
背景技术
现在同一种型号的手机虽然使用相同器件,但是这些器件还是存在一定的差异,由此必然会造成手机个体之间的差异,但是这些差异如果超出一定的范围,就会被认为不合格产品,因此必须在出厂前必须通过性能校准将这些差异调整在符合国际标准内。
由于手机天线个体差异非常大,天线的负载阻抗通常也不在50Ω的匹配点,因此主板在做射频校准和测试时通常要断开和天线的连接,再通过50Ω的射频线和测试仪器连接,校准、测试完成后再把射频放大器和天线连接,保证手机和基站的正常通信。因此如何快速有效、低成本的完成主板的性能校准和测试是手机行业必须面临的一个问题。
目前手机主板射频设计通常采用以下两种方式:1、采用专用的手机射频测试座,其优点是性能稳定、便于测试,手机测试时不需要破坏手机的整体结构,缺点是增加手机设计的成本;2、同心圆式手机射频系统设计,其优点是成本低,性能可靠,易于制造,但缺点也很明显,主要测试时需要手动焊接射频测试线,破坏整体结构件,不方便测试,一定程度上延缓项目进度。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决上述现有技术的不足而提供一种既能满足前期快速方便的测试要求,又不增加批量时设计成本的兼容式手机射频测试系统。
为了实现上述目的,本实用新型所设计的兼容式手机射频测试系统,包括放置在主板正面上的射频功率放大器和天线,在主板上设有一通孔,所述通孔的两端分别连接有同心圆焊盘和开关单元,所述同心圆焊盘位于主板的正面,所述开关单元位于主板的反面,上述射频功率放大器的射频信号依次通过同心圆焊盘、开关单元后与天线连接,所述同心圆焊盘由同轴的测试焊盘和接地焊盘组成,所述开关单元包括两条独立的支路,其中第一支路上设有射频测试座,第二支路上设有天线开关。所述射频测试座上设有顶针,且该射频测试座为常闭式射频测试座。
上述主板的正面即是手机屏幕所在面,主板的反面即是电池所在面。
所述兼容式手机射频测试系统包括两条独立的支路:
当使用第一支路时,断开天线开关,使用射频测试座测试,其信号流程如下:射频功率放大器↔射频测试座↔天线;
当使用第二支路时,省去射频测试座,使用同心圆焊盘测试,其信号流程如下:射频功率放大器↔同心圆焊盘↔天线开关↔天线。
在具体使用过程中,当在前期测试时,射频功率放大器的射频信号通过射频测试座连接天线,此时由于测试仪器通过射频测试线的插头插入至射频测试座,故而射频测试座的顶针断开与天线的连接,转而形成到测试仪器的新的电信号通路,从而实现对射频功率放大器的测试。
后期批量生产时去掉射频测试座,同样断开天线开关,射频功率放大器的射频信号仅只能通过同心圆焊盘,并不会通到天线,从而实现对射频功率放大器的测试。
本实用新型得到的兼容式手机射频测试系统,其技术效果是通过将手机射频测试座和同心圆式手机射频系统兼容起来,在前期测试时使用射频测试座,可以非常方便测试主板性能,极大提高项目开发进度;在量产时,使用同心圆焊盘测试,可一定程度上降低了主板成本,并且能方便高效地进行大批量生产。
附图说明
图1是实施例的兼容式手机射频测试系统的结构示意图。
图中:主板1、射频功率放大器2、天线3、通孔4、同心圆焊盘5、开关单元6、测试焊盘7、接地焊盘8、射频测试座9、顶针10、天线开关11。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
实施例:
如图1所示,本实施例提供的兼容式手机射频测试系统,包括放置在主板1正面上的射频功率放大器2和天线3,在主板1上设有一通孔4,所述通孔4的两端分别连接有同心圆焊盘5和开关单元6,所述同心圆焊盘5位于主板1的正面,所述开关单元6位于主板1的反面,上述射频功率放大器2的射频信号依次通过同心圆焊盘5、开关单元6后与天线3连接,所述同心圆焊盘5由同轴的测试焊盘7和接地焊盘8组成,上述开关单元6包括两条独立的支路,其中第一支路上设有射频测试座9,该射频测试座9上设有顶针10,所述射频测试座9为常闭式射频测试座,第二支路上设有天线开关11。
在具体使用过程中,当在前期测试时,断开天线开关11,射频功率放大器2的射频信号通过射频测试座9连接天线3,此时由于测试仪器通过射频测试线的插头插入至射频测试座9,故而射频测试座9的顶针10断开与天线2的连接,转而形成到测试仪器的新的电信号通路,从而实现对射频功率放大器2的测试。
后期批量生产时去掉射频测试座9,同样断开天线开关11,射频功率放大器2的射频信号仅只能通过同心圆焊盘5,并不会通到天线2,从而实现对射频功率放大器2的测试。
该测试系统在前期测试时使用射频测试座9,可以非常方便测试主板1性能,极大提高项目开发进度;在量产时,使用同心圆焊盘5测试,可一定程度上降低主板1的成本,并且能方便高效地进行大批量生产。

Claims (2)

1.一种兼容式手机射频测试系统,包括放置在主板(1)正面上的射频功率放大器(2)和天线(3),其特征在于:在主板(1)上设有一通孔(4),所述通孔(4)的两端分别连接有同心圆焊盘(5)和开关单元(6),所述同心圆焊盘(5)位于主板(1)的正面,所述开关单元(6)位于主板(1)的反面,上述射频功率放大器(2)的射频信号依次通过同心圆焊盘(5)、开关单元(6)后与天线(2)连接,所述同心圆焊盘(5)由同轴的测试焊盘(7)和接地焊盘(8)组成,所述开关单元(6)包括两条独立的支路,其中第一支路上设有射频测试座(9),该射频测试座(9)上设有顶针(10),第二支路上设有天线开关(11)。
2.根据权利要求1所述的兼容式手机射频测试系统,其特征在于:所述射频测试座(9)为常闭式射频测试座。
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