CN204514473U - 光谱测量前端光谱采集装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了光谱测量前端光谱采集装置,包括导光光纤、余弦校正器和测量支架;所述导光光纤的一端连接所述余弦校正器,另一端连接光谱仪;所述导光光纤和余弦校正器均固定在测量支架上。本实用新型通过余弦校正器对大角度范围内的光进行收集匀光,通过光纤传输至光谱仪进行光谱分析,体积小巧,安装方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种光谱测量前端光谱采集装置。
背景技术
传统采用光谱仪接光纤直接测量光谱法或者通过积分球达到测试光谱的目的。单根光纤直接测量LED光源光谱时,由于LED光源不同角度发出来的光会有些许光谱偏差,从而导致在不同角度下测量LED光源光谱会导致测量误差,无法精确测量得到LED光源的准确光谱数据。通过积分球测量光谱数据,积分球的直径尺寸和被测光源的大小有直接关系,较大的光源甚至需要直径1米以上的积分球进行测量,无法满足在线快速测试的要求。
实用新型内容
本实用新型的目的是解决现有技术存在的问题,提供一种光谱测量前端光谱采集装置。
实现本实用新型目的的技术方案是光谱测量前端光谱采集装置,包括导光光纤、余弦校正器和测量支架;所述导光光纤的一端连接所述余弦校正器,另一端连接光谱仪;所述导光光纤和余弦校正器均固定在测量支架上。
所述测量支架的一端设置安装孔,安装孔的下方连接一个套筒;所述余弦校正器设置于套筒内;所述导光光纤连接余弦校正器的一端伸入套筒,并通过螺钉与余弦校正器连接。
所述测量支架的另一端设置转动连接件。
采用了上述技术方案,本实用新型具有以下的有益效果:(1)本实用新型通过余弦校正器对大角度范围内的光进行收集匀光,通过光纤传输至光谱仪进行光谱分析,体积小巧,安装方便。
(2)本实用新型可以设置多角度对光谱不同角度进行测量,达到测试准确性要求。
附图说明
为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本实用新型作进一步详细的说明,其中
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型装在光源测试系统上的示意图。
附图中标号为:
导光光纤1、余弦校正器2、测量支架3、套筒31。
具体实施方式
(实施例1)
见图1,本实施例的光谱测量前端光谱采集装置,包括导光光纤1、余弦校正器2和测量支架3;导光光纤1的一端连接余弦校正器2,另一端连接光谱仪;导光光纤1和余弦校正器2均固定在测量支架3上。测量支架3的一端设置安装孔,安装孔的下方连接一个套筒31;余弦校正器2设置于套筒31内;导光光纤1连接余弦校正器2的一端伸入套筒31,并通过螺钉与余弦校正器2连接。测量支架3的另一端设置转动连接件,用于与光源测试系统的大支架(如图2所示)转动连接,以调整测量角度。
以上所述的具体实施例,对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (3)
1.光谱测量前端光谱采集装置,其特征在于:包括导光光纤(1)、余弦校正器(2)和测量支架(3);所述导光光纤(1)的一端连接所述余弦校正器(2),另一端连接光谱仪;所述导光光纤(1)和余弦校正器(2)均固定在测量支架(3)上。
2.根据权利要求1所述的光谱测量前端光谱采集装置,其特征在于:所述测量支架(3)的一端设置安装孔,安装孔的下方连接一个套筒(31);所述余弦校正器(2)设置于套筒(31)内;所述导光光纤(1)连接余弦校正器(2)的一端伸入套筒(31),并通过螺钉与余弦校正器(2)连接。
3.根据权利要求1或2所述的光谱测量前端光谱采集装置,其特征在于:所述测量支架(3)的另一端设置转动连接件。
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CN (1) | CN204514473U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN111795803A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-20 | 深圳市摩西尔工业检测设备有限公司 | 一种面发光体二维发光检测方法 |
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2015
- 2015-04-03 CN CN201520201271.3U patent/CN204514473U/zh not_active Expired - Fee Related
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CN111795803A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-20 | 深圳市摩西尔工业检测设备有限公司 | 一种面发光体二维发光检测方法 |
CN111795803B (zh) * | 2020-06-23 | 2022-11-01 | 深圳市摩西尔工业检测设备有限公司 | 一种面发光体二维发光检测方法 |
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Granted publication date: 20150729 Termination date: 20210403 |