CN204461354U - 一种激光测距机光轴检测系统 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供一种激光测距机光轴检测系统,包括被测激光测距机、校准检测板、激光位移传感器、激光光轴分析仪以及校准装置,被测激光测距机包括用于发射激光的激光发射器以及用于接收激光的激光接收器,激光发射器发射光束至所述校准检测板上,并瞄准校准检测板的刻度线,激光位移传感器用于检测激光发射器发射光束的位移距离,并将检测的位移数据反馈至激光光轴分析仪,激光光轴分析仪根据激光位移传感器检测的数据控制校准装置的启闭。本实用新型可以应用于多种激光测距机的光轴检验和校正,解决在野外的情况下对激光测距机的光轴进行校正和检验,操作灵活,方便使用,大大提高了激光测距机的检测效率和测试精度。

Description

一种激光测距机光轴检测系统
技术领域
本实用新型涉及温度控制技术领域,具体地讲,本实用新型涉及一种激光测距机光轴检测系统。
背景技术
激光测距机,是利用激光对目标的距离进行准确测定的仪器。激光测距机在工作时向目标射出一束很细的激光,由光电元件接收目标反射的激光束,计时器测定激光束从发射到接收的时间,计算出从观测者到目标的距离。激光测距机重量轻、体积小、操作简单速度快而准确,其误差仅为其它光学测距仪的五分之一到数百分之一。
现有的激光测距机光轴的调试,一般都在光学调校室来完成,而激光测距机在交付使用后,其工作环境多在野外,一旦出现故障维修或常规维护都需要在野外的状态下进行的,但只要涉及到光轴的调校都是不可能在野外的状态下进行,通常是将激光测距机返厂或送军区维修所进行维修,维修费用不但很高,而且耽误时间。因此,本领域技术人员亟需研发一种可提高检测效率、适合野外条件使用的激光测距机光轴检测系统。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是:提供一种可提高检测效率、适合野外条件使用的激光测距机光轴检测系统。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种激光测距机光轴检测系统,包括被测激光测距机、校准检测板、激光位移传感器、激光光轴分析仪以及校准装置,所述被测激光测距机包括用于发射激光的激光发射器以及用于接收激光的激光接收器,所述激光发射器发射光束至所述校准检测板上,并瞄准所述校准检测板的刻度线,所述激光位移传感器用于检测所述激光发射器发射光束的位移距离,并将检测的位移数据反馈至所述激光光轴分析仪,所述激光光轴分析仪根据所述激光位移传感器检测的数据控制所述校准装置的启闭。
优选的,所述激光光轴分析仪连接校准记录单元,所述校准记录单元用于记录被测激光测距机的校准数据。
优选的,所述被测激光测距机设有用于定位的远程定位装置。
优选的,所述校准检测板的表面具有感光纸层。
优选的,所述校准检测板的刻度线呈十字型。
优选的,所述被测激光测距机设有用于指向的指南针。
本实用新型提供了一种激光测距机光轴检测系统,通对被测激光测距机发出的光束设置校准检测板以及激光位移传感器,将检测的数据反馈至激光光轴分析仪分析处理后反馈至校准装置,校准装置对被测激光测距机进行校准,本实用新型可以应用于多种激光测距机的光轴检验和校正,解决在野外的情况下对激光测距机的光轴进行校正和检验,操作灵活,方便使用,大大提高了激光测距机的检测效率和测试精度。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型的激光测距机光轴检测系统优选实施例的结构示意图。
[图中附图标记]:
10. 被测激光测距机,11. 激光发射器,12. 激光接收器, 20. 校准检测板,30. 激光位移传感器,40. 激光光轴分析仪, 50. 校准装置,60. 校准记录单元,70. 远程定位装置,80. 指南针。
具体实施方式
为使本实用新型的内容更加清楚易懂,以下结合说明书附图,对本实用新型的内容作进一步说明。当然本实用新型并不局限于该具体实施例,本领域内的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本实用新型的保护范围内。其次,本实用新型利用示意图进行了详细的表述,在详述本实用新型实例时,为了便于说明,示意图不依照一般比例局部放大,不应以此作为对本实用新型的限定。
上述及其它技术特征和有益效果,将结合实施例及附图1对本实用新型的激光测距机光轴检测系统进行详细说明。如图1所示,图1是本实用新型的激光测距机光轴检测系统优选实施例的结构示意图。
如图1所示,本实用新型提供一种激光测距机光轴检测系统,包括被测激光测距机10、校准检测板20、激光位移传感器30、激光光轴分析仪40以及校准装置50,被测激光测距机10包括用于发射激光的激光发射器11以及用于接收激光的激光接收器12,激光发射器11发射光束至校准检测板20上,并瞄准校准检测板20的刻度线,激光位移传感器30用于检测激光发射器11发射光束的位移距离,并将检测的位移数据反馈至激光光轴分析仪40,激光光轴分析仪40根据激光位移传感器30检测的数据控制校准装置50的启闭。
具体的,本实施例中,校准检测板20的表面具有感光纸层,校准检测板20的刻度线呈十字型。
优选方案中,激光光轴分析仪40可连接校准记录单元60,校准记录单元60用于记录被测激光测距机10的校准数据。此外,为了便于在野外使用激光测距机,被测激光测距机10设有用于定位的远程定位装置70以及用于指向的指南针80。
综上所述,本实用新型提供了一种激光测距机光轴检测系统,通对被测激光测距机10发出的光束设置校准检测板20以及激光位移传感器30,将检测的数据反馈至激光光轴分析仪40分析处理后反馈至校准装置50,校准装置50对被测激光测距机10进行校准,本实用新型可以应用于多种激光测距机的光轴检验和校正,解决在野外的情况下对激光测距机的光轴进行校正和检验,操作灵活,方便使用,大大提高了激光测距机的检测效率和测试精度。
虽然本实用新型主要描述了以上实施例,但是只是作为实例来加以描述,而本实用新型并不限于此。本领域普通技术人员能做出多种变型和应用而不脱离实施例的实质特性。例如,对实施例详示的每个部件都可以修改和运行,与所述变型和应用相关的差异可认为包括在所附权利要求所限定的本实用新型的保护范围内。
本说明书中所涉及的实施例,其含义是结合该实施例描述的特地特征、结构或特性包括在本实用新型的至少一个实施例中。说明书中出现于各处的这些术语不一定都涉及同一实施例。此外,当结合任一实施例描述特定特征、结构或特性时,都认为其落入本领域普通技术人员结合其他实施例就可以实现的这些特定特征、结构或特性的范围内。

Claims (6)

1.一种激光测距机光轴检测系统,其特征在于,包括被测激光测距机、校准检测板、激光位移传感器、激光光轴分析仪以及校准装置,所述被测激光测距机包括用于发射激光的激光发射器以及用于接收激光的激光接收器,所述激光发射器发射光束至所述校准检测板上,并瞄准所述校准检测板的刻度线,所述激光位移传感器用于检测所述激光发射器发射光束的位移距离,并将检测的位移数据反馈至所述激光光轴分析仪,所述激光光轴分析仪根据所述激光位移传感器检测的数据控制所述校准装置的启闭。
2.如权利要求1所述的激光测距机光轴检测系统,其特征在于,所述激光光轴分析仪连接校准记录单元,所述校准记录单元用于记录被测激光测距机的校准数据。
3.如权利要求1所述的激光测距机光轴检测系统,其特征在于,所述被测激光测距机设有用于定位的远程定位装置。
4.如权利要求1所述的激光测距机光轴检测系统,其特征在于,所述校准检测板的表面具有感光纸层。
5.如权利要求1所述的激光测距机光轴检测系统,其特征在于,所述校准检测板的刻度线呈十字型。
6.如权利要求1所述的激光测距机光轴检测系统,其特征在于,所述被测激光测距机设有用于指向的指南针。
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