CN204290981U - 一种用于射频远端单元rru测试的开关矩阵 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例提供了一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，所述开关矩阵集成有衰减器，还包括：电源，用于提供直流电压；控制板，用于输出控制信号；射频同轴开关，用于依据所述控制信号导通或断开衰减器，以及，选择预置的测试设备。本实用新型可以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

Description

一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵

技术领域

本实用新型涉及通信技术领域，特别是涉及一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵。

背景技术

随着通信技术的发展，为了更好地解决大型场馆的室内覆盖问题，提出了一种新型的分布式网络覆盖模式，即将基站分为BBU(Base band Unit，基带单元)和RRU(Radio Remote Unit，射频远端单元)，BBU和RRU之间通过用光纤连接。它将大容量宏蜂窝基站集中放置在中心机房内，BBU部分集中处理，采用光纤将基站中的射频模块拉到RRU，分置于网络规划所确定的站点上，从而节省了常规解决方案所需要的大量机房；同时通过采用大容量宏基站支持大量的光纤拉远，可实现容量与覆盖之间的转化。因此，保证RRU正常运行成为一个重要的任务。

目前，RRU整机硬件集成测试包括射频通道的上行测试和下行测试，射频通道的上下行测试所用的仪器仪表、射频辅材及连接方式是不同的。对于下行测试，需要把衰减器、频谱分析仪连接在被测通道，而对于上行测试，需要把信号源连接到被测通道。这样对于每个被测通道的测试需要两次连接，即拆除仪器仪表、射频辅材以及连接电缆。

然而，对于多通道RRU的测试，这样的连接、拆除电缆的工作就十分频繁。不仅会造成工作效率的低下，也会造成仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，以及人为造成连接不良的情况，最终都会影响测试结果的真实准确，造成RRU集成测试的一致性和可靠性较低。

因此，目前需要本领域技术人员迫切解决的一个技术问题就是：提供一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，用以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

实用新型内容

本实用新型实施例所要解决的技术问题是提供用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，用以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

为了解决上述问题，本实用新型公开了一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，所述开关矩阵集成有衰减器，还包括：

电源，用于提供直流电压；

控制板，用于输出控制信号；

射频同轴开关，用于依据所述控制信号导通或断开衰减器，以及，选择预置的测试设备。

优选地，所述开关矩阵还包括一个或多个风扇，所述一个或多个风扇由所述电源供电，所述一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板，所述风扇输出的风量由所述控制板根据环境温度控制。

优选地，所述开关矩阵还包括一个或多个N型连接器母头、一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器，所述一个或多个N型连接器母头、一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器分别安装在所述开关矩阵的前面板。

优选地，所述衰减器为一体式衰减器，其中，所述一体式衰减器包括多个通道。

优选地，所述电源包括交流转直流的AC-DC电源。

优选地，所述控制信号为多路，用于对一个或多个射频同轴开关的组合进行通断控制。

优选地，所述控制板包括微控制单元MCU、可擦除可编程逻辑器件EPLD、通用接口总线GPIB、双倍速率同步动态随机存储器DDR、闪存FLASH，以及，开关驱动，其中，所述MCU分别与所述EPLD、GPIB、DDR、FLASH、开关驱动器件相连，所述EPLD分别连接温度监控器件、带电可擦可编程只读存储器EEPROM和风扇监控器件，所述开关驱动器件连接所述射频同轴开关。

优选地，所述射频同轴开关与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。

优选地，所述衰减器与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。

优选地，所述射频同轴开关与所述衰减器通过半柔射频电缆连接。

与现有技术相比，本实用新型实施例包括以下优点：

本实用新型一次性连接被测试RRU的天线接口之后，可以通过射频同轴开关选择上行或下行测试的通道、仪器仪表，避免了外置式单通道衰减器占用测试场地大，连线凌乱，多次连线，使用不便的问题，因此可以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

本实用新型通过在衰减器和射频同轴开关之间采用半柔或半刚射频电缆连接，可以使射频通路性能稳定，从而可以提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

本实用新型通过将一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板，可以由控制板上的MCU根据环境温度自动进行输出风量控制，不需要开关矩阵以外的人工干预，避免了由PC机根据环境温度控制风扇，从而减少了人工操作，进一步提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

附图说明

图1示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵装置实施例的原理框图；

图2示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵中控制板的原理框图；

图3示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵测试应用的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

本实用新型实施例的核心构思之一在于，通过控制板输出控制信号，从而控制射频同轴开关选择对应的测试设备，以及，导通或断开相应的射频通道，以完成被测通道的连接，避免多次拆除仪器仪表、射频辅材以及连接电缆，从而简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良的情况发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

参照图1，示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵装置实施例的原理框图，所述开关矩阵集成有衰减器107，开关矩阵具体还可以包括：

电源101，用于提供直流电压；

在具体实现中，电源101可以用于给射频同轴开关110、控制板103、风扇102提供直流电压。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述电源可以包括交流转直流的AC-DC电源。

作为本实用新型具体应用的一种示例，可以采用一块交流220V转直流12V的AC-DC电源作为电源101，因此，电源101可以给射频同轴开关、控制板103、风扇102提供直流12V电压。

控制板103，用于输出控制信号；

在实际应用中，控制板103可以用于输出控制信号至射频同轴开关110，用以对控制端的射频同轴开关110进行控制。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述控制信号为多路，用于对一个或多个射频同轴开关的组合进行通断控制。

作为本实用新型具体应用的一种示例，控制板103最多可以输出13路线圈控制信号，可以对控制端总共不超过13路的任意射频同轴开关110的通断组合进行控制。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述控制板包括微控制单元MCU、可擦除可编程逻辑器件EPLD、通用接口总线GPIB、双倍速率同步动态随机存储器DDR、闪存FLASH，以及，开关驱动，其中，所述MCU分别与所述EPLD、GPIB、DDR、FLASH、开关驱动器件相连，所述EPLD分别连接温度监控器件、带电可擦可编程只读存储器EEPROM和风扇监控器件，所述开关驱动器件连接所述射频同轴开关。

参照图2，示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵中控制板的原理框图。

如图2所示，控制板103可以包括MCU相关电路、驱动电路、风扇控制电路等。

具体地，MCU相关电路可以包括MCU(Micro Control Unit，中微控制单元)与DDR(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)之间的电路、MCU与Flash(闪存)之间的电路、MCU与GPIB(General-PurposeInterface Bus，通用接口总线)之间的电路、MCU与开关驱动器件之间的电路，以及，MCU与EPLD(Erasable Programmable Logic Device，可擦除可编程逻辑器件)之间的电路。

驱动电路可以包括开关驱动与射频同轴开关110之间的电路，其中，射频同轴开关110可以包括SP9T开关106和SPDT开关109，SPDT开关109可以包括两个独立的开关。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述开关矩阵还包括一个或多个风扇，所述一个或多个风扇由所述电源供电，所述一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板。

风扇控制电路可以包括EPLD与风扇监控器件之间的电路，可以用于对风扇102进行控制。具体地，该风扇可以由控制板103上的MCU根据环境温度自动进行输出风量控制，可以不需要开关矩阵以外的人工干预。

一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板，应用于本实用新型实施例中，开关矩阵的后面板可以安装3个风扇，还可以安装1个交流电源连接器。

本实用新型所包括通过将一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板，可以由控制板上的MCU根据环境温度自动进行输出风量控制，不需要开关矩阵以外的人工干预，避免了由PC机根据环境温度控制风扇，从而减少了人工操作，进一步提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

控制板103还可以包括EPLD与温度监控，和/或，带电可擦可编程只读存储器EEPROM之间的电路，可以用于温度检测。

控制板103中所用到的电源可以为电源101。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述开关矩阵还包括一个或多个通用接口总线GPIB连接器，所述一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器分别安装在所述开关矩阵的前面板。

作为本实用新型具体应用的一种示例，开关矩阵还可以包括一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器，控制板103可以分别与一个或多个RJ45连接器105、一个或多个通用接口总线GPIB连接器104相连，通过网口(RJ45连接器105)或GPIB口(通用接口总线GPIB连接器104)与PC通信。

一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器可以分别安装在开关矩阵的前面板。

射频同轴开关110，用于依据所述控制信号导通或断开衰减器，以及，选择预置的测试设备。

在具体应用中，射频同轴开关110可以包括SP9T开关106和SPDT开关109，其中，SP9T开关106可以用于依据控制信号导通或断开衰减器，SPDT开关109可以用于依据控制信号选择预置的测试设备。

采用射频同轴开关110可以使测试连接电缆数量少，提高搭建测试环境效率。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述衰减器为一体式衰减器，其中，所述一体式衰减器包括多个通道。

在具体实现中，衰减器107可以是一个8通道、总功率为800W、衰减量为10dB的一体式衰减器，内置于一个19英寸宽、3U高的机箱中，该机箱可以使得内部部件安装灵活，并且，衰减器107内置可以使测试场地占用小，测试环境整齐、紧凑。

需要说明的是，本领域技术人员可以根据实际需要任意选定一体式衰减器的总功率及衰减量，本实用新型实施例对此不加以限制。

本实用新型一次性连接被测试RRU的天线接口之后，可以通过射频同轴开关选择上行或下行测试的通道、仪器仪表，避免了外置式单通道衰减器占用测试场地大、连线凌乱、多次连线使用不便的问题，因此可以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述开关矩阵还包括一个或多个N型连接器母头，所述一个或多个N型连接器母头安装在所述开关矩阵的前面板。

在实际应用中，一个或多个N型连接器母头108可以安装在开关矩阵的前面板。应用于本实用新型实施例中，N型连接器母头108可以有12个，为了方便，图1中仅指示出了其中一个N型连接器母头108。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述射频同轴开关与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述衰减器与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。

在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述射频同轴开关与所述衰减器通过半柔射频电缆连接。

具体而言，射频同轴开关110可以包括SPDT开关109和SP9T开关106，其中，SPDT开关109可以与3个N型连接器母头108之间可以通过半柔射频电缆连接，SP9T开关106可以与1个N型连接器母头108之间可以通过半柔射频电缆连接。

衰减器107可以包括8通道，因此，衰减器107可以与8个N型连接器母头108之间可以通过半柔射频电缆连接。

由于SP9T开关106可以用于依据控制信号导通或断开衰减器107，又衰减器107可以包括8通道，因此，SP9T开关106与衰减器107之间可以通过8根半柔射频电缆连接。

本实用新型通过在衰减器和射频同轴开关之间采用半柔或半刚射频电缆连接，可以使射频通路性能稳定，从而可以提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良的情况发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。

为使本领域技术人员更好地理解本实用新型实施例，以下通过开关矩阵应用场景的示例，进一步说明本实用新型。

参照图3，示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵测试应用的示意图。

如图3所示，开关矩阵中，与SPDT开关相连的2个N型连接器母头分别与频谱分析仪和信号源相连，与衰减器相连的8个N型连接器母头分别与耦合盘中输入端A1-A8相连，耦合盘中输出端A1-A8分别连接RRU的输入端A1-A8，与SP9T开关相连的1个N型连接器母头与二功分的一个输入端相连，耦合盘中的cal端连接二功分的另一个输入端，二功分的输出端与RRU的cal端相连。

连接一次测试电缆就可完成全部上下行测试，上行或下行测试的通道、仪器仪表选择可以由射频同轴开关的连通位置决定，而射频同轴开关的连通位置可以由主控PC根据测试项目自动或手动控制。

具体地，上行测试时，将SPDT开关置于nc处与信号源相连，SP9T开关置于与cal端相连的触点处，此时，上行测试的被测通道连接完成。

下行测试时，将SPDT开关置于no处与频谱分析仪相连，每次测试SP9T连接衰减器的一个通道，即与ant1-ant8相连的衰减器中的一个连接。

需要说明的是，对于装置实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本实用新型实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本实用新型实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本实用新型实施例所必须的。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本实用新型实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本实用新型实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本实用新型实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本实用新型实施例是参照根据本实用新型实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本实用新型实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本实用新型所提供的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，其特征在于，所述开关矩阵集成有衰减器，还包括：

电源，用于提供直流电压；

控制板，用于输出控制信号；

射频同轴开关，用于依据所述控制信号导通或断开衰减器，以及，选择预置的测试设备。

2.根据权利要求1所述的开关矩阵，其特征在于，所述开关矩阵还包括一个或多个风扇，所述一个或多个风扇由所述电源供电，所述一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板，所述风扇输出的风量由所述控制板根据环境温度控制。

3.根据权利要求1或2所述的开关矩阵，其特征在于，所述开关矩阵还包括一个或多个N型连接器母头、一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器，所述一个或多个N型连接器母头、一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器分别安装在所述开关矩阵的前面板。

4.根据权利要求3所述的开关矩阵，其特征在于，所述衰减器为一体式衰减器，其中，所述一体式衰减器包括多个通道。

5.根据权利要求4所述的开关矩阵，其特征在于，所述电源包括交流转直流的AC-DC电源。

6.根据权利要求5所述的开关矩阵，其特征在于，所述控制信号为多路，用于对一个或多个射频同轴开关的组合进行通断控制。

7.根据权利要求6所述的开关矩阵，其特征在于，所述控制板包括微控制单元MCU、可擦除可编程逻辑器件EPLD、通用接口总线GPIB、双倍速率同步动态随机存储器DDR、闪存FLASH，以及，开关驱动，其中，所述MCU分别与所述EPLD、GPIB、DDR、FLASH、开关驱动器件相连，所述EPLD分别连接温度监控器件、带电可擦可编程只读存储器EEPROM和风扇监控器件，所述开关驱动器件连接所述射频同轴开关。

8.根据权利要求7所述的开关矩阵，其特征在于，所述射频同轴开关与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。

9.根据权利要求8所述的开关矩阵，其特征在于，所述衰减器与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。

10.根据权利要求9所述的开关矩阵，其特征在于，所述射频同轴开关与所述衰减器通过半柔射频电缆连接。