CN204228844U

CN204228844U - 单向可控硅极性识别设备

Info

Publication number: CN204228844U
Application number: CN201420570564.4U
Authority: CN
Inventors: 喻波; 李号召; 吴晓鸣; 盛军; 韦双
Original assignee: Luoyang Institute of Electro Optical Equipment AVIC
Current assignee: Luoyang Institute of Electro Optical Equipment AVIC
Priority date: 2014-09-29
Filing date: 2014-09-29
Publication date: 2015-03-25
Anticipated expiration: 2024-09-29

Abstract

本实用新型公开了一种单向可控硅极性识别设备，包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。本实用新型的单向可控硅极性识别设备操作简单，检测快速、高效，在调节切换电路的过程中，通过切换电路所处的位置和指示器的状态即可分辨出被测单向可控硅的A、G、K极。

Description

单向可控硅极性识别设备

技术领域

本实用新型属于电子测试技术领域，涉及一种单向可控硅极性识别设备。

背景技术

可控硅是可控硅整流器的简称。可控硅有单向、双向、可关断和光控几种类型，具有体积小、重量轻、效率高、寿命长、控制方便等优点，被广泛用于可控整流、调压、逆变以及无触点开关等各种自动控制和大功率的电能转换的场合。单向可控硅是一种可控整流电子元件，有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。只有当单向可控硅阳极A与阴极K之间加有正向电压，同时控制极G与阴极间加上所需的正向触发电压时，方可被触发导通。单向可控硅导通后，控制器G即使失去触发电压，只要阳极A和阴极K之间仍保持正向电压，单向可控硅继续处于低阻导通状态。只有把阳极A电压拆除或阳极A、阴极K间电压极性发生改变(交流过零)时，单向可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态。

传统的单向可控硅极性判别方法是使用指针式万用表测量，先任测两个极，若正、反测指针均不动(R×10挡)，可能是A、K或G、A极，当测量指示为几十至几百欧，则红笔所接为K极，黑笔接的为G极，剩下即为A极，该方法判别检测效率低、不准确，且具有一定的局限性。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种单向可控硅极性识别设备，以解决传统判别方法检测效率低、不准确且具有局限性的问题。

为了实现以上目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种单向可控硅极性识别设备，包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，所述第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，所述切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

所述第一测试支路上还并联有一个串接有连接指示器L2的测试连接指示支路。

所述切换电路为三刀三掷的切换开关K3，K3具有三个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，其中两个静触点分别与第一测试支路和第二测试支路的其中一端连接，第三个静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，各静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

所述切换电路为四刀三掷的切换开关K3，K3具有四个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，所述第一静触点和第二静触点均与第一测试支路的其中一端连接，第三静触点用于与第二测试支路的其中一端连接，第四静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，第一静触点对应的动触点均与测试连接指示支路连接，第二、三、四静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

所述第一测试支路和第二测试支路的短接点与K3的静触点之间设有控制开关K2。

所述第一测试支路和第二测试支路上分别串接有一个电位计。

所述测试连接指示支路上串接有保护电阻。

本实用新型的单向可控硅识别设备在使用过程中仅需将待识别可控硅的三个极的引脚随机地接到与切换开关的静触点连接的三个接线端子上，闭合测试开关K1，依次拨动切换开关，当测试指示灯L1和连接指示灯L2同时点亮时，将测试开关断开，观察测试指示灯L1是点亮还是熄灭，并结合切换开关所处的动触点接通的位置，则可判断出单向可控硅的极性排列。如果拨动切换开关，测试指示灯L1始终无法点亮，则说明单向可控硅已损坏。该识别设备操作简单，检测快速、高效，在扳动切换开关的过程中，通过切换开关所处的位置和指示灯的状态即可分辨出被测单向可控硅的A、G、K极。

本实用新型的单向可控硅极性识别设备操作简单，检测快速、高效，在调节切换电路的过程中，通过切换电路所处的位置和指示器的状态即可分辨出被测单向可控硅的A、G、K极。

附图说明

图1为本实用新型第一种实施例的电路图；

图2为本实用新型第二种实施例的电路图；

图3为本实用新型第三种实施例的电路图；

图4为本实用新型第四种实施例的电路图。

具体实施方式

下面结合附图及具体的实施例对本实用新型进行进一步介绍。

实施例1：如图1所示为本实用新型单向可控硅极性识别设备一种实施例的电路原理图，由图可知，该设备包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

实施例2：如图2所示，本实施例的第一测试支路和第二测试支路上分别串接有一个电位计RP1、RP2。

另外，在第一测试支路上还并联有一个串接有连接指示器L2的测试连接指示支路，该测试连接指示支路上串接有保护电阻R1；第一测试支路和第二测试支路的短接点与切换电路之间设有控制开关K2，如图3和图4所示。

实施例3：本实施例的切换电路为三刀三掷的切换开关K3，K3具有三个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，其中两个静触点分别与第一测试支路和第二测试支路的其中一端连接，第三个静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，各静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。当然，本实施例的切换开关K3也可以采用三刀四掷开关，如图3所示，将各静触点对应的第四个动触点空置。

实施例4：本实施例的切换电路为四刀三掷的切换开关K3，K3具有四个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，第一静触点和第二静触点均与第一测试支路的其中一端连接，第三静触点用于与第二测试支路的其中一端连接，第四静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，第一静触点对应的动触点均与测试连接指示支路连接，第二、三、四静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。当然，本实施例的切换开关K3也可以采用四刀四掷开关，如图4所示，将各静触点对应的第四个动触点空置。

现以图4的实施例进行对本实用新型识别设备的电路结构及工作原理进行详细说明。

由图可知，该识别设备包括两个测试支路，第一测试支路上串接有测试电源P1、测试开关K1和电位计RP1，第二测试支路上串接有测试电源P2、测试指示灯L1和电位计RP2，第一测试支路上并联有测试连接指示支路，测试连接指示支路上串接有指示灯L2、保护电阻R1；切换电路采用四刀四掷的切换开关K3，第一测试支路和第二测试支路的短接点与K3的静触点之间设有控制开关K2；K1、K2均采用单刀单掷开关或者单刀双掷开关。

待测可控硅的三个待测引脚为X1、X2、X3；切换开关K3具有四个静触点A、B、C、D，其对应的四个静触点分别为A1～A4、B1～B4、C1～C4、D1～D4。P1的正极接K1的A端，K1的A1端接RP1的1、2脚，K1的A2端空置；RP1的3脚接K3的A、B端；K3的A1、A2、A3端接R1的2脚，K3的B2、B3、D1端接X1，K3的B1、C3、D2端接X2，K3的C1、C2、D3端接X3，K3的A4、B4、C4、D4空置，K3的C端接所述的RP2的3脚，K3的D端接K2的A1端；R1的1脚接L2的2脚；P1的负极接P2的负极、L2的1脚、K2的A端；P2的正极接L1的1脚；L1的2脚接RP2的1、2脚；K2的A2端空置。

本实用新型的工作原理及过程如下：首先将被测单向可控硅的三个极的引脚随机地接到X1、X2、X3上，并将K1、K2拨到A1位置，并将K3依次从第一组动触点拨到第四组动触点上，如果在拨动K3的过程中，指示灯L1始终无法点亮，则说明单向可控硅已损坏。如果在拨动过程中，指示灯L1点亮，停止拨动，并观察K3所处的位置，具体判断过程如下：

a)如果K3处于第一动触点接通位置，将开关K1拨到第二组动触点上，如果L1、L2均熄灭，则X1、X2、X3所接依次为K、A、G极；如果L2熄灭、L1点亮，则X1、X2、X3所接依次为K、G、A极；

b)如果K3处于第二动触点接通位置，将开关K1拨到第二组动触点上，如果L1、L2均熄灭，则X1、X2、X3所接依次为A、K、G极；如果L2熄灭、L1点亮，则X1、X2、X3所接依次为G、K、A极；

c)如果K3处于第三动触点接通位置，将开关K1拨到第二组动触点上，如果L1、L2均熄灭，则X1、X2、X3所接依次为A、G、K极；如果L2熄灭、L1点亮，则X1、X2、X3所接依次为G、A、K极。

测试完毕后，断开K1、K2、K3，并将单向可控硅的引线从X1、X2、X3上拆除。

本实施例的两个指示灯可以是一个红色，一个绿色；用于与被测单向可控硅的三个极的引脚及切换开关的静触点连接的三个接线端子可以设置为一个是红色接线端子，一个是白色接线端子，一个是黑色接线端子，以便于区分。

以上实施例仅用于帮助理解本实用新型的核心思想，不能以此限制本实用新型，对于本领域的技术人员，凡是依据本实用新型的思想，对本实用新型进行修改或者等同替换，在具体实施方式及应用范围上所做的任何改动，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种单向可控硅极性识别设备，其特征在于：包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，所述第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，所述切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

2.根据权利要求1所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于：所述第一测试支路上还并联有一个串接有连接指示器L2的测试连接指示支路。

3.根据权利要求1所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于：所述切换电路为三刀三掷的切换开关K3，K3具有三个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，其中两个静触点分别与第一测试支路和第二测试支路的其中一端连接，第三个静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，各静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

4.根据权利要求2所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于：所述切换电路为四刀三掷的切换开关K3，K3具有四个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，所述第一静触点和第二静触点均与第一测试支路的其中一端连接，第三静触点用于与第二测试支路的其中一端连接，第四静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，第一静触点对应的动触点均与测试连接指示支路连接，第二、三、四静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

5.根据权利要求3或4所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于：所述第一测试支路和第二测试支路的短接点与K3的静触点之间设有控制开关K2。

6.根据权利要求1所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于：所述第一测试支路和第二测试支路上分别串接有一个电位计。

7.根据权利要求2所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于：所述测试连接指示支路上串接有保护电阻。