CN204154474U - 一种光接收探测器的综合测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种光接收探测器的综合测试台,其包括基座以及分别安装于基座上的测试光输入接口、光分路器、光衰减器、光开关、拨动开关、PCB板、误码仪和电源接口;其中,所述测试光输入接口和光分路器连接;所述光衰减器和光分路器相对设置;所述光开关和光衰减器电性连接;所述拨动开关电性连接并调节光开关;所述PCB板一端和光开关连接,另一端和误码仪连接,其上设有待测器件插座。本实用新型的光接收探测器的综合测试台能把灵敏度、响应度和饱和度三个参数的测试综合到一起,从而提高了测试效率,减少了工位和人员的投入,同时减少了器件端面的损伤。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及一种测试装置,具体涉及一种光接收探测器的综合测试台,属于光通信设备技术领域。
【背景技术】
在测试光接收探测器时,需要测试灵敏度、响应度和饱和度三个参数。传统的方法都是将三个参数分开测试,需要三个测试台位,测试效率低,测试成本高,而且多次插拔也增加了器件端面损伤的比例。
因此,为解决上述技术问题,确有必要提供一种新型的光接收探测器的综合测试台,以克服现有技术中的所述缺陷。
【实用新型内容】
为解决上述问题,本实用新型的目的在于提供一种能把灵敏度、响应度和饱和度三个参数的测试综合到一起的光接收探测器的综合测试台。
为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:一种光接收探测器的综合测试台,其包括基座以及分别安装于基座上的测试光输入接口、光分路器、光衰减器、光开关、拨动开关、PCB板、误码仪和电源接口;其中,所述测试光输入接口和光分路器连接;所述光衰减器和光分路器相对设置;所述光开关和光衰减器电性连接;所述拨动开关电性连接并调节光开关;所述PCB板一端和光开关连接,另一端和误码仪连接,其上设有待测器件插座。
本实用新型的光接收探测器的综合测试台进一步设置为:所述PCB板上设有一SFP模块,该SFP模块通过PC跳线与误码仪连接。
本实用新型的光接收探测器的综合测试台还设置为:所述光衰减器具体设置有3个。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:本实用新型的光接收探测器的综合测试台能把灵敏度、响应度和饱和度三个参数的测试综合到一起,从而提高了测试效率,减少了工位和人员的投入,同时减少了器件端面的损伤。
【附图说明】
图1是本实用新型的光接收探测器的综合测试台的结构示意图。
【具体实施方式】
请参阅说明书附图1所示,本实用新型为一种光接收探测器的综合测试台,其由基座1以及分别安装于基座1上的测试光输入接口2、光分路器3、光衰减器4、光开关5、拨动开关6、PCB板7、误码仪8和电源接口9等几部分组成。
其中,所述测试光输入接口2用于接入测试光源信号,其和光分路器3连接,并将测试光源信号输送至光分路器3。
所述光分路器3采用一个1/9光分路器和一个1/2光分路器,把输入光分成三路,分别为灵敏度、响应度和饱和度三个参数的测试提供不同功率的光源。
所述光衰减器4和光分路器3相对设置,其具体设置有3个,采用3个光衰减器4分别调节三个光路,互不干涉。
所述光开关5和光衰减器4电性连接,其具体为采用两个两进一出的光开关,将三路光进行切换,提供给待测器件需要的测试光信号。
所述拨动开关6电性连接并调节光开关5,即通过对光开关5的电压切换,完成光开关5的光信号转换。
所述PCB板7一端和光开关5连接,另一端和误码仪8连接。具体的说,所述PCB板7上设有一SFP模块10,该SFP模块10通过PC跳线11与误码仪8连接,这样就将信号经过SFP模块10转换成光信号传输给误码仪8。于所述PCB板7上设有待测器件插座12。
所述误码仪8用于直观的显示灵敏度、响应度和饱和度的数值。
所述电源接口9为整个测试台工作提供电源。
以上的具体实施方式仅为本创作的较佳实施例,并不用以限制本创作,凡在本创作的精神及原则之内所做的任何修改,等同替换,改进等,均应包含在本创作的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种光接收探测器的综合测试台,其特征在于:包括基座以及分别安装于基座上的测试光输入接口、光分路器、光衰减器、光开关、拨动开关、PCB板、误码仪和电源接口;其中,所述测试光输入接口和光分路器连接;所述光衰减器和光分路器相对设置;所述光开关和光衰减器电性连接;所述拨动开关电性连接并调节光开关;所述PCB板一端和光开关连接,另一端和误码仪连接,其上设有待测器件插座。
2.如权利要求1所述的光接收探测器的综合测试台,其特征在于:所述PCB板上设有一SFP模块,该SFP模块通过PC跳线与误码仪连接。
3.如权利要求1所述的光接收探测器的综合测试台,其特征在于:所述光衰减器具体设置有3个。
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CN201420587449.8U CN204154474U (zh) | 2014-10-10 | 2014-10-10 | 一种光接收探测器的综合测试台 |
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CN105911394A (zh) * | 2016-05-11 | 2016-08-31 | 北京浦丹光电股份有限公司 | Pin-fet光接收组件自动测试系统 |
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2014
- 2014-10-10 CN CN201420587449.8U patent/CN204154474U/zh not_active Expired - Fee Related
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CN105911394A (zh) * | 2016-05-11 | 2016-08-31 | 北京浦丹光电股份有限公司 | Pin-fet光接收组件自动测试系统 |
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Legal Events
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GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20150211 Termination date: 20171010 |