CN204028254U - 一种触摸屏功能电测结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种触摸屏功能电测结构，所述结构包括：底座和显示屏，所述底座与所述显示屏连接，其中，所述底座上表面中部设有一凹槽，所述凹槽两侧为电测区，分别为第一电测区和第二电测区，所述第一电测区和所述第二电测区形状和结构相同；其中，所述电测区水平方向左右两侧均设有一控制导轨，所述电测区包括：3个电测槽，所述3个电测槽均匀排列在所述电测区内，所述电测槽上方设有两个电测头，所述两个电测头分别与所述电测槽两侧的所述控制导轨连接，实现了触摸屏功能电测装置能够同时检测多个触摸屏，检测效率较高，使用方便的技术效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及工业加工制造领域，尤其涉及一种触摸屏功能电测结构。
背景技术
在现有技术中，在触摸屏完成贴合后，需要进行电测质检，看触摸屏是否满足产品要求，而在进行电测时，一般使用电测机进行检测，工作人员将触摸屏放在电测机上进行固定，将芯片与电测机的接口进行对接，然后进行电测，由于一次只能测试一个触摸屏，且只有一个电测头，导致电测速度较慢，通常需要工作人员等待较长的时间，并且电测头一般为从上到下检测触摸屏的触控功能，检测效率较低。
综上所述，本申请发明人在实现本申请实施例中实用新型技术方案的过程中，发现上述技术至少存在如下技术问题：
在现有技术中，由于使用电测机进行检测，工作人员将触摸屏放在电测机上进行固定，将芯片与电测机的接口进行对接，然后进行电测，由于一次只能测试一个触摸屏，且只有一个电测头，导致电测速度较慢，通常需要工作人员等待较长的时间，并且电测头一般为从上到下检测触摸屏的触控功能，检测效率较低，所以，现有技术中的触摸屏功能电测机存在单次只能检测一个触摸屏，且检测速度慢，检测效率较低的技术问题。
实用新型内容
本实用新型提供了一种触摸屏功能电测结构，解决了现有技术中的触摸屏功能电测机存在单次只能检测一个触摸屏，且检测速度慢，检测效率较低的技术问题，实现了触摸屏功能电测装置能够同时检测多个触摸屏，检测效率较高，使用方便的技术效果。
为解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种触摸屏功能电测结构，所述结构包括：
底座和显示屏，所述底座与所述显示屏连接，其中，所述底座上表面中部设有一凹槽，所述凹槽两侧为电测区，分别为第一电测区和第二电测区，所述第一电测区和所述第二电测区形状和结构相同；
其中，所述电测区水平方向左右两侧均设有一控制导轨，所述电测区包括：3个电测槽，所述3个电测槽均匀排列在所述电测区内，所述电测槽上方设有两个电测头，所述两个电测头分别与所述电测槽两侧的所述控制导轨连接。
其中，所述两个电测头分别为第一电测头和第二电测头，所述第一电测头与所述第二电测头分别位于所述电测槽水平中线的两侧。
其中，所述第一电测头用于测试所述电测槽中触摸屏的上半部分，所述第二电测头用于测试所述电测槽中触摸屏的下半部分，且所述第一电测头与所述第二电测头同时进行电测。
其中，所述底座内设有控制器，所述控制器与所述控制导轨连接，所述控制器用于控制所述电测头的运动。
其中，所述电测槽的尺寸与触摸屏的尺寸一致，所述凹槽的宽度大于等于所述触摸屏的宽度。
其中，所述第一电测区和所述第二电测区能够同时进行测试，所述电测区内的3个电测槽能够同时进行测试。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
由于采用了将触摸屏功能电测机设计为由两个电测区构成，且两个电测区能够同时进行测试，且每个电测区内设有3个电测槽，3个电测槽能够同时分别对一个触摸屏进行功能测试，且在每个电测槽两侧分别设置了一个电测头，分别测试触摸屏的上半部分和下半部分，两个电测头同时测试触摸屏，减少一半的测试时间，且设置了凹槽，可以方便对触摸屏进行区分存放，所以，有效解决了现有技术中的触摸屏功能电测机存在单次只能检测一个触摸屏，且检测速度慢，检测效率较低的技术问题，进而实现了触摸屏功能电测装置能够同时检测多个触摸屏，检测效率较高，使用方便的技术效果。
附图说明
图1是本申请实施例一中触摸屏功能电测结构的俯视图；
图2是本申请实施例一中触摸屏功能电测结构的侧视图；
其中，1-底座，2-第一电测区，3-第二电测区，4-显示屏，5-控制导轨，6-第一电测头，7-电测槽，8-凹槽，9-第二电测头。
具体实施方式
本实用新型提供了一种触摸屏功能电测结构，解决了现有技术中的触摸屏功能电测机存在单次只能检测一个触摸屏，且检测速度慢，检测效率较低的技术问题，实现了触摸屏功能电测装置能够同时检测多个触摸屏，检测效率较高，使用方便的技术效果。
本申请实施中的技术方案为解决上述技术问题。总体思路如下：
采用了将触摸屏功能电测机设计为由两个电测区构成，且两个电测区能够同时进行测试，且每个电测区内设有3个电测槽，3个电测槽能够同时分别对一个触摸屏进行功能测试，且在每个电测槽两侧分别设置了一个电测头，分别测试触摸屏的上半部分和下半部分，两个电测头同时测试触摸屏，减少一半的测试时间，且设置了凹槽，可以方便对触摸屏进行区分存放，所以，有效解决了现有技术中的触摸屏功能电测机存在单次只能检测一个触摸屏，且检测速度慢，检测效率较低的技术问题，进而实现了触摸屏功能电测装置能够同时检测多个触摸屏，检测效率较高，使用方便的技术效果。
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
实施例一：
在实施例一中，提供了一种触摸屏功能电测结构，请参考图1-图2，所述结构包括：
底座1和显示屏4，所述底座1与所述显示屏4连接，其中，所述底座1上表面中部设有一凹槽8，所述凹槽8两侧为电测区，分别为第一电测区2和第二电测区3，所述第一电测区2和所述第二电测区3形状和结构相同；
其中，所述电测区水平方向左右两侧均设有一控制导轨5，所述电测区包括：3个电测槽7，所述3个电测槽7均匀排列在所述电测区内，所述电测槽7上方设有两个电测头，所述两个电测头分别与所述电测槽7两侧的所述控制导轨5连接。
其中，在本申请实施例中，所述两个电测头分别为第一电测头6和第二电测头9，所述第一电测头6与所述第二电测头9分别位于所述电测槽7水平中线的两侧。
其中，在本申请实施例中，所述第一电测头6用于测试所述电测槽7中触摸屏的上半部分，所述第二电测头9用于测试所述电测槽7中触摸屏的下半部分，且所述第一电测头6与所述第二电测头9同时进行电测。
其中，在本申请实施例中，所述底座内设有控制器，所述控制器与所述控制导轨连接，所述控制器用于控制所述电测头的运动。
其中，在本申请实施例中，所述电测槽的尺寸与触摸屏的尺寸一致，所述凹槽的宽度大于等于所述触摸屏的宽度。
其中，在本申请实施例中，所述第一电测区和所述第二电测区能够同时进行测试，所述电测区内的3个电测槽能够同时进行测试。
上述本申请实施例中的技术方案，至少具有如下的技术效果或优点：
由于采用了将触摸屏功能电测机设计为由两个电测区构成，且两个电测区能够同时进行测试，且每个电测区内设有3个电测槽，3个电测槽能够同时分别对一个触摸屏进行功能测试，且在每个电测槽两侧分别设置了一个电测头，分别测试触摸屏的上半部分和下半部分，两个电测头同时测试触摸屏，减少一半的测试时间，且设置了凹槽，可以方便对触摸屏进行区分存放，所以，有效解决了现有技术中的触摸屏功能电测机存在单次只能检测一个触摸屏，且检测速度慢，检测效率较低的技术问题，进而实现了触摸屏功能电测装置能够同时检测多个触摸屏，检测效率较高，使用方便的技术效果。
尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (6)
1.一种触摸屏功能电测结构，其特征在于，所述结构包括：
底座和显示屏，所述底座与所述显示屏连接，其中，所述底座上表面中部设有一凹槽，所述凹槽两侧为电测区，分别为第一电测区和第二电测区，所述第一电测区和所述第二电测区形状和结构相同；
其中，所述电测区水平方向左右两侧均设有一控制导轨，所述电测区包括：3个电测槽，所述3个电测槽均匀排列在所述电测区内，所述电测槽上方设有两个电测头，所述两个电测头分别与所述电测槽两侧的所述控制导轨连接。
2.根据权利要求1所述的电测结构，其特征在于，所述两个电测头分别为第一电测头和第二电测头，所述第一电测头与所述第二电测头分别位于所述电测槽水平中线的两侧。
3.根据权利要求2所述的电测结构，其特征在于，所述第一电测头用于测试所述电测槽中触摸屏的上半部分，所述第二电测头用于测试所述电测槽中触摸屏的下半部分，且所述第一电测头与所述第二电测头同时进行电测。
4.根据权利要求1所述的电测结构，其特征在于，所述底座内设有控制器，所述控制器与所述控制导轨连接，所述控制器用于控制所述电测头的运动。
5.根据权利要求1所述的电测结构，其特征在于，所述电测槽的尺寸与触摸屏的尺寸一致，所述凹槽的宽度大于等于所述触摸屏的宽度。
6.根据权利要求1所述的电测结构，其特征在于，所述第一电测区和所述第二电测区能够同时进行测试，所述电测区内的3个电测槽能够同时进行测试。
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