CN203909236U - 集成电路测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种集成电路测试系统，包括计算机、多个测试模块和电源及电源驱动报警电路，每个测试模块内均设有接口电路、总线电路、程控电源电路和测试控制电路，测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连，每个测试模块内的总线电路互连；所述测试控制电路内设有AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器，AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换，AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路，微控制器与计算机相连。本实用新型采集待测集成电路的直流或交流信号，微处理器将采集到的信号进行深化处理分析以输出测试结果。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体集成电路测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试系统。
背景技术
集成电路的可靠性一般是由测试机来测定的，测试机性能的好坏会直接影响到集成电路的评估结果。目前，国外的测试机在硬件性能、可靠性和软件等方面具有较大的优势，而且功能齐全，可以针对各种不同功能的产品进行测试，但是引进并使用国外系统，存在以下几点问题：其一是国外测试机的主流发展方向是混合信号的大型机，而国内大多数集成电路只需要测试单一功能，购买国外的测试机，不仅价格昂贵，而且浪费了多项功能，并且多数企业无力购买几十万美元一台的测试机；其次是国外测试机的测试软件一般企业不容易掌握，易导致测试系统运行效率低；再次是国外的测试系统若出现故障，远距离的维修会存在一定的困难。
针对上述问题，国内也有生产厂商设计出一种具单一功能的测试机，但仅仅针对某一类别的集成电路，比如运放比较器测试机、低压差线性稳压器测试机和功率电路测试机等。这类测试机虽然在精度和稳定度可以达到较好的效果，基本可以满足某一类芯片的测试需求，但是这种测试机测试的功能不够齐全，无法完全覆盖所有芯片的测试。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是针对现有国内测试机存在测试功能单一等上述问题，提供了一种测试功能齐全、并行测试能力强和成本低的集成电路测试系统。
为解决上述问题，本实用新型的技术方案是：
一种集成电路测试系统，其特征在于，所述测试系统包括计算机、多个用于测试集成电路的测试模块和用于系统供电及电源驱动异常报警的电源及电源驱动报警电路，每个测试模块分别与计算机和电源及电源驱动报警电路相连；每个测试模块内均设有用于连接集成电路的接口电路、总线电路、用于输出测试信号与进行信号调理的程控电源电路和用于集成电路上信号采集处理与控制程控电源电路的测试控制电路，测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连，每个测试模块内的总线电路互连；所述测试控制电路内设有用于采集集成电路上直流或交流信号及将采集到的电流电压信号进行模数转换的AD模块电路、用于输出任意标准波形到程控电源电路的任意波信号发生器和用于信号处理及输出测试结果的微控制器，AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换，AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路，微控制器与计算机相连。
优选地，所述微控制器为USB微控制器，USB微控制器通过USB总线与计算机相连。
相比较于现有技术，本实用新型的集成电路测试系统在测试控制电路的控制下，采集待测集成电路的直流或交流信号，微处理器将采集到的信号进行深化处理分析以输出测试结果，通过多个测试模块，可以同时对多个集成电路进行测试并输出测试结果。本实用新型的电路设计简单，并通过统一的接口与计算机和待测集成电路相连，无需庞大的主机柜和连接线览，降低了系统的运行成本。
附图说明
图1是本实用新型集成电路测试系统的电路原理框图。
图2是本实用新型集成电路测试系统中测试控制电路的电路原理框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例进一步详细说明本实用新型，但本实用新型的保护范围并不限于此。
参照图1-2，本实用新型的集成电路测试系统包括计算机、多个测试模块和电源及电源驱动报警电路，每个测试模块内设有总线电路、接口电路、程控电源电路和测试控制电路，测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连，每个测试模块内的总线电路互连，即各个测试模块内的总线电路相连通。其中，接口电路用于连接集成电路，提供统一的接口；电源及电源驱动报警电路用于系统供电和电源驱动异常报警；测试模块主要用于控制及完成集成电路的测试，测试控制电路用于集成电路上信号采集处理与程控电源电路的控制，程控电源电路用于输出测试信号与进行信号调理。
所述测试控制电路包括AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器，AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换，微控制器与计算机相连，AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路。其中，微控制器为USB微控制器，USB微控制器通过USB总线与计算机相连，利用USB总线进行数据传送，速度传输快。其中，AD模块电路用于采集集成电路上直流或交流信号及将采集到的电流电压信号进行模数转换，任意波信号发生器用于输出任意标准波形到程控电源电路，微控制器用于信号处理及输出测试结果。
多个测试模块在图1中标注为测试模块(1)、测试模块(2)……测试模块(n)，多个测试模块由与总线电路相连的电源及电源驱动报警电路供电及进行电源驱动异常报警。在多个测试模块与计算机连接时，也无需对硬件电路进行更改，USB微控制器中的软件会自动识别多路控制的USB地址。测量时，多个测试模块同时开始测试，做到真正并行测试在设计时，可以选择两个测试模块或四个测试模块，也可以按照实际的需求进行设定。
在测试AC(交流)信号时，在微控制器的控制下，任意波信号发生器输出测试需要的任意标准波形，同时相应产生一个AC(交流)标准，该AC(交流)标准输出到总线电路上，通过总线电路传输到程控电源电路中，作为程控电源电路中DA转换器的AC基准，通过微处理器中软件设置，程控电源电路将该AC(交流)信号经由总线电路输出到待测的集成电路中，作为待测集成电路的AC(交流)输入信号。在测试DC(直流)信号时，微控制器产生一个DC(直流)标准并输出到总线电路上，通过总线电路传输到程控电源电路中，作为程控电源电路中DA转换器的DC基准，通过微处理器中软件设置，程控电源电路将该DC(直流)信号经总线电路输出到待测的集成电路中，作为待测集成电路的DC(直流)输入信号。
计算机作为人机交互界面，用以将用户的测试需求输入到集成电路测试系统中，测试控制电路将用户的测试需求通过软件转换成测试程序。在微控制器的控制下，微处理产生的数字信号经程控电源电路中的DA转换器转换成模拟信号，同时由程控电源电路进行功率放大等处理后，输出到待测集成电路中；待测集成电路输出的信号，先由程控电源电路进行信号调理，程控电源电路将调理后的信号由总线电路输入到AD模块电路中，AD模块电路采集待测集成电路上直流或交流信号并将采集到的电流电压信号进行模数转换，转换后的数据由总线电路传送到微控制器中处理，实现集成电路的参数测试。
直流信号的测试是测试集成电路中的各种电流电压参数，包括电压幅度和电流大小，及电源功率的计算等。直流信号测试时，在微控制器的控制下，AD模块电路中的AD采样电路采用多点采样技术，将多点采集得到的数据存储在缓存中，然后由微处理对缓存中的数据求算述平均值得到测试结果，这样的测试结果比单点测试得到的结果更接近真实值，避免了干扰源对测试结果真实性的影响。
交流信号的测试是测试集成电路的交流特性参数，交流特性参数包括输出幅度、失真度、频率、高低频时间和占空比等。交流信号测试时，在微控制器的控制下，系统将集成电路的AC波形数据经程控电源电路的波形调理后，引到系统总线上，后由AD模块电路采集数据到微控制器中，由微控制器中的功能测试软件进行功能测试，得到并输出交流特性参数。系统在交流测试了，避免了现有技术中针对不同交流特性测试需要不同硬件电路的不足，如需测试交流的输出幅值和失真度时，就需要失真度板，测试交流的频率和交替时间需要计频板等。本系统在测试时，将所有需要测试的功能以软件的形式保存在微处理器中，由微处理器将采集到的信号进行深化处理分析以输出测试结果，具有测试功能齐全、并行测试能力强和成本低的特点。
上述说明中，凡未加特别说明的，均采用现有技术中的常规技术手段。
Claims (2)
1.一种集成电路测试系统，其特征在于，所述测试系统包括计算机、多个用于测试集成电路的测试模块和用于系统供电及电源驱动异常报警的电源及电源驱动报警电路，每个测试模块分别与计算机和电源及电源驱动报警电路相连；每个测试模块内均设有用于连接集成电路的接口电路、总线电路、用于输出测试信号与进行信号调理的程控电源电路和用于集成电路上信号采集处理与控制程控电源电路的测试控制电路，测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连，每个测试模块内的总线电路互连；
所述测试控制电路内设有用于采集集成电路上直流或交流信号及将采集到的电流电压信号进行模数转换的AD模块电路、用于输出任意标准波形到程控电源电路的任意波信号发生器和用于信号处理及输出测试结果的微控制器，AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换，AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路，微控制器与计算机相连。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述微控制器为USB微控制器，USB微控制器通过USB总线与计算机相连。
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|---|---|---|---|---|
| CN104407254A (zh) * | 2014-12-04 | 2015-03-11 | 中国人民解放军海军工程大学 | 一种电路板测试仪 |
| CN111308324A (zh) * | 2020-04-01 | 2020-06-19 | 芜湖利远电子技术有限公司 | 一种集成电路测试设备 |
| CN114089169A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-02-25 | 上海菱沃铂智能技术有限公司 | 一种多功能集成电路实验测试设备 |
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