CN203908936U - 一种逆反射测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种逆反射测量装置，该逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器，光源和光探测器均设置在光学暗箱内，光学暗箱的表面设置有开口，试样放置在开口处，通过试样遮挡开口，光探测器用于对试样反射的光进行检测，光源到试样的连线与试样到光探测器的连线形成的夹角为0.2°。本实用新型通过将光探测器和光源放入光学暗箱中，并将逆反射材料放在光学暗箱的开口处，使得光探测器在光学暗箱内只能检测到逆反射材料对光源反射的光线，并且通过固定光源、逆反射材料和光探测器三者之间的位置关系，使得由此得到的逆反射材料的检测数据较为准确，使得能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。

Description

一种逆反射测量装置

技术领域

本实用新型涉及公路交通安全技术领域，特别涉及一种逆反射测量装置。

背景技术

逆反射是反射光线沿靠近入射光线的反方向，向光源射回的一种光学现象。逆反射材料是基于上述原理进行制造的，其广泛应用于公路交通领域。利用车辆自身灯光的照明效果，通过逆反射材料的反射作用能够达到传递指示、警告等信息的效果。常见产品包括逆反射标志、突起路标和标线等，逆反射材料对于保障公路运输安全，提高通行效率有着重要的意义，因此，为保证逆反射材料的逆反射效果，需要在使用逆反射材料前对其进行测试，通常逆反射材料的逆反射效果由其亮度因数以及光源、逆反射材料、观察者三者之间的几何条件来决定。

现有技术中的检测逆反射材料几何条件的设备只包括光源和光探测器，测试时，通过光源对逆反射材料进行照射，通过光探测器检测逆反射材料反射的光，得到检测数据后，再由工作人员人工对检测数据进行整理和计算，最终得到逆反射材料的几何条件，用于测试的逆反射材料一般制成几何形状的试样。

在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：

现有技术中的检测装置只通过光源和光探测器对逆反射材料进行检测，检测时极容易受到外界杂光影响，造成无法准确获取该逆反射材料的检测数据，从而无法对逆反射材料在实际中的应用提供可靠的理论依据。

实用新型内容

为了解决现有技术容易受到外界杂光影响的问题，本实用新型实施例提供了一种逆反射测量装置。所述技术方案如下：

提供一种逆反射测量装置，所述逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器，所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内，所述光学暗箱的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样放置在所述开口处，通过所述试样遮挡所述开口，所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测，所述光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。

进一步地，所述逆反射测量装置还包括测量仪，所述测量仪设置在所述光学暗箱外侧，且所述测量仪与所述光探测器电连接。

进一步地，所述逆反射测量装置还包括信号放大器，所述信号放大器设置在所述光学暗箱外侧，所述光探测器、所述信号放大器和所述测量仪顺次连接。

进一步地，所述逆反射测量装置还包括显示器，所述显示器设置在所述光学暗箱外侧，所述显示器与所述测量仪连接。

作为优选，所述显示器为数码管或液晶显示屏。

进一步地，所述逆反射测量装置还包括机箱，所述光学暗箱、所述信号放大器、所述测量仪和所述显示器均放置在所述机箱内，且所述机箱上设置有窗口，所述显示器对应设置在所述窗口处。

本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

本实用新型通过将光探测器和光源放入光学暗箱中，并将逆反射材料的试样对光学暗箱的开口进行遮挡，使得光探测器在光学暗箱内只能检测到逆反射材料对光源反射的光线，从而不受外界杂光影响，使得逆反射材料的检测数据较为准确；并且通过固定光源、逆反射材料和光探测器三者之间的位置关系，使得在合理利用光学暗箱空间的同时，测得的数据较精确，从而能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的逆反射测量装置的结构示意图。

其中：              1光学暗箱，

                    2光源，

                    3光探测器，

                    4测量仪，

                    5信号放大器，

                    6显示器，

                    7机箱，

                    8试样。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。

实施例一

如图1所示，本实用新型提供一种逆反射测量装置，该逆反射测量装置包括光学暗箱1、光源2和光探测器3，光源2和光探测器3均设置在光学暗箱1内，光学暗箱1的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样8放置在开口处，通过试样8遮挡开口，光探测器3用于对试样8反射的光进行检测，光源2到试样8的连线与试样8到光探测器3的连线形成的夹角为0.2°。

本实用新型通过将光探测器3和光源2放入光学暗箱1中，并将逆反射材料的试样8对光学暗箱1的开口进行遮挡，使得光探测器3在光学暗箱1内只能检测到逆反射材料对光源2反射的光线，从而不受外界杂光影响，使得逆反射材料的检测数据较为准确；并且通过固定光源2、逆反射材料和光探测器3三者之间的位置关系，使得在合理利用光学暗箱1空间的同时，测得的数据较精确，从而能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。

实施例二

如图1所示，本实用新型提供一种逆反射测量装置，该逆反射测量装置包括光学暗箱1、光源2和光探测器3，光源2和光探测器3均设置在光学暗箱1内，光学暗箱1的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样8放置在开口处，通过试样8遮挡开口，光探测器3用于对试样8反射的光进行检测，光源2到试样8的连线与试样8到光探测器3的连线形成的夹角为0.2°。

其中，通过设置光学暗箱1对逆反射材料测量提供一个稳定的黑暗环境。光学暗箱1可设置为普通的长方体，在长方体的侧面设置开口，用于将逆反射材料放置在开口处，逆反射材料在放置在开口处时需要将开口遮挡，如此使得外界光线无法进入光学暗箱1内，对测量试验造成影响，长方体的光学暗箱1内部放置光源2和光探测器3；也可将光学暗箱1设置为长方形箱体，能够打开和闭合，在箱体内部分别设置盛放和固定光源2、光探测器3和逆反射材料的结构，如此使得在对逆反射材料进行测量时，只需将箱体打开并将逆反射材料放在对应位置后，关闭箱体即可。将光源2、光探测器3和试样8放入光学暗箱1内，并且，将光源2、光探测器3和试样8按照一定的角度关系进行固定，具体地，经过发明人研究发现，光源2照到逆反射材料的光线与从逆反射材料反射到光探测器3的光线的夹角为0.2°，一般也可认为是光源2的几何中心到逆反射材料试样的几何中心的连线与逆反射材料的几何中心到光探测器3的几何中心的连线的夹角为0.2°，如此既能合理利用光学暗箱1的空间，也能够使逆反射材料较充分且容易将光源2发射的光进行反射，并且容易使得光探测器3接收并对逆反射材料的性能进行准确测量。本实用新型操作简单，工作人员只需通过在箱体外部控制光源2和光探测器3的开关，就能得到逆反射材料的几何条件。

如图1所示，进一步地，该逆反射测量装置还包括测量仪4，测量仪4设置在光学暗箱1外侧，且测量仪4与光探测器3电连接。

其中，测量仪4放置在光学暗箱1外侧，然后将光探测器3与测量仪4连接，将光探测器3对试样8的检测数据通过电连接传输到测量仪4，测量仪4对数据进行运算、整理，从而能够得出该试样8的几何条件和亮度因数，具体地，测量仪4对信号频率进行转换，得到R、G、B的数据，并对其进行公式运算得到亮度值。然后再经过校准、添加修正因子，从而能够得到该逆反射材料的几何条件。然后再通过与标准值进行比较，从而能够直接判断该试样8是否符合要求，使得该试样8在实际使用中能够与其测试结果相符；测量仪4也可用其它的处理器代替，如光谱仪、光学分度仪等等，目的在于能够对光探测器3测试的数据进行自动分析，直观的给测试人员分析出曲线分布图等作为参考，方便实用。

如图1所示，进一步地，该逆反射测量装置还包括信号放大器5，信号放大器5设置在光学暗箱1外侧，光探测器3、信号放大器5和测量仪4顺次连接。

其中，通过在光探测器3与测量仪4之间设置信号放大器5，使得光探测器3检测的数据通过信号放大器5进行放大，使得能够增加本实用新型检测数据的精确度。

如图1所示，进一步地，该逆反射测量装置还包括显示器6，显示器6设置在光学暗箱1外侧，显示器6与测量仪4连接。

其中，将测量仪4与显示器6连接，使得测量仪4能够将处理后的数据通过显示器6显示出来，使工作人员更加直观的看到最后得到的数据。

如图1所示，作为优选，该显示器6为数码管或液晶显示屏。

如图1所示，进一步地，该逆反射测量装置还包括机箱7，光学暗箱1、信号放大器5、测量仪4和显示器6均放置在机箱7内，且机箱7上设置有窗口，显示器6对应设置在窗口处。

其中，为了对光学暗箱1、信号放大器5、测量仪4和显示器6进行保护，将上述设备放入机箱7内，机箱7上设置有窗口，将显示器6对应窗口设置，使得工作人员能够通过窗口对显示器6进行观测。

如图1所示，进一步地，该光学暗箱1内壁材料为亚光材料。

其中，将光学暗箱1内壁材料设置为亚光材料，使得暗箱内壁能够吸收光源2照射在内壁上的光，减少或消除通过内壁反射到光探测器3上的光，使光探测器3只检测通过逆反射材料反射的光，从而能够增加光探测器3检测的准确性。

上述本实用新型实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器，所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内，所述光学暗箱的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样放置在所述开口处，通过所述试样遮挡所述开口，所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测，所述光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。

2.根据权利要求1所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括测量仪，所述测量仪设置在所述光学暗箱外侧，且所述测量仪与所述光探测器电连接。

3.根据权利要求2所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括信号放大器，所述信号放大器设置在所述光学暗箱外侧，且所述光探测器、所述信号放大器和所述测量仪顺次连接。

4.根据权利要求3所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括显示器，所述显示器设置在所述光学暗箱外侧，所述显示器与所述测量仪连接。

5.根据权利要求4所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述显示器为数码管或液晶显示屏。

6.根据权利要求4所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括机箱，所述光学暗箱、所述信号放大器、所述测量仪和所述显示器均放置在所述机箱内，且所述机箱上设置有窗口，所述显示器对应设置在所述窗口处。