CN203894199U - 一种pe超声检测校准试块 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种PE超声检测校准试块，包括：本体，本体为截面呈矩形的立方体，本体一端延伸形成半径为2R、厚度小于本体厚度的第一圆弧面，第一圆弧面表面上设置有半径为R、厚度小于或等于本体厚度的第二圆弧面，第一圆弧面和第二圆弧面的圆心均位于本体的上端面；本体正面邻近第二圆弧面的一端设置有至少两个半径不同的横通孔，本体正面远离第二圆弧面的一端形成有一个半圆凹槽，其中，沿半圆凹槽的中心线设置有至少两个半径相同的短横孔。通过上述方式，能够对超声仪器和探头的前沿值和K值进行校准，并对工件的缺陷当量进行比对，进而能够将CSK-ⅠA和CSK-ⅢA的基本功能合二为一，制作成本低、且携带方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及超声波探伤试块技术领域，尤其涉及一种PE超声检测校准试块。
背景技术
现有技术中，进行超声检测通常需要使用CSK-ⅠA试块和CSK-ⅢA试块对超声仪器和探头进行校准，具体的，主要利用CSK-ⅠA试块对超声仪器和探头的K值和前沿值进行校准、利用CSK-ⅢA试块对缺陷对当量进行对比。
然而，在实际应用中，尤其是在检测工件自身厚度较薄时，如PE（polyethylene，聚乙烯）材质的工件，仍需要采用上述的CSK-ⅠA试块和CSK-ⅢA试块，其具有成本较高、且携带不方便的问题。
实用新型内容
本实用新型为解决上述技术问题提供一种PE超声检测校准试块，能够对超声仪器和探头的前沿值和K值进行校准，并对工件的缺陷当量进行比对，进而能够将CSK-ⅠA和CSK-ⅢA的基本功能合二为一，制作成本低、且携带方便。
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种PE超声检测校准试块，包括：所述PE超声检测校准试块包括：本体，所述本体为截面呈矩形的立方体，所述本体一端延伸形成半径为2R、厚度小于所述本体厚度的第一圆弧面，所述第一圆弧面表面上进一步设置有半径为R、厚度小于或等于所述本体厚度的第二圆弧面，所述第一圆弧面和所述第二圆弧面的圆心均位于所述本体的上端面；进一步地，所述本体正面邻近所述第二圆弧面的一端设置有至少两个半径不同的横通孔，所述本体正面远离所述第二圆弧面的一端形成有一个半圆凹槽，其中，沿所述半圆凹槽的中心线设置有至少两个半径相同的短横孔。
其中，含有所述第一圆弧面的本体的上端面长度为150mm，高度为50mm，厚度为30mm。
其中，所述第一圆弧面的半径为50mm、厚度为5mm，所述第二圆弧面的半径为25mm、厚度等于所述本体的厚度。
其中，所述横通孔一个为直径为2mm的第一横通孔、一个直径为1.5mm的第二横通孔。
其中，所述第一横通孔距离所述本体上端面20mm，所述第二横通孔距离所述本体下端面15mm，并且，所述第一横通孔和所述第二横通孔均距离所述第一圆弧面最远端在垂直方向上的投影60mm。
其中，所述半圆凹槽半径为10mm、并距离所述本体远离所述第一圆弧面的一端10mm，所述短横孔均为Φ2×6短横孔。
其中，其中一所述短横孔距离所述本体上表面10mm、另一所述短横孔距离所述本体上表面30mm。
本实用新型实施方式的PE超声检测校准试块，通过在试块本体上设置第一圆弧面、及在第一圆弧面上设置第二圆弧面，能够对超声仪器和探头的前沿值进行校准；通过在试块本体上设置设置两个半径不同的横通孔，能够能够对超声仪器和探头的前沿值进行校准；同时，通过在试块本体上设置半圆凹槽、且在半圆凹槽中心线上设置两个短横孔，能够对所测量工件的缺陷当量进行对比，将CSK-ⅠA和CSK-ⅢA的基本功能合二为一，制作成本低、且携带方便。
附图说明
图1是本实用新型PE超声检测校准试块是实施方式的主视图。
图2是图1所示PE超声检测校准试块的侧视图。
具体实施方式
下面结合附图和实施方式对本实用新型进行详细说明。
结合图1和图2进行参阅，本实用新型实施方式的PE超声检测校准试块，包括：本体1，本体1为截面呈矩形的立方体，本体1一端延伸形成半径为2R、厚度小于本体1厚度的第一圆弧面2，第一圆弧面2表面上进一步设置有半径为R、厚度小于或等于本体1厚度的第二圆弧面3，第一圆弧面2和第二圆弧面3的圆心均位于本体1的上端面；进一步地，本体1正面邻近第二圆弧面3的一端设置有至少两个半径不同的横通孔，本体1正面远离第二圆弧面3的一端形成有一个半圆凹槽5，其中，沿半圆凹槽5的中心线设置有至少两个半径相同的短横孔。
具体而言，如图1和2所示，本实用新型的PE超声检测校准试块在外形上与通用的CSK-ⅠA标准试块在形状上基本相似，并呈1:2的等比例缩小。其中，含有第一圆弧面2的本体1的上端面长度L为150mm(即该超声检测校准试块的最大长度为150mm)，高度H为50mm，厚度T为30mm。进一步地，第一圆弧面2的半径2R为50mm、厚度T1为5mm，第二圆弧面3的半径R为25mm、厚度等于所述本体1的厚度，即第二圆弧面3的厚度为25mm，其表面与本体1的表面平齐。具体使用时，利用该半径为50mm的第一圆弧面2和半径为25mm的第二圆弧面3可以对超声仪器和探头的前沿值进行校准。
更进一步地，横通孔一个为直径为2mm的第一横通孔41、一个直径为1.5mm的第二横通孔42。其中，第一横通孔41距本体1上端面的距离H1为20mm，第二横通孔42距本体1下端面的距离H2为15mm，并且，第一横通孔41和第二横通孔42均距离第一圆弧面2最远端在垂直方向上的投影L1为60mm。具体使用时，利用该直径为2mm的第一横通孔41和直径为1.5mm的第二横通孔42可以对超声仪器和探头的K值进行校准。
上述对超声仪器和探头的前沿值和K值进行校准的原理和步骤与利用CSK-ⅠA标准试块的原理和步骤相同，此处不一一赘述。
更进一步地，上述实施方式中，本体1上的半圆凹槽5直径D为20mm（即半圆凹槽5的半径为10mm）、并距本体1远离第一圆弧面2的一端的距离L2为10mm，短横孔51、52均为Φ2×6短横孔，具体即短横孔51、52的直径为2mm、孔深H5为6mm。其中，其中一短横孔51距本体1上表面的距离H3为10mm、另一短横孔52距本体1上表面的距离H4为30mm。具体使用时，利用该两个直径为2mm短横孔51、52可以对工件缺陷的当量进行对比，代替现有技术中需要额外采用CSK-ⅢA标准试块对工件缺陷的当量进行对比，其操作也更简单，只需携带该一个PE超声检测校准试块即可，携带方便，也能极大节省成本。另外，本实施方式PE超声检测校准试块的本体1上设置的短横孔，对于厚度较小的工件，比如PE材质工件但不仅限于PE材质工件，因为PE材质工件厚度通常在30mm以内，足够检测该厚度范围内的工件。当然，按照本实施方式制作而成的PE超声检测校准试块，对工件缺陷当量进行对比时，利用短横孔在本体1正反两面的不同路径进行测量时，最大可满足厚度为45mm的工件进行测量。其测量原理和步骤与CSK-ⅢA标准试块的原理和步骤相同，此处亦不做一一赘述。
本实用新型实施方式的PE超声检测校准试块，通过在试块本体1上设置第一圆弧面2、及在第一圆弧面2上设置第二圆弧面3，能够对超声仪器和探头的前沿值进行校准；通过在试块本体1上设置设置两个半径不同的横通孔41、42，能够能够对超声仪器和探头的前沿值进行校准；同时，通过在试块本体1上设置半圆凹槽5、且在半圆凹槽5中心线上设置两个短横孔51、52，能够对所测量工件的缺陷当量进行对比。即本实用新型的PE超声检测校准试块能够将现有技术的CSK-ⅠA对于超声仪器、探头的前沿值和K值的校准，以及CSK-ⅢA对于工件缺陷的对比功能合二为一，能够满足实际工作中对厚度较薄的工件进行测量的各步骤环节的基本要求，其制作成本较低，试块体积较小、重量较轻，携带极其方便。
以上仅为本实用新型的实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (7)
1.一种PE超声检测校准试块，其特征在于，所述PE超声检测校准试块包括：
本体，所述本体为截面呈矩形的立方体，所述本体一端延伸形成半径为2R、厚度小于所述本体厚度的第一圆弧面，所述第一圆弧面表面上进一步设置有半径为R、厚度小于或等于所述本体厚度的第二圆弧面，所述第一圆弧面和所述第二圆弧面的圆心均位于所述本体的上端面；
进一步地，所述本体正面邻近所述第二圆弧面的一端设置有至少两个半径不同的横通孔，所述本体正面远离所述第二圆弧面的一端形成有一个半圆凹槽，其中，沿所述半圆凹槽的中心线设置有至少两个半径相同的短横孔。
2.根据权利要求1所述的PE超声检测校准试块，其特征在于：
含有所述第一圆弧面的本体的上端面长度为150mm，高度为50mm，厚度为30mm。
3.根据权利要求2所述的PE超声检测校准试块，其特征在于：
所述第一圆弧面的半径为50mm、厚度为5mm，所述第二圆弧面的半径为25mm、厚度等于所述本体的厚度。
4.根据权利要求3所述的PE超声检测校准试块，其特征在于：
所述横通孔一个为直径为2mm的第一横通孔、一个直径为1.5mm的第二横通孔。
5.根据权利要求4所述的PE超声检测校准试块，其特征在于：
所述第一横通孔距离所述本体上端面20mm，所述第二横通孔距离所述本体下端面15mm，并且，所述第一横通孔和所述第二横通孔均距离所述第一圆弧面最远端在垂直方向上的投影60mm。
6.根据权利要求1所述的PE超声检测校准试块，其特征在于：
所述半圆凹槽半径为10mm、并距离所述本体远离所述第一圆弧面的一端10mm，所述短横孔均为Φ2×6短横孔。
7.根据权利要求6所述的PE超声检测校准试块，其特征在于：
其中一所述短横孔距离所述本体上表面10mm、另一所述短横孔距离所述本体上表面30mm。
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