CN203838439U - 液晶显示模组的测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种液晶显示模组的测试系统，包括：用于测量液晶显示模组的显示参数的光电测试仪、增量型编码模块，包括增量型编码器，所述增量型编码器从给定的基础测试数据开始，以设定的增量产生新的测试数据；测试模块，包括主控芯片、与主控芯片连接的存储单元和与主控芯片连接的液晶驱动单元；所述主控芯片与所述增量型编码模块连接，获取所述增量型编码模块输出的测试数据并控制液晶驱动单元以该测试数据驱动液晶显示模组；所述存储单元用于根据主控芯片的保存命令存储测试数据；所述增量型编码模块还包括保存触发器，所述保存触发器与主控芯片连接，用于触发所述主控芯片生成所述保存命令。上述测试系统测试效率较高。
Description
技术领域
本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种液晶显示模组的测试系统。
背景技术
在液晶显示模组（liquid crystal module，LCM）中，液晶显示模组需要通过驱动芯片的驱动来显示图像。对于一款液晶显示模组，某种颜色需要多大的驱动电压以达到最好的显示效果，通常都是经过不断测试后选择并固化在驱动芯片中的。但由于液晶显示模组个体之间的差异，因此为达到最佳显示效果的驱动电压之间就存在差异，使用同一驱动参数并不能使所有的液晶显示模组都达到最好的显示效果。为此，为了消除这种差异，高端的液晶显示模组中允许客户自行定义液晶显示模组的驱动电压参数，并通过一次性可编程（One TimeProgrammable，OTP）工序固化在驱动芯片中，提升产品效果。
传统的OTP固化（烧录）的基本思路是，构建以ARM或者FPGA为核心的LCM测试架，由该LCM测试架生成测试数据，并写入LCM的寄存器，驱动液晶显示模组进行显示。然后通过光电测试仪器测量液晶显示模组的相关显示数据，再将该显示数据传送到计算机处理，以判断该显示数据是否符合达到最佳显示效果的要求。上述过程中需要LCM测试架不断生成测试数据，甚至可能需要遍历所有的设置值以找到最佳参数，测试效率较低。
实用新型内容
基于此，有必要提供一种液晶显示模组的测试系统，其能提供快捷的测试。
一种液晶显示模组的测试系统，包括用于测量液晶显示模组的显示参数的光电测试仪，还包括：
增量型编码模块，包括增量型编码器，所述增量型编码器从给定的基础测试数据开始，以设定的增量产生新的测试数据；
测试模块，包括主控芯片、与主控芯片连接的存储单元和与主控芯片连接的液晶驱动单元；
所述主控芯片与所述增量型编码模块连接，获取所述增量型编码模块输出的测试数据并控制液晶驱动单元以该测试数据驱动液晶显示模组；
所述存储单元用于根据主控芯片的保存命令存储测试数据；
所述增量型编码模块还包括保存触发器，所述保存触发器与主控芯片连接，用于触发所述主控芯片生成所述保存命令。
在其中一个实施例中，所述增量型编码器为采用转轴控制的编码器件。
在其中一个实施例中，所述增量型编码模块还包括与所述增量型编码器连接的鉴相器和频率计数器。
在其中一个实施例中，所述主控芯片还用于在保存触发器触发保存命令时，将测试数据烧录到液晶显示模组中。
在其中一个实施例中，所述主控芯片还用于根据存储单元中保存的历史测试数据计算平均值得到所述增量型编码器的基础测试数据。
在其中一个实施例中，所述主控芯片为ARM芯片。
在其中一个实施例中，所述存储单元为闪存模块。
在其中一个实施例中，所述液晶驱动单元包括背光驱动电路、液晶显示信号转接电路以及液晶显示模组的供电电路。
在其中一个实施例中，所述保存触发器为按键电路。
在其中一个实施例中，所述按键电路输出高电位触发主控芯片的保存命令。
上述测试系统，通过增量型编码模块自动提供测试数据，并通过保存触发器快速保存符合条件的测试数据，测试效率较高。
附图说明
图1为本实用新型一实施例的液晶显示模组的测试系统；
图2为图1中的测试模块的结构示意图；
图3为图1中的增量型编码模块的结构示意图；
图4为本实用新型一实施例的液晶显示模组的测试流程图。
具体实施方式
如图1所示，为本实用新型一实施例的液晶显示模组的测试系统。该测试系统10通过多组测试数据对液晶显示模组20进行测试，以获取能够使液晶显示模组20取得最佳显示效果的测试数据。以下所说的测试数据均指驱动液晶显示模组的驱动电压数据。
该测试系统10包括测试模块110、增量型编码模块120和光电测试仪130。其中测试模块110根据增量型编码模块120提供的测试数据驱动液晶显示模组20进行显示，光电测试仪130则采集液晶显示模组20的显示图像并生成相应的显示参数。测试人员90通过查看光电测试仪130输出的显示参数即可判断当前的测试参数是否符合要求。
上述测试系统10可通过增量型编码模块120自动产生测试数据，并通过保存触发器快速保存符合条件的测试数据，测试效率较高。测试系统10结构简单、操作简单，无需连接计算机，方便移动重组。因此OTP快速高效，能适应大批量快速生产需求。
请参考图2，测试模块110包括主控芯片111、存储单元113和液晶驱动单元115。存储单元113和液晶驱动单元115均与主控芯片111电连接。主控芯片111与增量型编码模块120连接，获取增量型编码模块120输出的测试数据并控制液晶驱动单元115以该测试数据驱动液晶显示模组。存储单元113则用于根据主控芯片的保存命令存储符合要求的测试参数，方便在以后的测试中作为参考。
主控芯片111可采用ARM芯片。存储单元113则采用闪存模块。液晶驱动单元115包括背光驱动电路、液晶显示信号转接电路以及液晶显示模组的供电电路。其中背光驱动电路用于驱动液晶显示模组的背光单元，使其提供背光。液晶显示信号转接电路用于将主控芯片111提供的测试数据转换为液晶显示模组的驱动信号。供电电路则为液晶显示模组供电。
请参考图3，增量型编码模块120包括增量型编码器121、鉴相器123、频率计数器125和保存触发器127。增量型编码器121用于从给定的基础测试数据开始，以设定的增量产生新的测试数据。例如该基础测试数据是前面多次测量并确定的最佳测试数据的平均值。当然该基础测试数据也可以任意数据，例如0。通过增量型编码器121可以自动产生多组测试数据。增量型编码器121可采用转轴控制的编码器件。转轴旋转时，有相应的脉冲输出，其旋转方向的判别和脉冲数量的增减借助后部的鉴相器123和频率计数器125来实现。
保存触发器127是可以由测试人员90操作，并触发与之连接的主控芯片111生成所述保存命令，以保存经测试人员90判断并认可的测试数据。保存触发器127可以为按键电路，直接触发高低电平控制主控芯片111保存测试数据。
进一步地，主控芯片111还用于在保存触发器127触发保存命令时，将测试数据烧录到液晶显示模组20中。当前的测试数据如果已经使得液晶显示模组能够获得较佳的显示效果，则可将其烧录到液晶显示模组提供的OTP寄存器中，从而优化该液晶显示模组的显示效果。
使用上述的测试系统，可以反复多次对多个液晶显示模组进行测试获得各个液晶显示模组的最佳测试数据，经过多次保存后就获得了大量的关于某种液晶显示模组的测试数据，而即使某种类型的液晶显示模组的个体之间有差异，但这种差异并不会特别大，所需的驱动数据也应该是比较接近的。因此，可以基于已经测得的历史测试数据获得下一次的测试数据。
基于此，主控芯片111还可根据存储单元113中保存的历史测试数据计算平均值得到所述增量型编码器的基础测试数据。从该基础测试数据开始以增量的方式微调该基础测试数据，获得多个当前测试的测试数据。
基于上述实施例，完整的测试过程可参考图4。
完整的测试过程包括如下步骤：
步骤S101：获取历史测试数据。
步骤S102：利用历史测试数据获得当前的基础测试数据。计算历史测试数据的平均值得到当前的基础测试数据。
步骤S103：利用测试数据测试液晶显示模组。
步骤S104：判断当前所用的测试数据是否满足显示效果的要求。测试人员利用光电测试仪对按照测试数据显示图像的液晶显示模组进行测试，获取光电测试仪给出的显示参数，判断是否符合要求。若符合要求，则执行步骤S106，否则执行步骤S105。
步骤S105：通过增量型编码器调节测试数据。调节测试数据后再执行步骤S103。
步骤S106：将测试数据写入液晶显示模组中。对于符合显示要求的测试参数，将其写入液晶显示模组，作为对有个体差异的液晶显示模组的校正和优化。
步骤S107：保存测试数据。在一个液晶显示模组调试测试数据并写入OTP寄存器完成后，可对下一个液晶显示模组执行同样的操作。已经测试完成的测试数据可作为历史测试数据进行保存。
上述液晶显示模组的测试系统结构简单、操作简单，无需连接计算机，方便移动重组。因此OTP快速高效，能适应大批量快速生产需求。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (8)
1.一种液晶显示模组的测试系统，包括用于测量液晶显示模组的显示参数的光电测试仪，其特征在于，还包括：
增量型编码模块，包括增量型编码器，所述增量型编码器从给定的基础测试数据开始，以设定的增量产生新的测试数据；
测试模块，包括主控芯片、与主控芯片连接的存储单元和与主控芯片连接的液晶驱动单元；所述主控芯片为ARM芯片；
所述主控芯片与所述增量型编码模块连接，获取所述增量型编码模块输出的测试数据并控制液晶驱动单元以该测试数据驱动液晶显示模组；
所述存储单元用于根据主控芯片的保存命令存储测试数据；
所述增量型编码模块还包括保存触发器，所述保存触发器与主控芯片连接，用于触发所述主控芯片生成所述保存命令。
2.根据权利要求1所述的液晶显示模组的测试系统，其特征在于，所述增量型编码器为采用转轴控制的编码器件。
3.根据权利要求2所述的液晶显示模组的测试系统，其特征在于，所述增量型编码模块还包括与所述增量型编码器连接的鉴相器和频率计数器。
4.根据权利要求1所述的液晶显示模组的测试系统，其特征在于，所述主控芯片还用于在保存触发器触发保存命令时，将测试数据烧录到液晶显示模组中。
5.根据权利要求1所述的液晶显示模组的测试系统，其特征在于，所述存储单元为闪存模块。
6.根据权利要求1所述的液晶显示模组的测试系统，其特征在于，所述液晶驱动单元包括背光驱动电路、液晶显示信号转接电路以及液晶显示模组的供电电路。
7.根据权利要求1所述的液晶显示模组的测试系统，其特征在于，所述保存触发器为按键电路。
8.根据权利要求7所述的液晶显示模组的测试系统，其特征在于，所述按键电路输出高电位触发主控芯片的保存命令。
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| CN109257549A (zh) * | 2018-09-14 | 2019-01-22 | 武汉帆茂电子科技有限公司 | 一种在液晶模组实时显示otp状态的装置及方法 |
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| CN109257549B (zh) * | 2018-09-14 | 2021-01-12 | 武汉帆茂电子科技有限公司 | 一种在液晶模组实时显示otp状态的装置及方法 |
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