CN203838298U - 晶体管扫描测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管或二极管的测试仪，其特征在于：还包括继电器组以及继电器控制单元；所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断，所述继电器控制单元设置在测试仪内；测试仪可以同时与多个晶体管器件进行连接，利用继电器的开合来选择所要测试晶体管，配型单片机等可编程器件能够实现自动测试，提高测试效率。
Description
技术领域
本实用新型属于测试技术领域，涉及一种晶体管测试系统。
背景技术
现有晶体管的测试是利用测试仪一次测试一个晶体管，进行下个晶体管测试时，需要将前次晶体管取下，再将待测晶体管与测试仪连接进行测试。因此，现有晶体管测试方法的测试效率低，自动化程度低。
现有晶体管的测试对于多封装的测试不能一次测完，必须一个单元一个单元测试。因此，现有晶体管测试方法的测试效率低，自动化程度低。
发明内容
为解决现有晶体管测试效率低下的技术问题，本实用新型提供一种晶体管扫描测试系统。
本实用新型的技术解决方案如下：
一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特殊之处在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述继电器组中三分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的c端相连；还有三分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；最后三分之一的继电器一端与测试仪的e测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的e端相连；
所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
另一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特殊之处在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述被测晶体管排列成M×N的矩阵；
所述继电器组包括N个c端继电器、M×N个b端继电器和M个e端继电器；
每个c端继电器的一端与相应1列晶体管的所有c端相连，另一端与测试仪的c测试端相连；
每个晶体管的b端对应连接一个b端继电器，所述b端继电器的另一端与测试仪的b测试端相连；
每个e端继电器的一端与相应1行晶体管的所有e端相连，另一端与测试仪的e测试端相连，
所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
第三种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特殊之处在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述继电器组中二分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的c端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；所有晶体管的e端与测试仪的e测试端相连，
所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
一种二极管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特殊之处在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述继电器组中二分之一的继电器的一端与测试仪的正测试端相连，另一端分别与每个被测二极管的正端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的负测试端相连，另一端分别与每个被测二极管的负端相连；所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
另一种二极管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特征在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；所述继电器组包括与被测二极管一一对应的多个继电器，所述继电器的一端与测试仪的一个测试端相连，另一端与对应的被测二极管相应端连接；所述二极管的另一端与测试仪的相应测试端连接，所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
在以上技术方案中，继电器控制单元可设置在测试仪内。
本实用新型与现有技术相比，优点是：
本实用新型晶体管扫描测试系统，测试仪可以同时与多个晶体管器件进行连接，利用继电器的开合来选择所要测试的晶体管，配和单片机等可编程器件能够实现自动测试，提高测试效率。
附图说明
图1为现有晶体管测试系统；
图2为本实用新型晶体管扫描测试系统的第一种技术方案；
图3为本实用新型晶体管扫描测试系统的第二种技术方案；
图4为本实用新型晶体管扫描测试系统的第三种技术方案；
图5所示为本实用新型的二极管测试的一种方案；
图6所示为本实用新型的二极管测试的另一种方案。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型进行详细说明，但是本实用新型的具体实施方式不限于此。
图2所示为本实用新型的一种技术方案，晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪1、继电器组以及继电器控制单元；其中三分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管3的c端相连；还有三分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；最后三分之一的继电器一端与测试仪的e测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的e端相连；继电器控制单元10用于控制每个继电器的通断。继电器控制单元10设置在测试仪。
图3所示为本实用新型的第二种技术方案，包括用于测试晶体管的测试仪1、继电器组以及继电器控制单元10；被测晶体管3排列成M×N的矩阵；继电器组包括N个c端继电器5、M×N个b端继电器7和M个e端继电器6；每个c端继电器的一端与相应1列晶体管3的所有c端相连，另一端与测试仪的c测试端相连；每个晶体管的b端对应连接一个b端继电器，b端继电器的另一端与测试仪的b测试端相连；每个e端继电器的一端与相应1行晶体管的所有e端相连，另一端与测试仪的e测试端相连，继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。。
图4所示为本实用新型的第三种技术方案，晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪1，还包括继电器组4以及继电器控制单元10；其中二分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的c端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；所有晶体管的e端与测试仪的e测试端相连。继电器控制单元设置在测试仪。
图5所示为本实用新型的二极管测试的一种方案，包括用于测试二极管的测试仪8、继电器组4以及继电器控制单元10；继电器组中二分之一的继电器的一端与测试仪的正测试端相连，另一端分别与每个被测二极管9的正端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的负测试端相连，另一端分别与每个被测二极管的负端相连；继电器控制单元用于控制每个继电器的通断，继电器控制单元设置在测试仪内。
图6所示为本实用新型的二极管测试的另一种方案，包括用于测试二极管的测试仪8、继电器组4以及继电器控制单元10；继电器组包括与被测二极管一一对应的多个继电器，继电器的一端与测试仪的一个测试端相连，另一端与对应的被测二极管9的相应测试端连接；二极管的另一端与测试仪的相应测试端连接，继电器控制单元用于控制每个继电器的通断，继电器控制单元设置在测试仪内。
Claims (10)
1.一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特征在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述继电器组中继电器的数量是晶体管的三倍，其中三分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的c端相连；还有三分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；最后三分之一的继电器一端与测试仪的e测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的e端相连；
所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
2.根据权利要求1所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于：
所述继电器控制单元设置在测试仪内。
3.一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特征在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述被测晶体管排列成M×N的矩阵；
所述继电器组包括N个c端继电器、M×N个b端继电器和M个e端继电器；
每个c端继电器的一端与相应1列晶体管的所有c端相连，另一端与测试仪的c测试端相连；
每个晶体管的b端对应连接一个b端继电器，所述b端继电器的另一端与测试仪的b测试端相连；
每个e端继电器的一端与相应1行晶体管的所有e端相连，另一端与测试仪的e测试端相连，
所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
4.根据权利要求3所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于：
所述继电器控制单元设置在测试仪内。
5.一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特征在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述继电器组中二分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的c端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；所有晶体管的e端与测试仪的e测试端相连，
所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
6.根据权利要求5所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于：
所述继电器控制单元设置在测试仪内。
7.一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特征在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；
所述继电器组中二分之一的继电器的一端与测试仪的正测试端相连，另一端分别与每个被测二极管的正端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的负测试端相连，另一端分别与每个被测二极管的负端相连；所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
8.根据权利要求7所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于：
所述继电器控制单元设置在测试仪内。
9.一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特征在于：
还包括继电器组以及继电器控制单元；所述继电器组包括与被测二极管一一对应的多个继电器，所述继电器的一端与测试仪的一个测试端相连，另一端与对应的被测二极管相应端连接；所述二极管的另一端与测试仪的相应测试端连接，所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
10.根据权利要求9所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于：
所述继电器控制单元设置在测试仪内。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201420108950.1U CN203838298U (zh) | 2014-03-11 | 2014-03-11 | 晶体管扫描测试系统 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201420108950.1U CN203838298U (zh) | 2014-03-11 | 2014-03-11 | 晶体管扫描测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN203838298U true CN203838298U (zh) | 2014-09-17 |
Family
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201420108950.1U Expired - Lifetime CN203838298U (zh) | 2014-03-11 | 2014-03-11 | 晶体管扫描测试系统 |
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|---|---|
| CN (1) | CN203838298U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113253087A (zh) * | 2021-06-18 | 2021-08-13 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 一种碳化硅动态检测设备 |
| CN113805031A (zh) * | 2021-11-19 | 2021-12-17 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 一种碳化硅动静态测试一体机 |
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2014
- 2014-03-11 CN CN201420108950.1U patent/CN203838298U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
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| CN113253087A (zh) * | 2021-06-18 | 2021-08-13 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 一种碳化硅动态检测设备 |
| CN113805031A (zh) * | 2021-11-19 | 2021-12-17 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 一种碳化硅动静态测试一体机 |
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