CN203772723U - 一种大米垩白度观测仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于稻米品质检测技术领域，具体涉及一种大米垩白度观测仪。一种大米垩白度观测仪，其特征在于：包括箱体，所述箱体内设电源及日光灯管，所述箱体顶部嵌设有乳白色观察片。本实用新型结构简单，成本较低，观测更为准确，且操作人员长时间工作也不易疲劳。
Description
技术领域
本实用新型属于稻米品质检测技术领域，具体涉及一种大米垩白度观测仪。
背景技术
垩白度为稻米外观品质的重要指标之一，其中，垩白是稻米胚乳中白色不透明的部分，为胚乳淀粉粒之间存在空隙引起透光性改变所致。垩白度是稻米中垩白部位的面积占米粒投影面积的百分比。目前垩百度的测定一是通过目测的方法进行粗略测量，二是通过软件进行精确测量。现有的通过目测方法进行测量通常是在自然光线下目测，观测偏差较大。而通过软件测量虽然结果较为准确，但是过程繁琐，需要用到的设备较多，成本高昂。
发明内容
为克服上述缺点，本实用新型提出一种大米垩白度观测仪，提高目测垩白度准确性的同时设备成本较低。
本实用新型采用以下技术方案：
一种大米垩白度观测仪，其特征在于：包括箱体，所述箱体内设电源及日光灯管，所述箱体顶部嵌设有乳白色观察片。
作为优选，所述日光灯管功率为32W。
作为优选，所述观察片为有机玻璃。
进一步的，所述箱体顶部侧边还设有便于取出大米的漏斗。
本实用新型的使用方法是：将需观测的大米置于观察片上，打开电源，大米在光源的照射下垩白部分显示更为清晰，观测更为准确，且操作人员长时间工作也不易疲劳。观测完毕之后，将大米从顶部侧边的漏斗处取出。
与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果是：设备结构简单，成本较低，观测更为准确，且操作人员长时间工作也不易疲劳。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图
其中1为箱体、2为漏斗、3为观察片。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1所示的一种大米垩白度观测仪，包括箱体1，所述箱体内设220V、50Hz、40W的单相交流电源及32W的日光灯管(图中未示出)，所述箱体顶部嵌设有乳白色有机玻璃制成的观察片3，所述箱体顶部侧边还设有漏斗2。
打开垩白度观测仪的电源，预热5分钟，从整精米样品中随机取出100粒，置于垩白度观测仪上，分开有垩白的籽粒和无垩白的籽粒，数出垩白米的粒数，计算垩白粒率。从垩白米粒中随机取出10粒，在灯光下逐粒目测垩白部分占整粒米平面投影面积的百分比，即为垩白大小。最后计算垩百度，为垩白粒率乘以垩白大小。
开机后亮度稳定、光线均匀，垩白部分显示更为清晰，观测更为准确，且操作人员长时间工作也不易疲劳。
以上所述，仅本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业人员可以利用上述揭示的技术加以变更改进.但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型技术实质对以上实施所作的任何简单修改.仍属于本实用新型技术方案的保护范围。
Claims (4)
1.一种大米垩白度观测仪，其特征在于：包括箱体，所述箱体内设电源及日光灯管，所述箱体顶部嵌设有乳白色观察片。
2.根据权利要求1所述的大米垩白度观测仪，其特征在于：所述日光灯管功率为32W。
3.根据权利要求1所述的大米垩白度观测仪，其特征在于：所述观察片为有机玻璃。
4.根据权利要求1所述的大米垩白度观测仪，其特征在于：所述箱体顶部侧边还设有便于取出大米的漏斗。
Priority Applications (1)
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| CN (1) | CN203772723U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105548088A (zh) * | 2016-01-20 | 2016-05-04 | 安徽理想种业有限公司 | 一种快速鉴定稻米外观品质的方法 |
| CN110118731A (zh) * | 2019-05-27 | 2019-08-13 | 安徽省农业科学院烟草研究所 | 利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法 |
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2014
- 2014-04-11 CN CN201420181875.1U patent/CN203772723U/zh not_active Expired - Fee Related
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| CN105548088A (zh) * | 2016-01-20 | 2016-05-04 | 安徽理想种业有限公司 | 一种快速鉴定稻米外观品质的方法 |
| CN110118731A (zh) * | 2019-05-27 | 2019-08-13 | 安徽省农业科学院烟草研究所 | 利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法 |
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Granted publication date: 20140813 Termination date: 20150411 |
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