CN203758540U - 金属检测探头 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种金属检测探头,包括弧面反射板,弧面反射板一侧安装有探头,探头穿过弧面反射板与一阻尼板连接,探头采用可伸缩结构,弧面反射板靠近顶部设有金属纳米微粒层,金属纳米微粒层下表面设有吸声材料层,吸声材料层与金属纳米微粒层通过粘接剂连接,还包括信号连接口,信号连接口开在金属纳米微粒层、吸声材料层及阻尼板之间,阻尼板上安装有压电晶片,压电晶片为三个,压电晶片通过电缆线与信号连接口连接,压电晶片顶部穿过吸声材料层及金属纳米微粒层设置。本金属检测探头采用可伸缩结构,可自由延长探头长度至一定距离,提高了检测的准确性和操作人员的安全性,同时在检测时可进行吸声,可通过激光的作用更好的进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测探头,特别涉及一种金属检测探头。
背景技术
常规的金属检测探头结构主要采用两种结构,一种是采用单凸透镜聚焦方式,检测目标的靶点为固定圆形。而对于带形目标的检测局限于局部有效区域,不适用于进行跟踪定位;另一种是采用单凸透镜聚焦方式,其内部焦点拾取部位的光纤采用矩形窗口,检测目标的靶点为矩形,但长宽比例固定不能调整。这两种检测探头虽然还是能达到一定的检测效率,但检测准确度不够,且在检测时操作繁琐,同时探头无法进行伸缩检测,有可能影响检测人员的安全状况,且影响了检测准确度,不能根据实际需求进行更好的调整检测。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是:克服上述问题,提供一种金属检测探头采用可伸缩结构,可自由延长探头长度至一定距离,提高了检测的准确性和操作人员的安全性的金属检测探头。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是这样的:本实用新型的金属检测探头,包括弧面反射板,弧面反射板一侧安装有探头,探头穿过弧面反射板与一阻尼板连接,探头采用可伸缩结构,弧面反射板靠近顶部设有金属纳米微粒层,金属纳米微粒层下表面设有吸声材料层,吸声材料层与金属纳米微粒层通过粘接剂连接,还包括信号连接口,信号连接口开在金属纳米微粒层、吸声材料层及阻尼板之间,阻尼板上安装有压电晶片,压电晶片为三个,压电晶片通过电缆线与信号连接口连接,压电晶片顶部穿过吸声材料层及金属纳米微粒层设置,其底部固定在阻尼板上,且两两压电晶片之间通过激光条连接。
进一步的,作为一种具体的结构形式,本实用新型所述金属纳米微粒层设置在弧面反射板的凹面上。
进一步的,作为一种具体的结构形式,本实用新型所述信号连接口至少为两个。
进一步的,作为一种具体的结构形式,本实用新型所述调节装置可调节弧面反射板反射出的实物距离。
与现有技术相比,本实用新型的优点在于:本金属检测探头采用可伸缩结构,可自由延长探头长度至一定距离,提高了检测的准确性和操作人员的安全性,同时在检测时可进行吸声,可通过激光的作用更好的进行检测。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1为本实用新型的结构示意图;
图中:1.弧面反射板;2.探头;3.金属纳米微粒层;4.吸声材料层;5.阻尼板;6.压电晶片;7.信号连接口;8.激光条;9.调节装置。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1所示的本实用新型金属检测探头的优选实施例,包括弧面反射板1,弧面反射板1一侧安装有探头2,探头2穿过弧面反射板1与一阻尼板5连接,探头2采用可伸缩结构,弧面反射板1靠近顶部设有金属纳米微粒层3,金属纳米微粒层3下表面设有吸声材料层4,吸声材料层4与金属纳米微粒层3通过粘接剂连接,还包括信号连接口7,信号连接口7开在金属纳米微粒层3、吸声材料层4及阻尼板5之间,阻尼板5上安装有压电晶片6,压电晶片6为三个,压电晶片6通过电缆线与信号连接口7连接,压电晶片6顶部穿过吸声材料层4及金属纳米微粒层3设置,其底部固定在阻尼板5上,且两两压电晶片6之间通过激光条8连接,所述金属纳米微粒层3设置在弧面反射板1的凹面上,所述信号连接口7至少为两个,所述调节装置9可调节弧面反射板1反射出的实物距离。
本实用新型的金属检测探头采用可伸缩结构,可自由延长探头2长度至一定距离,提高了检测的准确性和操作人员的安全性,同时在检测时可进行吸声,可通过激光的作用更好的进行检测。
以上述依据本实用新型的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (4)
1.一种金属检测探头,包括弧面反射板,其特征在于:弧面反射板一侧安装有探头,探头穿过弧面反射板与一阻尼板连接,探头采用可伸缩结构,弧面反射板靠近顶部设有金属纳米微粒层,金属纳米微粒层下表面设有吸声材料层,吸声材料层与金属纳米微粒层通过粘接剂连接,还包括信号连接口,信号连接口开在金属纳米微粒层、吸声材料层及阻尼板之间,阻尼板上安装有压电晶片,压电晶片为三个,压电晶片通过电缆线与信号连接口连接,压电晶片顶部穿过吸声材料层及金属纳米微粒层设置,其底部固定在阻尼板上,且两两压电晶片之间通过激光条连接。
2.根据权利要求1所述的金属检测探头,其特征在于:所述金属纳米微粒层设置在弧面反射板的凹面上。
3.根据权利要求1所述的金属检测探头,其特征在于:所述信号连接口至少为两个。
4.根据权利要求1所述的金属检测探头,其特征在于:调节装置可调节弧面反射板反射出的实物距离。
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CN201420100185.9U CN203758540U (zh) | 2014-03-06 | 2014-03-06 | 金属检测探头 |
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CN201420100185.9U CN203758540U (zh) | 2014-03-06 | 2014-03-06 | 金属检测探头 |
Publications (1)
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CN203758540U true CN203758540U (zh) | 2014-08-06 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103900632A (zh) * | 2014-03-06 | 2014-07-02 | 成都科创佳思科技有限公司 | 金属检测探头 |
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2014
- 2014-03-06 CN CN201420100185.9U patent/CN203758540U/zh not_active Expired - Fee Related
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GR01 | Patent grant | ||
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Granted publication date: 20140806 Termination date: 20160306 |
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