CN203733758U - 一种离子源电参数质量歧视自动校正装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于分析仪器中同位素质谱仪器制造领域，具体涉及一种离子源电参数质量歧视自动校正装置。目的是针对不同的质量数，设计与之匹配的电参数组，从而保证各质量数离子灵敏度最大化。该装置包括多个电位器组，每组电位器中由多个独立相同的电位器组成，各电位器并联，两端接在电极在分压器电路板对应的电压输出端上，各电位器滑动端通过相应高压继电器接在电极上，高压继电器的接通受质量数判断模块控制，工作时，每组电位器只有一个能通过高压继电器接通输出。该装置能自动校正质量数不同带来的质量歧视效应，特别在进行小质量数丰度测量时，效果明显。
Description
技术领域
本实用新型属于分析仪器中同位素质谱仪器制造领域，具体涉及一种离子源电参数质量歧视自动校正装置。
背景技术
磁质谱仪器的质量分析器是按照电磁学的原理进行工作，因此必须具有将分子变成带电离子的离子源。离子源不仅决定了质谱分析的可能性，而且和质谱仪器的灵敏度、分辨本领、精度和准确度等主要性能指标有着极其密切的关系。电子轰击型离子源的原理是：阴极灯丝在高真空中被大电流炽热，在电场的作用下电子会从阴极表面逃逸出来，辅助磁场可使电子运动轨迹成螺旋线性，增大电子与中性分子的碰撞几率。电子轰击型离子源产生的离子能量分散小，样品耗量少，离子束流比较稳定，检测灵敏度高。电离产生的离子首先被引出极从电离室中拉出，进出静电透镜系统中，经过屏蔽、聚焦、偏转作用，再经出口狭缝进入分析轨道。因此离子源有两个方面的作用：将被分析的样品电离成离子；形成具有一定能量和几何形状的离子束。离子源静电透镜系统类似于光学透镜，它由多组电极组成，在电极上施加不同的电压，形成静电场，静电场对通过的离子起聚焦偏转作用。不同质量数不同电荷的离子聚焦偏转作用不一样，灵敏度差异大。质量数相差越大、电荷数相差越大，各电极上的电参数相差越大，因此离子源电参数对不同质量数或电荷数的离子存在质量歧视效应。特别在低质量数同位素丰度测量时，质量歧视现象特别明显。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，针对不同的质量数，设计与之匹配的电参数组，从而保证各质量数离子灵敏度最大化。
本实用新型所采用的技术方案是：
一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，包括多个电位器组，每组电位器中由多个独立相同的电位器组成，各电位器并联，两端接在电极在分压器电路板对应的电压输出端上，各电位器滑动端通过相应高压继电器接在电极上，高压继电器的接通受质量数判断模块控制，工作时，每组电位器只有一个能通过高压继电器接通输出。
如上所述的一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，其中：所述每组电位器中有6个独立电位器，分别对应不同的质量数。
如上所述的一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，其中：所述电位器组共三个，分别对应引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
本实用新型的有益效果是：
在分压器上设计了一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，解决了质量数不同，电极电参数不同的问题。
本实用新型提供的一种离子源电参数质量歧视自动校正装置能自动校正质量数不同带来的质量歧视效应，特别在进行小质量数丰度测量时，效果明显。
附图说明
图1为本实用新型提供的一种离子源电参数质量歧视自动校正装置的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型提供的一种离子源电参数质量歧视自动校正装置进行介绍：
一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，包括多个电位器组，每组电位器中由多个独立相同的电位器组成，各电位器并联，两端接在电极在分压器电路板对应的电压输出端上，各电位器滑动端通过相应高压继电器接在电极上，高压继电器的接通受质量数判断模块控制，工作时，每组电位器只有一个能通过高压继电器接通输出。
为获得更好的效果，各部分优选如下：
每组电位器中有6个独立电位器，分别用于质量数为M2、M3、M4、M5、M6、和大于M6的电参数调节。
该校正装置所在的离子源的静电透镜系统依次包括片状的引出电极、屏蔽电极、聚焦电极、加速电极、狭缝片和单透镜；其中聚焦电极为左右两半的结构，表示为第一聚焦电极和第二聚焦电极；该校正装置的电位器组共三个，分别对应引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
在使用磁质谱仪器前，需调节各电位器的滑片，使离子峰的峰形达到最佳、峰强达到最大；具体测量时，可如图1所示，当质量数小于2.5时，质量数判断模块控制高压继电器KM2-Y、KM2-J1、KM2-J2接通，对应的电位器W2-Y、W2-J1、W2-J2输出相应电位到引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
当质量数大于2.5但小于3.5时，质量数判断模块控制高压继电器KM3-Y、KM3-J1、KM3-J2接通，对应的电位器W3-Y、W3-J1、W3-J2输出相应电位到引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
当质量数大于3.5但小于4.5时，质量数判断模块控制高压继电器KM4-Y、KM4-J1、KM4-J2接通，对应的电位器W4-Y、W4-J1、W4-J2输出相应电位到引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
当质量数大于4.5但小于5.5时，质量数判断模块控制高压继电器KM5-Y、KM5-J1、KM5-J2接通，对应的电位器W5-Y、W5-J1、W5-J2输出相应电位到引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
当质量数大于5.5但小于6.5时，质量数判断模块控制高压继电器KM6-Y、KM6-J1、KM6-J2接通，对应的电位器W6-Y、W6-J1、W6-J2输出相应电位到引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
当质量数大于6.5时，质量数判断模块控制高压继电器KM-Y、KM-J1、KM-J2接通，对应的电位器WM-Y、WM-J1、WM-J2输出相应电位到引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
通过利用本发明，可最大限度地消除质量歧视效应的影响。
试验时，将本发明应用于BFQT-7型质谱计（Rm=25cm）进行氢同位素丰度分析中，各电参数组能快速准确切换，保证了各离子的灵敏度。
Claims (3)
1.一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，其特征在于：包括多个电位器组，每组电位器中由多个独立相同的电位器组成，各电位器并联，两端接在电极在分压器电路板对应的电压输出端上，各电位器滑动端通过相应高压继电器接在电极上，高压继电器的接通受质量数判断模块控制，工作时，每组电位器只有一个能通过高压继电器接通输出。
2.根据权利要求1所述的一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，其特征在于：所述每组电位器中有6个独立电位器，分别对应不同的质量数。
3.根据权利要求1所述的一种离子源电参数质量歧视自动校正装置，其特征在于：所述电位器组共三个，分别对应引出电极、第一聚焦电极和第二聚焦电极。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201320891100.9U CN203733758U (zh) | 2013-12-31 | 2013-12-31 | 一种离子源电参数质量歧视自动校正装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201320891100.9U CN203733758U (zh) | 2013-12-31 | 2013-12-31 | 一种离子源电参数质量歧视自动校正装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN203733758U true CN203733758U (zh) | 2014-07-23 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201320891100.9U Withdrawn - After Issue CN203733758U (zh) | 2013-12-31 | 2013-12-31 | 一种离子源电参数质量歧视自动校正装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN203733758U (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103700565A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-02 | 四川红华实业有限公司 | 一种离子源电参数质量歧视自动校正装置与方法 |
| CN109632939A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-16 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种使用离子探针测量惰性气体的方法及其系统 |
| WO2020113426A1 (zh) * | 2018-12-04 | 2020-06-11 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种使用离子探针测量惰性气体的方法及其系统 |
-
2013
- 2013-12-31 CN CN201320891100.9U patent/CN203733758U/zh not_active Withdrawn - After Issue
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103700565A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-02 | 四川红华实业有限公司 | 一种离子源电参数质量歧视自动校正装置与方法 |
| CN103700565B (zh) * | 2013-12-31 | 2016-08-10 | 四川红华实业有限公司 | 一种离子源电参数质量歧视自动校正装置与方法 |
| CN109632939A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-16 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种使用离子探针测量惰性气体的方法及其系统 |
| CN109632939B (zh) * | 2018-12-04 | 2020-01-10 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种使用离子探针测量惰性气体的方法及其系统 |
| WO2020113426A1 (zh) * | 2018-12-04 | 2020-06-11 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种使用离子探针测量惰性气体的方法及其系统 |
| US11101126B2 (en) | 2018-12-04 | 2021-08-24 | Institute Of Geology And Geophysics, Chinese Academy Of Sciences | Method and system for measuring inert gas by ion probe |
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