CN203606403U - Cd型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻的测量装置,包括两个测量针,通过导线与接触电阻测量仪连接;其特征是,所述的两个测量针为定、动测量针,针头向上分别安装在测量架上,其中定测量针相对测量架作上下位移,动测量针相对测量架作上下和横向位移。适用于各种型号的CD型非晶合金磁芯碟片之间接触电阻的测量,使测量时测量针接触压力一致,确保测量数据具有一致性。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电阻测量装置,具体说是一种用于CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻的测量装置。提升了测量数据的可靠性和一致性。
背景技术
非晶合金材料具有优异的电磁性能,近年来得到迅速发展,其具有的高导磁率、低损耗的特点,在电力电子、计算机、通讯、航空航天等高新技术领域得到了广泛的应用,特别是在太阳能发电领域,用于制造逆变器的电感磁芯,大量采用CD型非晶合金磁芯,因此其生产量在逐渐扩大,在CD型非晶合金磁芯的制造环节中需要测量切口处碟片之间的接触电阻,目前的具体方法是直接用欧姆表手工操作测量。操作者手持测量针触压切口表面,由于人为因素的影响,导致测量误差,压力大小不均,难以保证测量结果的可靠性和一致性。
发明内容
鉴于上述现状,本实用新型提供了一种CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻的测量装置,保证了测量结果的一致性。同时也提升了测量效率,满足了大批量的生产需要。
本实用新型的技术解决方案是:一种CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置,包括两个测量针,通过导线与接触电阻测量仪连接;所述的两个测量针为定、动测量针,针头向上分别安装在测量架上,其中定测量针相对测量架作上下位移,动测量针相对测量架作上下和横向位移。因此,通过专门设计测量装置,可以提高测量效率及可靠一致性,避免了人为测量时所产生的误差及效率低的问题。同时可满足各种型号的CD型非晶合金磁芯碟片之间接触电阻的测量。
本新型中,所述的定、动测量针的本体上具有一个定、动挡圈,通过定、动挡圈限位在两个测量架之间,所述的定、动测量针分别安装在其中一测量架上的定位孔和调节孔内,定、动测量针与测量架之间安装有定、动弹簧。利用弹簧弹力调节定、动测量针与被测CD型磁芯切口面之间的接触。另外,通过可调节的动测量针,适应各种不同规格的CD型磁芯的测量。
本新型中,所涉及的定、动测量针针头头部为球形。
本实用新型通过专门设置的定、动测量针,可以提升了测量数据的可靠性和一致性。因此,具有测量效率高,同时可适应各种不同规格的CD型磁芯的测量。
附图说明
图1是本新型的示意图。
具体实施方式
下面将结合附图实施例,对本实用新型作进一步说明。
参见附图1所示的CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置,本实施例的两个测量针为定、动测量针5、8,针头向上分别安装在测量架3、12上,其中定测量针(5)相对测量架(3、12)作上下位移,动测量针(8)相对测量架(3、12)作上下和横向位移。将定、动测量针5、8通过定、动导线2和13与接触电阻测量仪1连接。本实施例的定、动测量针5、8与测量架3、12的安装,所述的定、动测量针5、8的本体上具有一个定、动挡圈6、10,通过定、动挡圈6、10限位在两个测量架3、12之间,所述的定、动测量针5、8分别安装在其中一测量架上的定位孔4和调节孔9内,定、动测量针5、8与测量架3、12之间安装有定、动弹簧7、11。因此,测量CD型非晶合金磁芯切口处碟片之间的接触电阻时,根据CD型非晶合金磁芯的规格调整只需调节动测量针8的横向位移,将被测CD型磁芯切口面向下放置在定、动测量针5、8针头之上,定、动测量针5、8靠定、动弹簧7、11的弹力抵住切口面即可直接完成测量。本实施例的定、动测量针5、8针头头部为球形。避免测量时测量针扎入碟片。
Claims (3)
1.一种CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置,包括两个测量针,通过导线与接触电阻测量仪连接;其特征是,所述的两个测量针为定、动测量针(5、8),针头向上分别安装在测量架(3、12)上,其中定测量针(5)相对测量架(3、12)作上下位移,动测量针(8)相对测量架(3、12)作上下和横向位移。
2.根据权利1所述的CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置,其特征是,所述的定、动测量针(5、8)的本体上具有一个定、动挡圈(6、10),通过定、动挡圈(6、10)限位在两个测量架(3、12)之间,所述的定、动测量针(5、8)分别安装在其中一测量架上的定位孔(4)和调节孔(9)内,定、动测量针(5、8)与测量架(3、12)之间安装有定、动弹簧(7、11)。
3.根据权利1所述的CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置,其特征是,定、动测量针(5、8)针头头部为球形。
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