CN203561721U - 一种漏电流测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种漏电流测试装置,其解决了现有泄漏电流测试仪结构复杂、使用不方便、成本高的技术问题,其包括漏电流测试单元、逆变器、示波器、5V直流电源单元和电流表;漏电流测试单元设有直流端、交流端和信号端,交流端与逆变器连接,信号端与示波器连接,直流端通过电流表与5V直流电源单元连接。本实用新型广泛用于电器产品的漏电流检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,特别是涉及一种漏电流测试装置。
背景技术
众所周知,泄漏电流是衡量电器绝缘性好坏的重要指标之一,泄漏电流测试仪用于测量电器的工作电源(或其他电源)通过绝缘或分布参数阻抗产生的与工作无关的泄漏电流。现有的泄漏电流测试仪结构复杂,使用不方便,成本高。
发明内容
本实用新型就是为了解决现有泄漏电流测试仪结构复杂、使用不方便、成本高的技术问题,提供了一种结构简单、使用方便、成本低的漏电流测试装置。
本实用新型提供的漏电流测试装置,包括漏电流测试单元、逆变器、示波器、5V直流电源单元和电流表;漏电流测试单元设有直流端、交流端和信号端,交流端与逆变器连接,信号端与示波器连接,直流端通过电流表与5V直流电源单元连接;
漏电流测试单元包括通断电开关和八条支路电路;第一条支路包括30mA/60mA档位切换开关、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻和第六电阻,第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻串联在一起,第一电阻并联在第二电阻两端;第二条支路包括30mA/60mA档位切换开关、第七电阻、第八电阻、第九电阻和第十电阻,第七电阻和第九电阻串联在一起,第八电阻和第十电阻串联在一起后并联在第七电阻和第九电阻两端,第四电阻和第五电阻之间的节点与第九电阻连接;第三条支路包括串联在一起的第一电容和150mA档位切换开关,第四条支路包括串联在一起的第二电容和第二开关,第五条支路包括串联在一起的第三电容和第三开关,第六条支路包括串联在一起的第四电容和第四开关,第七条支路包括串联在一起的第五电容和第五开关,第八条支路包括串联在一起的第六电容和第六开关;
第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻的规格分别为50w/2KΩ、50w/2KΩ、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/3KΩ、10w/3KΩ、10w/3KΩ、10w/3KΩ,第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容的规格分别为2.2μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF。
本实用新型的有益效果是,结构简单、集成度高、体积小、成本低,操作起来简单方便,无需可调电容或滑动变阻器等元件,测试效率高,适合在流水线批量生产中使用。
本实用新型进一步的特征,将在以下具体实施方式的描述中,得以清楚地记载。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是漏电流测试单元的电路原理图。
附图符号说明:
1.漏电流测试单元,2.逆变器,3.示波器,4.5V直流电源单元,5.电流表,R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7、R8、R9、R10分别为第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻,C1、C2、C3、C4、C5、C6分别为第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容。
具体实施方式
如图1所述,本实用新型包括漏电流测试单元1、逆变器2、示波器3、5V直流电源单元4和电流表5,漏电流测试单元1设有直流端、交流端和信号端,交流端与逆变器2连接,信号端与示波器3连接,直流端通过电流表5与5V直流电源单元4连接。
如图2所示,漏电流测试单元1主要由电阻、电容、开关组成,包括四个档位,分别是30mA、60mA、150mA、300mA。
漏电流测试单元1包括8条支路,每条支路都是通过on/off开关与外界5V直流电源单元4连接,on/off开关起通/断电作用。
第一条支路由30mA/60mA档位切换开关S30/60控制通断,包括串联在一起的第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6,第一电阻R1并联在第二电阻R2两端。
第二条支路由30mA/60mA档位切换开关S30/60控制通断,包括以下电路,第八电阻R8、第十电阻R10串联后并联在串联的第七电阻R7和第九电阻R9两端,再与第五电阻R5、第六电阻R6串联。
第三条支路包括串联的第一电容C1和150mA档位切换开关S150,第四条支路包括串联的第二电容C2和第二开关S2,第五条支路包括串联的第三电容C3和第三开关S3,第六条支路包括串联的第四电容C4和第四开关S4,第七条支路包括串联的第五电容C5和第五开关S5,第八条支路包括串联的第六电容C6和第六开关S6。
漏电流测试单元电路中各个电阻、电容的规格大小可以是以下数值:
第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10分另为50w/2KΩ、50w/2KΩ、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/3KΩ、10w/3KΩ、10w/3KΩ、10w/3KΩ。
第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6分另为2.2μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF。
使用30mA档测试30mA突变电流时,先将漏电流测试单元的on/off开关打到off状态,再用30mA/60mA档位切换开关S30/60接通第二条支路,其他的开关处于断开状态,然后给逆变器2供电,最后将on/off开关打到on状态,用示波器3抓取从on/off开关打到on状态这一时刻到逆变器2无输出的时刻的时间段大小,并且将该时间值与标准值对比。
使用60mA档测试60mA突变电流时,先将on/off开关打到off状态,再用30mA/60mA档位切换开关S30/60接通第一条支路,其他的开关处于断开状态,然后给逆变器2供电,最后将on/off开关打到on状态,用示波器3抓取从on/off开关打到on状态这一时刻到逆变器无输出的时刻的时间段大小,并且将该时间值与标准值对比。
使用150mA档测试150mA突变电流时,先将on/off开关打到off状态,再用30mA/60mA档位切换开关S30/60接通第一条支路、使150mA档位切换开关S150闭合,其他的开关处于断开状态,然后给逆变器2供电,最后将on/off开关打到on状态,用示波器3抓取从on/off开关打到on状态这一时刻到逆变器无输出的时刻的时间段大小,并且将该时间值与标准值对比。
使用300mA档测试300mA突变电流时,先将on/off开关打到off状态,再用30mA/60mA档位切换开关S30/60接通第一条支路、使150mA档位切换开关S150闭合,然后给逆变器2供电,再然后将on/off开关打到on状态,当电流表5显示的电流达到150mA附近时,开始按顺序依次将开关S2到S6闭合,最后用示波器3抓取从on/off开关打到on状态这一时刻到逆变器2无输出的时刻的时间段大小,并且将该时间值与标准值对比。
以上所述仅对本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡是在本实用新型的权利要求限定范围内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应在本实用新型的保护范围之内。
Claims (1)
1.一种漏电流测试装置,其特征在于,包括漏电流测试单元、逆变器、示波器、5V直流电源单元和电流表;所述漏电流测试单元设有直流端、交流端和信号端,所述交流端与所述逆变器连接,所述信号端与所述示波器连接,所述直流端通过所述电流表与所述5V直流电源单元连接;
所述漏电流测试单元包括通断电开关和八条支路电路;第一条支路包括30mA/60mA档位切换开关、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻和第六电阻,所述第二电阻、所述第三电阻、所述第四电阻、所述第五电阻、所述第六电阻串联在一起,所述第一电阻并联在所述第二电阻两端;第二条支路包括30mA/60mA档位切换开关、第七电阻、第八电阻、第九电阻和第十电阻,所述第七电阻和所述第九电阻串联在一起,所述第八电阻和所述第十电阻串联在一起后并联在所述第七电阻和第九电阻两端,所述第四电阻和所述第五电阻之间的节点与所述第九电阻连接;第三条支路包括串联在一起的第一电容和150mA档位切换开关,第四条支路包括串联在一起的第二电容和第二开关,第五条支路包括串联在一起的第三电容和第三开关,第六条支路包括串联在一起的第四电容和第四开关,第七条支路包括串联在一起的第五电容和第五开关,第八条支路包括串联在一起的第六电容和第六开关;
所述第一电阻、所述第二电阻、所述第三电阻、所述第四电阻、所述第五电阻、所述第六电阻、所述第七电阻、所述第八电阻、所述第九电阻、所述第十电阻的规格分别为50w/2KΩ、50w/2KΩ、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/200Ω、10w/3KΩ、10w/3KΩ、10w/3KΩ、10w/3KΩ,所述第一电容、所述第二电容、所述第三电容、所述第四电容、所述第五电容、所述第六电容的规格分别为2.2μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF、0.68μF。
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CN108241119A (zh) * | 2017-11-10 | 2018-07-03 | 精华电子(苏州)有限公司 | 漏电流测试系统及方法 |
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