CN203519667U - 用于片式微波器件的调测架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种用于片式微波器件的调测架，包括底座、矩形连接块和压条和调节螺栓。底座的顶面的两个长边处各设有一道凹槽；在凹槽内置有一个或一个以上的矩形连接块；在矩形连接块的顶部安置有压条，通过调节螺栓将压条与底座连接，从而将矩形连接块可拆卸地固定在底座上。本产品的电路结构简洁、噪声弱，省略掉了传统结构中所必须的微波PCB板及相应的传输线，驻波更小；矩形连接块的位置可调节，能对端口数量及位置不同的多种片式微波器件进行测试，通用性强，既有利于减少重复设计，节约资源，提升多种片式微波器件的研发效率。
Description
技术领域
本实用新型属于检测工件技术领域；具体涉及一种用于片式微波器件的调测架。
技术背景
片式微波器件测试架用途十分广泛。目前，微波系统正逐步向轻小型化方向发展，相应的，构成系统的各类微波器件也在朝着轻小型化、易集成方向发展。微波器件种类繁多，基于轻小型系统需求的片式微波器件更是不断推陈出新，片式化水平及可集成水平逐步提升，这对测试技术、测试方法和测试手段也不断的提出新的要求。考虑易与系统集成的需求，片式微波器件通常以微带传输线直接引出，不能直接与测试电缆连接，因此，需要设计专门的测试架以测试其电性能。但是，专门的测试架一般仅针对某特定型号片式微波器件设计，其测试接口与底座常常做成一体，相对位置固化，不能调节，导致测试架用途单一。对于新设计开发的片式器件，由于端口间距、电尺寸、结构尺寸等的差异，常常需要设计制作新的测试架。这不仅会造成物资和精力的浪费，也会降低片式微波器件的研发效率。
此外，常见的片式微波器件测试架，一般由相互固定连接的测试底座、射频连接器和微波PCB板三个部分组成，接口的位置不能调节，仅能用于某特定端口间距、电尺寸、结构尺寸的片式微波器件的测试，通用性差；而且测试时，待测器件必须经过微波PCB板才能与射频连接器连接，使用不便。
实用新型内容
本实用新型的目的，在于提供一种用于片式微波器件的调测架，实现对端口不同空间分布的多种片式微波器件的测试，既有利于减少重复设计，节约物资与精力，又能提升片式微波器件的研发效率。本实用新型的结构具体如下：
用于片式微波器件的调测架，包括底座1。所述底座1为矩形块，底座1的顶面的两个长边处各设有一道凹槽11；在靠近凹槽11端部的底座1顶部开有螺纹孔；
在凹槽11内置有一个或一个以上的矩形连接块4，所述的矩形连接块4为矩形块；矩形连接块4的高度大于凹槽11的深度；矩形连接块4的外侧面上设有SMP射频接口41，矩形连接块4的内侧面上设有金属触头42，SMP射频接口41与金属触头42之间通过导线相连接；此外还设有压条2和调节螺栓3；压条2为两端开有螺纹孔的长条，且压条2长于凹槽11的长度。在矩形连接块4的顶部安置有压条2，通过一对调节螺栓3将压条2与底座1连接，从而将矩形连接块4可拆卸地固定在底座1上。
此外，底座1为金属材质；矩形连接块4的高度大于凹槽11的2倍深度；金属触头42设置在矩形连接块4内侧面的中心。
有益的技术效果：
本产品的电路结构简洁、噪声弱，省略掉了传统结构中所必须的微波PCB板及相应的传输线，驻波更小；矩形连接块4的位置可调节，能对端口数量及位置不同的多种片式微波器件进行测试，通用性强，既有利于减少重复设计，节约资源，提升多种片式微波器件的研发效率。
附图说明
图1为本产品的立体示意图。
图2为图1的主视图。
图3为图1的左视图。
图4为图1的俯视图。
图5为图1中底座的立体示意图。
图6为本产品的使用状态示意图。
图中的序号为：底座1、压条2、调节螺栓3、矩形连接块4、待测片式微波器件5、凹槽11、SMP射频接口41、金属触头42。
具体实施方式
下面结合附图，通过实施例对本实用新型作进一步地说明。
参见图1，用于片式微波器件的调测架，包括底座1。所述底座1为矩形块，底座1的顶面的两个长边处各设有一道凹槽11；在靠近凹槽11端部的底座1顶部开有螺纹孔；详见图5。
参见图2，在凹槽11内置有一个或一个以上的矩形连接块4，所述的矩形连接块4为矩形块；矩形连接块4的高度大于凹槽11的深度；矩形连接块4的外侧面上设有SMP射频接口41，矩形连接块4的内侧面上设有金属触头42，SMP射频接口41与金属触头42之间通过导线相连接。
参见图3，矩形连接块4的外侧面，即设有SMP射频接口41的矩形连接块4的侧面均朝向底座1的外侧；矩形连接块4的内侧面，即设有金属触头42的矩形连接块4的侧面均朝向底座1的内侧、放置待测片式微波器件5的区域。
参见图4，矩形连接块4可在凹槽11内水平移动，针对待测片式微波器件5的具体形貌做适应性调整。图6即为一个具有三个检测端口的待测片式微波器件5在本产品上进行检测的示意图。
参见图1，此外还设有压条2和调节螺栓3；压条2为两端开有螺纹孔的长条，且压条2长于凹槽11的长度。在矩形连接块4的顶部安置有压条2，通过一对调节螺栓3将压条2与底座1连接，从而将矩形连接块4可拆卸地固定在底座1上，详见图2。
参见图2，底座1为金属材质。矩形连接块4的高度大于凹槽11的2倍深度；金属触头42设置在矩形连接块4内侧面的中心。
使用时，将待测片式微波器件5置于底座1测试台面的中部位置，使待测片式微波器件5的接地面与金属底座3的台面贴合；之后，将矩形连接块4置于凹槽11内且与待测片式微波器件5的端口位置相对应，使得金属触头42与待测片式微波器件5的射频端口对正连接；之后，用调节螺栓3将压条2连同矩形连接块4一同和底座1固定连接，确保金属触头42与待测片式微波器件5的射频端口紧密连接，随后进行电讯指标测试。
Claims (3)
1.用于片式微波器件的调测架，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）为矩形块，底座（1）的顶面的两个长边处各设有一道凹槽（11）；在靠近凹槽（11）端部的底座（1）顶部开有螺纹孔；在凹槽（11）内置有一个或一个以上的矩形连接块（4），所述的矩形连接块（4）为矩形块；矩形连接块（4）的高度大于凹槽（11）的深度；矩形连接块（4）的外侧面上设有SMP射频接口（41），矩形连接块（4）的内侧面上设有金属触头（42），SMP射频接口（41）与金属触头（42）之间通过导线相连接；
此外还设有压条（2）和调节螺栓（3）；压条（2）为两端开有螺纹孔的长条，且压条（2）长于凹槽（11）的长度；
在矩形连接块（4）的顶部安置有压条（2），通过一对调节螺栓（3）将压条（2）与底座（1）连接，从而将矩形连接块（4）可拆卸地固定在底座（1）上。
2.如权利要求1所述的用于片式微波器件的调测架，其特征在于，底座（1）为金属材质。
3.如权利要求1所述的用于片式微波器件的调测架，其特征在于，矩形连接块（4）的高度大于凹槽（11）的2倍深度；金属触头（42）设置在矩形连接块（4）内侧面的中心。
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2013
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