CN208109884U - 一种温补衰减器老化测试夹具 - Google Patents
一种温补衰减器老化测试夹具 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种温补衰减器老化测试夹具，包括夹具基板，夹具基板上设有测试电路板，夹具基板左侧位于测试电路板边缘设有SMA输入接口，夹具基板右侧位于测试电路板边缘相对SMA输入接口设有SMA输出接口，夹具基板中部设有固定装置，固定装置包括位于上层的压板及位于下层的弹性压条，压板与弹性压条两端分别设有框形连接架，两端框形连接架上分别设有手动螺钉，压板与弹性压条之间设有固定柱，固定柱贯穿弹性压条并设有固定压片。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子器件领域，尤其涉及一种温补衰减器老化测试夹具。
背景技术
温补衰减器是近几年才逐步发展起来的新型微波无源器件，如何对该产品的性能指标及可靠性进行测试及验证，是这一类型新产品面对的主要问题；目前实现这一类产品的测试主要是将温补衰减器焊装在电路板上进行测试，导致焊装后的温补衰减器报废不能实现发货，这种测试方法的缺点是不能实现产品的无损测试。
实用新型内容
本实用新型的目的在于，克服现有技术的上述缺陷，提供一种温补衰减器老化测试夹具。
为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案如下：一种温补衰减器老化测试夹具，包括夹具基板，夹具基板上设有测试电路板，夹具基板左侧位于测试电路板边缘设有SMA输入接口，夹具基板右侧位于测试电路板边缘相对SMA输入接口设有SMA输出接口，夹具基板中部设有固定装置，固定装置包括位于上层的压板及位于下层的弹性压条，压板与弹性压条两端分别设有框形连接架，两端框形连接架上分别设有手动螺钉，压板与弹性压条之间设有固定柱，固定柱贯穿弹性压条并设有固定压片。
进一步的，固定压片底部设有测试载片。
进一步的，SMA输入接口数量为4个，SMA输出接口数量与SMA输入接口数量相互对应。
进一步的，固定柱数量分别与SMA输入接口及SMA输出接口数量相互对应。
更进一步的，温补衰减器老化测试夹具工作温度为-55℃-150℃。
更进一步的，温补衰减器射频范围为DC～26.5GHz。
本实用新型的有益之处是：结构简单，使用方便，能实现同时对四颗温补衰减器施加功率老化后并进行无损测试，从而解决温补衰减器老化试验的测试问题，值得广泛推广。
附图说明
图1是本实用新型一种温补衰减器老化测试夹具的立体示意图。
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施例就本实用新型的技术方案作进一步的说明。
如图1所示，本实用新型所述的一种温补衰减器老化测试夹具，包括夹具基板1，夹具基板1上设有测试电路板2，夹具基板1左侧位于测试电路板2左侧边缘设有SMA输入接口3，夹具基板1右侧位于测试电路板3右侧边缘相对SMA输入接口3设有SMA输出接口4，夹具基板1中部设有固定装置，固定装置包括位于上层的压板5及位于下层的弹性压条6，压板5与弹性压条6左端与右端分别连接设有框形连接架7，两端框形连接架7上分别设有手动螺钉71，压板5与弹性压条6之间设有固定柱8，固定柱8贯穿弹性压条6并在其端部设有固定压片9。
进一步的，固定压片9底部设有测试载片91。
进一步的，SMA输入接口3数量为4个，SMA输出接口4数量与SMA输入接口数量相互对应。
进一步的，固定柱8数量分别与SMA输入接口3及SMA输出接口4数量相互对应。
更进一步的，温补衰减器老化测试夹具工作温度为-55℃-150℃。
更进一步的，温补衰减器射频范围为DC～26.5GHz。
更进一步的，扭紧压板5两端框形连接架7上的手动螺钉71后，压板5受压向下移动，固定柱8随之向下移动，此时，固定压片9底部的测试载片91与测试电路板2紧密接触。
以上，将温补衰减器待测件直接放置在测试载片91上，将两端框形连接架7上的螺钉71分别锁紧，压板5受压向下移动，压板5与弹性压条6之间的固定柱8随之向下移动，并将测试载片91上的温补衰减器待测件压紧在测试电路板2上，再将SMA输入接口3与SMA输出接口4分别与矢量网络分析仪等测试设备连接，即可实现温补衰减器的无损老化测试。
以上所述的仅是本实用新型的原理和较佳实施例。应当指出，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还能做出若干的变型和改进，也应视为属于本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种温补衰减器老化测试夹具，包括夹具基板，夹具基板上设有测试电路板，其特征在于：所述夹具基板左侧位于测试电路板边缘设有SMA输入接口，夹具基板右侧位于测试电路板边缘相对SMA输入接口设有SMA输出接口，夹具基板中部设有固定装置，固定装置包括位于上层的压板及位于下层的弹性压条，压板与弹性压条两端分别设有框形连接架，两端框形连接架上分别设有手动螺钉，压板与弹性压条之间设有固定柱，固定柱贯穿弹性压条并设有固定压片。
2.根据权利要求1所述的一种温补衰减器老化测试夹具，其特征在于：所述固定压片底部设有测试载片。
3.根据权利要求1所述的一种温补衰减器老化测试夹具，其特征在于：所述SMA输入接口数量为4个，SMA输出接口数量与SMA输入接口数量相互对应。
4.根据权利要求1所述的一种温补衰减器老化测试夹具，其特征在于：所述固定柱数量分别与SMA输入接口及SMA输出接口数量相互对应。
5.根据权利要求1所述的一种温补衰减器老化测试夹具，其特征在于：所述温补衰减器老化测试夹具工作温度为-55℃-150℃。
Priority Applications (1)
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| CN201820586517.7U CN208109884U (zh) | 2018-04-24 | 2018-04-24 | 一种温补衰减器老化测试夹具 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201820586517.7U CN208109884U (zh) | 2018-04-24 | 2018-04-24 | 一种温补衰减器老化测试夹具 |
Publications (1)
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| CN208109884U true CN208109884U (zh) | 2018-11-16 |
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ID=64116574
Family Applications (1)
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| CN201820586517.7U Active CN208109884U (zh) | 2018-04-24 | 2018-04-24 | 一种温补衰减器老化测试夹具 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN208109884U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112881898A (zh) * | 2021-02-24 | 2021-06-01 | 李彩芬 | 一种集成电路高温老化测试装置 |
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2018
- 2018-04-24 CN CN201820586517.7U patent/CN208109884U/zh active Active
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