CN203518983U - 一种开关间隙测试仪 - Google Patents

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黄灿超
郭世杰
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Abstract

一种开关间隙测试仪,包括支撑底座,支撑底座上设有检测机构,所述检测机构包括直线电机及其驱动的滑移支撑座,滑移支撑座上安装有编码器,编码器的下方连接测量探头。所述滑移支撑座与编码器之间设有用于调整编码器及测量探头位置的上下调整机构。本实用新型的结构简单,操作方便,且由于其结构设计合理,测得结果准确度高,能够适用于不同型号的精密开关的间隙测量。

Description

一种开关间隙测试仪
技术领域
本实用新型涉及一种开关装配间隙测试装置,尤其涉及一种用于检测精密开关在装配后按钮触角到弹簧片之间的间隙大小的仪器。
背景技术
由于制造等各方面原因,精密开关在装配时开关触角到弹簧片之间的间隙存在着误差。这个误差大小是精密开关的重要性能指标之一。因此,精密开关装配间隙性能试验十分必要。目前,尚没有用于检测精密开关装配间隙的专用仪器设备。 
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种开关间隙测试仪,能够检测精密开关的间隙数据,结构简单,操作方便,且测量结果可靠。
  为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:一种开关间隙测试仪,包括支撑底座,支撑底座上设有检测机构,所述检测机构包括直线电机及其驱动的滑移支撑座,滑移支撑座上安装有编码器,编码器的下方连接测量探头。
所述滑移支撑座与编码器之间设有用于调整编码器及测量探头位置的上下调整机构。
所述上下调整机构包括伺服电机和精密丝杆,所述精密丝杆通过联轴器与伺服电机连接;滑移支撑座上设有用于配合固定伺服电机和精密丝杆的电机支撑座及轴承座;精密丝杆上设有丝母,编码器安装在编码器支座上,通过丝母在精密丝杆上上下移动带动编码器的上下移动。
所述滑移支撑座下设有直线导轨副。
所述测试仪还包括用于控制滑移支撑座及测量探头移动带动编码器转动的控制电路。
通过本实用新型能够解决以下问题:精密开关装配间隙测量范围为0.1-1mm,且能实现无极可调,测量精确度为±0.01 mm。
本实用新型具有以下有益效果:
操作简便、安全可靠;同时能够检测不同型号精密的装配间隙数据数据,能够做到“一机多用”, 从而降低了检测成本。
附图说明                                                                        
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的结构主视图。
图2是本实用新型的结构右视图。
具体实施方式
如图1-图2所示,一种开关间隙测试仪,包括支撑底座1,支撑底座上设有检测机构2,所述检测机构包括直线电机3及其驱动的滑移支撑座4,滑移支撑座4上安装有编码器5,编码器5的下方连接测量探头6。通过直线电机3驱动滑移支撑座4,从而使测量探头6能够在精密开关的开关按钮触头和开关簧片之间直线移动,所述测试仪还包括用于控制滑移支撑座及测量探头移动带动编码器转动的控制电路和开关9;由于测量探头6在移动过程中会发生微小的偏转,带动高精密编码器5旋转,编码器显示转动数据。记录转动数据,并加上测量探头的厚度值就是开关按钮触头和开关簧片之间的装配间隙数据。
所述滑移支撑座4与编码器5之间设有用于调整编码器及测量探头位置的上下调整机构7,以保证检测测量探头能够适应不同规格型号的精密开关测试要求。所述上下调整机构7包括伺服电机71和精密丝杆72,所述精密丝杆通过联轴器73与伺服电机连接;滑移支撑座4上设有用于配合固定伺服电机71和精密丝杆72的电机支撑座41及轴承座42;精密丝杆72上设有丝母74,编码器5安装在编码器支座75上;其工作原理为:固定在滑移支撑座上的伺服电机驱动精密丝杆正反转动,精密丝杆带动通过丝母带动编码器支座75及编码器5上下移动。
进一步的,为了保证测量探头在开关按钮触头和开关簧片之间直线移动的精度,在所述滑移支撑座4下设有直线导轨副43。
精密开关8在装配后,按钮触角81和簧片82之间存在着一定的间隙,该间隙大小直接影响开关的性能。因此,需要对精密开关的装配间隙进行测量。在使用本实用新型进行测量时,具体的操作步骤为:
首先将精密开关安装到支撑底座1上,并紧固螺栓固定;然后按下控制开关,接通控制电路,通过伺服电机71和直线电机3分别控制测量探头的上下位置及水平位置,对准探头的位置后,使探头在按钮触角81和簧片82之间直线移动,进而带动编码器旋转进行测量。

Claims (5)

1.一种开关间隙测试仪,其特征在于:包括支撑底座(1),支撑底座上设有检测机构(2),所述检测机构包括直线电机(3)及其驱动的滑移支撑座(4),滑移支撑座(4)上安装有编码器(5),编码器(5)的下方连接测量探头(6)。
2.根据权利要求1所述的开关间隙测试仪,其特征在于:所述滑移支撑座(4)与编码器(5)之间设有用于调整编码器及测量探头位置的上下调整机构(7)。
3.根据权利要求2所述的开关间隙测试仪,其特征在于:所述上下调整机构(7)包括伺服电机(71)和精密丝杆(72),所述精密丝杆通过联轴器(73)与伺服电机连接;滑移支撑座(4)上设有用于配合固定伺服电机(71)和精密丝杆(72)的电机支撑座(41)及轴承座(42);精密丝杆(72)上设有丝母(74),编码器(5)安装在编码器支座(75)上,通过丝母在精密丝杆(72)上上下移动带动编码器(5)的上下移动。
4.根据权利要求1-3之一所述的开关间隙测试仪,其特征在于:所述滑移支撑座(4)下设有直线导轨副(43)。
5.根据权利要求1-3之一所述的开关间隙测试仪,其特征在于:所述测试仪还包括用于控制滑移支撑座及测量探头移动带动编码器转动的控制电路。
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