CN203396794U - 一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，包括上、下分别设置的盖体和底座，在所述底座上设有多个底部具有贯穿孔的狭长空腔，在所述狭长空腔内卡设有弹性接触件，且所述弹性接触件的末端穿过狭长空腔上的贯穿孔而伸出于底座的外部，在所述底座内滑动安装有限位滑块，一一对应于狭长空腔的位置、在所述限位滑块上设有开口槽，在所述限位滑块的一端与底座的侧壁之间设有压缩弹簧，在另一端设有与底座销接的偏心手柄。本实用新型能够克服现有老炼测试插座在接触电阻、老炼工作温度、使用寿命、高低温循环试验时低温硬化、结霜以及额定工作电流方面的不足。

Description

一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座

技术领域

本实用新型涉及一种测试插座，尤其是涉及一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座。

背景技术

随着国内国防军工、航天、航空、航海、通信等重点项目的飞速发展，金属封装大功率电路元器件的应用越来越广泛，随之而来的对相应的高性能的老炼测试插座的需求也越来越大。目前，国内针对金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座很少，且不能完全满足大功率老炼测试的要求，主要体现在接触电阻偏大且不稳定、老炼温度低、使用寿命短、高低温循环试验时低温硬化、结霜以及额定工作电流低。

目前该类老炼测试插座主要依赖国外进口，其价格昂贵，进口周期长，特殊规格无法定制，并且有禁运风险，严重影响我国军用电子元器件研发生产进度。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，以克服现有老炼测试插座在接触电阻、老炼工作温度、使用寿命、高低温循环试验时低温硬化、结霜以及额定工作电流方面的不足。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，包括上、下分别设置的盖体和底座，在所述底座上设有多个底部具有贯穿孔的狭长空腔，在所述狭长空腔内卡设有弹性接触件，且所述弹性接触件的末端穿过狭长空腔上的贯穿孔而伸出于底座的外部，在所述底座内滑动安装有限位滑块，一一对应于狭长空腔的位置、在所述限位滑块上设有开口槽，在所述限位滑块的一端与底座的侧壁之间设有压缩弹簧，在另一端设有与底座销接的偏心手柄。

进一步的，作为一种具体的实施方式，本实用新型在所述底座的两侧轴向对称的设置有12个狭长空腔。

进一步的，为了便于放置待测试器件，本实用新型在所述盖体和底座的中部均设有待测试器件的矩形容纳腔。

进一步的，作为一种安装方式，本实用新型所述盖体和底座通过沉头十字螺钉固定连接。

进一步的，作为一种具体的结构形式，本实用新型所述弹性接触件横截面呈字母“Y”的结构，且弹性接触件的开口端部朝上且两个伸出端分别与狭长空腔的内壁紧贴，所述弹性接触件的末端穿过狭长空腔上的贯穿孔而伸出于底座的外部以用于连接线路板。

进一步的，作为一种具体的安装方式，本实用新型所述偏心手柄通过轴销与底座连接。

进一步的，为了偏心手柄顺利实现夹紧以及松开的动作，本实用新型在所述偏心手柄的端部与限位滑块的端部之间设有挡块。

采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果为：本实用新型结构简单，设计合理，能够专用于金属封装大功率电路元器件在通电状态下进行高低温老炼、测试、筛选及可靠性试验，适用于引线根数12线、节距为5.08mm的金属封装大功率电路元器件的老炼测试，本方案不仅能将老炼工作温度范围稳定在-55℃～+150℃，一次老炼连续工作时间可长达1500h（150℃）以上，插拔寿命10000次以上，而且在对被测试器件进行高温老炼测试和性能测试过程中，接触电阻小、一致性好、可靠性高，同时具有零插拔力、表面耐磨和使用方便等优点，且额定工作电流可达10A，大大提高了插座的可靠性和使用寿命，填补了国内空白，可替代进口，为国家节约了大量外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。

附图说明  

图1是本实用新型实施例的剖视图；

图2是本实用新型实施例的俯视图；

其中：1.底座，2.弹性接触件，3.限位滑块，4.轴销，5.偏心手柄，6.挡块，7.压缩弹簧，8.盖体，9.沉头十字螺钉，10.狭长空腔。

具体实施方式  

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

如图1和图2所示金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，包括上、下分别设置的盖体8和底座1，在所述盖体8和底座1的中部均设有待测试器件的矩形容纳腔，盖体8的矩形容纳腔的两侧分别有2个较高的凸台用于支撑待测试器件，盖体8的两边分别有一个长方形的凸台用于定位待测试器件。

且所述盖体8和底座1通过沉头十字螺钉9固定连接，在所述底座1的两侧轴向对称的设置有12个底部具有贯穿孔的狭长空腔10，在所述狭长空腔10内卡设有弹性接触件2，且所述弹性接触件2的末端穿过狭长空腔10上的贯穿孔而伸出于底座1的外部，在所述底座1内滑动安装有限位滑块3，一一对应于狭长空腔10的位置、在所述限位滑块3上设有开口槽，在所述限位滑块3的一端与底座1的侧壁之间设有压缩弹簧7，在另一端设有与通过轴销4与底座1连接的偏心手柄5，在所述偏心手柄5的端部与限位滑块3的端部之间设有挡块6。

其中，所述弹性接触件2横截面呈字母“Y”的结构，且弹性接触件2的开口端部朝上且两个伸出端分别与狭长空腔10的内壁紧贴，所述弹性接触件2的末端穿过狭长空腔10上的贯穿孔而伸出于底座1的外部以用于连接线路板，作为老炼测试插座的最重要的部件，弹性接触件2的设计最为关键，本实施例中的弹性接触件2呈“Y”型结构，在“Y”型的弹性接触件2的上端增加了折弯设计，在保证了合适的夹紧力的前提下将弹性接触件2与待测试器件引出线之间的钢性接触件转化为弹性接触，从而使得待测试器件的引出线不被夹伤、镀层不被破换，同时也保护了弹性接触件2的镀层并且延长了老炼测试插座本身的使用寿命。

本实施例在安装时，先将接触件即弹性接触件2按与被试器件引出线相对应的结构插入底座1中，再将限位滑块3按图1所示位置放入底座1中，然后装上压缩弹簧7，再将挡块6装入限位滑块3上的槽，然后将轴销4穿入偏心手柄5上的轴孔内并装入底座1中，最后将盖体8盖上，并用沉头十字螺钉9将其与底座1锁紧。

本实施例中的锁紧机构由偏心手柄5、挡块6、限位滑块3组成，当插座处于非工作状态时，在压缩弹簧7和弹性接触件2的弹性作用下偏心手柄5保持与插座体呈90°夹角，弹性接触件2的簧片的开口处为张开状态。工作时，将待测试器件放入插座中，待测试器件的引出线被定位到对应的弹性接触件2的开口内，然后通过将偏心手柄5向下翻转90°，带动限位滑块3产生水平位移使弹性接触件2的开口处闭合达到夹紧待测试器件引出线的目的，然后偏心手柄5在压缩弹簧7和弹性接触件2的反弹力的作用下被自然地固定在水平的位置，在没有外力的作用下不会自己弹开。测试完成后，将偏心手柄5向上翻转90°，限位滑块3在压缩弹簧7和弹性接触件2的弹力下自动回位，接着弹性接触件2的开口处打开，然后取出待测试器件，进行下一轮测试或老炼工作。

这种推拉式结构加上弹性接触设计把插座设计成零插拔力的结构，避免了在插拔过程中对被试器件损伤，同时该结构可以避免插座过程磨损插座接触件电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老炼测试和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点。

本实用新型不局限于上述具体的实施方式，本领域的普通技术人员从上述构思出发，不经过创造性的劳动，所作出的种种变换，均落在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1. 一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，其特征在于：包括上、下分别设置的盖体（8）和底座（1），在所述底座（1）上设有多个底部具有贯穿孔的狭长空腔（10），在所述狭长空腔（10）内卡设有弹性接触件（2），且所述弹性接触件（2）的末端穿过狭长空腔（10）上的贯穿孔而伸出于底座（1）的外部，在所述底座（1）内滑动安装有限位滑块（3），一一对应于狭长空腔（10）的位置、在所述限位滑块（3）上设有开口槽，在所述限位滑块（3）的一端与底座（1）的侧壁之间设有压缩弹簧（7），在另一端设有与底座（1）销接的偏心手柄（5）。

2.如权利要求1所述金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，其特征在于：在所述底座（1）的两侧轴向对称的设置有12个狭长空腔（10）。

3. 如权利要求1所述金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，其特征在于：在所述盖体（8）和底座（1）的中部均设有待测试器件的矩形容纳腔。

4. 如权利要求1所述金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，其特征在于：所述盖体（8）和底座（1）通过沉头十字螺钉（9）固定连接。

5. 如权利要求1所述金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，其特征在于：所述弹性接触件（2）横截面呈字母“Y”的结构，且弹性接触件（2）的开口端部朝上且两个伸出端分别与狭长空腔（10）的内壁紧贴，所述弹性接触件（2）的末端穿过狭长空腔（10）上的贯穿孔而伸出于底座（1）的外部以用于连接线路板。

6. 如权利要求1所述金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，其特征在于：所述偏心手柄（5）通过轴销（4）与底座（1）连接。

7. 如权利要求1所述金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座，其特征在于：在所述偏心手柄（5）的端部与限位滑块（3）的端部之间设有挡块（6）。

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