CN203365599U - 一种继电器连接状态检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种继电器连接状态检测装置，包括光耦开关Op-_1、光耦开关Op-_2、单片机MCU，光耦开关Op-_1一个输出端接入电池Bat正极与继电器之间，另一个输出端与光耦开关Op-_2阳极控制端之间接有电阻R2，光耦开关Op-_2一个控制端接入继电器与电阻R1之间，另一个控制端接入单片机MCU的输出OUT_1，光耦开关Op-_2的一个输出端接入电压VCC，光耦开关Op-_2的另一个输出端分为两路，一路接入单片机MCU的输入IN_1，另一路通过电阻R4接地。本实用新型检测方法电路更加简单，控制逻辑清晰，是实现继电器连接状态检测的有效装置。
Description
技术领域
本实用新型涉及继电器检测装置领域，具体为一种继电器连接状态检测装置。
背景技术
高压大电流直流回路中，由于继电器长期处于大电流工作、高压大电流开关状态，使用一段时间后会发生继电器触点烧结短路或断开的现象，影响回路的正常工作，特别是会造成对电池组的过度使用引起安全事故，因此，需对主回路继电器的连接状态进行有效监控。
当前判断继电器连接状态的方法有很多，典型的有两种方案：对继电器线圈开关状态检测的线圈判断法、对继电器触点开关状态检测的触点判断法。线圈判断法通过判断线圈上的电流或两端电压，判断继电器工作状态的开关，但这种方法仅可判断出继电器触点正常情况下的线圈工作状态，无法判断出继电器触点损坏的情况，不符合最终检测目的。
如图2所示。图2为通过电压检测方法检测开关状态的示意图。其中，电池Bat、继电器K1、负载R1组成了应用回路，继电器K1对回路进行有效保护。单片机MCU通过运算放大器Op AMP实现对继电器两端电压的检测，并通过两个开关Op_1和Op_2实现对检测回路的控制。该方法可有效检测出继电器两端的电压，通过判断其电压为0V判断其处于连接状态，电压同Bat电压则为断开状态。
该电路可实现对继电器连接状态的检测，但电路复杂，检测繁琐，需更简单有效的方法实现继电器连接状态的检测。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种继电器连接状态检测装置，以解决现有技术存在的问题。
为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案为：
一种继电器连接状态检测装置，所述继电器一端连接一个负载R1的一端，负载R1的另一端连接一个电池Bat的负极，电池Bat的正极连接继电器的另一端，由继电器、负载R1、电池Bat构成回路，其特征在于：包括光耦开关Op-_1、光耦开关Op-_2、单片机MCU，所述光耦开关Op-_1集电极输出端接入电池Bat正极与继电器之间，光耦开关Op-_1发射极输出端与光耦开关Op-_2阳极控制端之间接有电阻R2，光耦开关Op-_2阴极控制端接入继电器与电阻R1之间，所述光耦开关Op-_1的阳极控制端接入单片机MCU的输出OUT_1，光耦开关Op-_1的阴极控制端通过电阻R3接地，光耦开关Op-_2的集电极输出端接入电压VCC，光耦开关Op-_2的发射极输出端分为两路，一路接入单片机MCU的输入IN_1，另一路通过电阻R4接地。
所述的一种继电器连接状态检测装置，其特征在于：所述单片机MCU还与继电器线圈RL连接。
本实用新型检测方法电路更加简单，控制逻辑清晰，是实效继电器连接状态检测的有效装置。
附图说明
图1为本实用新型电路原理图。
图2为现有技术通过电压检测方法检测开关状态的示意图。
具体实施方式
如图1所示。一种继电器连接状态检测装置，继电器K1一端连接一个负载R1的一端，负载R1的另一端连接一个电池Bat的负极，电池Bat的正极连接继电器的另一端，由继电器K1、负载R1、电池Bat构成回路，包括光耦开关Op-_1、光耦开关Op-_2、单片机MCU，光耦开关Op-_1集电极输出端接入电池Bat正极与继电器之间，光耦开关Op-_1发射极输出端与光耦开关Op-_2阳极控制端之间接有电阻R2，光耦开关Op-_2阴极控制端接入继电器K1与电阻R1之间，光耦开关Op-_1的阳极控制端接入单片机MCU的输出OUT_1，光耦开关Op-_1的阴极控制端通过电阻R3接地，光耦开关Op-_2的集电极输出端接入电压VCC，光耦开关Op-_2的发射极输出端分为两路，一路接入单片机MCU的输入IN_1，另一路通过电阻R4接地。单片机MCU还与继电器K1线圈RL连接。
电池Bat、继电器K1、负载R1组成了应用回路；单片机MCU、光耦开关Op_1、Op_2及相关限流电阻R2、R3、R4组成继电器连接状态判断回路。
单片机MCU通过对继电器K1线圈RL的管理实现对继电器通断的控制。
光耦开关Op_1平时处于断开状态，此时Op_1输出端与电阻R2、光耦Op_2控制端组成的继电器连接状态处于非工作状态；此时单片机MCU输出OUT_1为低电平、单片机MCU输入IN_1为低电平。
单片机MCU需检测继电器连接状态时，控制OUT_1输出高电平，光耦开关Op_1输出闭合；若继电器K1处于吸合状态，继电器K1两端电压为0V，此时Op_1输出端与电阻R2、光耦Op_2控制端回路两端电压为0，回路不工作，光耦Op_1不工作，因此单片机MCU检测到其输入IN_1为低电平。若继电器K1处于断开状态，继电器K1两端电压为同电池Bat电压，此时Op_1输出端与电阻R2、光耦Op_2控制端组成的回路两端也存在同电池Bat端电压相同的压降，该回路可导通工作，光耦Op_1输出处于闭合状态，此时单片机MCU检测到其输入IN_1为高电平。
因此，当单片机MCU输出OUT_1为高电平时，控制光耦开关Op_1输出闭合，此时若单片机MCU输入IN_1为低电平，则继电器K1处于连接状态；若单片机MCU输入IN_1为高电平，则继电器K1处于断开状态。
进而单片机MCU也可结合对继电器K1线圈RL的控制状态，判断继电器是否工作正常。若单片机MCU控制继电器K1的线圈RL吸合，而继电器K1却处于断开状态，则可判断继电器K1输出断路，不能正常吸合；若单片机MCU控制继电器K1的线圈RL断开，而继电器K1却处于吸合状态，则可判断继电器K1输出短路，出现烧结等现象，不能正常断开。这些情况均需对继电器进行重新检修或更换，以保证回路的正常工作。
Claims (2)
1.一种继电器连接状态检测装置，所述继电器一端连接一个负载R1的一端，负载R1的另一端连接一个电池Bat的负极，电池Bat的正极连接继电器的另一端，由继电器、负载R1、电池Bat构成回路，其特征在于：包括光耦开关Op-_1、光耦开关Op-_2、单片机MCU，所述光耦开关Op-_1集电极输出端接入电池Bat正极与继电器之间，光耦开关Op-_1发射极输出端与光耦开关Op-_2阳极控制端之间接有电阻R2，光耦开关Op-_2阴极控制端接入继电器与电阻R1之间，所述光耦开关Op-_1的阳极控制端接入单片机MCU的输出OUT_1，光耦开关Op-_1的阴极控制端通过电阻R3接地，光耦开关Op-_2的集电极输出端接入电压VCC，光耦开关Op-_2的发射极输出端分为两路，一路接入单片机MCU的输入IN_1，另一路通过电阻R4接地。
2.根据权利要求1所述的一种继电器连接状态检测装置，其特征在于：所述单片机MCU还与继电器线圈RL连接。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN 201320368360 CN203365599U (zh) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | 一种继电器连接状态检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 201320368360 CN203365599U (zh) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | 一种继电器连接状态检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN203365599U true CN203365599U (zh) | 2013-12-25 |
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Family Applications (1)
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| CN 201320368360 Expired - Lifetime CN203365599U (zh) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | 一种继电器连接状态检测装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN203365599U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108832673A (zh) * | 2018-06-06 | 2018-11-16 | 西安特锐德智能充电科技有限公司 | 直流充电系统、pdu及充电通路的启动充电检测方法 |
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2013
- 2013-06-25 CN CN 201320368360 patent/CN203365599U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108832673A (zh) * | 2018-06-06 | 2018-11-16 | 西安特锐德智能充电科技有限公司 | 直流充电系统、pdu及充电通路的启动充电检测方法 |
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