CN203310963U - 一种简易led光电特性测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种简易LED光电特性测试系统，包括LCD液晶显示模块、STM32微处理器、按键控制模块、LED光源、恒流驱动电路和光学测量模块，所述LCD液晶显示模块和按键控制模块分别与STM32微处理器，所述STM32微处理器包括A/D转换器和D/A转换器，所述D/A转换器依次与恒流驱动电路和LED光源连接，所述LED光源与A/D转换器连接，本实用新型的有益效果是，通过利用STM32微处理器为核心，设计了简易的LED光电特性系统，用于测试LED的伏安特性，发光强度，主波长等LED特性，其整个系统简洁，智能，成本低廉，在一些LED的研究和应用领域可以代替昂贵的光谱分析仪等专用设备，测试精度达到实用要求。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种简易LED光电特性测试系统。
背景技术
随着科学技术迅速发展，专用的LED光电特性测试设备结构复杂，特别是光学特性测试要用到光谱仪、光度计等，虽然仪器有着精度高的特点，但仍然具有结构复杂、成本高、体积较大，携带和使用很不方便，系统稳定性受到限制等缺点，因此这种仪器只能停留在大型分析测试实验，应用范围难以扩展。
研制一种小体积、低价格，精度虽不很高，但能满足一般性要求的LED光电测量仪器成为目前仪器发展的一个趋势。
虽然LED的光电特性参数很多，但对大多数用户来说，主要是关心LED伏安特性及LED发光亮度与电流的关系，因此本文所设计的系统主要是完成这两项参数的测试，另外通过简单的软硬件扩展，还可测试得到LED的相关色温、主波长、光强分布等参数，用于LED的特性研究及驱动电路的设计等应用开发。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种结构简单，成本低廉，且智能方便快捷精确的简易LED光电特性测试系统。
本实用新型是通过以下技术方案来实现的：
一种简易LED光电特性测试系统，包括LCD液晶显示模块、STM32微处理器、按键控制模块、LED光源、恒流驱动电路和光学测量模块，所述LCD液晶显示模块和按键控制模块分别与STM32微处理器，所述STM32微处理器包括A/D转换器和D/A转换器，所述D/A转换器依次与恒流驱动电路和LED光源连接，所述LED光源与A/D转换器连接。
作为优选的技术方案，所述LED光源发出光线输送到光学测量模块，所述光学测量模块与STM32微处理器连接。
本实用新型的简易LED光电特性测试系统有益效果是，通过利用STM32微处理器为核心，设计了简易的LED光电特性系统，用于测试L E D的伏安特性，发光强度，相关色温，主波长等LED特性，其整个系统简洁，智能，成本低廉，在一些LED的研究和应用领域可以代替昂贵的光谱分析仪等专用设备，测试精度达到实用要求。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的一种简易LED光电特性测试系统的系统图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型的一种简易LED光电特性测试系统，包括LCD液晶显示模块、STM32微处理器、按键控制模块、LED光源、恒流驱动电路和光学测量模块，所述LCD液晶显示模块和按键控制模块分别与STM32微处理器，所述STM32微处理器包括A/D转换器和D/A转换器，所述D/A转换器依次与恒流驱动电路和LED光源连接，所述LED光源与A/D转换器连接。
其中，所述LED光源发出光线输送到光学测量模块，所述光学测量模块与STM32微处理器连接。
操作过程为，由按键控制模块或LCD液晶显示模块上的触摸屏控制STM32微处理器，内部的D/A转换器产生控制电压，该电压控制外部的恒流驱动电路产生LED工作所需的恒定电流加到LED光源上，LED上产生的电压降经信号放大调整电路后被STM32内部的A/D转换器采集，从而测得LED光源的伏安特性。另外，通过光学测量模块测量LED发出的光线转换成数字信号，由STM32微处理器，从而测得LED光源的发光亮度等光学特性。
本实用新型的简易LED光电特性测试系统有益效果是，通过利用STM32微处理器为核心，设计了简易的LED光电特性系统，用于测试L E D的伏安特性，发光强度，相关色温，主波长等LED特性，其整个系统简洁，智能，成本低廉，在一些LED的研究和应用领域可以代替昂贵的光谱分析仪等专用设备，测试精度达到实用要求。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (2)
1.一种简易LED光电特性测试系统，其特征在于：包括LCD液晶显示模块、STM32微处理器、按键控制模块、LED光源、恒流驱动电路和光学测量模块，所述LCD液晶显示模块和按键控制模块分别与STM32微处理器，所述STM32微处理器包括A/D转换器和D/A转换器，所述D/A转换器依次与恒流驱动电路和LED光源连接，所述LED光源与A/D转换器连接。
2.根据权利要求1所述的简易LED光电特性测试系统，其特征在于：所述LED光源发出光线输送到光学测量模块，所述光学测量模块与STM32微处理器连接。
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Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| CN103616629A (zh) * | 2013-12-02 | 2014-03-05 | 南阳理工学院 | 一种全自动二极管伏安特性测试装置 |
| CN104316295A (zh) * | 2014-11-03 | 2015-01-28 | 广东威创视讯科技股份有限公司 | 一种led器件的光电测试方法及装置 |
| CN106970477A (zh) * | 2017-04-07 | 2017-07-21 | 深圳市帝晶光电科技有限公司 | 一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法 |
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