CN106970477A - 一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法 - Google Patents

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陈良忠
欧阳生运
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Shenzhen Dili Photoelectric Technology Co Ltd
Shenzhen DJN Optronics Technology Co Ltd
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Shenzhen Dili Photoelectric Technology Co Ltd
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    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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Abstract

本发明公开了一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法，方法如下：按下按键，测试设备开始工作，光电传感器采集LCD所发出的光，转换为电流输出，电阻将光电传感器输出的电流输出转换为电压，ADC转换器把光电传感器输出的模拟信号转换为数字信号并输出到微处理器，微处理器处理数字信号，并通过算法计算液晶响应时间，并将计算出来的液晶响应时间显示在显示器上；测试完成后按下按键停止测试。本发明测试稳定，成本低，携带方便，操作简单，可实现TN、IPS等液晶模组的液晶响应时间测试，提升了液晶的生产效率和质量。

Description

一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法
技术领域
本发明属于液晶显示技术领域，具体地说，涉及一种基于光电传感器的液 晶响应时间简易测试方法。
背景技术
目前随着液晶行业发展，高清视频越来越多，传输速度越快，所以需要更 快的液晶响应速度，所以液晶响应时间测试尤为重要。目前行业前沿的液晶模 组厂，使用的液晶响应时间均需在实验室里测试，机台重量大，面积大，成本 高，操作繁琐。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服上述缺陷，提供了一种基于光电传感器的 液晶响应时间简易测试方法，测试稳定，成本低，携带方便，操作简单，可实 现TN、IPS等液晶模组的液晶响应时间测试，提升了液晶的生产效率和质量。
为解决上述问题，本发明所采用的技术方案是：
一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法，其特征在于：
所述的液晶响应时间简易测试设备包括与采集LCD所发出的光的光电传感 器、与光电传感器连接的微处理器以及与微处理器连接的显示器；所述光电传 感器与微处理器之间的电路上有电阻和ADC转换器，微处理器连接有电源接口 和按键；
液晶响应时间简易测试设备的工作方法如下：按下按键，测试设备开始工 作，光电传感器采集LCD所发出的光，转换为电流输出，电阻将光电传感器输 出的电流输出转换为电压，ADC转换器把光电传感器输出的模拟信号转换为数 字信号并输出到微处理器，微处理器处理数字信号，并通过算法计算液晶响应 时间，并将计算出来的液晶响应时间显示在显示器上；测试完成后按下按键停 止测试。
作为一种优化的技术方案，所述微处理器采用的是单片机。
作为一种优化的技术方案，所述光电传感器为EL7900光电传感器。
作为一种优化的技术方案，所述微处理器连接有Flash模块。
作为一种优化的技术方案，所述显示器采用的是LED显示器。
由于采用了上述技术方案，与现有技术相比，本发明通过光电传感器EL7900 与微处理器和显示管结合，其原理为光电传感器EL7900把图像信号转换成电信 号，再通过微处理器对数据的处理和运算，算出液晶响应时间，即Tr与Tf。再 通过显示管显示出来。设备面积小型化，可达5mm*8mm。
本发明测试稳定，成本低，携带方便，操作简单，可实现TN、IPS等液晶 模组的液晶响应时间测试，提升了液晶的生产效率和质量。
同时下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步说明。
附图说明
图1为本发明一种实施例的结构框图；
图2为本发明的电路原理图。
具体实施方式
实施例：
如图1所示，液晶响应时间简易测试设备包括与采集LCD所发出的光的光 电传感器、与光电传感器连接的微处理器以及与微处理器连接的显示器；所述 光电传感器与微处理器之间的电路上有电阻和ADC转换器，微处理器连接有电 源接口和按键。
液晶响应时间简易测试设备的工作方法如下：按下按键，测试设备开始工 作，光电传感器采集LCD所发出的光，转换为电流输出，电阻将光电传感器输 出的电流输出转换为电压，ADC转换器把光电传感器输出的模拟信号转换为数 字信号并输出到微处理器，微处理器处理数字信号，并通过算法计算液晶响应 时间，并将计算出来的液晶响应时间显示在显示器上；测试完成后按下按键停 止测试。
所述微处理器采用的是单片机。所述光电传感器为EL7900光电传感器。所 述微处理器连接有Flash模块。所述显示器采用的是LED显示器。
本发明通过光电传感器EL7900与微处理器和显示管结合，其原理为光电传 感器EL7900把图像信号转换成电信号，再通过微处理器对数据的处理和运算， 算出液晶响应时间，即Tr与Tf。再通过显示管显示出来。设备面积小型化，可 达5mm*8mm。
本发明测试稳定，成本低，携带方便，操作简单，可实现TN、IPS等液晶 模组的液晶响应时间测试，提升了液晶的生产效率和质量。
本发明不局限于上述的优选实施方式，任何人应该得知在本发明的启示下 做出的结构变化，凡是与本发明具有相同或者相近似的技术方案，均属于本发 明的保护范围。

Claims (5)

1.一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法，其特征在于：
所述的液晶响应时间简易测试设备包括与采集LCD所发出的光的光电传感器、与光电传感器连接的微处理器以及与微处理器连接的显示器；所述光电传感器与微处理器之间的电路上有电阻和ADC转换器，微处理器连接有电源接口和按键；
液晶响应时间简易测试设备的工作方法如下：
按下按键，测试设备开始工作，光电传感器采集LCD所发出的光，转换为电流输出，电阻将光电传感器输出的电流输出转换为电压，ADC转换器把光电传感器输出的模拟信号转换为数字信号并输出到微处理器，微处理器处理数字信号，并通过算法计算液晶响应时间，并将计算出来的液晶响应时间显示在显示器上；测试完成后按下按键停止测试。
2.根据权利要求1所述的一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法，其特征在于：所述微处理器采用的是单片机。
3.根据权利要求1所述的一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法，其特征在于：所述光电传感器为EL7900光电传感器。
4.根据权利要求1所述的一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法，其特征在于：所述微处理器连接有Flash模块。
5.根据权利要求1所述的一种基于光电传感器的液晶响应时间简易测试方法，其特征在于：所述显示器采用的是LED显示器。
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