CN203203939U - 电解铜箔透光点在位检测装置 - Google Patents

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蒋先伟
沈晶
李志�
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Abstract

本实用新型公开了一种电解铜箔透光点在位检测装置，包括控制计算机、两台CCD摄像机、图像采集卡、显示器和控制键盘；所述两台CCD摄像机中的每一台CCD摄像机均与图像采集卡相连接，所述图像采集卡与所述控制计算机相连接；所述控制计算机还设置有所述显示器和控制键盘。本实用新型的电解铜箔透光点在位检测装置，具有可在线对铜箔的针孔进行高精度地检测、检测成本低、提高了铜箔的产品质量等优点。

Description

电解铜箔透光点在位检测装置
技术领域
本实用新型涉及一种电解铜箔透光点在位检测装置。
背景技术
电解铜箔是覆铜板(CCL)及印制电路板(PCB)制造的重要的材料。有透光点的铜箔在用户压板使用时会造成覆铜板透胶，使覆铜板与不锈钢板粘结在一起；用这样的覆铜板制作成的线路板，如果针孔在导电线路上，极易造成断路。目前铜箔制造厂在生产线上只能用精密仪器检测约15微米以上的针孔，对于小于15微米的针孔和所有的渗透点，只能采用染色评价法抽样测试。针孔和渗透点在覆铜板压合过程中，融化的树脂会从铜箔孔隙中流出，在铜箔表面形成树脂点，影响覆铜板质量。
这种传统透胶检测方式，一方面是不在线检测方式；另一方面若采用了该覆铜板制作成线路板可能会导致胶膜覆盖下的铜在氯化铁溶液里蚀刻时，因接触不到溶液，本应该被腐蚀掉的铜因有胶膜保护而不能被腐蚀掉，则会使线路相互连接，造成线路板的短路。上述方法不能有效的保证产品质量，且检测成本较高。
实用新型内容
本实用新型是为避免上述已有技术中存在的不足之处，提供一种电解铜箔透光点在位检测装置，以实现电解铜箔透光点在位检测、提高产品质量。
本实用新型为解决技术问题采用以下技术方案。
电解铜箔透光点在位检测装置，其结构特点是，包括控制计算机、两台CCD摄像机、图像采集卡、显示器和控制键盘；所述两台CCD摄像机中的每一台CCD摄像机均与图像采集卡相连接，所述图像采集卡与所述控制计算机相连接；所述控制计算机还设置有所述显示器和控制键盘。
本实用新型的电解铜箔透光点在位检测装置的结构特点也在于：
所述显示器为LCD显示器。
所述图像采集卡包括视频输入接口、A/D转换器和视频输出接口；所述两台CCD摄像机包括第一CCD摄像机和第二CCD摄像机；所述第一CCD摄像机和第二CCD摄像机均与所述视频输入接口相连接，所述视频输入接口与所述A/D转换器相连接，所述A/D转换器与所述视频输出接口相连接，所述视频输出接口与所述控制计算机相连接。
与已有技术相比，本实用新型有益效果体现在：
采用两台CCD摄像机，通过双目视觉结合本技术进行图像处理，解决含有较小尺寸（15微米以下）透光点的铜箔在位难以检测的难题。而采用该技术能很好的实现在线检出原来只有用户采用透胶方式才可能发现的针孔，可满足批量生产在位检测的要求，有利于提高生产效率，降低材料及劳动力成本，可以解决传统检测方式不能实现在位检测且会造成原材料浪费的难题，也利于降低成本，增加产品合格率。本实用新型的电解铜箔透光点在位检测装置，处理后针孔图像特征明显，并有以参考点为原点的坐标显示；可降低原有检测难度，提高检测精度，稳定可靠；降低成本，减少透胶检测造成的浪费；及时发现问题，不会因问题发现之后而造成含有透光点铜箔继续生产；通用性强，适用于所有铜箔生产领域，产品操作简单。
本实用新型的电解铜箔透光点在位检测装置，具有可在线对铜箔的针孔进行高精度地检测、检测成本低、提高了铜箔的产品质量等优点。
附图说明
图1为本实用新型的电解铜箔透光点在位检测装置的结构图。
图2为本实用新型的电解铜箔透光点在位检测装置的处理前后的铜箔图像。
以下通过具体实施方式，并结合附图对本实用新型作进一步说明。
具体实施方式
参见附图1，电解铜箔透光点在位检测装置包括控制计算机、两台CCD摄像机、图像采集卡、显示器和控制键盘；所述两台CCD摄像机中的每一台CCD摄像机均与图像采集卡相连接，所述图像采集卡与所述控制计算机相连接；所述控制计算机还设置有所述显示器和控制键盘。
所述显示器为LCD显示器。
所述图像采集卡包括视频输入接口、A/D转换器和视频输出接口；所述两台CCD摄像机包括第一CCD摄像机和第二CCD摄像机；所述第一CCD摄像机和第二CCD摄像机均与所述视频输入接口相连接，所述视频输入接口与所述A/D转换器相连接，所述A/D转换器与所述视频输出接口相连接，所述视频输出接口与所述控制计算机相连接。
由CCD摄像机对生产线上的铜箔进行视频拍摄，并将拍摄的视频实时地传输给图像采集卡，由图像采集卡对通过视频输入接口获取CCD摄像机传输的视频数据，然后对视屏数据进行数模转换，并将数模转换后的视屏数据通过视频输出接口传输给控制计算机。工作人员通过控制键盘对整个系统进行操作，并通过控制键盘输入控制参数。在显示器上显示铜箔的图像，铜箔的针孔也同时在显示器上被显示（如图2所示）。
CCD是Charge Coupled Device(电荷耦合器件)的缩写，它是一种半导体成像器件，因而具有灵敏度高、抗强光、畸变小、体积小、寿命长、抗震动等优点。被摄物体的图像经过镜头聚焦至CCD芯片上，CCD根据光的强弱积累相应比例的电荷，各个像素积累的电荷在视频时序的控制下，逐点外移，经滤波、放大处理后，形成视频信号输出。视频信号连接到监视器或电视机的视频输入端便可以看到与原始图像相同的视频图像，能够获取清楚的铜箔图像。
本实用新型选择图像采集卡对CCD摄像机获取的视频图像进行分析和处理。又称图像捕捉卡，是一种可以获取数字化视频图像信息，并将其存储和播放出来的硬件设备。很多图像采集卡能在捕捉视频信息的同时获得伴音，使音频部分和视频部分在数字化时同步保存、同步播放。由计算机对CCD摄像机获取图像的处理，解决动态图像的匹配、三维重建出透光点图像及透光点位置信息的给出等问题。实现过程是通过对图像进行平滑去噪，边缘提取，阈值分割，边缘细化，拟合等一系列处理方法，最终快速准确地确定透光点在图像中的位置信息，得出特征明显的图像。图2含孔铜箔图像及经过本实用新型的检测装置处理后的图像，图像左半部分为处理前的图像，右侧半部分为处理后的图像，处理后的图像中，图像的底色为黑色而孔的部位为白色，很容易分辨出是否有针孔，可以发现本实用新型不仅可以提取出肉眼明显可见针孔图像，对于不明显可见针孔亦可以检测出，可获得特征明显的透光点图像；还能以铜箔在传送带处左下角为原点给出透光点位置。
本实用新型的电解铜箔透光点在位检测装置，采用CCD摄像机作为图像获取装置，能够获取良好的铜箔图像，通过图像采集卡强大的图像处理能力对铜箔的图像进行分析处理，从而可以自动地对铜箔的针孔的位置进行辨别，不仅能快速获取针孔铜箔图像，而且能得出其坐标值，针孔大小测量精度可达0.01微米，在检测速度、数据量方面远远超过传统的检测方式。具有可提高铜箔的瑕疵检测效率、检测可靠性高、降低了铜箔瑕疵的误检率和漏检率等优点。

Claims (3)

1.电解铜箔透光点在位检测装置，其特征是，包括控制计算机、两台CCD摄像机、图像采集卡、显示器和控制键盘；所述两台CCD摄像机中的每一台CCD摄像机均与图像采集卡相连接，所述图像采集卡与所述控制计算机相连接；所述控制计算机还设置有所述显示器和控制键盘。
2.根据权利要求1所述的电解铜箔透光点在位检测装置，其特征是，所述显示器为LCD显示器。
3.根据权利要求1所述的电解铜箔透光点在位检测装置，其特征是，所述图像采集卡包括视频输入接口、A/D转换器和视频输出接口；所述两台CCD摄像机包括第一CCD摄像机和第二CCD摄像机；所述第一CCD摄像机和第二CCD摄像机均与所述视频输入接口相连接，所述视频输入接口与所述A/D转换器相连接，所述A/D转换器与所述视频输出接口相连接，所述视频输出接口与所述控制计算机相连接。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104483329A (zh) * 2014-11-27 2015-04-01 成都北斗在线检测设备有限公司 一种铝箔针孔在线检测系统及其检测方法
CN108020514A (zh) * 2018-01-18 2018-05-11 广东嘉元科技股份有限公司 一种铜箔表面色差检测与修复装置

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