CN203148445U - 一种测绘仪器检校微调装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测绘仪器检校微调装置，包括机架，所述机架内设有轴，所述轴上套接有基座，基座的顶部具有顶板，所述顶板上具有凹槽，凹槽内设有基板，基板上固定设有连接板，所述连接板上平行设有若干个套圈；所述套圈的外圆周上均匀设有6个调节螺栓，套圈套接有光管，所述顶板的底部螺纹连接有微调手轮；微调手轮的数量为4个，所述4个微调手轮在顶板的底部均匀设置；所述套圈的数量为5个，所述5个套圈在连接板上均匀设置；使用时，调节6个调节螺栓，将光柱调节到精确位置，微调手轮的设置，方便在竖直方向上进行微调，微调手轮的位置与套圈的位置相对应，采用本实用新型进行调节，可精确调节光柱的位置，方便使用。

Description

一种测绘仪器检校微调装置

技术领域

本实用新型涉及一种检测仪器，特别涉及一种测绘仪器检校微调装置。

背景技术

测绘仪器校验台中的光管，是安装在检校台的两个固定套圈中，在套圈与光柱之间设有十字对角的四只调整螺杆将其固定在套圈中，还可以通过四支调整螺杆调节光管与套圈的相对位置，从而起到调节光管中轴线的作用，这种调整方法调节精度低、误差大。 

用四支调节螺杆调节，在微量调节是不好控制，往往调节不到合适的位置，对测绘仪器的精度产生影响。

发明内容

本实用新型所要解决的问题是提供调整精度高的一种测绘仪器检校微调装置。

为解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案是：

一种测绘仪器检校微调装置，包括机架，所述机架内设有轴，所述轴上套接有基座，基座的顶部具有顶板，所述顶板上具有凹槽，凹槽内设有基板，基板上固定设有连接板，所述连接板上平行设有若干个套圈；所述套圈的外圆周上均匀设有6个调节螺栓，套圈套接有光管，所述顶板的底部螺纹连接有微调手轮。

作为进一步的改进：

微调手轮的数量为4个，所述4个微调手轮在顶板的底部均匀设置。

所述套圈的数量为5个，所述5个套圈在连接板上均匀设置。

使用时，调节6个调节螺栓，将光柱调节到精确位置，微调手轮的设置，方便在竖直方向上进行微调，微调手轮的位置与套圈的位置相对应，采用本实用新型进行调节，可精确调节光柱的位置，方便使用。

下面结合附图对本实用新型作进一步描述。

附图说明  

附图1本实用新型实施例一种测绘仪器检校微调装置的结构示意图；

附图2为附图1的右视图。

图中：

1-机架；2-轴；3-固定螺栓；4-基座；5-微调手轮；6-顶板；7-基板；8-连接板；9-套圈；10-光管；11-调节螺杆；12-凹槽。

具体实施方式

实施例，如图1和附图2所述所示，一种测绘仪器检校微调装置，包括机架1，所述机架1内设有轴2，所述轴2上套接有基座4，基座4的顶部具有顶板6，所述顶板6上具有凹槽12，凹槽12内设有基板7，基板7上固定设有连接板8，所述连接板8上平行设有若干个套圈9；所述套圈9的外圆周上均匀设有6个调节螺栓11，套圈9套接有光管10，所述顶板6的底部螺纹连接有微调手轮5；微调手轮5的数量为4个，所述4个微调手轮5在顶板6的底部均匀设置；所述套圈9的数量为5个，所述5个套圈9在连接板8上均匀设置；机架1上设有可将轴2固定的调节螺栓。

使用时，调节6个调节螺栓11，将光柱10调节到精确位置，微调手轮5的设置，方便在竖直方向上进行微调，微调手轮5的位置与套圈9的位置相对应，采用本实用新型进行调节，可精确调节光柱10的位置，方便使用。

Claims (3)

1.一种测绘仪器检校微调装置，包括机架（1），其特征在于：所述机架（1）内设有轴（2），所述轴（2）上套接有基座（4），基座（4）的顶部具有顶板（6），所述顶板（6）上具有凹槽（12），凹槽（12）内设有基板（7），基板（7）上固定设有连接板（8），所述连接板（8）上平行设有若干个套圈（9）；所述套圈（9）的外圆周上均匀设有6个调节螺栓（11），套圈（9）套接有光管（10），所述顶板（6）的底部螺纹连接有微调手轮（5）。

2.如权利要求1所述的一种测绘仪器检校微调装置，其特征在于：微调手轮（5）的数量为4个，所述4个微调手轮（5）在顶板（6）的底部均匀设置。

3.如权利要求2所述的一种测绘仪器检校微调装置，其特征在于：所述套圈（9）的数量为5个，所述5个套圈（9）在连接板（8）上均匀设置。

Images