CN203148379U - 一种用于检测的理石平台 - Google Patents

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黎娜
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Abstract

本实用新型公开了一种用于检测的理石平台,包括笔式传感器、台面和地脚,所述的地脚安装在台面的上方,所述的笔式传感器安装在台面内。本实用新型测量精度高、测量方便、效率高、范围广。

Description

一种用于检测的理石平台
技术领域
本实用新型涉及机械加工检测技术领域,尤其涉及一种用于检测的理石平台。
背景技术
高精度平面度检测通常是在理石平台上用工装固定压力式气动测头,通过气动测头与电子柱配套使用的方式来实现测量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服上述的不足,提供一种用于检测的理石平台。
本实用新型为实现上述目的所采用的技术方案是:一种用于检测的理石平台,包括笔式传感器、台面和地脚,所述的地脚安装在台面的上方,所述的笔式传感器安装在台面内。
所述的地脚通过小嵌套、螺钉一安装在台面的上方。
所述的笔式传感器通过大嵌套、传感器固定板安装在台面内。
所述的笔式传感器通过螺钉二安装在传感器固定板上。
所述的传感器固定板通过锁紧螺母安装在大嵌套上。
本实用新型测量精度高、测量方便、效率高、范围广。
附图说明
图1是本实用新型结构示意图。
其中:1、笔式传感器  2、大嵌套  3、台面  4、小嵌套  5、螺钉一  6、地脚  7、锁紧螺母  8、传感器固定板  9、螺钉二。
具体实施方式
如图1所示,一种用于检测的理石平台,包括笔式传感器1、台面3和地脚6,所述的地脚6通过小嵌套4、螺钉一5安装在台面3的上方,所述的笔式传感器1通过大嵌套2、传感器固定板8安装在台面3内,所述的笔式传感器1通过螺钉二9安装在传感器固定板8上,所述的传感器固定板8通过锁紧螺母7安装在大嵌套2上,笔式传感器1与电子柱配套使用,由笔式传感器1感受被测位移量,经电子测量系统转换成光柱形式显示在三色电子柱上,测量前用对零标准器与倍率标准器联合应用来校准电子测量仪的放大倍率是否准确,测量采用相对比较原理:将被测工件放置在测量台面3上,将工件测量部位与笔式传感器1接触,对电子柱清零,移动工件,不断扫描测量面的不同部位,在测量部位的全域读取最大值与最小值,其最大值与最小值之差,就是被测表面的平面度。

Claims (5)

1.一种用于检测的理石平台,其特征在于:包括笔式传感器(1)、台面(3)和地脚(6),所述的地脚(6)安装在台面(3)的上方,所述的笔式传感器(1)安装在台面(3)内。
2.根据权利要求1所述的用于检测的理石平台,其特征在于:所述的地脚(6)通过小嵌套(4)、螺钉一(5)安装在台面(3)的上方。
3.根据权利要求1所述的用于检测的理石平台,其特征在于:所述的笔式传感器(1)通过大嵌套(2)、传感器固定板(8)安装在台面(3)内。
4.根据权利要求3所述的用于检测的理石平台,其特征在于:所述的笔式传感器(1)通过螺钉二(9)安装在传感器固定板(8)上。
5.根据权利要求3所述的用于检测的理石平台,其特征在于:所述的传感器固定板(8)通过锁紧螺母(7)安装在大嵌套(2)上。
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