CN203101608U - 磁力测试设备 - Google Patents

Abstract

一种磁力测试设备，用于测试磁力零件，并包括支撑架、测试块、承载台座、容置架、第一驱动装置以及至少一第二驱动装置。测试块包括至少一磁性部且具有凹洞，并置于容置架内。容置架位于承载台座的承载面上，并具有通孔。第一驱动装置用于驱动承载台座相对支撑架而移动，以使位于容置架内的测试块朝向磁力零件而移动，让磁性部利用磁力来吸引磁力零件。第二驱动装置配置于承载台座的上方，并伸出伸缩件至容置架的通孔以及测试块的凹洞。

Description

磁力测试设备

技术领域

本实用新型是有关于一种测试设备，特别是一种测试磁力产品的磁力强弱的磁力测试设备。 

背景技术

磁铁具有磁力，而磁铁与磁性材料之间或是磁铁与磁铁之间可以藉由磁力而相吸。所以，这种相吸的磁力可以广泛地应用于结合两个以上的物品。目前市面上应用上述磁力的磁力产品相当多，例如磁力挂钩、常用于皮包的磁铁钮扣以及磁力清洁刷。 

一般而言，在这些产品上市前，这些磁力产品中的磁铁通常会经过磁力测试，以确认磁铁是否具有足够强度的磁力，进而确保磁力产品的质量。目前上述磁力测试通常是使用高斯计（Gauss meter）作为磁力测试的工具。 

然而，高斯计每次只能检测出待测体局部的磁性参数，例如磁场或磁力，而不能直接检测出待测体的整体磁性参数。其次，随着高斯计与待测体之间的相对位置以及相对距离的不同，高斯计会检测出不同的磁性参数，而且高斯计的检测容易受周围环境的磁场与电磁波的影响。 

因此，高斯计所检测出的磁性参数难以作为磁力产品的质量参考，所以在检测磁力产品方面，高斯计不好作为检测磁力强度的工具。 此外，若使用高斯计作为测量磁力强弱的工具时，则在测量前须要校正，所以高斯计不适于用以检测大量的产品。 

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题在于提供一种磁力测试设备，且特别是有关于一种测试磁力零件的磁力强弱的磁力测试设备，以直接检测磁力产品的整体磁力强弱，并且适于检测大批磁力产品。 

本实用新型的一实施例提供一种磁力测试设备，用于测试磁力零件所产生的磁力。磁力测试设备包括测试块、承载台座、容置架、支撑架、第一驱动装置以及至少一第二驱动装置。测试块包括至少一磁性部且具有凹洞。承载台座具有承载面与相对该承载面的底面。容置架具有至少一通孔，并用于容置测试块，容置架并位于承载台座的承载面上。支撑架包括支撑平台，而支撑平台具有开孔，磁力零件放置在支撑平台上，并遮盖开孔，而承载台座位于该支撑平台的下方。第一驱动装置配置在承载台座的下方，并包括第一伸缩件，而第一伸缩件与底面连接。第一驱动装置用于驱动承载台座相对支撑架的支撑平台而移动，使得位于容置架内的测试块朝向磁力零件而移动，让磁性部利用磁力从开口来吸引磁力零件。第二驱动装置配置于承载台座的上方，并包括第二伸缩件。第二伸缩件能通过容置架的通孔，并伸入测试块的凹洞。 

综上所述，相较于公知技术而言，本实用新型可以直接检测磁力产品的整体磁力强弱，并且适于检测大批磁力产品。因此，利用本实用新型的磁力测试设备，可以确认磁力产品是否能达到预期功能，以 确保磁力产品在上市前的产品质量。 

附图说明

图1A是本实用新型一实施例的磁力测试设备的分解立体示意图。 

图1B是图1A中的磁力测试设备的立体示意图。 

图1C至图1E是图1A中的磁力测试设备测试磁力零件的运作示意图。 

具体实施方式

图1A为本实用新型一实施例的磁力测试设备的分解立体示意图。图1B为图1A中的磁力测试设备的立体示意图。请参阅图1A及图1B，磁力测试设备10能测试磁力零件110所产生的磁力，而磁力零件110可为磁力产品的组件，例如扫地机用以擦拭地板的组件、磁力刷的组件、磁力挂钩的磁吸件或一对磁铁钮扣的其中一个钮扣零件。此外，磁力零件110也可为磁铁，其中此磁铁可为永久磁铁（permanent magnet）或电磁铁（electromagnet），因此磁力测试设备10能测试磁力产品组件的磁力或磁铁的磁力。 

磁力测试设备10包括支撑架120测试块130、承载台座150、第一驱动装置162以及至少一第二驱动装置164。支撑架120包括多根支撑柱124以及连接这些支撑柱124的支撑平台122。这些支撑柱124位于承载台座150周围，而承载台座150位于第一驱动装置162上方，并且与第一驱动装置162相连接，其中承载台座150位于支撑 平台122与第一驱动装置162之间。 

这些支撑柱124位于承载台座150周围，而支撑平台122则位于承载台座150上方。支撑平台122上设有一开孔122h，而开孔122h为一贯穿支撑平台122而成的孔洞。磁力零件110放置于支撑平台122上，并且遮盖开孔122h。 

磁力测试设备10更包括容置架140，而承载台座150具有一承载面S1以及一相对承载面的底面S2，其中容置架140设置在承载面S1上。容置架140具有至少一个通孔142h，以本实用新型为例，容置架140具有两个位置相对以及形状相同的通孔142h。 

测试块130放置在容置架140内，而且测试块130具有至少一凹洞134h，其中凹洞134h可对应通孔142h。在本实用新型一实施例中，凹洞134h的数量为两个，不过在其他实用新型实施例中，凹洞134h的数量可以是一个或是两个以上，而本实用新型并不限定凹洞134h数量仅为两个。 

测试块130包括至少一个磁性部132，而磁性部132定义为能被磁力零件110吸引的部分，因此磁性部132可由具有磁性的磁铁或是未具有磁性的铁磁性（ferromagnetic）材料所构成，所以磁性部132可为带有磁性的永久磁铁或是不带有磁性的铁块。此外，除了磁性部132外，并不限定测试块130其他部位的材质，因此磁性部132以外的测试块130部位可以是陶瓷、金属或木材。 

测试块130可利用重力来测试磁力零件110的磁力强弱。详细而言，利用磁力，位于上方的磁力零件110能与下方的测试块130互相吸引，因此磁力零件110的磁力要大于测试块130重量所产生的重力， 这样磁力零件110才能稳固地与测试块130彼此贴合。 

第一驱动装置162配置于承载台座150的下方，并包括第一连接台169以及第一伸缩件166c，而第一连接台169连接第一伸缩件166c。详细而言，第一伸缩件166c的上半部与承载台座150的底面S2连接，而第一伸缩件166c的下半部则往第一连接台169延伸，其中第一连接台169可作为第一伸缩件166c的固定座。 

第一驱动装置162用于驱动承载台座150相对于支撑平台122而移动，以使位于容置架140内的测试块130朝向磁力零件110而移动，让磁性部132利用磁力从开孔122h来吸引磁力零件110。当第一驱动装置162驱动承载台座150时，第一伸缩件166c会藉由第一驱动装置162所产生的动力而相对于第一连接台169而移动，以使第一伸缩件166c作出伸出或缩回的动作。 

藉由上述伸出或缩回的动作，第一伸缩件166c能升降承载台座150，以使承载台座150能传输测试块130至开孔122h处。如此，上方的磁力零件110利用磁力而能从开孔122h吸引下方的测试块130，进而让磁力零件110与测试块130彼此贴合及接触。 

第一伸缩件166c能支撑及负载承载台座150，而在使承载台座150能稳定地升降的条件下，第一伸缩件166c的数量可以不只一个。因此，虽然如图1B所绘示，在本实用新型一实施例中，第一伸缩件166c数量为一个，但本实用新型并不限定第一伸缩件166c的数量。 

此外，在本实用新型一实施例中，第一驱动装置162可以是一气压缸，而第一伸缩件166c可以是一活塞杆。不过，在其他实用新型实施例中，第一驱动装置162可以是液压缸或马达，本实用新型并 不限定第一驱动装置162仅为气压缸。 

第二驱动装置164配置于承载台座150的上方，并位于承载面S1上。第二驱动装置164包括第二连接台167以及连接第二连接台167的第二伸缩件168c。第二连接台167位于承载面S1上，并与第二伸缩件168c的后半部相连，其中第二连接台167可作为第二伸缩件168c的固定座。 

根据上述，与第一驱动装置162相同的是，第二伸缩件168c是藉由第二驱动装置164产生的动力而能作出伸出或缩回的动作，即第二伸缩件168c能相对于第二连接台167而移动。此外，在其他实用新型实施例中，第二驱动装置164数量可以是多个，而在本实用新型一实施例中，第二驱动装置164数量为两个，并且分别位于容置架140相对的两侧。另外，第二驱动装置164可以是一气压缸，而第二伸缩件168c可以是一活塞杆。不过在其他实用新型实施例中，第二驱动装置164可以是液压缸或马达，本实用新型并不限定第二驱动装置164仅为气压缸。 

承上所述，当启动第二驱动装置164时，第二伸缩件168c与第二连接台167之间产生会相对移动。据此，第二伸缩件168c朝容置架140所容置的测试块130移动，以使第二伸缩件168c通过容置架140的通孔142h，并且伸入测试块130的凹洞134h。 

须说明的是，容置架140的通孔142h与测试块130的凹洞134h两者的数量与位置可以与第二伸缩件168c的数量及位置相对应，以至于第二伸缩件168c能够通过容置架140的通孔142h，并且伸入测试块130的凹洞134h。因此，本实用新型并不限定第二驱动装置164 的数量，而图1B所示的二个第二驱动装置164仅供举例说明。 

另外，磁力测试设备10还可包括一位移传感器180，其中位移传感器180包括一发光组件181与一受光组件182。位移传感器180配置在支撑平台122的下方，且发光组件181以及受光组件182分别位于支撑平台122相对的两侧，而承载台座150则位在发光组件181以及受光组件182之间。此外，位移传感器180的发光组件181可以与第一驱动装置162电性连接。 

发光组件181可对受光组件182发射一水平准直的光线D1（请参阅图1D），例如是雷射光线。若光线D1没有被物体所阻挡，则位于发光组件181相对一侧的受光组件182可以接收光线D1。另外，须说明的是，在本实用新型的受光组件182可以是一感光耦合组件，例如是电荷耦合组件（Charge Coupled Device）或是互补式金属氧化物半导体（Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS），本实用新型并不限定受光组件182的种类。 

图1C至图1E是图1A中的磁力测试设备测试磁力零件的运作示意图。接下来，将配合图1C至图1E，详细说明磁力测试设备10如何测试磁力零件110。 

请参阅图1C，启动第一驱动装置162以使第一伸缩件166c伸出，而藉由第一伸缩件166c的推动，承载台座150能朝支撑平台122升起。据此，位于容置架140内的测试块130即可同步朝磁力零件110的表面111移动，以使测试块130的磁性部132与磁力零件110相互吸引，直至测试块130与磁力零件110贴合。 

接下来，请参阅图1D，承载台座150藉由第一驱动装置162的 驱动而下降至原本的位置。当磁力零件110的磁力强弱为正常时，磁力零件110的磁力会大于测试块130重量所产生的重力，以至于测试块130被磁力零件110吸附而从容置架140脱离，即测试块130与承载台座150分离，如图1C所示。 

反之，当磁力零件110的磁力强弱为异常时，磁力零件110的磁力会小于测试块130重量所产生的重力，以至于测试块130不能与磁力零件110贴合而仍留置在容置架140内。此外，在测试块130受磁力的影响而与磁力零件110贴合的期间，承载台座150可一直停留在原本的位置，让测试块130保持悬空状态。如此，可以测试磁力零件110的磁力稳定性。 

详细而言，在测试块130与磁力零件110贴合之后，可让测试块130保持悬空状态一段测试时间。在这段测试时间内，若测试块130仍与磁力零件110贴合在一起而未掉落，表示磁力零件110的磁力稳定性合格，即磁力零件110具有一定稳定程度的正常磁力。反之，在这段测试时间内，若测试块130从磁力零件110掉落，表示磁力零件110的磁力稳定性不合格，而磁力零件110的磁力可能稳定性不佳。 

另外，当测试块130与磁力零件110贴合之后，且承载台座150下降至原本的位置时，鉴于发光组件181可与第一驱动装置162电性连接，发光组件181可被第一驱动装置162触动（trigger）而发射出水平准直的光线D1。此时，在上述测试时间内，若测试块130仍与磁力零件110贴合在一起，则受光组件182会一直接收到光线D1。因此，在测试时间内，若发光组件181持续发出光线D1，而受光组件182一直接收到光线D1的话，则代表磁力零件110通过磁力测试 设备10的测试。 

反之，在测试时间内，若测试块130从磁力零件110掉落，或是测试块130一直都没有与磁力零件110贴合，则测试块130会阻挡光线D1，从而打断受光组件182对光线D1的接收。一旦受光组件182对光线D1的接收被打断，则位移传感器180会发出警告信号，例如位移传感器180的警示灯发光或是位移传感器180发出警告声，以通知工作人员磁力零件110未通过测试。 

在本实施例中，发光组件181发射出的光线D1与磁力零件110的表面111距离一间距L2，而测试块的厚度T小于间距L2。如此，在测试块130与磁力零件110贴合在一起的时候，光线D1不会被测试块130阻挡。反之，一旦测试块130从磁力零件110掉落，或是测试块130一直都没有与磁力零件110贴合，则光线D1会被测试块130阻挡，进而触动位移传感器180发出警告信号。 

请参阅图1E，在测试时间结束时，若磁力零件110具有足够强度的磁力，磁性部132仍会与磁力零件110的表面111继续贴合。此时，位移传感器180关闭，并再次启动第一驱动装置162。承载台座150受到第一驱动装置162的驱动而再次升起，而容置架140随承载台座150的移动而升起，直到测试块130容置于容置架140。 

接下来，启动第二驱动装置164，以使第二伸缩件168c伸出。伸出后的第二伸缩件168c会通过容置架140上的通孔142h，并且伸入位于测试块130的凹洞134h。之后，第一驱动装置162驱动第一伸缩件166c，以使承载台座150与容置架140随着第一伸缩件166c的缩回而下降。 

由于第二伸缩件168c伸入测试块130的凹洞134h，因此第二伸缩件168c能将测试块130固定于容置架140内。当承载台座150下降时，测试块130会被第二伸缩件168c拉扯而随着承载台座150一并下降，以分开测试块130与磁力零件110。至此，磁力测试设备10完成对磁力零件110的测试。 

综上所述，本实用新型利用测试块的重量来测试磁力零件的磁力强弱。相较于公知技术的高斯计而言，本实用新型的磁力测试设备能直接检测出磁力零件的整体磁力强弱，而且也适用于大批检测磁力产品。如此，本实用新型的磁力测试设备能确认磁力产品是否能达到预期功能，以确保磁力产品在上市前的产品质量。 

以上所述仅为本实用新型的实施例，其并非用以限定本实用新型的专利保护范围。任何熟习相关技术者，在不脱离本实用新型的精神与范围内，所作的更动及润饰的等效替换，仍在本实用新型的专利保护范围内。 

Claims (10)

1.一种磁力测试设备，用于测试磁力零件所产生的磁力，其特征在于，该磁力测试设备包括：

测试块，包括至少一磁性部，并具有至少一凹洞；

承载台座，具有承载面与相对该承载面的底面；

容置架，具有至少一通孔，并用以容置该测试块，该容置架配置于该承载台座的该承载面上；

支撑架，包括支撑平台，而该支撑平台具有开孔，该磁力零件放置在该支撑平台上，并遮盖该开孔，而该承载台座位于该支撑平台的下方；

第一驱动装置，配置在该承载台座的下方，并包括第一伸缩件，该第一伸缩件与该底面连接，该第一驱动装置用于驱动该承载台座相对该支撑平台而移动，以使位于该容置架内的该测试块朝该磁力零件而移动，让该磁性部利用该磁力从该开孔来吸引该磁力零件；以及

至少一第二驱动装置，配置于该承载台座的上方，并包括第二伸缩件，该第二伸缩件用以通过该通孔，并伸入该凹洞。

2.如权利要求1所述的磁力测试设备，其特征在于该第一驱动装置为气压缸，而该第一伸缩件为活塞杆。

3.如权利要求1所述的磁力测试设备，其特征在于该第一驱动装置更包括第一连接台，而该第一连接台连接该第一伸缩件，当该第一驱动装置驱动该承载台座时，该第一伸缩件相对于该第一连接台而移动。

4.如权利要求1所述的磁力测试设备，其特征在于该至少一第二驱动装置更包括至少一第二连接台，而该第二伸缩件与该第二连接台之间的相对移动使该第二伸缩件通过该通孔，并伸入该凹洞。

5.如权利要求1所述的磁力测试设备，其特征在于该第二驱动装置为气压缸，而该第二伸缩件为活塞杆。

6.如权利要求1所述的磁力测试设备，其特征在于该第二驱动装置的数量为多个，而该些第二驱动装置位于该承载面上并且分别位于该容置架相对的两侧。

7.如权利要求1所述的磁力测试设备，其特征在于该磁力测试设备更包括位移传感器，该位移传感器配置在该支撑平台的下方。

8.如权利要求7所述的磁力测试设备，其特征在于该位移传感器包括发光组件以及受光组件，且该发光组件以及该受光组件分别位于该支撑平台相对的两侧，该承载台座位于该发光组件以及该受光组件之间。

9.如权利要求8所述的磁力测试设备，其特征在于该发光组件用以发射水平的准直光线，而该受光组件用以接收该水平的准直光线，放置在该支撑平台上的该磁力零件不在该水平的准直光线的传递路径上。

10.如权利要求9所述的磁力测试设备，其特征在于该水平的准直光线与放置在该支撑平台上的该磁力零件的表面距离一间距，而该测试块具有厚度，且该测试块的该厚度小于该间距。

Images