CN203084155U - 一种对ic卡进行自动热插拔的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出一种对IC卡进行自动热插拔的装置,包括离心振动装置、IC卡插座、IC座、测试针和延长底板,将IC卡插入IC卡插座,将延长底板上的延长端插入读卡器,将测试针插入IC座,启动离心振动装置,产生上下反复振动,带动测试针反复插拔IC座,实现自动带电插拔。
Description
技术领域
本实用新型涉及IC卡自动热插拔的测试方法及IC卡自动热插拔装置的实现方法。
背景技术
IC卡在生产测试、使用过程中经常会遇到带电插拔的情况,在带电插拔的过程中,由于带电接触、静电累积放电等因素影响,会产生各种异常波形,当IC卡芯片的上电复位电路POR、静电保护电路等保护电路的设计不够合理时,IC卡芯片会出现数据丢失的软失效或者电路损伤的硬失效。所以,一般IC卡芯片在测试验证阶段,需要进行带电插拔实验,以此来验证IC卡芯片的保护电路是否满足设计要求,避免IC卡在生产测试、使用过程中出现带电插拔失效的情况。这种带电插拔实验通常称为热插拔测试。
现有的热插拔测试一般采用人工的带电插拔模式,即让读卡器处于带电状态,直接将IC卡芯片的触点或管脚不断插拔读卡器的IC卡插座或IC座,当插拔的次数满足规定次数要求后,检测IC卡芯片的功能和性能,当IC卡芯片的功能没有被破坏,性能也没有变化,即认为通过了热插拔测试。人工带电插拔产生的波形比较随机,这种热插拔测试结果其实也是随机的。为了减少测试结果的随机性,通常必须增加测试样本,增加的测试样本越多,其测试花费的时间就越长。因而,这种人工带电插拔的热插拔模式,其测试效率是比较低的。
实用新型内容
本实用新型提出了一种IC卡自动热插拔测试装置,相对人工热插拔测试模式,可以大大提高热插拔测试效率,同时减轻人工热插拔测试人员的体力负担。
本实用新型提出的IC卡自动热插拔测试装置,由离心振动装置、IC卡插座、IC座、测试针和延长底板组成。将IC卡插入IC卡插座,将延长底板上的延长端插入读卡器,将测试针插入IC座,启动离心振动装置,产生上下反复振动,带动测试针反复插拔IC座,实现自动带电插拔。离心振动装置通过转轴座固定在延长底板上,通过转轴可相对延长底板进行转动。IC卡插座固定在延长底板下面,IC座固定在延长底板上面,IC卡插座的信号接口与IC座的信号接口相连。8根测试针安装在离心振动装置的离心块的下方,测试针与延长底板上的延长端的8个金属触点连接。将延长底板上的延长端插入读卡器的插座,将测试卡插入IC卡插座,将测试针插入IC座时,测试卡上的金属触点就与读卡器连接上了,此时,测试卡可与读卡器进行通讯。
自动热插拔测试装置的IC座,其金属插口呈V字形,当测试针插入IC座时,测试针的插入位置不在V字型金属插口的中心位置,而是偏向V字形金属插口的一边。
离心振动装置由离心转动电机、离心块、振动杠、转轴座、调整螺栓、振动弹簧组成。离心振动装置的离心转动电机带动离心块转动时,带动整个振动杠绕转轴座振动,同时带动测试针反复插拔IC座。调整螺栓安装在振动杠上,振动弹簧与调整螺栓连接,振动弹簧用来加剧振动幅度。调整螺栓用来调节测试针与IC座的接触时间长短,进而影响接触时产生的单个脉冲波形宽度。微调调整螺栓可改变振动杠与延长底板的相对角度,通过微调振动杠与延长底板的相对角度,可微调测试针与IC座的接触时间长短,从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。如图6的调整螺栓高度时波形变化图所示,当调高螺栓高度时,单个脉冲波形宽度变窄,当调低螺栓高度时,单个脉冲波形宽度变宽。
本实用新型提出的IC卡自动热插拔测试方法为:IC卡的8个IC管脚通过插 座与IC座连接,8根测试针与读卡器的信号接口连接,控制读卡器的输出信号与IC卡上电后应该得到的输入信号相同。离心振动装置在上下反复振动的同时,带动测试针反复插拔IC座,从而实现自动带电插拔。调整螺栓的高度,可调节测试针与IC座的接触时间长短,从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。调节电机的转速,可改变热插拔的频率。
附图说明
图1为自动插拔装置俯视示意图
图2为自动插拔装置侧面示意图
图3为IC测试卡
图4为IC座接口示意图
图5为延长底板上延长端的金属触点接口示意图
图6为调整螺栓高度时波形变化图
图7为调测试卡插入位置示意图
具体实施方式
如图1所示的自动插拔装置俯视示意图和图2所示的自动插拔装置侧面示意图所示,IC卡自动热插拔测试装置由离心振动装置1、IC卡插座2、IC座3、测试针4、延长底板5组成。IC座3上有8个插口,接口定义如图4所示,其一般实际使用的接口为VCC、RST、CLK、GND、I/O。延长底板5上的延长端有8个金属触点,其接口定义如图5所示,其一般实际使用的接口为VCC、RST、CLK、6ND、I/O。测试卡6上有8个金属触点,测试卡6的金属触点如图3所示。
如图2所示的自动插拔装置侧面示意图所示,可转动的离心振动装置1通过 转轴座11固定在延长底板5上,通过转轴可相对延长底板5进行转动。IC卡插座2固定在延长底板5下面,IC座3固定在延长底板5上面,IC卡插座2的信号接口与IC座3的信号接口相连。对应IC座3的8个插口,测试针为8根,测试针4安装在离心振动装置1的振动杆8的下方,测试针4与延长底板5上的延长端的8个金属触点分别连接。
如图7所示的测试卡插入位置示意图所示,自动热插拔测试装置的IC座3,其金属插口呈V字形,当测试针4插入IC座3时,测试针4的插入位置不在V字型金属插口的中心位置,而是偏向V字形金属插口的一边。
如图2所示的自动插拔装置侧面示意图所示,可转动的离心振动装置1由离心转动电机7、离心块6、振动杠8、转轴座11、调整螺栓9、振动弹簧10组成。当离心转动电机7带动离心块6转动时,由于离心振动作用,整个振动杠8将绕转轴座11上下振动,同时带动测试针4反复插拔IC座3。调整螺栓9安装在振动杠8上,振动弹簧10与调整螺栓9连接,振动弹簧10用来加剧振动幅度,调整螺栓9用来微调振动杠8与延长底板5的相对角度,通过微调振动杠8与延长底板5的相对角度,可微调测试针4与IC座3的接触时间长短,从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。如图6的调整螺栓高度时波形变化图所示,当调高螺栓高度时,单个脉冲波形宽度变窄,当调低螺栓高度时,单个脉冲波形宽度变宽。
如图1所示的自动插拔装置俯视示意图所示,将测试卡6插入IC卡插座2时,测试卡6的8个触点通过IC卡插座2与IC座3的8个插口分别连接。将延长底板5上的延长端插入读卡器7的插座时,8根测试针4通过延长底板5分别与读卡器7的8个信号接口连接。再将测试针4插入IC座3,测试卡6上的金属触点就与读卡器7的相应接口连接上了,测试卡6可与读卡器7进行通讯。 此时,控制读卡器的输出信号与IC卡上电后应该得到的输入信号相同,再启动如图2所示的离心转动电机7,离心振动装置1就会在上下反复振动的同时,带动测试针4反复插拔IC座3,从而实现自动带电插拔。
当测试针4反复插拔IC座3时,由于频繁相互接触,当接触时,电信号则输入测试卡6,分开时,则断开信号。调节离心转动电机7的转速,可改变热插拔的频率。
被测测试卡6内部下载的卡片操作系统为测试COS,测试COS采用智能卡产品使用的COS,其中设计逻辑包含存储器内容读出指令。
自动热插拔测试的基本过程是:
如图1所示,将测试卡6插入IC卡插座2,将延长底板5上的延长端插入读卡器7的插座,将测试针4插入IC座3,再控制读卡器的输出信号与IC卡上电后应该得到的输入信号相同,启动如图2所示的离心转动电机7,离心振动装置1开始上下反复振动,带动测试针4反复插拔IC座3,记录测试开始时间,每隔一段时间,停止自动热插拔测试,使用读卡器检测测试卡6的存储器内容,如果发生存储器内容改变,则出现数据丢失的软失效,再检测测试卡6的电性能参数,如果出现性能变化,则出现电路损伤的硬失效。
Claims (4)
1.一种对IC卡进行自动热插拔的装置,其特征在于:包括离心振动装置、IC卡插座、IC座、测试针和延长底板,将IC卡插入IC卡插座,将延长底板上的延长端插入读卡器,将测试针插入IC座,启动离心振动装置,产生上下反复振动,带动测试针反复插拔IC座,实现自动带电插拔。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于:离心振动装置固定在延长底板上,IC卡插座固定在延长底板下面,IC座固定在延长底板上面,IC卡插座的信号接口与IC座的信号接口相连;测试针安装在离心振动装置的离心块的下方,测试针与延长底板上的延长端的触点连接;将延长底板上的延长端插入读卡器的插座;当将测试卡插入IC卡插座、测试针插入IC座时,测试卡上的金属触点与读卡器连接。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于:所述离心振动装置由离心转动电机、离心块、振动杠、转轴座、调整螺栓、振动弹簧组成;调整螺栓安装在振动杠上,振动弹簧与调整螺栓连接,振动弹簧用来加剧振动幅度,调整螺栓用来调整振动杠与延长底板的相对角度;当离心转动电机带动离心块转动时,由于离心振动作用,振动杠将绕转轴座上下振动,同时带动测试针反复插拔IC座,实现自动带电插拔。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于:IC座的插口呈V字形,当测试针插入IC座时,测试针的插入位置不在V字型金属插口的中心位置,而是偏向V字形金属插口的一边。
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Cited By (4)
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---|---|---|---|---|
CN105760326A (zh) * | 2014-12-19 | 2016-07-13 | 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 | 自动伸缩接口及应用该接口的电子装置 |
CN107644181A (zh) * | 2017-10-23 | 2018-01-30 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种ic卡的读取方法及读卡器 |
CN108256364A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-07-06 | 浙江大华技术股份有限公司 | 一种ic卡热插拔检测电路 |
CN108387793A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-08-10 | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 | 一种外接设备热插拔的自动化测试系统及方法 |
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