CN203070735U - Oled加速寿命光学参数自动测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种用于测试光学参数的测试系统,其公开了一种OLED加速寿命光学参数自动测试系统,准确、高效地实现OLED的光学参数的自动测试。该测试系统还包括主控装置及OLED驱动装置;所述主控装置连接光学测试装置,所述OLED驱动装置连接被测OLED器件,并通过其内部的数据处理模块对所述色彩分析仪回传的采集数据进行处理和生成相应报告,以此实现对被测OLED器件的光学参数的自动测试,减少了人工参与,提高了测试的准确度,并且极大的提高了数据采集频率,从而提高了加速寿命试验的测试效率。本实用新型适用于对OLED器件的光学测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种用于测试光学参数的测试系统,具体的说,是涉及一种OLED加速寿命光学参数自动测试系统。
背景技术
OLED(Organic Light Emitting Display),即有机电致发光显示器,是一种通过载流子注入和复合导致有机材料发光的显示器件。与其他平板显示器相比,OLED具有成本低、全固态、主动发光、亮度高、对比度高、视角宽、响应速度快、厚度薄、低电压直流驱动、功耗低、工作温度范围宽、可现实柔性显示等特点。
随着OLED行业的技术实力不断提高,对OLED产品的寿命要求也越来越高。但由于正常长寿命试验的周期过长(按目前行业内要求需要10000小时以上的测试时间),因此,采用加速寿命测试方式对产品的定额寿命进行评价成为了必然之选。传统技术中常采用人工测试的方式进行加速寿命测试,即采用光学测试设备对被测OLED器件进行测试,然后由人工来观察和记录光学测试设备上的参数测试结果;随着对OLED产品质量的要求提高,以往人工检测方式已无法满足测试需求,其表现为:1)人为的因素导致的误差不可避免:同一个人每次测量时的误差或者不同的人测量时的误差积累会导致最终评价结果与实际产品情况误差较大;2)人工测试导致的测试数据采集频率较低,得出结果不够严谨,加速寿命测试的整个试验周期较短,因此在有限的时间内每次测量的时间间隔越短,最终拟合出来的数据越准确,但人工测试的方法无法满足高频率的测试数据采集。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提出一种OLED加速寿命光学参数自动测试系统,准确、高效地实现OLED的光学参数的自动测试。
本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是:OLED加速寿命光学参数自动测试系统,包括光学测试装置、被测OLED器件,所述光学测试装置与被测OLED器件通过光信号连接,该测试系统还包括主控装置及OLED驱动装置;所述主控装置连接光学测试装置,所述OLED驱动装置连接被测OLED器件。
进一步,所述光学测试装置包括色彩分析仪及三角架,所述色彩分析仪的测试探头被固定在三角架上。
进一步,所述主控装置包括数据处理模块和测试控制模块,所述数据处理模块和测试控制模块均与所述色彩分析仪连接。
主控装置通过测试控制模块对所述色彩分析仪进行相应控制,并通过数据处理模块对所述色彩分析仪回传的采集数据进行处理和生成相应报告。
具体的,所述主控装置为PC机。
进一步,所述OLED驱动装置包括测试卡及与之连接的可编程直流电源,所述可编程直流电源还与被测OLED器件连接。
本实用新型的有益效果是:通过设置与光学测试装置相连的主控装置,主控装置通过其内部的测试控制模块对所述色彩分析仪进行相应控制,并通过其内部的数据处理模块对所述色彩分析仪回传的采集数据进行处理和生成相应报告,以此实现对被测OLED器件的光学参数的自动测试,减少了人工参与,提高了测试的准确度,并且极大的提高了数据采集频率,从而提高了加速寿命试验的测试效率。
附图说明
图1为本实用新型的自动测试系统实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步的描述。
针对传统技术中采用人工进行OLED器件的加速寿命试验测试带来的准确度低、测试效率低的问题,本实用新型提出一种OLED加速寿命光学参数自动测试系统,准确、高效地实现OLED的光学参数的自动测试。在该测试系统中,采用主控装置与光学测试装置相连,自动控制光学测试装置的采集频率和其它相应动作,并自动处理光学测试装置反馈的采集信息,从而实现高准确度、高效的测试。
如图1所示,本例中的自动测试系统包括光学测试装置、被测OLED器件、主控装置和OLED驱动装置几个部分,其中,光学测试装置包括色彩分析仪及三角架,该色彩分析仪具有测试探头,将测试探头固定在三角架上,并调节到被测OLED器件的相应高度位置,在调整角度后利用测试探头对被测OLED器件进行光学参数的测量;
主控装置与光学测试装置通过数据线相连,对于主控装置来说,可以采用PC机或PLC或其它具备相应功能的控制设备,其包括数据处理模块和测试控制模块,测试控制模块用于对光学测试装置进行软件命令的控制(如:测试周期的设置、测试次数的设置等),数据处理模块用于对光学测试装置采集到的光学参数进行相应处理(如:对参数的保存、修改、生成报表等);
OLED驱动装置包括测试卡及与之连接的可编程直流电源,可编程直流电源还与被测OLED器件连接,通过控制可编程直流电源的电流值大小从而改变被测OLED器件的亮度,实现加速寿命测试。
通过上述方案的实现,可实现对于被测OLED器件的光学参数的自动测试;测试数据可以自动在主控装置上生成,便于工作人员随时观察被测OLED器件的衰减趋势;在完成测试后,通过数据处理模块对测试数据自动处理和生成报表。
本实用新型要求保护的方案包括但不仅限于上述实施例,大凡在本实用新型的精神实质下而作出的等同替换/修改,均在本实用新型的保护范围内。
Claims (5)
1.OLED加速寿命光学参数自动测试系统,包括光学测试装置、被测OLED器件,所述光学测试装置与被测OLED器件通过光信号连接,其特征在于,该测试系统还包括主控装置及OLED驱动装置;所述主控装置连接光学测试装置,所述OLED驱动装置连接被测OLED器件。
2.如权利要求1所述的OLED加速寿命光学参数自动测试系统,其特征在于,所述光学测试装置包括色彩分析仪及三角架,所述色彩分析仪的测试探头被固定在三角架上。
3.如权利要求2所述的OLED加速寿命光学参数自动测试系统,其特征在于,所述主控装置包括数据处理模块和测试控制模块,所述数据处理模块和测试控制模块均与所述色彩分析仪连接。
4.如权利要求1所述的OLED加速寿命光学参数自动测试系统,其特征在于,所述主控装置为PC机。
5.如权利要求1-4任意一项所述的OLED加速寿命光学参数自动测试系统,其特征在于,所述OLED驱动装置包括测试卡及与之连接的可编程直流电源,所述可编程直流电源还与被测OLED器件连接。
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CN104599633A (zh) * | 2015-01-30 | 2015-05-06 | 四川虹视显示技术有限公司 | 一种oled伽马校正装置 |
CN104680962A (zh) * | 2015-03-25 | 2015-06-03 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种测试显示模组的光学特性的方法、装置及系统 |
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