CN203069810U - 焦度计用光栅 - Google Patents

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宋明亮
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Shanghai Chang'e Optical Equipment & Instrument Technology Co Ltd
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Shanghai Chang'e Optical Equipment & Instrument Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型涉及光栅，焦度计用光栅包括一适合焦度计使用的光栅主体，所述光栅主体上分布有5个校准用透光点，以所述校准用透光点作为校准点。本实用新型优化了校准点的个数，方便校准焦度计CCD的标靶位置。

Description

焦度计用光栅
技术领域
本实用新型涉及光学器件，具体涉及光栅。
背景技术
焦度计多为一种镜片检测用光学仪器，可用于测量眼镜镜片的顶焦度和棱镜度，确定镜片的光学中心、轴位和打印标记，检查镜片是否正确安装在镜架等。焦度计在对待测镜片进行测量的时候离不开光栅。焦度计使用的光栅多均匀分布有透光点，焦度计上使用的这种均匀分布有透光点的光栅，通常被叫做哈特曼光栅。现有的哈特曼光栅一般不设校准点或校准点较少，在焦度计初始化时，不方便校准焦度计CCD的标靶位置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于，提供一种焦度计用光栅，以解决上述问题。
本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现：
焦度计用光栅，包括一适合焦度计使用的光栅主体，其特征在于，所述光栅主体上分布有5个校准用透光点，以所述校准用透光点作为校准点。本实用新型优化了校准点的个数，方便校准焦度计CCD的标靶位置。
所述光栅主体上还分布有140个测量用透光点，以所述测量用透光点作为测量点，所述校准点散布于所述测量点中。优化了测量点的个数，测量精度更高。
为方便观察，所述校准点位于所述光栅主体的中部。所述校准点的孔径优选大于或等于所述测量点的孔径。
所述光栅主体是哈特曼光栅主体，所述校准点、所述测量点均为分布在所述哈特曼光栅主体上。优化校准点和测量点的位置，进一步提高了测量精度。
附图说明
图1为本实用新型的一种结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示进一步阐述本实用新型。
参照图1，焦度计用光栅，包括一适合焦度计使用的光栅主体，光栅主体上分布有5个校准用透光点，以校准用透光点作为校准点1。光栅主体上还分布有140个测量用透光点，以测量用透光点作为测量点2，校准点1散布于测量点2中。本实用新型优化了校准点1的个数，方便校准焦度计CCD的标靶位置。优化了测量点2的个数，测量精度更高。
作为一种优选方案，校准点1位于光栅主体的中部。校准点1的孔径大于或等于测量点2的孔径。以方便观察校准点1。光栅主体优选是哈特曼光栅主体，校准点1、测量点2均为分布在哈特曼光栅主体上。优化校准点1和测量点2的位置，进一步提高了测量精度。
经过上述优化，采用本实用新型制作的焦度计的示值误差可以达到下表的测试要求。
Figure BDA0000272669551
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征以及本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (5)

1.焦度计用光栅，包括一适合焦度计使用的光栅主体，其特征在于，所述光栅主体上分布有5个校准用透光点，以所述校准用透光点作为校准点。
2.根据权利要求1所述的焦度计用光栅，其特征在于：所述光栅主体上还分布有140个测量用透光点，以所述测量用透光点作为测量点，所述校准点散布于所述测量点中。
3.根据权利要求2所述的焦度计用光栅，其特征在于：所述校准点位于所述光栅主体的中部。
4.根据权利要求2所述的焦度计用光栅，其特征在于：所述校准点的孔径大于或等于所述测量点的孔径。
5.根据权利要求2、3或4所述的焦度计用光栅，其特征在于：所述光栅主体是哈特曼光栅主体，所述校准点、所述测量点均为分布在所述哈特曼光栅主体上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108918091A (zh) * 2018-05-15 2018-11-30 上海嫦娥光学仪器科技有限公司 镜片参数记录仪

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CP02 Change in the address of a patent holder
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Patentee after: SHANGHAI CHANG'E OPTICAL EQUIPMENT & INSTRUMENT TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: 201401 three groups of Nan Du Village, Nan Qiao Town, Fengxian District, Shanghai

Patentee before: SHANGHAI CHANG'E OPTICAL EQUIPMENT & INSTRUMENT TECHNOLOGY Co.,Ltd.

PE01 Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right
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Granted publication date: 20130717

Pledgee: Anxin Agricultural Insurance Co., Ltd. Shanghai Fengxian Branch Co.

Pledgor: SHANGHAI CHANG'E OPTICAL EQUIPMENT & INSTRUMENT TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Registration number: 2018310000077

PC01 Cancellation of the registration of the contract for pledge of patent right
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Pledgor: SHANGHAI CHANG'E OPTICAL EQUIPMENT & INSTRUMENT TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Registration number: 2018310000077

CX01 Expiry of patent term
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