CN202721822U - 蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路，所述测试电路包括至少一个测试电极和与所述测试电极相连接的同向电压跟随电路；同向电压跟随电路包括变容二极管和激励信号发生器；变容二极管的一端与所述测试电极相连，另一端与激励信号发生器相连。本实用新型提供的蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路配合相应测试软件，即可确定每只耳机感应曲线，根据批量测试数据制定标样曲线及limit，量产耳机测试曲线介于limit曲线之间，即认为满足一致性要求，并且测试方法直观简便，便于实施。

Description

蓝牙耳机Don Doff功能测试电路及测试装置

技术领域

本实用新型涉及蓝牙耳机技术领域，更为具体地，涉及一种蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路及测试装置。

背景技术

蓝牙是一种低成本低功耗的短距离无线通信技术。近年来随着蓝牙产品和无线技术应用的普及，蓝牙耳机的成为目前在日常生活中应用最广的蓝牙技术，通过蓝牙耳机，手机用户可以实现无线免提功能，而不必像现在这样从头部垂下一根线到手机上。

目前蓝牙耳机Don/Doff功能（即耳机自动检测是否戴在耳朵上，戴上时进入待机状态，摘下后进入低功耗状态）越来越普遍，可以延长耳机工作时间，简化接听等功能。

Don/Doff新功能的引入，使得蓝牙耳机在出厂前需要增加对此功能的测试，但是现有测试方法采用金属工装等方法，将耳机靠近工装时判断耳机是否有反应来确认Don/Doff功能是否可用，但对于此功能的灵敏度、一致性等问题却无法衡量。这种只能简单测试Don/Doff功能的有无、无法保证此功能的一致性的测试方法远远不能满足生产厂商对蓝牙耳机Don/Doff功能测试的需求。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的是提供一种蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路，通过特殊设计的电极，模拟蓝牙耳机戴在耳朵上时人耳及脸部皮肤对蓝牙耳机的影响，从而确定测试limit来确保Don&Doff功能的出货一致性。

为了实现上述目的，本实用新型提供的蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路包括至少一个测试电极和与所述测试电极相连接的同向电压跟随电路；所述同向电压跟随电路包括变容二极管和激励信号发生器；所述变容二极管的一端与所述测试电极相连，另一端与激励信号发生器相连。

此外，优选的结构是，所述测试电极与所述蓝牙耳机的电容传感器相配合使用，当所述蓝牙耳机为双电容传感器的Don/Doff蓝牙耳机时，所述测试电极为两个，包括一个“U”字形电极和一个“8”字形电极，所述同向电压跟随电路为两路；当所述蓝牙耳机为单电容传感器蓝牙耳机时，所述测试电极为一个，所述同向电压跟随电路为一路。

此外，优选的结构是，所述测试电极由PCB铜皮来实现，其中的“8”字形电极用来模拟人脸部皮肤，“U”字形电极用来模拟人耳。

另一方面，本实用新型还提供一种包括测试工装和前述蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路的蓝牙耳机Don&Doff功能测试装置，其中，所述测试工装用于固定待测试蓝牙耳机，所述蓝牙耳机功能测试电路的测试电极放置在通过所述测试工装上靠近所述蓝牙耳机的电容传感器的位置。

采用本实用新型提供的蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路及测试装置后，配合相应测试软件，即可确定每只耳机感应曲线，根据批量测试数据制定标样曲线及limit，量产耳机测试曲线介于limit曲线之间，即认为满足一致性要求。测试方法直观简便，便于实施。

附图说明

通过参考以下结合附图的说明及权利要求书的内容，并且随着对本实用新型的更全面理解，本实用新型的其它目的及结果将更加明白及易于理解。

在附图中：

图1为根据本实用新型实施例的测试电路示意图；

图2为根据本实用新型实施例的“U”字形电极示意图；

图3为根据本实用新型实施例的“8”字形电极示意图。

在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。

具体实施方式

以下将结合附图对本实用新型的具体实施例进行详细描述。

本实用新型采用的技术方案是，通过特殊设计的电极并配合变容二极管模拟人耳及脸部皮肤，通过测试电路对电极进行循环充放电来模拟耳机戴上与摘下的状态。本实用新型提供的测试电路包括至少一个测试电极和与测试电极相连接的同向电压跟随电路，同向电压跟随电路主要包括变容二极管和激励信号发生器，其中，变容二极管的一端与所述测试电极相连，另一端与激励信号发生器相连。

图1为根据本实用新型实施例的测试电路示意图。图1所示的测试电路为针对双电容传感器蓝牙耳机设计的具有两个测试电极和两路同向电压跟随电路的测试电路，以测试双电容传感器蓝牙耳机中的两个电容传感器的感应曲线。

其中，在本实用新型的一个具体实施方式中，两个测试电极为如图2和图3所示的具有特殊形状设计的测试电极。

利用图1所示的测试电路，将双电容传感器蓝牙耳机的两个电容传感器分别靠近两个测试电极，两个测试电极分别与两路同向电压跟随电路的变容二极管相连。通过激励信号发生器对变容二极管的同向端施加锯齿激励信号，变容二极管两端电压跟随激励信号变化，使得二极管体电容相应变化，由于特殊设计的电极与变容二极管的一端直接相连，因此电极上的电荷也跟随二极管的容值发生变化。当蓝牙耳机电容传感器贴近电极时，电容传感器的感应曲线发生变化，从而获得蓝牙耳机的感应曲线。

上述测试电路的核心在于变容二极管的使用及其与电极的配合，本领域技术人员应当知晓，其它形式的运算电路在配合变容二极管与合适的电极后也可实现此功能。

图2和图3分别为根据本实用新型实施例的“U”字形和“8”字形电极示意图。

如图2和图3所示，“U”字形和“8”字形电极由PCB铜皮来实现。对于双电容传感器的Don/Doff蓝牙耳机而言，往往一个传感器放置于MIC端，贴近人脸部皮肤，另一个传感器置于人耳处，因此，在测试电路中，对应的“8”字形电极用来模拟人脸部皮肤，“U”字形电极用来模拟人耳。

双电容传感器的蓝牙耳机可有效避免Don/Doff功能误操作，为目前常用的蓝牙耳机。对于单电容传感器或多电容传感器蓝牙耳机而言，其Don/Doff功能测试电路也类似，只需要采用图1中一路或多路电压跟随电路即可，PCB铜皮测试电极也可以根据耳机传感器位置选用图1中的某个测试电极，单电容传感器耳机可在保留Don/Doff功能的基础上降低成本，多电容传感器可最小化误操作概率。

另外，为了测试的方便，最好在蓝牙耳机测试前制作与待测试蓝牙耳机形状吻合的简易工装来固定耳机，工装相当于耳机支架，预留两个靠近耳机传感器的位置来放置PCB电极（单传感器或多传感器蓝牙耳机工装只需预留相应数量电极位置），使得在耳机放在工装上后，MIC处传感器靠近“8”字形电极，SPK处传感器靠近“U”字形电极。

相应的，本实用新型还提供一种包括上述测试工装和前述蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路的蓝牙耳机Don&Doff功能测试装置，其中，所测试工装用于固定待测试蓝牙耳机，蓝牙耳机功能测试电路的测试电极放置在通过所述测试工装上靠近蓝牙耳机的电容传感器的位置。

在将待测试蓝牙耳机放置到测试工装对应的位置后，就可以通过激励信号发生器对测试电路施加激励信号，测试软件读取蓝牙耳机的电容传感器的感应曲线，即可获得耳机Don/Doff功能曲线，对照标样耳机Don/Doff功能曲线确定的limit，从而判定此功能的一致性。

如上参照附图以示例的方式描述根据本实用新型的Don&Doff功能测试电路及测试装置。但是，本领域技术人员应当理解，对于上述本实用新型所提出的Don&Doff功能测试电路及测试装置，还可以在不脱离本实用新型内容的基础上做出各种改进。因此，本实用新型的保护范围应当由所附的权利要求书的内容确定。

Claims (4)

1.一种蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路，其特征在于，

所述测试电路包括至少一个测试电极和与所述测试电极相连接的同向电压跟随电路；

所述同向电压跟随电路包括变容二极管和激励信号发生器；

所述变容二极管的一端与所述测试电极相连，另一端与激励信号发生器相连。

2.如权利要求1所述的蓝牙耳机Don&Doff功能测试装置，其特征在于，

所述测试电极与所述蓝牙耳机的电容传感器相配合使用，当所述蓝牙耳机为双电容传感器的Don/Doff蓝牙耳机时，所述测试电极为两个，包括一个“U”字形电极和一个“8”字形电极，所述同向电压跟随电路为两路；当所述蓝牙耳机为单电容传感器蓝牙耳机时，所述测试电极为一个，所述同向电压跟随电路为一路。

3.如权利要求2所述的蓝牙耳机Don&Doff功能测试装置，其特征在于，

所述测试电极由PCB铜皮来实现，其中的“8”字形电极用来模拟人脸部皮肤，“U”字形电极用来模拟人耳。

4.一种蓝牙耳机Don&Doff功能测试装置，包括测试工装和如权利要求1～3中任一项所述的蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路，其特征在于，

所述测试工装用于固定待测试蓝牙耳机，所述蓝牙耳机功能测试电路的测试电极放置在通过所述测试工装上靠近所述蓝牙耳机的电容传感器的位置。

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