CN202713307U - 光通信用消光比测试系统 - Google Patents

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刘昭
夏哲
叶裕强
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Abstract

本实用新型公开了一种光通信用消光比测试系统，其包括被测光模块、光分路器、光功率测试单元、消光比测试单元及MCU单元，所述被测光模块与光分路器光连接，所述光分路器输出端分别与光功率测试单元及消光比测试单元光连接，所述光功率测试单元及消光比测试单元输出端分别与所述MCU单元连接，所述光分路器将被测光模块的输出光进行比例分配。本实用新型通过将光分路器与被测光模块光连接，并将被测光模块的输出光进行比例分配给光功率测试单元及消光比测试单元，同时利用光电转换器及信号检测器将信号传给MCU单元并计算得到被测光模块的光功率及消光比，大大减少了光功率及消光比测试的外部设备，测试更方便更快捷，也降低了测试成本。

Description

光通信用消光比测试系统
技术领域
 本实用新型涉及数字模块测试领域，尤其是涉及一种光通信用消光比测试系统。
背景技术
随着光纤通信网络传输技术的提高，光纤传输设备的批量应用，光纤传输设备的核心器件——光模块的参数测试成为了一个的重要问题，为了解决这个问题，人们开发出了高速示波器，它采用高速的模数转换器（ADC）将输入的信号进行采样，得到输入信号为“0”时的平均光功率P0及输入信号为“1”时的平均光功率P1，进而根据消光比公式得到模块的消光比10lg（P1/ P0）。例如安捷伦的86100C示波器，它不仅可以测试光模块的输出光功率和消光比，还可以测试光模块的各种其他参数。
现在市场上测试光模块参数的仪器价格都比较昂贵，且功能繁多，在光模块大批量生产时并不需进行测试，而且现有的测试光模块系统过于繁杂，使得生产、测试和开发成本相对较高，因此需要一种专门应用于生产的测试系统。现有的光通信用数字模块测试系统，在进行光模块的性能测试时，需要多种其他设备进行辅助测试，因此各种测试设备电性连接也比较复杂，校准、维护比较困难，且容易出错。这样给我们生产测试带来了很大的不便，使测试变得繁琐和耗时，消耗了大量的人力物力，而且不利于生产效率的提高。
发明内容
基于此，有必要针对上述背景技术存在的问题，提供一种电连接简单，制造成本低廉，测试更方便更快捷的光通信用消光比测试系统。
为实现上述目的，本实用新型公开了一种光通信用消光比测试系统，其包括被测光模块、光分路器、光功率测试单元、消光比测试单元及MCU单元，所述被测光模块与光分路器光连接，所述光分路器输出端分别与光功率测试单元及消光比测试单元光连接，所述光功率测试单元及消光比测试单元输出端分别与所述MCU单元连接，所述光分路器将被测光模块的输出光进行比例分配。
在其中一个实施例中，所述光功率测试单元包括光电转换器，所述光电转换器一端与所述光分路器光连接，所述光电转换器另一端与所述MCU单元电连接，所述光电转换器检测到所述光分路器的输出光信号并将光信号转换成电信号，所述MCU单元接收到所述光电转换器转换的电信号。
在其中一个实施例中，所述消光比测试单元包括PIN型光电二极管、跨阻放大器及信号检测器，所述PIN型光电二极管一端与所述光分路器光连接，所述PIN型光电二极管另一端与所述跨阻放大器电连接，所述跨阻放大器另一端与所述信号检测器电连接，所述信号检测器另一端与所述MCU单元电连接，所述PIN型光电二极管检测到所述光分路器分配的一定比例的输出光信号，并将光信号转换成电信号，所述跨阻放大器将电信号转换成电压差分信号，差分信号经过所述信号检测器后转换成所述MCU单元可接收的信号。
综上所述，本实用新型光通信用消光比测试系统通过将光分路器与被测光模块光连接，并将被测光模块的输出光进行比例分配给光功率测试单元及消光比测试单元，同时利用光电转换器及信号检测器将信号传给MCU单元并计算得到被测光模块的光功率及消光比，大大减少了光功率及消光比测试的外部设备，简化了测试程序，加快了测试速度，同时也大大降低了被测光模块测试成本。
附图说明
图1为本实用新型一种实施例的电路原理图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型光通信用消光比测试系统包括被测光模块10、光分路器20、光功率测试单元30、消光比测试单元40及MCU单元50，所述被测光模块10与光分路器20光连接，所述光分路器20将被测光模块10的输出光进行了一定比例的分配，分光比为N，所述光分路器20输出端分别与光功率测试单元30及消光比测试单元40光连接，所述光功率测试单元30及消光比测试单元40输出端分别与所述MCU单元50连接。
所述光功率测试单元30包括光电转换器31，所述光电转换器31一端与所述光分路器20光连接，所述光电转换器31另一端与所述MCU单元50电连接，所述光电转换器31检测到所述光分路器20分配的一定比例输出光信号，并将光信号转换成电信号，此时光电转换器31内的电信号电流值为IPD，所述MCU单元50接收到所述光电转换器31转换的电信号，配合所述光电转换器31的响应度数值R响应度，计算可以得到被测光模块10的平均光功率PAVG= （1+1/N ）*IPD/ R响应度。
所述消光比测试单元40包括PIN型光电二极管41、跨阻放大器42及信号检测器43，所述PIN型光电二极管41一端与所述光分路器20光连接，所述PIN型光电二极管41另一端与所述跨阻放大器42电连接，所述跨阻放大器42另一端与所述信号检测器43电连接，所述信号检测器43另一端与所述MCU单元50电连接，所述PIN型光电二极管41检测到所述光分路器20分配的一定比例的输出光信号，并将光信号转换成电信号，并通过跨阻放大器42将电信号转换成电压差分信号VP-P，所述跨阻放大器42的跨导值为R跨导，差分信号VP-P经过所述信号检测器43后转换成所述MCU单元50可接收的信号，此时，所述MCU单元50识别到经转换后的差分信号值。
所述MCU单元50通过平均光功率计算公式P=IPD/ R响应度、电压计算公式V=R跨导* IPD/ R响应度、及电压差分信号VP-P=V1-V0，其中V1为被测光模块10输入信号为“1”时的平均电压值，V0为被测光模块10输入信号为“0”时的平均电压值，得到P=V/ R跨导，进而光功率差分信号PP-P=P1-P0= V1/ R跨导- V0/ R跨导；配合公式PAVG=（P1+P0）/2就算得到P1及P0值，其中P0输入信号为“0”时的平均光功率， P1为输入信号为“1”时的平均光功率；进而根据消光比公式得到被测光模块10的消光比10lg（P1/ P0）。
综上所述，本实用新型光通信用消光比测试系统通过将光分路器20与被测光模块10光连接，并将被测光模块10的输出光进行比例分配给光功率测试单元30及消光比测试单元40，同时利用光电转换器31及信号检测器43将信号传给MCU单元50并计算得到被测光模块10的光功率及消光比，大大减少了光功率及消光比测试的外部设备，简化了测试程序，加快了测试速度，同时也大大降低了被测光模块10测试成本。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (3)

1.一种光通信用消光比测试系统，其特征在于：包括被测光模块、光分路器、光功率测试单元、消光比测试单元及MCU单元，所述被测光模块与光分路器光连接，所述光分路器输出端分别与光功率测试单元及消光比测试单元光连接，所述光功率测试单元及消光比测试单元输出端分别与所述MCU单元连接，所述光分路器将被测光模块的输出光进行比例分配。
2.根据权利要求1所述的光通信用消光比测试系统，其特征在于：所述光功率测试单元包括光电转换器，所述光电转换器一端与所述光分路器光连接，所述光电转换器另一端与所述MCU单元电连接，所述光电转换器检测到所述光分路器的输出光信号并将光信号转换成电信号，所述MCU单元接收到所述光电转换器转换的电信号。
3.根据权利要求1所述的光通信用消光比测试系统，其特征在于：所述消光比测试单元包括PIN型光电二极管、跨阻放大器及信号检测器，所述PIN型光电二极管一端与所述光分路器光连接，所述PIN型光电二极管另一端与所述跨阻放大器电连接，所述跨阻放大器另一端与所述信号检测器电连接，所述信号检测器另一端与所述MCU单元电连接，所述PIN型光电二极管检测到所述光分路器分配的一定比例的输出光信号，并将光信号转换成电信号，所述跨阻放大器将电信号转换成电压差分信号，差分信号经过所述信号检测器后转换成所述MCU单元可接收的信号。
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