CN201039183Y - 一种测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试光接口单板的装置，该装置将光接口单板的专用测试仪器、光开关、光功率计、光衰减器等仪器资源集中起来，根据需要通过光开关切换完成调度，可以实现仪器资源与被测板端口的对接、经过可调光衰的对接，被测板端口自环、交叉环、经过可调光衰的自环、经过可调光衰的交叉环等测试状态。本实用新型能提高测试资源的共享度，降低测试过程中的手工干预，降低测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子或通信领域中的测试技术，特别涉及一种测试装置。
背景技术
光通讯技术在整个通信网络中，贯穿着网络的各个层次，承载着丰富多彩的业务。为了保证整个系统能够稳定地运行，就非常有必要对其中的系统设备或终端设备进行测试，但伴随着传输速率的不断提升，其接口特性也日益多样化，端口数量也逐渐增多，进而使得测试的难度大大增加。
为了解决上述的问题，业界采用了如图1和图2所示的第一种技术方案：该方案的核心为采用子架结合仪器堆叠的方式，即，将单板、配置光功率计、光衰减器、分光计、专用测试仪器并连同控制终端和测试子架放置于测试台上或标准机柜中。
虽然上述技术方案可以在一定程度解决以前现有技术中存在的问题，但由于上述的对光接口单板的测试方案，专用性强，所以具有如下缺点：
只能用于测试特定产品的一种或者一类单板，对测试资源的共享少，加上光测试仪器十分昂贵，所以有利用率低且成本高的缺点；
由于专用性强，所以当需要新开发测试系统时，具有周期长，需要重新安装调试的缺点；
在整个测试过程中手工干预太多，所以光路切换的灵活性和柔性都较差，难以对付产能高峰的压力；
另外，还具有测试效率低，占用生产场地面积大。
请参考图3和图4，为业界第二种技术方案，和第一种技术方案相比，区别点只是在测试资源中增加了光开关，该方案也是将要测试的单板，配置光功率计、光衰减器、光开关、专用测试仪器、控制终端和测试子架放置于测试台上或安装在一个标准机柜中。
虽然相较于第一种技术方案，该方案增加了光开关，能够减少测试过程中的手工干预，提高光路切换的灵活性，但仍然具有如下缺点：
只能用于测试特定产品的一种或者一类单板，对测试资源的共享少，加上光测试仪器十分昂贵，所以有利用率低且成本高的缺点；
由于专用性强，所以当需要新开发测试系统时，具有周期长，需要重新安装调试的缺点；
在整个测试过程中手工干预太多，所以光路切换的灵活性和柔性都较差，难以对付产能高峰的压力；
另外，还具有测试效率低，占用生产场地面积大。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种测试装置，以提测试系统的资源共享度，解决重复开发的问题。
为达本实用新型的实用新型目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种测试光接口单板的平台化装置，包括被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(202)、光功率计(30)、光衰减器(40)、测试仪器(50)，被测板接口(10)、光开关(201)、测试仪器(50)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；被测板接口(10)通过光开关(201)与光功率计(30)连接；被测板接口(10)、光开关(201)、光衰减器(40)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路。
所述的平台化装置，还包括光开关(203)、光开关(204)、光谱仪(60)，被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(203)、测试仪器(50)、光开关(204)、光衰减器(40)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(203)、光开关(204)、光衰减器(40)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；光功率计(30)、光谱仪(60)连接在光开关(203)上。
所述的平台化装置，还包括光开关(205)、光开关(206)、光开关(207)、固定衰减器(701)、固定衰减器(702)，被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(205)、固定衰减器(701)、光开关(203)、测试仪器(50)、光开关(204)、光衰减器(40)、光开关(206)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(205)、光开关(207)、光开关(204)、光衰减器(40)、光开关(206)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(205)、固定衰减器(701)、光开关(203)、测试仪器(50)、光开关(204)、光衰减器(40)、光开关(206)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接；被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(205)、光开关(207)、固定衰减器(702)、光开关(206)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；光谱仪(60)、光功率计(30)连接在光开关(207)上。
本技术方案由于将各种测试仪器集成起来，根据测试需要，通过光开关切换完成对测试仪器的调度，所以能提高现有测试系统的资源共享度，解决重复开发问题，降低测试系统开发成本，缩短开发周期，统一测试方法，快速构建高质量的光接口板测试系统。根据测试需要，本技术方案可以采用单级、二级或三级光开关，灵活应对测试需求。
附图说明
图1是现有技术1将测试资源放置于测试台的示意图；
图2是现有技术1将测试资源放置于标准机柜的示意图；
图3是现有技术2将测试资源放置于测试台的示意图；
图4是现有技术2将测试资源放置于标准机柜的示意图；
图5是本实用新型的实施例的原理示意图；
图6是本实用新型光开关采用单级机构的实施例的示意图；
图7是本实用新型光开关采用二级机构的实施例的示意图；
图8是本实用新型光开关采用三级机构的实施例的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施例进行详细描述：
附图6是本实用新型光开关采用单级机构的实施例的示意图，被测板接口(10)、第一光开关(201)、测试仪器(50)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；被测板接口(10)通过第一光开关(201)与光功率计(30)连接；被测板接口(10)、第一光开关(201)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路。图中的第一光开关(201)和第二光开关(202)根据需要，可以是1×2、1×8、2×2、1×4、2×4、2×8、1×16等型号。
附图7是本实用新型光开关采用二级机构的实施例的示意图，被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；光功率计(30)、光谱仪(60)连接在第三光开关(203)上。
第一光开关(201)、第二光开关(202)、第三光开关(203)、第四光开关(204)根据需要可以是1×2、1×8 2×2、1×4、2×4、2×8、1×16等型号。光功率计(30)根据需要可以连接至第一光开关(201)上。
附图8是本实用新型光开关采用三级机构的实施例的示意图，被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、固定衰减器(701)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、第七光开关(207)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、固定衰减器(701)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、第七光开关(207)、固定衰减器(702)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；光谱仪(60)、光功率计(30)连接在第七光开关(207)上。
第一光开关(201)、第二光开关(202)、第三光开关(203)、第四光开关(204)、第五光开关(205)、第六光开关(206)、第七光开关(207)根据需要可以是1×2、1×8、2×2、1×4、2×4、2×8、1×16等型号。光功率计(30)根据需要可以连接至第一光开关(201)或第四光开关(204)上。第五光开关(205)和第六光开关(206)根据需要可以合并。
其中，所述测试仪器(50)用于检测业务特性，其支持的业务属性的种类可以为：ATM(Asynchronous Transfer Mode，异步传输模式)，POS(Packet Over SONET/SDH，基于SDH/SONET的报封装)，FE(Fast Ethernet，快速以太网)，GE(Gigabit Ethernet，千兆比特以太网)，SDH(Synchronous Digital Hierarchy，同步数字体系、同步数字系列)，EPON(Ethernet Passive OpticalNetwork，以太网无源光网络)，GPON(Gigabit-(capable Passive0ptica1 Network，G比特无源光网络)，10GE(Gigabit Ethernet，千兆比特以太网)，40GE(Gigabit Ethernet，千兆比特以太网)之中的一种或多种；所支持的业务的速率可以为155M，或622M，或1.25G，或2.5G，或10G，或40G；所支持的接口可以为FC(FiberConnector，光纤连接器)，或SC(Square Connector，方形连接器)，或LC(Lucent Connector，LC型连接器)，或MTRJ(MechanicalTransfer Registered Jack，MTRJ型连接器)，或DLC(Double LC，双LC型连接器)，或DSC(Double SC，双SC型连接器)，或DFC(Double FC，双FC型连接器)。
在以上的实施例中，通过光开关切换，可以实现仪器资源与被测板端口的对接，经过可调光衰的对接。通过光开关切换，可以实现被测板端口自环、交叉环、经过可调光衰的自环、经过可调光衰的交叉环。而且可以将各种专用测试仪器、光开关、固定托台、安装在标准机柜中，减少占用的生产场地。
本技术方案由于将各种测试仪器集成起来，根据测试需要，通过光开关切换完成对测试仪器的调度，所以能提高现有测试系统的资源共享度，解决重复开发问题，降低测试系统开发成本，缩短开发周期，统一测试方法，快速构建高质量的光接口板测试系统。根据测试需要，本技术方案可以采用单级、二级或三级光开关，灵活应对测试需求。
Claims (9)
1.一种测试装置，其特征在于，包括被测板接口(10)、第一光开关(201)、第二光开关(202)、光功率计(30)、光衰减器(40)、测试仪器(50)，被测板接口(10)、第一光开关(201)、测试仪器(50)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；被测板接口(10)通过第一光开关(201)与光功率计(30)连接；被测板接口(10)、第一光开关(201)、光衰减器(40)依次连接。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，被测板接口(10)、第一光开关(201)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述的平台化装置还包括第三光开关(203)、第四光开关(204)、光谱仪(60)，被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；光功率计(30)、光谱仪(60)连接在第三光开关(203)上。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述的平台化装置还包括第三光开关(203)、第四光开关(204)、光谱仪(60)，被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接，形成一个环路；光谱仪(60)连接在第三光开关(203)上，光功率计(30)连接至第一光开关(201)上。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述的平台化装置还包括第五光开关(205)、第六光开关(206)、第七光开关(207)、固定衰减器(701)、固定衰减器(702)，被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、固定衰减器(701)、光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、第七光开关(207)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、固定衰减器(701)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接；被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、第七光开关(207)、固定衰减器(702)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路；光谱仪(60)连接在第七光开关(207)上，光功率计(30)连接至第一光开关(201)，或第四光开关(204)，或第七光开关(207)上。
6.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置，其特征在于，所述的光开关(201)、光开关(202)、光开关(203)、光开关(204)、光开关(205)、光开关(206)、光开关(207)的型号为1×2、1×4、1×8、1×16、2×2、2×4、2×8中的一种或多种。
7.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置，其特征在于，所述测试仪器(50)支持的业务属性的种类为：ATM，POS，FE，GE，SDH，EPON，GPON，10GE，40GE之中的一种或多种。
8.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置，其特征在于，所述测试仪器(50)支持的业务的速率为155M，或622M，或1.25G，或2.5G，或10G，或40G。
9.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置，其特征在于，所述测试仪器(50)支持的接口为FC，或SC，或LC，或MTRJ，或DLC，或DSC，或DFC。
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- 2006-12-25 CN CNU2006200167570U patent/CN201039183Y/zh not_active Expired - Lifetime
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