CN202631635U - 一种射频测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种射频测试系统，通过在被测件的输入端设置的第一射频开关，自由切换接入的网络分析仪的射频输出端和信号源，在被测件的输出端设置的第二射频开关，自由切换接入的网络分析仪的测试端和频谱分析仪。当接通信号源、被测件和频谱分析仪组成的频谱分析子系统时，进行被测件的频谱分析；当接通网络分析仪的射频输出端、被测件和网络分析仪的测试端组成的S参数测试子系统时，进行被测件S参数的测试。第一射频开关和第二射频开关是由电源控制TTL高电平的生成进而控制射频开关的切换。本实用新型提供的一种射频测试系统，通过第一射频开关和第二射频开关的配合，快速切换接通频谱分析子系统或S参数测试子系统，提高射频测试速率。

Description

一种射频测试系统

技术领域

本实用新型涉及通信设备领域，特别涉及一种射频测试系统。

背景技术

在现代信息技术日益发达的今天，通讯技术在人们的日常生活和生产中扮演着越来越重要的角色，人们对通信设置功能和通信质量的要求也越来越高。为满足社会对通讯设备越来越高的功能和质量要求，在通信设备的工业生产过程中，对产品的性能测试尤其重要。

作为通信基础设备重要组成部分的射频子系统和射频部件，对其进行射频测试是一项非常重要的测试。

射频测试中一般包括测试被测件频谱指标的频谱测试和测试被测件的S参数的射频网络S参数测试。

该S参数是网络分析仪的基本测量参数，包括了反射系数、传输系数、驻波系数、衰减、相位等参数。

目前，被测件频谱分析测试的系统示意图参见图1，信号源输出信道频率内的信号到被测件，被测件输出信号到频谱分析仪，利用频谱分析仪对被测件进行频谱分析。被测件S参数测试的系统示意图参见图2，网络分析仪的端口1(RF output，射频输出端)与被测件输入端相连，被测件将信号输出到网络分析仪的端口2(Test测试端)，网络分析仪对被测件的S参数进行测试。

但是，目前的这种测试系统，在进行测试频谱测试时，需要将被测件连入频谱测试系统，进行S参数测试时，需要将被测件再连入S参数测试系统，两个测试子系统之间的切换需要人工进行，浪费时间。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种射频测试系统，能够快速对频谱测试子系统和S参数测试子系统进行切换。

一种射频测试系统，包括：

第一射频开关、第二射频开关、信号源、网络分析仪和频谱分析仪；

所述第一射频开关的第一输出端与被测件的输入端相连，所述第一射频开关的第一输入端与生成检测信号的信号源相连，所述第一射频开关的第二输入端与生成射频信号的网络分析仪的射频输出端相连；

所述第二射频开关的第一输入端与被测件的输出端相连，第一输出端与依据被测件的输出信号进行频谱分析的频谱分析仪相连，第二输出端与依据被测件的射频输出信号进行S参数分析的网络分析仪相连。

上述的系统，优选的，所述信号源包括：

生成信号频率为信道中心频率的第一信号的第一信号发生器；

生成第二信号，且所述第二信号的频率与所述第一信号的频率之差为一设定值的第二信号发生器；

分别与所述第一信号发生器、第二信号发生器和第一射频开关的第一输入端相连，对所述第一信号和第二信号进行组合得到检测信号的合路器。

上述的系统，优选的，还包括：

对所述信号源发出的检测信号或网络分析仪发出的射频信号进行放大处理的功率放大器；

分别与所述信号源、功率放大器和第一射频开关的第一输入端相连，当被测件的最小额定输入信号功率大于信号源或网络分析仪的最大输出功率时，接通所述功率放大器的第三射频开关。

上述的系统，优选的，还包括：

分别与所述第一射频开关的第一输入端和信号源相连，对所述信号源发送的检测信号分解得到测试信号和第一测量信号，将所述测试信号输出到被测件的第一分解器；

与所述第一分解器相连，依据所述第一测量信号对输入被测件的信号的大小进行测量的第一功率计。

上述的系统，优选的，还包括：

与第二射频开关的第一输入端相连，当系统对被测件进行频谱分析时，将被测件输出的测试输出信号分解得到检测输出信号和第二测量信号，以及当系统对被测件进行S参数测试时，将被测件输出的测试射频输出信号分解得到射频输出信号和第三测量信号的第二分解器；

与所述第二分解器相连，当系统对被测件进行频谱分析时，依据所述第二测量信号对测试输出信号的大小进行测量，以及当系统对被测件进行S参数测试时，依据所述第三测量信号对测试射频输出信号的大小进行测量的第二功率计。

上述的系统，优选的，还包括：

分别与被测件和第二分解器相连，当所述测试输出信号的功率大于频谱分析仪的最大输入功率时，对所述测试输出信号进行衰减处理，以及当所述测试射频输出信号的功率大于网络分析仪的最大输入功率时，对所述射频输出信号进行衰减处理的功率衰减器。

上述的系统，优选的，第一射频开关包括：

第一电源；

与所述第一电源相连，由第一电源触发，生成TTL高电平脉冲的第一脉冲生成单元；

与所述第一脉冲生成单元相连，依据所述第一脉冲生成单元产生的TTL高电平在第一射频开关的第一输入端和第二输入端之间进行切换的第一开关单元。

上述的系统，优选的，第二射频开关包括：

第二电源；

与所述第二电源相连，由第二电源触发，生成TTL高电平脉冲的第二脉冲生成单元；

与所述第二脉冲生成单元相连，依据所述第二脉冲生成单元产生的TTL高电平在第二射频开关的第一输出端和第二输出端之间进行切换的第二开关单元。

上述的系统，优选的，第三射频开关包括：

第三电源；

与所述第三电源相连，由第三电源触发，生成TTL高电平脉冲的第三脉冲生成单元；

两个分别与所述第三脉冲生成单元相连，依据所述第三脉冲生成单元产生的TTL高电平在各自常闭触点端和常开触点端之间进行切换的第三开关单元。

本实用新型实施例提供的一种射频测试系统，通过第一射频开关和第二射频开关的配合，快速切换接通频谱分析子系统或S参数测试子系统，提高射频测试速率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中被测件频谱分析测试的系统示意图；

图2是现有技术中被测件S参数测试的系统示意图；

图3是本申请一种射频测试系统实施例1的结构示意图；

图4是本申请一种射频测试系统实施例1中第一射频开关的具体结构示意图；

图5是本申请一种射频测试系统实施例中1第二射频开关的具体结构示意图；

图6是本申请一种射频测试系统实施例1中第一射频开关和第二射频开关的电路图；

图7是本申请一种射频测试系统实施例1的对被测件进行频谱分析时系统的连接示意图；

图8是本申请一种射频测试系统实施例1的对被测件进行S参数测试时系统的连接示意图；

图9是本申请一种射频测试系统实施例2的结构示意图；

图10是本申请一种射频测试系统实施例3的结构示意图；

图11是本申请一种射频测试系统实施例3中第三射频开关的结构示意图；

图12是本申请一种射频测试系统实施例4的结构示意图；

图13是本申请一种射频测试系统实施例5的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为了能够快速有效的进行被测件的射频指标和S参数的测试，需要预先按照被测件的工作频率范围设置网络分析仪的起、止频率，并将网络分析仪的功能设置在S参数测试方法上。

参见图3，示出了本申请一种射频测试系统实施例1的结构示意图，包括：信号源101、网络分析仪102、第一射频开关103、第二射频开关104和频谱分析仪105。

参见图4所示的本实用新型实施例1中的第一射频开关的具体结构示意图，所述第一射频开关103包括：第一电源1031、第一脉冲生成单元1032和第一开关单元1033。

上述第一脉冲生成单元1032与所述第一电源1031相连，由第一电源1031触发生成TTL高电平脉冲；

第一开关单元1033与所述第一脉冲生成单元1032相连，依据所述第一脉冲生成单元1032产生的TTL高电平在第一射频开关103的第一输入端NC1和第二输入端NO1之间进行切换。

参见图5所示的本实用新型实施例1中的第二射频开关的具体结构示意图，所述第二射频开关104包括：第二电源1041、第二脉冲生成单元1042和第二开关单元1043。

第二脉冲生成单元1042与所述第二电源1041相连，由第二电源1041触发生成TTL高电平脉冲；

第二开关单元1043与所述第二脉冲生成单元1042相连，依据所述第二脉冲生成单元1042产生的TTL高电平在第二射频开关104的第一输出端NC2和第二输出端NO2之间进行切换。

参见图6为本实用新型实施例中第一射频开关和第二射频开关的电路图。

其中，所述脉冲生成单元通过分压电阻R1、R2与所述电源相连，由电源触发，生成TTL(Transistor Transistor Logic，晶体管-晶体管逻辑)高电平脉冲；所述开关单元与所述脉冲生成单元相连，依据所述TTL高电平进行切换。

当电源供电时，脉冲生成单元TTL的电压值为：

$V_{\mathrm{TTL}}=U*\left(\frac{R2}{R1+R2}\right)V$

取电源电压U＝24V，分压电阻R1、R2的电阻分别为22kΩ、5.49Ω，即可计算得出脉冲生成单元TTL此时的电压值V_TTL＝4.79V，该电压值V_TTL＞2V，满足TTL电平触发值，生成TTL高电平，所述开关单元切换到NO(normal open，常开触点)端；当电源切断，停止供电时，脉冲生成单元TTL的电压值为0，脉冲生成单元TTL不再生成TTL高电平，所述开关单元回到NC(normal close，常闭触点)端。

本申请提供的第一射频开关和第二射频开关的通过对电源的是否供电控制TTL高电平的生成，进而控制射频开关接通的触点。

实际实施中，电源电压值、分压电阻R1、R2的阻值可为其它数值，只要保证TTL分得的电压大于2V即可；可采用程序控制电源是否供电，迅速切换。

实际实施中，为防止电源开始供电时产生的纹波影响脉冲质量，为分压电阻R2设置一个并联电容。

其中，所述第一射频开关103的第一输出端C1与所述被测件的输入端相连，所述第一射频开关103的第一输入端NC1与生成检测信号的信号源101相连，所述第一射频开关103的第二输入端NO1与生成射频信号的网络分析仪102的射频输出端相连；

所述第二射频开关104的第一输入端C2与所述被测件的输出端相连，所述第二射频开关104的第一输出端NC2与依据被测件的输出信号进行频谱分析的频谱分析仪相连，所述第二射频开关104的第二输出端NO2与依据被测件的射频输出信号进行S参数分析的网络分析仪102相连。

对被测件进行频谱分析时，需要射频开关接通到NC端，所以，在进行频谱分析时，电源不供电，脉冲生成单元不生成TTL高电平，所述射频开关在NC端，即第一射频开关103接通C1和NC1，第二射频开关104接通C2和NC2。

对被测件进行S参数测试时，需要射频开关接通到NO端，所以，在进行S参数测试时，对电源供电，脉冲生成单元生成TTL高电平，所述射频开关切换到NO端，即第一射频开关103接通C1和NO1，第二射频开关104接通C2和NO2。

参见图7，示出了本申请一种射频测试系统实施例1的对被测件进行频谱分析时系统的连接示意图。

所述第一射频开关103的第一输入端NC1和第一输出端C1接通，所述第二射频开关104的第一输入端C2和第一输出端NC2接通，则所述第一射频开关103和所述第二射频开关104接通所述信号源101、被测件和频谱分析仪105。

信号源101生成检测信号，通过第一射频开关103输出到被测件，检测信号经过被测件的处理，被测件输出检测输出信号，经过第二射频开关104传输到频谱分析仪105，频谱分析仪105依据设定的频谱分析规则对检测输出信号进行分析，得到被测件的频谱特性。

参见图8，示出了本申请一种射频测试系统实施例1的对被测件进行S参数测试时系统的连接示意图。

所述第一射频开关103的第二输入端NO1和第一输出端C1接通，所述第二射频开关104的第一输入端C2和第二输出端NO2接通，则所述第一射频开关103和所述第二射频开关104接通所述信号源101、被测件和频谱分析仪105。

网络分析仪102生成射频信号，由其射频输出端输出，所述射频信号通过第一射频开关103输出到被测件，射频信号经过被测件的处理，被测件输出射频输出信号，经过第二射频开关104传输到网络分析仪102的测试端，网络分析仪102依据设定的S参数分析规则对该射频输出信号进行分析，得到被测件的S参数。

由上述可知，本实用新型实施例提供的一种射频测试系统，通过第一射频开关和第二射频开关的配合，快速切换接通频谱分析子系统或S参数测试子系统。

参见图9，示出了本申请一种射频测试系统实施例2的结构示意图，与前述的实施例相同，本实施例提供的一种射频测试系统包括：信号源101、网络分析仪102、第一射频开关103、第二射频开关104和频谱分析仪105。

其中，所述第一射频开关103的第一输出端C1与所述被测件的输入端相连，所述第一射频开关103的第一输入端NC1与生成检测信号的信号源101相连，所述第一射频开关103的第二输入端NO1与生成射频信号的网络分析仪102的射频输出端相连；所述第二射频开关104的第一输入端C2与所述被测件的输出端相连，所述第二射频开关104的第一输出端NC2与依据被测件的输出信号进行频谱分析的频谱分析仪相连，所述第二射频开关104的第二输出端NO2与依据被测件的射频输出信号进行S参数分析的网络分析仪102相连。

当工作频带内有两个及以上信号输入被测件时，由于被测件的非线性而在其输出端口产生的与两个或多个输入信号有特定关系的产物为互调产物。被测件对这些互调产物的抑制能力就表现在输出的信号互调衰减。

对被测件进行频谱分析，当被测件有互调指标要求时，就是测试被测件对互调产物的抑制能力，最简单的就是信号源为两个，分别输入工作频带内的频率不同的信号。

此时，所述第一射频开关103的第一输入端NC1和第一输出端CI接通，所述第二射频开关104的第一输入端C2和第一输出端NC2接通，则所述第一射频开关103和所述第二射频开关104接通所述信号源101、被测件和频谱分析仪105。

其中，所述信号源101包括：第一信号发生器1011、第二信号发生器1012和合路器1013。

其中，第一信号发生器1011生成信号频率为信道中心频率的第一信号；

第二信号发生器1012生成第二信号，且所述第二信号的频率与所述第一信号的频率之差为一设定值；

输入到被测件的信号在被测件中处理输出有互调产物的信号，就需要两信号的频率在被测件工作频带内有一定间隔：第一信号的频率为信道中心频率，第二信号的频率与第一信号频率相差一设定值。

实际应用中，此设定值可以为几百kHz。

合路器1013分别与所述第一信号发生器1011、第二信号发生器1012和第一射频开关103的第一输入端NC1相连，对所述第一信号和第二信号进行组合得到检测信号。

对第一信号和第二信号进行组合成为一路检测信号，但并未改变各个信号的频率等特性。

由上述可知，本实用新型实施例提供的一种射频测试系统，在进行被测件的频谱分析时，对被测件的互调指标进行测试时，采用了两个信号发生器发出频率不同的第一信号和第二信号，将第一信号和第二信号进行合路组合之后得到的检测信号发送至被测件，经过被测件的处理后得到的互调产物信号在频谱分析仪中进行分析，得到被测件的互调信息。

参见图10，示出了本申请一种射频测试系统实施例3的结构示意图，与前述的实施例1相同，本实施例提供的一种射频测试系统包括：信号源101、网络分析仪102、第一射频开关103、第二射频开关104和频谱分析仪105。

其中，所述第一射频开关103的第一输出端C1与所述被测件的输入端相连，所述第一射频开关103的第一输入端NC1与生成检测信号的信号源101相连，所述第一射频开关103的第二输入端NO1与生成射频信号的网络分析仪102的射频输出端相连；所述第二射频开关104的第一输入端C2与所述被测件的输出端相连，所述第二射频开关104的第一输出端NC2与依据被测件的输出信号进行频谱分析的频谱分析仪相连，所述第二射频开关104的第二输出端NO2与依据被测件的射频输出信号进行S参数分析的网络分析仪102相连。

在本实施例中，还包括：第三射频开关106和功率放大器107。

其中，第三射频开关106的结构示意图如图11所示，包括第三电源1061、第三脉冲生成单元1062和第三开关单元1063，第三开关单元1063为两个并列的相同部件，同时由第三脉冲生成单元1062控制切换。本实用新型中的第三射频开关的工作原理与上述第一射频开关和第二射频开关的原理一致，参见第一射频开关和第二射频开关的原理。第三射频开关106由第三电源1061触发第三脉冲生成单元1062产生TTL高电平脉冲，两个分别与第三脉冲生成单元1062相连的第三开关单元1063依据TTL高电平在所述两个第三开关单元1063各自的常闭触点端NC和常开触点端NO之间进行切换。

其中，第三射频开关106与所述第一射频开关103的第一输入端NC1相连，当所述被测件的最小额定输入信号功率大于信号源101或网络分析仪102的最大输出功率时，接通所述功率放大器107；

功率放大器107与所述第三射频开关106相连，对所述信号源101发出的检测信号或网络分析仪102发出的射频信号进行放大处理。

第三射频开关106可视为两个射频开关组成的射频开关组，NO3端与NO4端固定连接，功率放大器107的输入端与第三射频开关106的NC3端相连，输出端与第三射频开关106的NC4端相连，平时C3端与NO3端相连，C4端与NO4端相连，功率放大器107不接入测试系统工作。

当被测件的最小额定输入信号功率大于信号源101或是网络分析仪102的最大输出功率时，需要对所述信号源101发出的检测信号或网络分析仪102发出的射频信号进行放大处理时，第三射频开关106接通C3端和NC3端、C4端和NC4端，功率放大器107接入测试系统，对接收到的信号进行放大处理，再将放大后的信号发送到被测件。

由于功率放大器工作时散热情况，实际实施时，对功率放大器采用风扇散热，保证测试的安全稳定，可控制风扇与功率放大器同时开始工作。

由上述可知，本实用新型实施例提供的一种射频测试系统，当信号源或网络分析仪的信号最大输出功率小于被测件的最小额定输入信号功率时，功率放大器对信号源或网络分析仪的信号进行放大处理，再将放大后的信号输出到被测件。

参见图12，示出了本申请一种射频测试系统实施例4的结构示意图，与前述的实施例2相同，本实施例提供的一种射频测试系统包括：信号源101、网络分析仪102、第一射频开关103、第二射频开关104和频谱分析仪105。

其中，所述第一射频开关103的第一输出端C1与所述被测件的输入端相连，所述第一射频开关103的第一输入端NC1与生成检测信号的信号源101相连，所述第一射频开关103的第二输入端NO1与生成射频信号的网络分析仪102的射频输出端相连；所述第二射频开关104的第一输入端C2与所述被测件的输出端相连，所述第二射频开关104的第一输出端NC2与依据被测件的输出信号进行频谱分析的频谱分析仪相连，所述第二射频开关104的第二输出端NO2与依据被测件的射频输出信号进行S参数分析的网络分析仪102相连。

其中，所述信号源101包括：第一信号发生器1011、第二信号发生器1012和合路器1013。

其中，第一信号发生器1011生成信号频率为信道中心频率的第一信号；

第二信号发生器1012生成第二信号，且所述第二信号的频率与所述第一信号的频率之差为一设定值；

输入到被测件的信号在被测件中处理输出有互调产物的信号，就需要两信号的频率在被测件工作频带内有一定间隔：第一信号的频率为信道中心频率，第二信号的频率与第一信号频率相差一设定值。

实际应用中，此设定值可以为几百kHz。

其中，合路器1013分别与所述第一信号发生器1011、第二信号发生器1012和第一射频开关103的第一输入端NC1相连，对所述第一信号和第二信号进行组合得到检测信号，并将所述检测信号输入被测件。

在本实施例中，还包括：第一分解器108和第一功率计109。

第一分解器108与所述第一射频开关103的第一输入端端NC1和信号源101相连，第一分解器108对所述信号源101发送的检测信号分解得到测试信号和第一测量信号，并将所述测试信号输出到被测件，将所述第一测量信号输出到所述第一功率计109；

第一功率计109与所述第一分解器108相连，依据所述第一测量信号对所述测试信号的大小进行测量。

第一信号和第二信号合路组合得到检测信号，将检测信号输入被测件进行处理。

被测件的实际输入信号大小为：RF_in＝Power₁+(ATTN_in-ATTN₁)(dB)

其中，ATTN_in是信号源101与被测件输入间的差损，ATTN₁是信号源101与第一功率计109间的差损，这些值可通过校准得到确切的值。Power₁是第一功率计109的测量值。功率dB的定义是：

$\mathrm{dB}=\frac{\mathrm{Bel}}{10}=10\×{\log }_{10}\frac{P1}{P2}$

P1是第一信号发生器1011产生的第一信号的功率，P2是第二信号发生器1012产生的第二信号的功率。

由上述可知，本实用新型实施例提供的一种射频测试系统，信号源产生的两路信号合成的检测信号，由第一分解器分解得到测试信号和第一测量信号，第一功率计依据第一测量信号对输入被测件的信号的大小进行测量，得到被测件实际输入信号的大小就可对被测件的频谱分析结果更加详细。

参见图13，示出了本申请一种射频测试系统实施例5的结构示意图，与前述的实施例1相同，本实施例提供的一种射频测试系统包括：信号源101、网络分析仪102、第一射频开关103、第二射频开关104、频谱分析仪105。

其中，所述第一射频开关103的第一输出端C1与所述被测件的输入端相连，所述第一射频开关103的第一输入端NC1与生成检测信号的信号源101相连，所述第一射频开关103的第二输入端NO1与生成射频信号的网络分析仪102的射频输出端相连；所述第二射频开关104的第一输入端C2与所述被测件的输出端相连，所述第二射频开关104的第一输出端NC2与依据被测件的输出信号进行频谱分析的频谱分析仪相连，所述第二射频开关104的第二输出端NO2与依据被测件的射频输出信号进行S参数分析的网络分析仪102相连。

在本实施例中，还包括：第二分解器110和第二功率计111。

其中，所述第二分解器110分别与被测件和第二射频开关104的第一输入端C2相连，当系统对被测件进行频谱分析时，所述第二分解器110将被测件输出的测试输出信号分解得到检测输出信号和第二测量信号，当系统对被测件进行S参数测试时，所述第二分解器110将被测件输出的测试射频输出信号分解得到射频输出信号和第三测量信号；

所述第二功率计111与所述第二分解器110相连，当系统对被测件进行频谱分析时，所述第二功率计111依据所述第二测量信号对测试输出信号的大小进行测量，当系统对被测件进行S参数测试时，所述第二功率计111依据所述第三测量信号对测试射频输出信号的大小进行测量。

第二功率计111测量被测件输出的测试输出信号和测试射频输出信号的大小，被测件实际输出的信号大小为：

RF_OUT＝Power₂-ATTN_OUT

其中，ATTN_OUT是被测件输出端到第二功率计之间的差损，可通过校准得到确切的值。Power₂是第二功率计109的测量值。

在本实施例中，还可以包括：功率衰减器112。

所述功率衰减器112分别与所述被测件和第二分解器110相连，当所述测试输出信号的功率大于频谱分析仪105的最大输入功率时，对所述测试输出信号进行衰减处理，或是当所述测试射频输出信号的功率大于网络分析仪102的最大输入功率时，对所述射频输出信号进行衰减处理。

由于功率衰减器工作时散热情况，实际实施时，可对功率衰减器采用风扇散热，保证测试的安全稳定，可控制风扇与功率衰减器同时开始工作。

由上述可知，本实用新型实施例提供的一种射频测试系统，在被测件的输出端设置检测装置：第二分解器和第二功率计，当所述被测件输出的信号高于后面对应的分析部件时，对输出的信号进行衰减处理，保护后面的分析部件：网络分析仪和频谱分析仪。

本申请实施例中，与第一射频开关的NO1端相连的是网络分析仪的射频输出端、与第二射频开关的NO2端连接的网络分析仪的测试端，与第一射频开关的NC1端相连的是信号源、与第二射频开关的NC2端相连的是频谱分析仪，不限定于此，实际实施时，也可采用网络分析仪的射频输出端与第一射频开关的NC1端相连、网络分析仪的测试端与第二射频开关的NC2端连接，信号源与第一射频开关的NO1端相连、频谱分析仪与第二射频开关的NO2端相连，只要保证在射频开关同步切换时组成正确的S参数测试子系统或是射频测试子系统即可。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (9)

1.一种射频测试系统，其特征在于，包括：

第一射频开关、第二射频开关、信号源、网络分析仪和频谱分析仪；

所述第一射频开关的第一输出端与被测件的输入端相连，所述第一射频开关的第一输入端与生成检测信号的信号源相连，所述第一射频开关的第二输入端与生成射频信号的网络分析仪的射频输出端相连；

所述第二射频开关的第一输入端与被测件的输出端相连，第一输出端与依据被测件的输出信号进行频谱分析的频谱分析仪相连，第二输出端与依据被测件的射频输出信号进行S参数分析的网络分析仪相连。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号源包括：

生成信号频率为信道中心频率的第一信号的第一信号发生器；

生成第二信号，且所述第二信号的频率与所述第一信号的频率之差为一设定值的第二信号发生器；

分别与所述第一信号发生器、第二信号发生器和第一射频开关的第一输入端相连，对所述第一信号和第二信号进行组合得到检测信号的合路器。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：

对所述信号源发出的检测信号或网络分析仪发出的射频信号进行放大处理的功率放大器；

分别与所述信号源、功率放大器和第一射频开关的第一输入端相连，当被测件的最小额定输入信号功率大于信号源或网络分析仪的最大输出功率时，接通所述功率放大器的第三射频开关。

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，还包括：

分别与所述第一射频开关的第一输入端和信号源相连，对所述信号源发送的检测信号分解得到测试信号和第一测量信号，将所述测试信号输出到被测件的第一分解器；

与所述第一分解器相连，依据所述第一测量信号对输入被测件的信号的大小进行测量的第一功率计。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：

与第二射频开关的第一输入端相连，当系统对被测件进行频谱分析时，将被测件输出的测试输出信号分解得到检测输出信号和第二测量信号，以及当系统对被测件进行S参数测试时，将被测件输出的测试射频输出信号分解得到射频输出信号和第三测量信号的第二分解器；

与所述第二分解器相连，当系统对被测件进行频谱分析时，依据所述第二测量信号对测试输出信号的大小进行测量，以及当系统对被测件进行S参数测试时，依据所述第三测量信号对测试射频输出信号的大小进行测量的第二功率计。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，还包括：

分别与被测件和第二分解器相连，当所述测试输出信号的功率大于频谱分析仪的最大输入功率时，对所述测试输出信号进行衰减处理，以及当所述测试射频输出信号的功率大于网络分析仪的最大输入功率时，对所述射频输出信号进行衰减处理的功率衰减器。

7.根据权利要求1～6所述的系统，其特征在于，第一射频开关包括：

第一电源；

与所述第一电源相连，由第一电源触发，生成TTL高电平脉冲的第一脉冲生成单元；

与所述第一脉冲生成单元相连，依据所述第一脉冲生成单元产生的TTL高电平在第一射频开关的第一输入端和第二输入端之间进行切换的第一开关单元。

8.根据权利要求1～6所述的系统，其特征在于，第二射频开关包括：

第二电源；

与所述第二电源相连，由第二电源触发，生成TTL高电平脉冲的第二脉冲生成单元；

与所述第二脉冲生成单元相连，依据所述第二脉冲生成单元产生的TTL高电平在第二射频开关的第一输出端和第二输出端之间进行切换的第二开关单元。

9.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，第三射频开关包括：

第三电源；

与所述第三电源相连，由第三电源触发，生成TTL高电平脉冲的第三脉冲生成单元；

两个分别与所述第三脉冲生成单元相连，依据所述第三脉冲生成单元产生的TTL高电平在各自常闭触点端和常开触点端之间进行切换的第三开关单元。

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