CN202582414U - 一种测量尺 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测量尺，包括设有刻度的直尺、滑块及长方体状的支撑体，所述直尺连接于所述支撑体的一端，所述滑块沿所述支撑体的延伸方向可滑动地连接于所述支撑体的另一端，所述滑块与所述直尺之间形成用于夹持待测量物的夹持空间，所述直尺用于与所述待测量物的一端面相抵接的面为第一基准面，所述滑块用于与所述待测量物的另一端面相抵接的面为第二基准面，所述第一基准面与所述第二基准面均与所述支撑体的延伸方向相垂直。如此设置，本实用新型公开的测量尺，其能够有效简化硅块的斜面测量过程。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量工具技术领域，特别涉及一种测量尺。
背景技术
随着传统能源的不断减少，太阳能作为一种可再生能源得到了人们越来越多的重视。
在太阳能电池产业中，硅块切割是太阳能光伏电池制造工艺中的关键部分。硅块形状尺寸符合标准是硅块切割的必要条件，目前，太阳能加工产业中硅块通常需为规则长方体状。
然而，生产出的硅块往往出现斜面结构，即两个相对平面出现不平行的问题，进而，需测量人员对硅块进行测量，来确定硅块形状是否规则。
现有技术中，测量人员通常采用游标卡尺作为测量工具。
请参考图1，图1为具有斜面结构的硅块俯视结构示意图。
测量过程中，首先测量硅块的倾斜面01的一端011与基准面02之间的距离，而后测量倾斜面的另一端012与基准面02之间的距离，最后将两个距离值相减，即可获得倾斜面01的倾斜尺寸。
显然，上述测量过程中，需分别对倾斜面的两端进行测量，且需进行计算方可获得倾斜尺寸，上述测量过程比较繁琐。
因此，如何简化硅块的斜面测量过程，成为本领域技术人员所要解决的重要技术问题。
实用新型内容
本实用新型提供了一种测量尺，其能够有效简化硅块的斜面测量过程。
本实用新型提供的一种测量尺，包括设有刻度的直尺、滑块及长方体状的支撑体，所述直尺连接于所述支撑体的一端，所述滑块沿所述支撑体的延伸方向可滑动地连接于所述支撑体的另一端，所述滑块与所述直尺之间形成用于夹持待测量物的夹持空间，所述直尺用于与所述待测量物的一端面相抵接的面为第一基准面，所述滑块用于与所述待测量物的另一端面相抵接的面为第二基准面，所述第一基准面与所述第二基准面均与所述支撑体的延伸方向相垂直。
优选地，所述支撑体与所述直尺的中间位置相连接，所述支撑体的与所述直尺相交的两条边所处的位置为所述直尺的两个刻度起始位置，且所述直尺的刻度由中间位置向两端延伸。
优选地，所述滑块设有将其贯穿的第一滑槽，且所述第一滑槽的横截面形状尺寸与所述支撑体的横截面形状尺寸相同，所述支撑体穿插于所述第一滑槽。
优选地，所述滑块包括尼龙层，所述第二基准面为所述尼龙层的外表面。
优选地，所述支撑体设有沿其厚度方向将其贯穿的画线槽，且所述画线槽的沿伸方向与所述支撑体的延伸方向相同。
优选地，还包括设置于所述第二基准面上的基准块，所述基准块具有与所述第二基准面相垂直且用于与所述待测量物的侧面相抵接的第三基准面。
优选地，所述基准块为两个，且分别设置于所述支撑体的两侧位置，且两个所述基准块均可伸缩的设置于所述滑块。
优选地，所述滑块设有两个第二滑槽，且两个所述第二滑槽的横截面形状尺寸与两个所述基准块的横截面形状尺寸相同，两个所述基准块分别插装于两个所述第二滑槽内。
本实用新型提供的一种测量尺，包括设有刻度的直尺、滑块及长方体状的支撑体，所述直尺连接于所述支撑体的一端，所述滑块沿所述支撑体的延伸方向可滑动地连接于所述支撑体的另一端，所述滑块与所述直尺之间形成用于夹持待测量物的夹持空间，所述直尺用于与所述待测量物的一端面相抵接的面为第一基准面，所述滑块用于与所述待测量物的另一端面相抵接的面为第二基准面，所述第一基准面与所述第二基准面均与所述支撑体的延伸方向相垂直。如此设置，在使用本实用新型提供的测量尺进行硅块斜面测量时，使硅块具有斜面结构的面朝上放置，即硅块的顶面为不规则长方形，而后将测量尺的第一基准面与硅块的一个端面相抵接，并滑动滑块直至滑块的第二基准面与硅块的另一个端面相抵接，并将滑块与支撑体的夹角与硅块的顶角相重合。由于第一基准面和第二基准面相平行，且二者均与长方体状的支撑体的延伸方向相垂直，故若硅块无斜面问题，其棱边应与支撑体的边平齐，若硅块有斜面问题，硅块的棱边将与支撑体的边出现错位，错位的大小通过直尺上的刻度可直接读出，即斜面的尺寸。显然，本实用新型提供的测量尺，无需进行多次测量，且无需进行计算，即可直接测得斜面的尺寸，因此，本实用新型提供的测量尺可有效简化硅块的测量过程。
本实用新型的优选方案中，还包括设置于所述第二基准面上的基准块，所述基准块具有与所述第二基准面相垂直且用于与所述待测量物的侧面相抵接的第三基准面。如此设置，当采用本实用新型提供的测量尺进行硅块斜面尺寸测量时，第一基准面与硅块的前端面或者后端面相抵接，第二基准面与硅块的后端面或者前端面相抵接，而基准块的第三基准面可与硅块的左侧面或右侧面相抵接。需要说明的是，当上述三个基准面均与硅块相抵接时，支撑体与第二基准面的相交顶点恰好与硅块的顶点相重合。如此设置，测量尺在硅块上的定位由三个基准面确定，进一步提高了测量尺测量硅块斜面尺寸的精确度。
本实用新型提供的另一种优选方案中，所述滑块包括尼龙层，所述第二基准面为所述尼龙层的外表面。需要说明的是，现有技术中采用游标卡尺进行硅块的尺寸测量，由于游标卡尺通常采用金属材料制成，其硬度较大，测量过程中易在硅块的表面留有划痕，进而影响硅块工作性能。鉴于此，本实用新型提供的滑块包括尼龙层，且所述第二基准面为所述尼龙层的外表面。如此设置，与硅块相接触的为尼龙材料，其材质较软，有效避免了硅块表面出现划痕的问题。
附图说明
图1为具有斜面结构的硅块俯视结构示意图；
图2为本实用新型具体实施方式中测量尺结构示意图；
图3为本实用新型具体实施方式中测量尺主视结构示意图；
图4为本实用新型具体实施方式中测量尺左视结构示意图。
具体实施方式
本实用新型提供了一种测量尺，其能够有效简化硅块的斜面测量过程。
下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。
请参考图2至图4，图2为本实用新型具体实施方式中测量尺结构示意图；图3为本实用新型具体实施方式中测量尺主视结构示意图；图4为本实用新型具体实施方式中测量尺左视结构示意图。
本具体实施方式所提供的测量尺，包括设有刻度的直尺11、滑块12及长方体状的支撑体13，其中，直尺11连接于支撑体13的一端，滑块12沿支撑体13的延伸方向可滑动地连接于支撑体13的另一端，即滑块12可沿支撑体13的延伸方向滑动。
滑块12与直尺11之间形成用于夹持待测量物的夹持空间，直尺11用于与待测量物的一端面相抵接的面为第一基准面，滑块12用于与待测量物的另一端面相抵接的面为第二基准面，第一基准面与第二基准面均与支撑体13的延伸方向相垂直。
如此设置，在使用本具体实施方式所提供的测量尺进行硅块斜面测量时，使硅块具有斜面结构的面朝上放置，即硅块的顶面为不规则长方形，而后将测量尺的第一基准面与硅块的一个端面相抵接，并滑动滑块12直至滑块12的第二基准面与硅块的另一个端面相抵接，并将滑块12与支撑体13的夹角与硅块的顶角相重合。
由于第一基准面和第二基准面相平行，且二者均与长方体状的支撑体13的延伸方向相垂直，故若硅块无斜面问题，其棱边应与支撑体的边平齐，若硅块有斜面问题，硅块的棱边将与支撑体的边出现错位，错位的大小通过直尺11上的刻度可直接读出，即斜面的尺寸。
显然，本具体实施方式所提供的测量尺，无需进行多次测量，且无需进行计算，即可直接测得斜面的尺寸，因此，本具体实施方式所提供的测量尺可有效简化硅块的测量过程。
本具体实施方式的优选方案中，支撑体13与直尺11的中间位置相连接，支撑体13的与直尺11相交的两条边所处的位置为直尺11的两个刻度起始位置，且直尺11的刻度由中间位置向两端延伸。
需要说明的是，硅块顶面为非正规长方形时，其顶面相对的两个边可能均为斜边，此时，需对两个斜边分别进行测量，本具体实施方式所提供的测量尺，测量完一个斜边之后，无需将滑块12与直尺11互换位置，而可以直接平移至其相对边进行测量。
如此设置，测量过程中，滑块12与直尺11不必互换位置，即可测得硅块两个斜边的大小，进而有效提高了测量尺的可操作性。
本具体实施方式所提供的测量尺，其滑块12可通过如下方式可滑动地连接于支撑体13。
滑块12可设有将其贯穿的第一滑槽(图中未示出)，且第一滑槽的横截面形状尺寸与支撑体的横截面形状尺寸相同，支撑体13穿插于第一滑槽。
需要说明的是，第一滑槽的横截面形状尺寸与支撑体的横截面形状尺寸相同，系指支撑体恰好能穿入第一滑槽，且滑块12通过第一滑槽能够沿支撑体13滑动，二者横截面相同，方可保证滑块12与支撑体13之间不会出现晃动问题，进而方可有效保证测量精度。
本具体实施方式所提供的另一种优选方案中，滑块12包括尼龙层121，第二基准面为尼龙层121的外表面。
需要说明的是，现有技术中采用游标卡尺进行硅块的尺寸测量，由于游标卡尺通常采用金属材料制成，其硬度较大，测量过程中易在硅块的表面留有划痕，进而影响硅块工作性能。
鉴于此，本具体实施方式所提供的滑块包括尼龙层121，且第二基准面为尼龙层121的外表面。如此设置，与硅块相接触的为尼龙材料，其材质较软，有效避免了硅块表面出现划痕的问题。
另外，需要说明的是，在硅块的测量过程中，有时需在硅块表面画线标记，鉴于此，本具体实施方式所提供的支撑体13可设有沿其厚度方向将其贯穿的画线槽131，且画线槽131的沿伸方向与支撑体13的延伸方向相同。
如此设置，在硅块的测量过程中，若需在硅块表面进行画线标示，可通过画线槽131进行画线，有效提高了画线的可操作性。
本具体实施方式所提供的另一优选方案中，还包括设置于第二基准面上的基准块14，基准块14具有与第二基准面相垂直且用于与待测量物的侧面相抵接的第三基准面。
如此设置，当采用本具体实施方式所提供的测量尺进行硅块斜面尺寸测量时，第一基准面与硅块的前端面或者后端面相抵接，第二基准面与硅块的后端面或者前端面相抵接，而基准块的第三基准面可与硅块的左侧面或右侧面相抵接。
需要说明的是，当上述三个基准面均与硅块相抵接时，支撑体与第二基准面的相交顶点恰好与硅块的顶点相重合。
如此设置，测量尺在硅块上的定位由三个基准面确定，进一步提高了测量尺测量硅块斜面尺寸的精确度。
另外，本具体实施方式所提供的测量尺，其基准块14可具体为两个，且该两个基准块14可分别设置于支撑体13的两侧位置，两个基准块14可伸缩的设置于滑块12。
如此设置，当以其中一个基准块14的第三基准面作为测量基准面时，另一个基准块14需缩入于滑块12的内部，测量完一个斜边之后，无需将滑块12与直尺11互换位置，而可以直接平移至其相对边进行测量，同时将上述基准块14缩入滑块12内，并使得另一个基准块14伸出滑块12作为基准即可。
因此，本具体实施方式所提供的，在测量硅块的两个相对的斜边时，无需更换直尺11和滑块12的位置即可完成测量，且能够有效保证测量精度。
本具体实施方式所提供的测量尺，其可通过如下设置方式实现两个基准块14可伸缩的设置于滑块12。
滑块12可设有两个第二滑槽(图中未示出)，且两个第二滑槽的横截面形状尺寸与两个基准块的横截面形状尺寸相同，两个基准块分别插装于两个第二滑槽内。
需要说明的是，两个第二滑槽的横截面形状尺寸与两个基准块14的横截面形状尺寸相同，系指基准块14恰好能穿入第二滑槽，且基准块14通过第二滑槽能够缩入或伸出滑块12，二者横截面相同，方可保证基准块14与滑块12之间不会出现晃动问题，进而方可有效保证基准精度。
本说明书中各个实施方式采用递进的方式描述，每个实施方式重点说明的都是与其他实施方式的不同之处，各个实施方式之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施方式的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施方式的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施方式中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施方式，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (8)
1.一种测量尺，其特征在于，包括设有刻度的直尺、滑块及长方体状的支撑体，所述直尺连接于所述支撑体的一端，所述滑块沿所述支撑体的延伸方向可滑动地连接于所述支撑体的另一端，所述滑块与所述直尺之间形成用于夹持待测量物的夹持空间，所述直尺用于与所述待测量物的一端面相抵接的面为第一基准面，所述滑块用于与所述待测量物的另一端面相抵接的面为第二基准面，所述第一基准面与所述第二基准面均与所述支撑体的延伸方向相垂直。
2.如权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述支撑体与所述直尺的中间位置相连接，所述支撑体的与所述直尺相交的两条边所处的位置为所述直尺的两个刻度起始位置，且所述直尺的刻度由中间位置向两端延伸。
3.如权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述滑块设有将其贯穿的第一滑槽，且所述第一滑槽的横截面形状尺寸与所述支撑体的横截面形状尺寸相同，所述支撑体穿插于所述第一滑槽。
4.如权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述滑块包括尼龙层，所述第二基准面为所述尼龙层的外表面。
5.如权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述支撑体设有沿其厚度方向将其贯穿的画线槽，且所述画线槽的沿伸方向与所述支撑体的延伸方向相同。
6.如权利要求1-5任一项所述的测量尺，其特征在于，还包括设置于所述第二基准面上的基准块，所述基准块具有与所述第二基准面相垂直且用于与所述待测量物的侧面相抵接的第三基准面。
7.如权利要求6所述的测量尺，其特征在于，所述基准块为两个，且分别设置于所述支撑体的两侧位置，且两个所述基准块均可伸缩的设置于所述滑块。
8.如权利要求7所述的测量尺，其特征在于，所述滑块设有两个第二滑槽，且两个所述第二滑槽的横截面形状尺寸与两个所述基准块的横截面形状尺寸相同，两个所述基准块分别插装于两个所述第二滑槽内。
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| CN 201220154187 CN202582414U (zh) | 2012-04-12 | 2012-04-12 | 一种测量尺 |
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| CN 201220154187 CN202582414U (zh) | 2012-04-12 | 2012-04-12 | 一种测量尺 |
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|---|---|---|---|---|
| CN108344340A (zh) * | 2017-01-24 | 2018-07-31 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 量具及其读数方法 |
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2012
- 2012-04-12 CN CN 201220154187 patent/CN202582414U/zh not_active Expired - Fee Related
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