CN202522319U - 一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置,包括一单片机,所述单片机一端连接A/D转换电路,所述A/D转换电路连接数据选择译码电路,所述数据选择译码电路连接56点阵列光反射传感器,所述单片机另一端连接按键、显示电路。该实用新型用于万用答题卡的生产过程中控制卡生产的质量,检测卡表面对读卡光的反射数据,对卡表面56点同时测量,确保答题卡表面光反射率一致。
Description
技术领域
本实用新型涉及仪器仪表领域,具体涉及一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置。
背景技术
万用答题卡是近几年最新研制的可重复使用的答题卡,在国内开始推广使用。该卡的使用大大降低了答题卡的使用成本,对环保和节能减排有非常重要的意义,因此有巨大的市场潜力。万用答题卡在使用过程中最让用户担心的是读卡的准确度。答题卡的读卡原理就是跟卡表面光的反射率有关,在整张答题卡反射率一致的情况下,涂过卡的地方反射率和透射率较低,所以确保卡的表面反射率一致是万用卡生产过程中重要得工艺。
实用新型内容
为克服现有技术中的不足,本实用新型的目的在于提供一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置,用于万用答题卡的生产。
为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本实用新型通过以下技术方案实现:
一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置,包括一单片机,所述单片机一端连接A/D转换电路,所述A/D转换电路连接数据选择译码电路,所述数据选择译码电路连接56点阵列光反射传感器,所述单片机另一端连接按键、显示电路。
进一步的,所述56点阵列光反射传感器由56个反射光测量传感器组成,每行7个,共8列,涵盖整个答题卡表面。
进一步的,所述反射光测量传感器的电压变换电路包括光敏管,所述光敏管的发射极与集电极之间依次连接有第一发光二极管、第二发光二极管、电阻和可调电阻。
进一步的,所述数据选择译码电路采用了7片4051集成电路来选择56路信号,所述7片4051集成电路分别设有7个模拟输出,分别输给所述A/D转换电路的7个通道。
进一步的,所述A/D转换电路为模数转换集成电路MAX118 ,所述模数转换集成电路MAX118中设有8个模拟通道输入,其中7个模拟通道接收来自所述数据选择译码电路的所述7个模拟输出信号,所述A/D转换电路还包括第一输入按键和第二输入按键。
进一步的,按键、显示电路包括数码管显示电路,所述数码管显示电路包括连体的4位LED数码管,所述连体的4位LED数码管上设有4个位信号输入和8个段码信号输入,所述数码管显示电路的接法为动态扫描显示。
本实用新型的原理是:
⑴ 卡表面反射光测量56点阵列传感器及其电压变换电路。
反射光测量传感器:由两个发射光电二极管和一个接收光电二极管组成,发射二极管将光打到答题卡表面,由接收二极管接收卡的反射光,并转换成电压。
56点阵列传感器:由56个反射光测量传感器组成,每行7个,共8列,涵盖整个答题卡表面。
传感器电压变换电路:将接收二极管接收的答题卡表面反射光,转换成电压,送给数据选择译码电路。
⑵ 信号处理电路。
信号处理电路由单片机控制,有以下几个部分:
数据选择译码电路:单片机通过地址译码,控制数据选择电路,有选择的将输入的56路传感器电压,分别依次输给模数转换电路。
模数转换电路:将反射光电压转换成数字量,由单片机采样进行反射数据计算。
键盘显示电路:接收按键功能,显示反射数据及测量结果,该电路与由单片机控制的数据选择译码电路、模数转换电路为一体,整体设计。
本实用新型的有益效果是:
该实用新型用于万用答题卡的生产过程中控制卡生产的质量,检测卡表面对读卡光的反射数据,对卡表面56点同时测量,确保答题卡表面光反射率一致。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本申请的一部分,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1是本实用新型的框架结构示意图;
图2是本实用新型的单点反射光测量传感器原理图;
图3是本实用新型的单点反射光传感器电压变换电路原理图;
图4是本实用新型数据选择译码电路原理图;
图5是本实用新型的模数转换电路原理图;
图6是本实用新型的数码管显示电路原理图。
图中标号说明:1、单片机,2、A/D转换电路,3、数据选择译码电路 ,4、56点阵列光反射传感器,5、按键、显示电路,N1、光敏管,L1、第一发光二极管,L2、第二发光二极管,R1、电阻,P1、可调电阻,U1-U7、4051集成电路,AD1-AD7、模拟输出,U9、模数转换集成电路MAX118,1N1-1N7、模拟通道,K1、第一输入按键,K2、第二输入按键,U10、连体的4位LED数码管,L1-L4、位信号输入,A-H、段码信号输入。
具体实施方式
下面将参考附图并结合实施例,来详细说明本实用新型。
参见图1所示,一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置,包括一单片机1,所述单片机1一端连接A/D转换电路2,所述A/D转换电路2连接数据选择译码电路3,所述数据选择译码电路3连接56点阵列光反射传感器4,所述单片机1另一端连接按键、显示电路5。
进一步的,所述56点阵列光反射传感器4由56个反射光测量传感器组成,每行7个,共8列,涵盖整个答题卡表面。
参见图3所示,进一步的,所述反射光测量传感器的电压变换电路包括光敏管N1,所述光敏管N1的发射极与集电极之间依次连接有第一发光二极管L1、第二发光二极管L2、电阻R1和可调电阻P1。
参见图4所示,进一步的,所述数据选择译码电路3采用了7片4051集成电路U1-U7来选择56路信号,所述7片4051集成电路U1-U7分别设有7个模拟输出AD1-AD7,分别输给所述A/D转换电路2的7个通道。
参见图5所示,进一步的,所述A/D转换电路2为模数转换集成电路MAX118 U9,所述模数转换集成电路MAX118 U9中设有8个模拟通道输入,其中7个模拟通道1N1-1N7接收来自所述数据选择译码电路3的所述7个模拟输出信号AD1-AD7,所述A/D转换电路2还包括第一输入按键K1和第二输入按键K2。
参见图6所示,进一步的,按键、显示电路5包括数码管显示电路,所述数码管显示电路包括连体的4位LED数码管U10,所述连体的4位LED数码管U10上设有4个位信号输入L1-L4和8个段码信号输入A-H,所述数码管显示电路的接法为动态扫描显示。
该实用新型的卡表面光反射多点同时测量、判断方法:
该装置设计了4位LED数码管显示,前两位显示光反射传感器的点数,后两位显示该点所测量的光反射数据。
该装置设计了2个功能按键,工作时将56点阵反射光传感器,放在答题卡表面,接通电源后,按下功能键1,开始测试。测试时先计算56点反射数据平均值,再计算每点反射数据与平均值的差,当所有差值小于某个设定范围时,该卡合格,若有差值大于该范围,该卡不合格。通过4位LED数码管显示结果,结果显示为:前3位LED暗,若卡合格,最后一位显示1,不合格显示0。
连续按下功能键2可以显示每一点的光反射数据。
需要强调的是,上述设施例虽然对本实用新型作了比较详细的说明,但是这些说明只是对本实用新型说明性的,而不是对实用新型的限制,任何不超出本实用新型实质精神内的实用新型创造,均落在本实用新型权利保护范围之内。
Claims (6)
1.一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置,其特征在于:包括一单片机(1),所述单片机(1)一端连接A/D转换电路(2),所述A/D转换电路(2)连接数据选择译码电路(3),所述数据选择译码电路(3)连接56点阵列光反射传感器(4),所述单片机(1)另一端连接按键、显示电路(5)。
2.根据权利要求1所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置,其特征在于:所述56点阵列光反射传感器(4)由56个反射光测量传感器组成,每行7个,共8列,涵盖整个答题卡表面。
3.根据权利要求1、2所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置,其特征在于:所述反射光测量传感器的电压变换电路包括光敏管(N1),所述光敏管(N1)的发射极与集电极之间依次连接有第一发光二极管(L1)、第二发光二极管(L2)、电阻(R1)和可调电阻(P1)。
4.根据权利要求1所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置,其特征在于:所述数据选择译码电路(3)采用了7片4051集成电路(U1-U7)来选择56路信号,所述7片4051集成电路(U1-U7)分别设有7个模拟输出(AD1-AD7),分别输给所述A/D转换电路(2)的7个通道。
5.根据权利要求1、4所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置,其特征在于:所述A/D转换电路(2)为模数转换集成电路MAX118 (U9),所述模数转换集成电路MAX118(U9)中设有8个模拟通道输入,其中7个模拟通道(1N1-1N7)接收来自所述数据选择译码电路(3)的所述7个模拟输出信号(AD1-AD7),所述A/D转换电路(2)还包括第一输入按键(K1)和第二输入按键(K2)。
6.根据权利要求1所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置,其特征在于:按键、显示电路(5)包括数码管显示电路,所述数码管显示电路包括连体的4位LED数码管(U10),所述连体的4位LED数码管(U10)上设有4个位信号输入(L1-L4)和8个人段码信号输入(A-H),所述数码管显示电路的接法为动态扫描显示。
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CN2012200451977U CN202522319U (zh) | 2012-02-13 | 2012-02-13 | 一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置 |
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CN102539872A (zh) * | 2012-02-13 | 2012-07-04 | 苏州科技学院 | 一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置 |
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