CN201355345Y - 答题卡质量检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种答题卡质量检测装置，它包括反射光产生变换电路、透射光产生变换电路、模数转换器、控制器、显示电路，所述的反射光产生变换电路将经过待测答题卡反射后的反射信号或/和所述的透射光产生变换电路将经过待测答题卡透射后的透射信号通过模数转换器后由控制器进行处理，控制器将相应处的反射值或/和透射值通过显示电路进行显示，通过对照射到答题卡不同位置的反射光及透射光进行采集和处理，得到相应处的发射率和透射率，如果每处的发射率及折射率基本相同，则表明答题卡的质量较好；若同一张答题卡不同处的发射率及折射率差异较大，则表明该答题卡的质量较差，从而需要生产厂家及时调整生产工艺，以保证答题卡的质量。

Description

答题卡质量检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种答题卡质量检测仪器，尤其涉及一种可重复使用的答题卡的质量检测装置。

背景技术

众所周知，答题卡已越来越被广泛地应用到各种考试中，考生将答题卡上相应的选项用铅笔涂黑，读卡机根据光的反射或透射原理自动判别各选项选中与否，从而进行分数统计，非常省时省力。现有的答题卡多是纸质的，其应用过一次之后不能再循环使用，随着答题卡的大量应用，这种一次性答题卡造成了较大的资源浪费，因此，可重复使用的答题卡便应运而生。这种可重复使用的答题卡用可塑性树脂代替普通纸质基层，并在其上覆盖一层UV光油膜，其可将铅笔涂过的痕迹轻易擦除并重新使用，因此这种答题卡的使用大大降低了成本，对环保和节能减排有非常重要的意义，有巨大的市场潜力。然而这种答题卡在使用过程中最让用户担心的是读卡的准确度问题，所以在此种答题卡生产过程中其质量的检测至关重要，本实用新型正式基于上述背景而发明的。

实用新型内容

本实用新型目的是为了克服现有技术的不足而提供一种能够在可重复性答题卡生产过程中对其质量及时检测从而确保答题卡质量、提高生产效益的检测装置。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种答题卡质量检测装置，它包括反射光产生变换电路、透射光产生变换电路、与所述的反射光产生变换电路的输出端和透射光产生变换电路的输出端相连接的模数转换器、与模数转换器的输出端相电连接的控制器、与所述的控制器的输出端相电连接的显示电路，所述的反射光产生变换电路将经过待测答题卡反射后的反射信号或/和所述的透射光产生变换电路将经过待测答题卡透射后的透射信号通过模数转换器进行模拟到数字的转换后由控制器进行处理，控制器将答题卡相应处的反射值或/和透射值通过显示电路进行显示。

更进一步地，所述的反射光产生变换电路主要由设置在同一侧的发光二极管及位于发光二极管中间的光敏晶体管组成。

所述的透射光产生变换电路主要由透射发光二极管及与所述的透射发光二极管相对且处于同一直线上的接收晶体管组成。

所述的反射光产生变换电路与透射光产生变换电路集成在一独立的光电头上，且所述的光电头具有插设待测答题卡从而进行透射检测的插置空间。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：由于答题卡的读卡原理与光的反射和透射有关，在整张答题卡反射和透射一致的情况下，涂过卡的地方反射率和透射率较低，确保答题卡的反射和透射率一致是其生产过程中重要得工艺，本实用新型对照射到答题卡上的反射光及透射光进行采集和处理，最后通过显示电路将答题卡对应处的发射率和透射率显示出来，因此通过该测量装置对同一张答题卡的多处进行检测，如果每处的发射率及折射率基本相同，则表明答题卡的质量较好；若同一张答题卡不同处的发射率及折射率差异较大，则表明该答题卡的质量较差，从而需要生产厂家及时调整生产工艺，以保证答题卡的质量。

附图说明

附图1为本实用新型检测装置电原理框图；

附图2为本实用新型反射光产生电路光路示意图；

附图3为本实用新型透射光产生电路光路示意图；

附图4为本实用新型反射光及透射光光电转换电路图；

附图5为本实用新型模数转换器及控制器电路示意图；

附图6为本实用新型显示电路示意图；

其中：1、反射光产生变换电路；2、透射光产生变换电路；3、模数转换器；4、控制器；5、显示电路。

具体实施方式

下面结合附图、举例详细说明本实用新型的具体内容：

如图1所示的答题卡质量检测装置，包括反射光产生变换电路1、透射光产生变换电路2、与反射光产生变换电路1以及透射光产生变换电路2的输出端相电连接的模数转换器3、与模数转换器3的输出端相连接的控制器4以及与控制器输出端相连接的显示电路，下面将对各功能电路及其原理介绍如下：

反射光产生变换电路1实现原理如图2所示，其由两个发光二极管L1、L2及一光敏晶体管N1组成，在测试时，发光二极管L1、L2位于答题卡的正面上方的两侧，晶体管管N1位于答题卡的正面上方、发光二极管L1、L2的中间，发光二极管L1、L2发出光经过答题卡的反射后将被晶体管N1接收并将光信号转换成电信号输出；

透射光产生变换电路2实现原理如图3所述，其由透射发光二极管L3及透射接收晶体管N2组成，发光二极管L3与接收晶体管N2相对应设置，在测试时，答题卡位于发光二极管L3与接收晶体管N2之间，发光二极管L3发射的光经答题卡透射后由透射接收晶体管N2接收并将光信号转换成电信号输出；

上述的发射光产生变换电路1与透射光产生变换电路2可通过图4所示的电路具体实现，其中发光二极管L1、L2及晶体管N1这一组红外光的收发电路用于测量答题卡的反射强率，端口P1用于接入后续的模数转换器A/D电路。在该电路中，答题卡的表明反射光越强，晶体管N1的阻抗越小，端口P1的电位越高。当没有反射时，端口P1的电位接近于0。图中R6为限流电阻，P5为精密电位器用于调节P1端口电位。

发光二极管L3、光敏晶体管N2这一组红外光的收发用于测量答题卡的透射率。端口P2接入用于接入后续的模数转换器A/D电路。该电路中，答题卡的透射光越强，则晶体管N2的阻抗越小，端口P2的电位越高。当没有透射时，P2的电位接近于+5V。图中R7为限流电阻，P6为精密电位器用于调节P2端口电位。

图5所示的为模数转换器3及控制器4电路实现图，其用89C2051CPU控制A/D转换芯片MAX118，该A/D芯片是8位8通道的模数转换芯片，转换速度快、功耗低、精度高、易于接口。电路中的P1、P2接收来自图1中上述两电路端口P1、P2的信号，将这两个信号读入单片机后，由串口S0、S1送出至显示电路5进行显示。

在本实施中，模数转换器MAX118中A2、A1、A0三脚可用于选择模拟输入通道，当其值为000时，选择P1通道，为001时选择P2通道，故引脚A1、A2接地，A0接单片机的P3.7口。A/D转换结果由单片机的P1口读入，用串口(波特率为9600)送入显示电路。

图6所示的为显示电路5的具体电路实现图，其由单片机89C2051来控制4位数码管动态显示。数码管为共阳接法，分别由单片机的P3.2、P3.3、P3.4、P3.5，经4个9012PNP型三极管驱动，控制4位数码管的阳极。单片机的串口(端口S1、S0)读取串口S0、S1送来的反射和透射数据，送至数码管显示。

本实用新型的反射光产生变换电路1及透射光产生变换电路2可独立设计成一光电头，模数转换器3及控制器4和显示电路5集成设计在一电路板上形成一主机，光电头可设计成一夹体，故其具有插置空间，在需要测量同一答题卡的不同位置处的反射率时，将反射光产生变换电路1所在一侧的光电头放置在答题卡的表面上，通电后，其发出的光通过答题卡产生反射被接收后转换成电信号由主机进行处理显示，移动光电头使之测量其他各处的反射率以判断同一答题卡上各处的反射率是否均匀，从而判别答题卡的质量；当测量同一答题卡不同位置处的透射率时，将答题卡插设在光电头的插置空间内，按照上述的方法进行测量，从而即可得到不同位置处的透射值。

因此，通过本实用新型对答题卡的各个位置反射和透射情况可判断出答题卡的质量情况，即如果答题卡的各个位置反射的结果和透射的结果较一致则表明答题卡的质量较好；如果不一致则说明答题卡的质量不过关，容易误读，把没有铅笔涂过的地方也会认为其被铅笔涂过，因此会造成使用的错乱。

上述对本实用新型的较佳实施例进行了介绍，但是不能理解为是对本实用新型内容的限制，凡根据本实用新型的精神实质作出的等效变换都应在本实用新型的保护范围之内。

Claims (4)

1、一种答题卡质量检测装置，其特征在于：它包括反射光产生变换电路(1)、透射光产生变换电路(2)、与所述的反射光产生变换电路(1)的输出端和透射光产生变换电路(2)的输出端相连接的模数转换器(3)、与模数转换器(3)的输出端相电连接的控制器(4)、与所述的控制器(4)的输出端相电连接的显示电路(5)，所述的反射光产生变换电路(1)将经过待测答题卡反射后的反射信号或/和所述的透射光产生变换电路(2)将经过待测答题卡透射后的透射信号通过模数转换器(3)进行模拟到数字的转换后由控制器(4)进行处理，控制器(4)将答题卡相应处的反射值或/和透射值通过显示电路(5)进行显示。

2、根据权利要求1所述的答题卡质量检测装置，其特征在于：所述的反射光产生变换电路(1)主要由设置在同一侧的发光二极管(L1、L2)及位于发光二极管(L1、L2)中间的光敏晶体管(N1)组成。

3、根据权利要求1或2所述的答题卡质量检测装置，其特征在于：所述的透射光产生变换电路(2)主要由透射发光二极管(L3)及与所述的透射发光二极管(L3)相对且处于同一直线上的接收晶体管(N2)组成。

4、根据权利要求3所述的答题卡质量检测装置，其特征在于：所述的反射光产生变换电路(1)与透射光产生变换电路(2)集成在一独立的光电头上，且所述的光电头具有插设待测答题卡从而进行透射检测的插置空间。

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