CN202421434U - 一种3dk28g、3ck2e型晶体管动态老化装置 - Google Patents

一种3dk28g、3ck2e型晶体管动态老化装置 Download PDF

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Abstract

本实用新型公开了一种3DK28G、3CK2E型晶体管动态老化装置,包括电源电路、脉冲产生及驱动电路、若干组老化板,每组老化板由两块老化板连接组成,电源电路为整个装置提供所需的电源信号,脉冲产生及驱动电路通过单刀双掷开关与老化板连接;所述脉冲产生及驱动电路包括单片机、晶体振荡器、与非门和三极管,晶体振荡器并联接入单片机,与非门与单片机连接,与非门与三极管的基极连接,本实用新型的3DK28G、3CK2E动态老化装置有效地解决了应用电路中用作电子开关的3DK28G、3CK2E开关晶体管的动态老化问题。

Description

一种3DK28G、3CK2E型晶体管动态老化装置
技术领域
本实用新型涉及分立器件的老化技术领域,具体是一种3DK28G、3CK2E动态老化装置。
背景技术
目前元器件老化筛选相关标准中对三极管的老化筛选手段都是功率老化,且国内的三极管老化设备也是针对功率老化进行,功率老化是一种静态老化的状态,即开关管基极施加的是一个稳定信号,使其工作在正向导通状态,按其功率指标对其进行老化,而3DK28G、3CK2E有时在应用电路中是作高速电子开关使用,其基极施加的是一个脉冲信号,三极管3DK28G、3CK2E不停的在通、断两种状态交替工作,是一种动态的工作状态,因此功率老化不足以考验其开关工作的情况,不能剔除在开关工作状态下三极管的早期失效。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是,针对现有技术不足,提供一种3DK28G、3CK2E动态老化装置,解决应用电路中用作电子开关的3DK28G、3CK2E开关晶体管的动态老化问题。
为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:一种3DK28G、3CK2E动态老化装置,包括电源电路、脉冲产生及驱动电路、若干组老化板,每组老化板由两块老化板连接组成,电源电路正输出端与脉冲产生及驱动电路连接,电源电路负输出端并联接入每组老化板的两块老化板之间,脉冲产生及驱动电路通过单刀双掷开关与老化板连接;所述脉冲产生及驱动电路包括单片机、晶体振荡器、与非门和三极管,晶体振荡器并联接入单片机,与非门与单片机连接,与非门与三极管的基极连接。
所述单片机型号为AT89C2051。
所述与非门型号为SN75452。
所述三极管为3DK4B三极管。
本实用新型的3DK28G、3CK2E型晶体管动态老化装置有效地解决了应用电路中用作电子开关的3DK28G、3CK2E开关晶体管的动态老化问题,老化后通过器件测试可剔除早期失效的器件,保证了装机质量。
附图说明
图1为本实用新型一实施例动态老化装置结构框图;
图2为本实用新型一实施例脉冲产生及驱动电路原理图。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型一实施例包括脉冲产生及驱动电路、电源电路、两块老化板,电源电路为整个装置提供所需的电源信号,脉冲产生及驱动电路通过单刀双掷开关与老化板连接,脉冲产生及驱动电路主要提供具有足够驱动能力脉冲信号,通过电缆提供给老化板,老化板可放置在常温也可以放在温箱中。
脉冲产生及驱动电路由AT89C2051单片机、晶体振荡器、与非门SN75452和三极管3DK4B组成,脉冲产生及驱动电路原理图见图3。其主要原理是模拟三极管3DK28G、3CK2E在实际电路中的工作情况,利用AT89C2051单片机软件延时产生频率为66.7KHz的脉冲信号,正脉冲的宽度为7μs,负脉冲的宽度为8μs,通过与非门SN75452和三极管3DK4B进行驱动,给开关管3DK28G和3CK2E提供开关信号。开关管3DK28G、3EK2E的基极电流按其实际工作电流的1.5倍选取,因此,老化电路基极电流取3.89mA,集电极电流取21.6mA,确保三极管工作在开关状态。AT89C2051单片机软件延时程序如下:
Figure BDA0000119518930000031
3DK28G、3CK2E动态老化装置电源电路由电源变压器、整流桥堆、三端集成稳压器等组成,电源需要±15V、5V,对其电压准确度的要求为:±15V±1V、5V±0.2V,对其带负载能力的要求为:+15V应能够提供至少2.6A的电流,-15V应能够提供至少60mA的电流,5V应能够提供至少90mA的电流。装置工作电源的产生采用变压、整流、稳压的方法实现。
老化板由陶瓷耐高温晶体管插座、指示灯及外围电路组成,共设计了2块独立的老化板,使用时老化板通过电缆与装置相连接,每块老化板上共有50个工位,通过开关的切换选择,可选择对100个3DK28G或100个3CK2E或50个3DK28G、50个3CK2E进行动态老化。
利用本实施例的装置对某型号产品多批次3DK28G、3CK2E开关晶体管进行了动态老化试验,3DK28G、3CK2E动态老化装置使用简单方便,易操作,且能够达到预期设计要求,通过动态老化筛选的3DK28G、3CK2E开关晶体管在装机后性能稳定,暂无失效现象,提高了整机的可靠性。

Claims (4)

1.一种3DK28G、3CK2E型晶体管动态老化装置,包括电源电路、脉冲产生及驱动电路、若干组老化板,每组老化板由两块老化板连接组成,其特征在于,电源电路正输出端与脉冲产生及驱动电路连接,电源电路负输出端并联接入每组老化板的两块老化板之间,脉冲产生及驱动电路通过单刀双掷开关与老化板连接;所述脉冲产生及驱动电路包括单片机、晶体振荡器、与非门和三极管,晶体振荡器并联接入单片机,与非门与单片机连接,与非门与三极管的基极连接。
2.根据权利要求1所述的3DK28G、3CK2E型晶体管动态老化装置,其特征在于,所述单片机型号为AT89C2051。
3.根据权利要求1所述的3DK28G、3CK2E型晶体管动态老化装置,其特征在于,所述与非门型号为SN75452。
4.根据权利要求1所述的3DK28G、3CK2E型晶体管动态老化装置,其特征在于,所述三极管为3DK4B三极管。
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CN112014712A (zh) * 2020-09-24 2020-12-01 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) 一种全数字型二极管全动态老化方法及老化装置
CN113219314A (zh) * 2021-04-23 2021-08-06 深圳市时代速信科技有限公司 一种半导体批量测试系统

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